1.一種用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，包括如下步驟：
制備粘接劑質量分數不低于5％、正極固含量為40％～60％的漿料；
在打孔鋁箔、無孔銅箔或鋰帶上涂布極片；
制備一定尺寸的正極片和負極片，將所述正極片和所述負極片與隔離膜按順序疊好，采用無沖坑的鋁塑膜封裝成電芯，再在所述電芯上開口、且用無鉛密封片材固定密封所述開口邊緣；
將所述電芯放置在85±5℃的環境下烘烤12±0.5h，注液，真空靜置、封裝及化成。
2.如權利要求1所述的用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，所述步驟“將所述電芯放置在85±5℃的環境下烘烤12±0.5h，注液，真空靜置、封裝及化成”后還包括如下步驟：
除氣、分容和測試。
3.如權利要求1所述的用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，所述步驟“制備粘接劑質量分數不低于于5％、正極固含量為40％～60％的漿料”中，正極漿料以質量分數計，活性物質占60％～93％，導電碳SP占2％～20％，粘接劑PVDF占5％～20％，粉料混合均勻后加入固含量控制在40～60％的NMP攪拌。
4.如權利要求3所述的用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，所述攪拌的攪拌時間為1～2小時。
5.如權利要求1所述的用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，所述步驟“將所述電芯放置在85±5℃的環境下烘烤12±0.5h，注液，真空靜置、封裝及化成”的靜置時間為12～14h。
6.如權利要求1所述的用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，所述粘接劑為PVDF或PTFE。
7.如權利要求1所述的用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，所述無鉛密封片材包括PVC、PET、PMMA和PC，所述無鉛密封片材的厚度范圍為0.05mm-2mm。
8.如權利要求1所述的用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，所述正極片的長度和寬度小于所述負極片長度和寬度，小于范圍值均為1mm-4mm。
9.如權利要求1所述的用于原位XRD測試的疊片式軟包電芯的制作方法，其特征在于，所述正極片的寬度小于所述隔離膜的寬度，小于范圍值為2mm-8mm。