7]圖4為本發明實施例提供的對拆解標準顯示面板組之后包含各陣列基板的母板的TFT特性曲線圖。
【具體實施方式】
[0038]下面結合附圖，對本發明實施例提供的陣列基板的檢測方法的【具體實施方式】進行詳細地說明。
[0039]本發明實施例提供了一種陣列基板的檢測方法，如圖1所示，可以包括以下步驟:
[0040]S101、在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值；
[0041]S102、根據確定的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率；若未達到預設合格率時，則執行步驟S103 ;
[0042]S103、對陣列基板的TFT設計進行改進，并重新制作測試樣品組進行檢測，直至改進后的測試樣品組中的TFT達到預設合格率；
[0043]S104、根據改進后的測試樣品組中的TFT設計進行生產。
[0044]在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，首先在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值；然后根據確定的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，對于測試樣品組中的TFT不能達到預設合格率的情況下，對陣列基板的TFT設計進行改進，并重新制作測試樣品組進行檢測，直至改進后的測試樣品組中的TFT達到預設合格率。本發明實施例提供的上述方法可以保證在制成模組之前，陣列基板樣品已達到預設合格率，進而使對盒之后的顯示面板在預設溫度下能夠正常開機啟動顯示畫面，尤其確保在溫度較低時啟動的功能不出現問題，同時節省了基板到模組的后段制程和模組資材。
[0045]進一步地，在具體實施時，當步驟S102確定達到預設合格率時，如圖1所示，執行步驟S105:根據測試樣品組中的TFT設計直接進行生產。
[0046]在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，執行步驟SlOl在預設溫度下，根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，確定測試樣品組中包含的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值，具體可以包括:
[0047]在預設溫度下，對測試樣品組中包含的每個陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測量；該測試點可以設置在陣列基板的非顯示區域且包含與顯示區域和柵極驅動電路的TFT形狀相同的TFT ；
[0048]根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，在每個陣列基板得到的TFT特性曲線中確定每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值。
[0049]具體地，在測試樣品組中包含的每個陣列基板的非顯示區域設置有測試點，該測試點用于表征陣列基板的顯示區域和柵極驅動電路的TFT，這樣，在不破壞陣列基板的情況下，可以直接利用測試點的特性代替顯示區域和柵極驅動電路的多個TFT的特性，方法簡單；對測試點進行TFT特性曲線測量，可以得到開啟電流與柵極電壓的關系，根據開啟電流與柵極電壓的關系和預先確定的標準柵極開啟電壓值，可以準確的找出與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值。
[0050]在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，執行步驟S102根據確定的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值與預先確定的標準臨界電流值，確定測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率，具體可以包括:
[0051]對確定出的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值進行正態分布統計；
[0052]在正態分布統計的結果中，確定大于或等于標準臨界電流值的開啟電流值所占百分比；
[0053]將確定出的百分比與預設合格率進行比較，若確定百分比小于預設合格率，則確定測試樣品組中的TFT未達到預設合格率；若確定百分比大于或等于預設合格率，則確定測試樣品組中的TFT達到預設合格率。
[0054]具體地，如圖2所示，對確定出的每個陣列基板的與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值進行正態分布統計，假設標準臨界電流值為0.6uA，則在圖2中，可以計算出大于或等于0.6uA的開啟電流值所占的百分比(虛線右側所占的比例)，將確定的百分比小于預設合格率，則需執行步驟S103，若確定的百分比大于或等于預設合格率，則需執行步驟S105。在判斷測試樣品組中的TFT是否達到預設合格率，利用正態分布統計進行比較的方法，既簡單又準確。
[0055]在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，具體地，可以采用下述方式確定標準柵極開啟電壓值:
[0056]在預設溫度下，對標準顯示面板組的陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號，在滿足標準顯示面板中的所有像素點被點亮時，確定此時加載的柵極開啟信號作為標準柵極開啟電壓值；標準顯示面板組包括未切割的多個顯示面板。需要對標準顯示面板組中的TFT進行測試得出標準柵極開啟電壓值，與現有技術相比，節省了后段制程和模組資材。
[0057]具體地，如圖3所示，將標準顯示面板組I放在測試裝置2中(此測試裝置內的環境溫度可以設置為預設溫度，此測試裝置也可以在需要環境溫度為預設溫度的其它步驟中使用)，溫度可以設置在零下30攝氏度，對標準顯示面板組I的陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號，在滿足標準顯示面板中的所有像素點被點亮時，即標準顯示面板中的所有TFT打開時，確定此時加載的柵極開啟信號作為標準柵極開啟電壓值。
[0058]在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，對標準顯示面板組的陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號，具體可以包括:
[0059]通過在標準顯示面板組的周邊區域設置的與所有陣列基板電性連接的啟動信號端對所有陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號；或，
[0060]分別對所有陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號。
[0061]具體地，如圖3所示，由信號發生器3通過與所有陣列基板電性連接的啟動信號端4或直接通過利用陣列基板上的信號線，對所有陣列基板加載從小到大的一組柵極開啟信號，進一步可以保證找到能夠滿足預設溫度下開機啟動的柵極開啟電壓值。
[0062]在具體實施時，在本發明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法中，具體地，可以采用下述方式確定標準臨界電流值:
[0063]將標準顯示面板組拆解呈包含各陣列基板的母板；
[0064]在預設溫度下，對各陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測量；測試點設置在陣列基板的非顯示區域且包含與顯示區域和柵極驅動電路的TFT形狀相同的TFT ;
[0065]根據預先確定的標準柵極開啟電壓值，在每個陣列基板得到的TFT特性曲線中確定每個陣列基板與標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值；
[0066]標準柵極開啟電壓值對應的開啟電流值中的最大值作為標準臨界電流值。
[0067]具體地，如圖4所示，對拆解之后包含各陣列基板的母板進行特性曲線測試，得到開啟電流與柵極電壓的關系，根據開啟電流與柵極電壓的關系和預先確定的標準柵極開啟電壓值，可以準確的找