用于自動測試設備ATE測試的調制信號的產生方法與流程

本發明涉及集成電路測試領域，特別涉及一種用于ATE(英文全稱：Automatic Test Equipment，中文：自動測試設備)測試的調制信號的產生方法。

背景技術：

對于可用作通用I/Q(英文全稱：In-phase/Quadrature，中文：同相正交)調制器的集成電路的測試，數字輸入信號端口需要發數字信號波形以便于實現調制測試。

一般應用軟件開發工具生成的用于對I/Q調制器的集成電路進行調制功能測試的碼流文件無法直接被ATE識別，因此無法實現對I/Q調制器的集成電路的調制功能的測試。

技術實現要素：

為了解決帶IQ調制模式的集成電路的調制功能測試，本發明提供一種用于自動測試設備ATE測試的調制信號的產生方法。所述技術方案如下：

該用于自動測試設備ATE測試的調制信號的產生方法包括：根據被測集成電路以及需要的預定測試功能生成相應的調制信號的測試波形；將所述測試波形的文件轉換成ASCII(英文全稱：American Standard Code for Information Interchange，中文：美國信息交換標準代碼)格式文件；將所述ASCII格式文件轉換成能夠被ATE識別的測試碼，所述測試碼被提供給所述ATE在所述被測集成電路上進行所述預定測試功能的測試。

本發明通過將測試波形轉換成可被ATE識別的測試碼，很好地實現了測試碼流的格式轉換，降低了測試的難度與測試時間。

可選的，所述根據被測集成電路以及需要的預定測試功能生成相應的調制信號的測試波形，包括：利用軟件開發工具編寫測試代碼，所述測試代碼包括符號的采樣率、符號的位數、保護位、信息位、PN碼(英文：Pseudo-Noise Code)序列中的至少一種，以及所述預定測試功能所涉及的所述被測集成電路的其他管腳的信息；利用所述測試代碼生成具備所述預定測試功能的測試波形。

在利用軟件開發工具編寫測試代碼時，由于可以根據任意的測試需要編碼代碼以生成對應的測試波形，最終均能夠將波形轉換成可以被ATE設備識別的測試碼，因此可以適應于任一種需要測試的被測集成電路以及任一種需要的測試功能，提高了測試的普及度。

可選的，軟件開發工具為Labview軟件。

可選的，所述測試波形為hws(英文：hierarchical waveform storage data，中文：等級波形存儲數據)格式文件，所述將所述測試波形的文件轉換成ASCII格式文件，包括：將所述hws格式文件的所述測試波形轉換成ASCII格式文件。

可選的，所述測試波形的長度大于預定時長。

這里的預定時長與有效測試時長相關，以保障測試結果可以真實地反映被測集成電路的實際情況。

可選的，所述測試波形的長度大于第一預定時長且小于第二預定時長，所述第二預定時長與所述ATE的測試向量深度相關。

可選的，在所述將所述ASCII格式文件轉換成能夠被ATE識別的測試碼之后，所述方法還包括：利用所述測試碼對所述被測集成電路進行測試，在所述測試碼實現所述預定測試功能時，保存所述測試碼。

在生成測試碼之后，先對測試碼進行測試，確保測試碼可以實現既定的預定測試功能。

應當理解的是，以上的一般描述和后文的細節描述僅是示例性的，并不能限制本發明。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構成本說明書的一部分，示出了符合本發明的實施例，并與說明書一起用于解釋本發明的原理。

圖1是根據一示例性實施例提供的用于ATE測試的調制信號的產生方法的流程圖；

圖2是根據一示例性實施例提供的hws波形圖；

圖3是根據一示例性實施例提供的ASCII文件轉換方式的示意圖；

圖4是根據一示例性實施例提供的ASCII文件生成格式的示意圖；

圖5是根據一示例性實施例提供的ATE轉換后文件格式的示意圖；

圖6是根據一示例性實施例提供的EVM測試結果圖。

具體實施方式

這里將詳細地對示例性實施例進行說明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時，除非另有表示，不同附圖中的相同數字表示相同或相似的要素。以下示例性實施例中所描述的實施方式并不代表與本發明相一致的所有實施方式。相反，它們僅是與如所附權利要求書中所詳述的、本發明的一些方面相一致的裝置和方法的例子。

圖1是根據一示例性實施例提供的用于ATE測試的調制信號的產生方法的流程圖，該用于ATE測試的調制信號的產生方法可以應用于調制信號生成系統，該調制信號生成系統最終生成的測試碼可以輸入給ATE，由ATE對測試碼進行執行，以對被測集成電路進行測試。該用于ATE測試的調制信號的產生方法至少包括如下步驟：

步驟101，根據被測集成電路以及需要的預定測試功能生成相應的調制信號的測試波形。

調制信號生成系統在根據被測集成電路以及需要的預定測試功能生成相應的調制信號的測試波形時，可以利用軟件開發工具編碼代碼以生成測試波形。在一種實現中，至少可以包括如下步驟：

第一，利用軟件開發工具編寫測試代碼，所述測試代碼包括符號的采樣率、符號的位數、保護位、信息位、PN碼序列中的至少一種，以及所述預定測試功能所涉及的所述被測集成電路的其他管腳的信息。

這里所講的軟件開發工具可以為Labview，也可以為其他類型的軟件開發工具，本實施例中不對軟件開發工具進行限定。

一般來講，測試人員或編碼人員在利用軟件開發工具編寫測試代碼時，為了使得編寫的測試代碼在編譯得到的測試波形符合需要測試的被測集成電路以及對應的預定測試功能，需要在測試代碼中編寫入各種參數，這些參數可以包括符號的采樣率、符號的位數、保護位、信息位、PN碼序列等中的至少一種，另外，根據預定測試功能所涉及的被測集成電路的其他必要管腳，測試代碼中還可以包括這些必要管腳的信息。

第二，利用測試代碼生成具備預定測試功能的測試波形。

一般的，在軟件開發工具中，測試人員或編碼人員在編碼好測試代碼之后，需要對測試代碼進行編譯，編譯后得到測試波形。

為了保證測試波形的測試有效性，在一種可能的實現方式中，測試波形的長度可以大于預定時長。這里的預定時長可以與有效測試時長相關。

在另一種可能的實現方式中，測試波形的長度可以大于第一預定時長且小于第二預定時長。其中，第一預定時長與有效測試時長相關，第二預定時長與ATE的測試向量深度相關。也就是說，在實際應用中，為了保證有效的測試時長，需要將測試波形的長度設置為大于有效測試時長；而為了保證ATE可以進行有效測試，還需要保證測試波形的長度不能超過ATE的測試向量深度的限制。

步驟102，將該測試波形的文件轉換成ASCII格式文件。

可選的，當軟件開發工具為Labview時，編譯后得到的測試波形為hws格式的文件，請參見圖2所示。

而hws格式的文件一般無法直接被ATE識別，為了能夠得到可以被ATE識別的格式文件，本實施例中需要將hws格式的測試波形的文件轉換成可以被ATE識別的格式文件，請參見圖3和圖4所示。

在一種可能的實現方式中，調制信號生成系統可以將hws格式的測試波形的文件轉換成ASCII格式文件，然后執行步驟103。

步驟103，將該ASCII格式文件轉換成能夠被ATE識別的測試碼，該測試碼被提供給ATE在該被測集成電路上進行預定測試功能的測試。

調制信號生成系統將該ASCII格式文件轉換成能夠被ATE識別的測試碼，如圖5所示。在轉換成測試碼之后，可以將測試碼輸入給ATE，由ATE根據測試碼在該被測集成電路上進行預定測試功能的測試。在一種可能的實現方式中，測試結果如圖6所示。

可選的，在將該ASCII格式文件轉換成能夠被ATE識別的測試碼之后，還可以直接將測試碼輸入給ATE，由ATE對測試碼進行測試，確保實現既定的預定測試功能。

綜上所述，本發明實施例提供的用于自動測試設備ATE測試的調制信號的產生方法，通過將測試波形轉換成可被ATE識別的測試碼，很好地實現了測試碼流的格式轉換，降低了測試的難度與測試時間。

本領域技術人員在考慮說明書及實踐這里發明的發明后，將容易想到本發明的其它實施方案。本申請旨在涵蓋本發明的任何變型、用途或者適應性變化，這些變型、用途或者適應性變化遵循本發明的一般性原理并包括本發明未發明的本技術領域中的公知常識或慣用技術手段。說明書和實施例僅被視為示例性的，本發明的真正范圍和精神由下面的權利要求指出。

應當理解的是，本發明并不局限于上面已經描述并在附圖中示出的精確結構，并且可以在不脫離其范圍進行各種修改和改變。本發明的范圍僅由所附的權利要求來限制。