技術總結
本發明揭示了一種用于自動測試設備ATE測試的調制信號的產生方法,屬于集成電路測試領域。所述用于自動測試設備ATE測試的調制信號的產生方法包括:根據被測集成電路以及需要的預定測試功能生成相應的調制信號的測試波形;將所述測試波形的文件轉換成ASCII格式文件;將所述ASCII格式文件轉換成能夠被ATE識別的測試碼,所述測試碼被提供給所述ATE在所述被測集成電路上進行所述預定測試功能的測試。本發明通過將測試波形轉換成可被ATE識別的測試碼,很好地實現了測試碼流的格式轉換,降低了測試的難度與測試時間。
技術研發人員:張凱虹
受保護的技術使用者:中國電子科技集團公司第五十八研究所
文檔號碼:201611221323
技術研發日:2016.12.26
技術公布日:2017.05.10