出對應的最大開啟電流值，以圖4為例，預先確定的標準柵極開啟電壓值為10V，根據開啟電流與柵極電壓的關系和預先確定的標準柵極開啟電壓值，可以找到對應的開啟電流值的范圍在0.4?0.6uA，取上限0.6uA為準。
[0068]在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，執行步驟S103對陣列基板的TFT設計進行改進，具體可以采用下述方式:
[0069]增大陣列基板上的各TFT的溝道區域的寬長比。
[0070]具體地，由于TFT溝道區域的寬長比與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值成正比，可以直接調整溝道區域的寬長比，工藝簡單，節省成本，假設開啟電流值為0.4uA，而標準臨界電流值為0.6uA，則將TFT的溝道區域的寬長比調整至原寬長比設計值的1.5倍即可。
[0071]在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，預設溫度的取值范圍可以設置為零下60攝氏度至O攝氏度。
[0072]進一步地，在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，預設溫度可以設置為零下30攝氏度。對于預設溫度的設置，可以根據具體情況而定，在此不做限定。
[0073]在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，預設合格率的取值范圍可以設置為90%至100%。此預設合格率一般是根據客戶的要求而定，在此不做限定。
[0074]本發明實施例提供的一種陣列基板的檢測方法，該方法包括:在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值；根據確定的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率；若未達到預設合格率，則對陣列基板的TFT設計進行改進，并重新制作測試樣品組進行檢測，直至改進后的測試樣品組中的TFT達到預設合格率。本發明實施例提供的方法可以保證在制成模組之前，陣列基板樣品已達到預設合格率，進而使對盒之后的顯示面板在預設溫度下能夠正常開機啟動顯示畫面，尤其確保在溫度較低時啟動的功能不出現問題，同時節省了基板到模組的后段制程和模組資材。
[0075]顯然，本領域的技術人員可以對本發明進行各種改動和變型而不脫離本發明的精神和范圍。這樣，倘若本發明的這些修改和變型屬于本發明權利要求及其等同技術的范圍之內，則本發明也意圖包含這些改動和變型在內。
【主權項】
1.一種陣列基板的檢測方法，其特征在于，包括: 在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值； 根據確定的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定所述測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率； 若未達到預設合格率，則對所述陣列基板的TFT設計進行改進，并重新制作測試樣品組進行檢測，直至改進后的測試樣品組中的TFT達到預設合格率。2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值，具體包括: 在預設溫度下，對測試樣品組中包含的每個陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測量；所述測試點設置在所述陣列基板的非顯示區域且包含與顯示區域和柵極驅動電路的TFT形狀相同的TFT ； 根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，在每個陣列基板得到的TFT特性曲線中確定每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值。3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，根據確定的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定所述測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率，具體包括: 對確定出的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值進行正態分布統計； 在所述正態分布統計的結果中，確定大于或等于所述標準臨界電流值的開啟電流值所占百分比； 將確定出的所述百分比與預設合格率進行比較，若確定所述百分比小于所述預設合格率，則確定所述測試樣品組中的TFT未達到預設合格率；若確定所述百分比大于或等于所述預設合格率，則確定所述測試樣品組中的TFT達到預設合格率。4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，采用下述方式確定標準柵極開啟電壓值: 在預設溫度下，對標準顯示面板組的陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號，在滿足所述標準顯示面板中的所有像素點被點亮時，確定此時加載的柵極開啟信號作為標準柵極開啟電壓值；所述標準顯示面板組包括未切割的多個顯示面板。5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，對標準顯示面板組的陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號，具體包括: 通過在標準顯示面板組的周邊區域設置的與所有陣列基板電性連接的啟動信號端對所有陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號；或， 分別對所有陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號。6.如權利要求4所述的方法，其特征在于，采用下述方式確定標準臨界電流值: 將所述標準顯示面板組拆解呈包含各陣列基板的母板； 在預設溫度下，對各陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測量；所述測試點設置在所述陣列基板的非顯示區域且包含與顯示區域和柵極驅動電路的TFT形狀相同的TFT ; 根據預先確定的所述標準柵極開啟電壓值，在每個所述陣列基板得到的TFT特性曲線中確定每個所述陣列基板與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值； 所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值中的最大值作為標準臨界電流值。7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，對所述陣列基板的TFT設計進行改進，具體包括: 增大所述陣列基板上的各TFT的溝道區域的寬長比。8.如權利要求1-7任一項所述的方法，其特征在于，所述預設溫度的取值范圍為零下60攝氏度至O攝氏度。9.如權利要求8所述的方法，其特征在于，所述預設溫度為零下30攝氏度。10.如權利要求1-7任一項所述的方法，其特征在于，所述預設合格率的取值范圍為90% 至 100%。
【專利摘要】本發明公開了一種陣列基板的檢測方法，該方法包括：在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值；根據確定的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率；若未達到預設合格率，則對陣列基板的TFT設計進行改進，并重新制作測試樣品組進行檢測，直至改進后的測試樣品組中的TFT達到預設合格率。本發明實施例提供的方法可以保證在制成模組之前，陣列基板樣品已達到預設合格率，進而使對盒之后的顯示面板在預設溫度下能夠正常開機啟動顯示畫面，尤其確保在低溫時啟動的功能不出現問題，同時節省了后段制程和模組資材。
【IPC分類】G09G3/00, G02F1/13
【公開號】CN105116573
【申請號】CN201510618605
【發明人】薛靜, 吳昊
【申請人】京東方科技集團股份有限公司, 北京京東方光電科技有限公司
【公開日】2015年12月2日
【申請日】2015年9月24日