技術特征:
技術總結
本發明提供一種分選器以及檢查裝置。本發明的分選器具有:支承部;保持IC芯片的保持部;以及位置變更機構部,該位置變更機構部設置于支承部與保持部之間對保持于保持部的IC芯片相對于支承部的位置進行改變。另外,位置變更機構部具有:設置成能夠沿規定方向移動的二維移動部;設置成能夠相對于二維移動部進行轉動的轉動部;以及使二維移動部相對于支承部移動的壓電促動器。
技術研發人員:塩澤雅邦;宮澤修;西村義輝
受保護的技術使用者:精工愛普生株式會社
技術研發日:2013.01.15
技術公布日:2017.09.29