基于中智數(shù)函數(shù)的結(jié)構(gòu)面粗糙度尺寸效應(yīng)的近似表達(dá)方法與流程

技術(shù)特征：

1.一種基于中智數(shù)函數(shù)的結(jié)構(gòu)面粗糙度尺寸效應(yīng)的近似表達(dá)方法，其特征在于：所述近似表達(dá)方法包括以下步驟：

(1)使用三維激光儀對(duì)大尺度結(jié)構(gòu)面試樣進(jìn)行掃描，獲得結(jié)構(gòu)面三維點(diǎn)云坐標(biāo)數(shù)據(jù)；

(2)依據(jù)大尺寸結(jié)構(gòu)面的三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)，在不同測量方向均勻提取不同尺寸結(jié)構(gòu)面輪廓線及其坐標(biāo)數(shù)據(jù)，據(jù)此測量每個(gè)測段的結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)；

(3)在不同測量方向條件下，對(duì)各個(gè)尺寸的結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)分別進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，計(jì)算得到結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)的統(tǒng)計(jì)平均值與標(biāo)準(zhǔn)差σ；

(4)將結(jié)構(gòu)面粗度系數(shù)的統(tǒng)計(jì)平均值與標(biāo)準(zhǔn)差之和作為結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)分析的上限值JRC_up；將結(jié)構(gòu)面粗度系數(shù)的統(tǒng)計(jì)平均值與標(biāo)準(zhǔn)差的差值作為結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)分析的下限值JRC_down；

(5)分別繪制結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)上限值與下限值的隨尺寸變化規(guī)律圖；采用對(duì)數(shù)方程對(duì)不同方向上限值與下限值進(jìn)行擬合，并獲得對(duì)數(shù)方程的擬合系數(shù)；

(6)根據(jù)結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)的尺寸效應(yīng)的上限擬合值與上限擬合值，得到結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)的極坐標(biāo)的中智數(shù)函數(shù)表達(dá)；

(7)依據(jù)結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)的中智數(shù)函數(shù)表達(dá)，計(jì)算獲得尺寸條件下結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)的區(qū)間范圍；

(8)按照步驟(3)～(7)，獲得不同測量方向條件下結(jié)構(gòu)面各個(gè)尺寸的粗糙度系數(shù)的區(qū)間范圍。

2.如權(quán)利要求1所述的基于中智數(shù)函數(shù)的結(jié)構(gòu)面粗糙度尺寸效應(yīng)的近似表達(dá)方法，其特征在于：所述步驟(6)中，中智數(shù)函數(shù)形式表達(dá)為：

$\begin{array}{c}JRC=(m_1+{\mathrm{\μ}}_{m_1}I)+(m_2+{\mathrm{\μ}}_{m_2}I)*\log \left(l\right)\\ =(m_1+m_2\log (l\left)\right)+({\mathrm{\μ}}_{m_1}+{\mathrm{\μ}}_{m_2}\log (l\left)\right)I\\ =\[m_1+m_2\log \left(l\right),m_1+m_2\log \left(l\right)+({\mathrm{\μ}}_{m_1}+{\mathrm{\μ}}_{m_2}\log (l\left)\right)/2\],I\∈\[0,0.5\]\end{array}.$

其中，m₁等于某一角度下結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)下限a_下的擬合結(jié)果；m₂為某一角度下結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)下限b_下的擬合結(jié)果；為結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)上、下限a_上與a_下的差值的2倍；為結(jié)構(gòu)面粗糙度系數(shù)上、下限b_上與b_下的差值的2倍；I為不確定區(qū)間范圍[0,0.5]；l為試樣長度。