一種陣列基板的檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示技術領域，尤指一種陣列基板的檢測方法。
【背景技術】
[0002]目前，液晶顯示面板(Liquid Crystal Display，LCD)具有高畫面質量、體積小、重量輕等優點，廣泛應用于移動電話、筆記本電腦、電視機以及顯示器等產品中。
[0003]薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)陣列基板中的TFT開關對液晶顯示有著極其重要的作用，TFT開關性能的優劣直接影響著液晶顯示品質的高低。但傳統的使用液晶技術的LCD顯示產品由于分辨率提升的原因，TFT開關的閾值電流水平越來越低，由此帶來的問題是在某一特定溫度，尤其是溫度較低的環境下，陣列基板的顯示區域及柵極驅動電路的TFT開關無法正常開啟，從而出現功能性的不良。現有的在特定溫度下啟動測試的方法一般是將顯示產品制作成模組后，投入到特定溫度下的測試爐中數個小時以上，重新進行點燈開啟實現，無法點亮者視為產品設計失敗，但產品經歷了基板到模組的制程，周期很長，問題暴露后沒有足夠的時間進行設計修改。
[0004]因此，如何確保在特定溫度下顯示面板能夠正常開機啟動，是本領域技術人員亟待解決的技術問題。
【發明內容】
[0005]有鑒于此，本發明實施例提供一種陣列基板的檢測方法，可以確保在預設溫度下能夠正常開機啟動，同時節省了基板到模組的后段制程和模組資材。
[0006]因此，本發明實施例提供了一種陣列基板的檢測方法，包括:
[0007]在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值；
[0008]根據確定的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定所述測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率；
[0009]若未達到預設合格率，則對所述陣列基板的TFT設計進行改進，并重新制作測試樣品組進行檢測，直至改進后的測試樣品組中的TFT達到預設合格率。
[0010]在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值，具體包括:
[0011]在預設溫度下，對測試樣品組中包含的每個陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測量；所述測試點設置在所述陣列基板的非顯示區域且包含與顯示區域和柵極驅動電路的TFT形狀相同的TFT ;
[0012]根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，在每個陣列基板得到的TFT特性曲線中確定每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值。
[0013]在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，根據確定的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定所述測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率，具體包括:
[0014]對確定出的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值進行正態分布統計；
[0015]在所述正態分布統計的結果中，確定大于或等于所述標準臨界電流值的開啟電流值所占百分比；
[0016]將確定出的所述百分比與預設合格率進行比較，若確定所述百分比小于所述預設合格率，則確定所述測試樣品組中的TFT未達到預設合格率；若確定所述百分比大于或等于所述預設合格率，則確定所述測試樣品組中的TFT達到預設合格率。
[0017]在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，采用下述方式確定標準柵極開啟電壓值:
[0018]在預設溫度下，對標準顯示面板組的陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號，在滿足所述標準顯示面板中的所有像素點被點亮時，確定此時加載的柵極開啟信號作為標準柵極開啟電壓值；所述標準顯示面板組包括未切割的多個顯示面板。
[0019]在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，對標準顯示面板組的陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號，具體包括:
[0020]通過在標準顯示面板組的周邊區域設置的與所有陣列基板電性連接的啟動信號端對所有陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號；或，
[0021]分別對所有陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號。
[0022]在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，采用下述方式確定標準臨界電流值:
[0023]將所述標準顯示面板組拆解呈包含各陣列基板的母板；
[0024]在預設溫度下，對各陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測量；所述測試點設置在所述陣列基板的非顯示區域且包含與顯示區域和柵極驅動電路的TFT形狀相同的TFT ；
[0025]根據預先確定的所述標準柵極開啟電壓值，在每個所述陣列基板得到的TFT特性曲線中確定每個所述陣列基板與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值；
[0026]所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值中的最大值作為標準臨界電流值。
[0027]在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，對所述陣列基板的TFT設計進行改進，具體包括:
[0028]增大所述陣列基板上的各TFT的溝道區域的寬長比。
[0029]在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，所述預設溫度的取值范圍為零下60攝氏度至O攝氏度。
[0030]在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，所述預設溫度為零下30攝氏度。
[0031 ] 在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，所述預設合格率的取值范圍為90%至100%。
[0032]本發明實施例的有益效果包括:
[0033]本發明實施例提供的一種陣列基板的檢測方法，該方法包括:在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值；根據確定的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率；若未達到預設合格率，則對陣列基板的TFT設計進行改進，并重新制作測試樣品組進行檢測，直至改進后的測試樣品組中的TFT達到預設合格率。本發明實施例提供的方法可以保證在制成模組之前，陣列基板樣品已達到預設合格率，進而使對盒之后的顯示面板在預設溫下能夠正常開機啟動顯示畫面，尤其確保在溫度較低時啟動的功能不出現問題，同時節省了基板到模組的后段制程和模組資材。
【附圖說明】
[0034]圖1為本發明實施例提供的陣列基板的檢測方法的流程圖；
[0035]圖2為本發明實施例提供的每個陣列基板的與所述標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值電流的正態分布圖；
[0036]圖3為本發明實施例提供的測試系統示意圖；
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