何變化都產(chǎn)生具有開始電平的低電壓檢測(cè)信號(hào)。
[0117]技術(shù)方案8.根據(jù)技術(shù)方案7所述的非易失性存儲(chǔ)裝置，其中，低電壓檢測(cè)電路包括:
[0118]第一檢測(cè)塊，被配置為基于參考電壓來檢測(cè)外部電壓的電平，并輸出預(yù)檢測(cè)信號(hào)；以及
[0119]第二檢測(cè)塊，被配置為在預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平被檢測(cè)為開始電平時(shí)無論預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平如何變化都產(chǎn)生具有開始電平的低電壓檢測(cè)信號(hào)。
[0120]技術(shù)方案9.根據(jù)技術(shù)方案8所述的非易失性存儲(chǔ)裝置，其中，第二檢測(cè)塊包括:
[0121]放電單元，被配置為根據(jù)預(yù)檢測(cè)信號(hào)來確定輸出單元的輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平；以及
[0122]輸出單元，被配置為將輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平反相，以及產(chǎn)生低電壓檢測(cè)信號(hào)。
[0123]技術(shù)方案10.根據(jù)技術(shù)方案8所述的非易失性存儲(chǔ)裝置，其中，第二檢測(cè)塊包括:
[0124]放電單元，被配置為根據(jù)預(yù)檢測(cè)信號(hào)來確定輸出單元的輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平；
[0125]輸出單元，被配置為將輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平反相，以及產(chǎn)生低電壓檢測(cè)信號(hào)；以及
[0126]初始化單元，電耦接在低電壓檢測(cè)信號(hào)的輸出端子與接地端子之間，以及被配置為由初始化信號(hào)來驅(qū)動(dòng)。
[0127]技術(shù)方案11.根據(jù)技術(shù)方案8所述的非易失性存儲(chǔ)裝置，其中，第一檢測(cè)塊包括:
[0128]電壓劃分單元，被配置為從外部電壓產(chǎn)生分電壓；以及
[0129]比較單元，被配置為比較分電壓與參考電壓，并產(chǎn)生預(yù)檢測(cè)信號(hào)。
[0130]技術(shù)方案12.根據(jù)技術(shù)方案11所述的非易失性存儲(chǔ)裝置，其中，電壓劃分單元包括:
[0131]外部電壓供應(yīng)部，被配置為根據(jù)使能信號(hào)來供應(yīng)外部電壓；以及
[0132]分電壓發(fā)生部，被配置為:被供應(yīng)外部電壓，以及產(chǎn)生分電壓。
[0133]技術(shù)方案13.根據(jù)技術(shù)方案11所述的非易失性存儲(chǔ)裝置，其中，電壓劃分單元包括:
[0134]外部電壓供應(yīng)部，被配置為根據(jù)使能信號(hào)來供應(yīng)外部電壓；
[0135]分電壓發(fā)生部，被配置為:被供應(yīng)外部電壓，以及產(chǎn)生分電壓；以及
[0136]電平固定部，被配置為根據(jù)預(yù)檢測(cè)信號(hào)來使分電壓的電平下降為預(yù)設(shè)電平。
[0137]技術(shù)方案14.一種非易失性存儲(chǔ)裝置的操作方法，所述非易失性存儲(chǔ)裝置包括由控制器控制的存儲(chǔ)區(qū)，所述操作方法包括:
[0138]通過控制器，在外部電壓被供應(yīng)時(shí)比較參考電壓與外部電壓，并輸出預(yù)檢測(cè)信號(hào)；以及
[0139]通過控制器，在預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平被檢測(cè)為開始電平時(shí)無論預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平如何變化都產(chǎn)生具有開始電平的低電壓檢測(cè)信號(hào)。
[0140]技術(shù)方案15.根據(jù)技術(shù)方案14所述的操作方法，還包括:
[0141]通過控制器，根據(jù)初始化信號(hào)來初始化低電壓檢測(cè)信號(hào)。
[0142]技術(shù)方案16.根據(jù)技術(shù)方案14所述的操作方法，其中，輸出預(yù)檢測(cè)信號(hào)包括:
[0143]通過控制器來從外部電壓產(chǎn)生分電壓；以及
[0144]通過控制器，比較分電壓與參考電壓并產(chǎn)生預(yù)檢測(cè)信號(hào)。
[0145]技術(shù)方案17.根據(jù)技術(shù)方案14所述的操作方法，還包括:
[0146]在外部電壓的電平已經(jīng)下降時(shí)，通過控制器來執(zhí)行用于校正錯(cuò)誤的一系列操作。
[0147]技術(shù)方案18.根據(jù)技術(shù)方案14所述的操作方法，還包括:
[0148]通過控制器來執(zhí)行用于校正錯(cuò)誤的一系列操作而不管非易失性存儲(chǔ)裝置的操作。
[0149]技術(shù)方案19.根據(jù)技術(shù)方案14所述的操作方法，還包括:
[0150]由低電壓檢測(cè)電路來監(jiān)控外部電壓的電平何時(shí)降低到預(yù)定電平之下。
[0151]技術(shù)方案20.根據(jù)技術(shù)方案14所述的操作方法，還包括:
[0152]栗浦外部電壓并由電壓提供塊根據(jù)非易失性存儲(chǔ)裝置的操作模式來提供具有預(yù)設(shè)電平的電壓給行選擇塊。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種低電壓檢測(cè)電路，包括: 第一檢測(cè)塊，被配置為根據(jù)參考電壓來檢測(cè)外部電壓的電平，并輸出預(yù)檢測(cè)信號(hào)；以及第二檢測(cè)塊，被配置為在預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平被檢測(cè)為開始電平時(shí)無論預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平如何變化都產(chǎn)生具有開始電平的低電壓檢測(cè)信號(hào)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低電壓檢測(cè)電路，其中，第二檢測(cè)塊包括: 放電單元，被配置為根據(jù)預(yù)檢測(cè)信號(hào)來確定輸出單元的輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平；以及 輸出單元，被配置為將輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平反相，以及產(chǎn)生低電壓檢測(cè)信號(hào)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低電壓檢測(cè)電路，其中，第二檢測(cè)塊包括: 放電單元，被配置為根據(jù)預(yù)檢測(cè)信號(hào)來確定輸出單元的輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平； 輸出單元，被配置為:將輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平反相，以及產(chǎn)生低電壓檢測(cè)信號(hào)；以及初始化單元，電耦接在低電壓檢測(cè)信號(hào)的輸出端子與接地端子之間，以及被配置為由初始化信號(hào)來驅(qū)動(dòng)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低電壓檢測(cè)電路，其中，第一檢測(cè)塊包括: 電壓劃分單元，被配置為從外部電壓產(chǎn)生分電壓；以及 比較單元，被配置比較分電壓與參考電壓，并產(chǎn)生預(yù)檢測(cè)信號(hào)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低電壓檢測(cè)電路，其中，電壓劃分單元包括: 外部電壓供應(yīng)部，被配置為根據(jù)使能信號(hào)來供應(yīng)外部電壓；以及 分電壓發(fā)生部，被配置為:被供應(yīng)外部電壓，以及產(chǎn)生分電壓。6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低電壓檢測(cè)電路，其中，電壓劃分單元包括: 外部電壓供應(yīng)部，被配置為根據(jù)使能信號(hào)來供應(yīng)外部電壓； 分電壓發(fā)生部，被配置為:被供應(yīng)外部電壓，以及產(chǎn)生分電壓； 電平固定部，被配置為根據(jù)預(yù)檢測(cè)信號(hào)來使分電壓的電平下降為預(yù)設(shè)電平。7.一種非易失性存儲(chǔ)裝置，包括: 存儲(chǔ)區(qū)，包括多個(gè)非易失性存儲(chǔ)單元；以及 低電壓檢測(cè)電路，被配置為:通過被施加外部電壓來控制對(duì)存儲(chǔ)區(qū)的訪問，以及被配置為在外部電壓的電平被檢測(cè)為開始電平時(shí)無論外部電壓的電平如何變化都產(chǎn)生具有開始電平的低電壓檢測(cè)信號(hào)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的非易失性存儲(chǔ)裝置，其中，低電壓檢測(cè)電路包括: 第一檢測(cè)塊，被配置為基于參考電壓來檢測(cè)外部電壓的電平，并輸出預(yù)檢測(cè)信號(hào)；以及第二檢測(cè)塊，被配置為在預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平被檢測(cè)為開始電平時(shí)無論預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平如何變化都產(chǎn)生具有開始電平的低電壓檢測(cè)信號(hào)。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的非易失性存儲(chǔ)裝置，其中，第二檢測(cè)塊包括: 放電單元，被配置為根據(jù)預(yù)檢測(cè)信號(hào)來確定輸出單元的輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平；以及 輸出單元，被配置為將輸入節(jié)點(diǎn)的電勢(shì)電平反相，以及產(chǎn)生低電壓檢測(cè)信號(hào)。10.一種非易失性存儲(chǔ)裝置的操作方法，所述非易失性存儲(chǔ)裝置包括由控制器控制的存儲(chǔ)區(qū)，所述操作方法包括: 通過控制器，在外部電壓被供應(yīng)時(shí)比較參考電壓與外部電壓，并輸出預(yù)檢測(cè)信號(hào)；以及通過控制器，在預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平被檢測(cè)為開始電平時(shí)無論預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平如何變化都產(chǎn)生具有開始電平的低電壓檢測(cè)信號(hào)。
【專利摘要】一種低電壓檢測(cè)電路，包括：第一檢測(cè)塊，被配置為根據(jù)參考電壓來檢測(cè)外部電壓的電平，并輸出預(yù)檢測(cè)信號(hào)；以及第二檢測(cè)塊，被配置為在預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平被檢測(cè)為開始電平時(shí)無論預(yù)檢測(cè)信號(hào)的電平如何變化都產(chǎn)生具有開始電平的低電壓檢測(cè)信號(hào)。
【IPC分類】G11C16/34
【公開號(hào)】CN105719697
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510575246
【發(fā)明人】李炫哲
【申請(qǐng)人】愛思開海力士有限公司
【公開日】2016年6月29日
【申請(qǐng)日】2015年9月10日