上的光發射率，其可以包括:
[0043]光發射單元，用于向所述預設路徑上的多個位置發射測量光線；
[0044]光接收單元，用于接收所述預設路徑上的所述多個位置的反射光線；
[0045]光分析單元，用于根據所述測量光線和所述反射光線得到所述預設路徑上的所述多個位置的光反射率；
[0046]例如，上述光發射單元可以為內置光源的發射探頭，通過光發射單元發出測量光線，光接收單元接受反射光線，再由光分析單元將反射光線和發出光線的對比，從而能夠得到光反射率；
[0047]優選地，為了還能方便人為控制測試反射率的位置，上述取向膜涂敷檢測設備還包括顯微鏡鏡頭，例如，可以將反射率測量裝置與顯微鏡鏡頭集成為綜合鏡頭，將光發射單元集成在該顯微鏡鏡頭中。
[0048]其中，為了能夠測試預設路徑上多個位置的光反射率，可以通過控制反射率測量裝置或者陣列基板移動，從而使兩者發生相對運動，例如，可以設置移動機構，通過該移動機構控制所述基板勻速運動以使所述反射率測量裝置測量所述預設路徑上多個位置的光反射率。
[0049]其中，在本發明中，距離測量裝置可以通過采集不同類型的數據計算顯示區域的邊緣與取向膜的邊緣之間的距離，例如，可以記錄測量每一反射率數據時陣列基板勻速運動的時間，該距離測量裝置包括:
[0050]計時單元，用于當測量至所述顯示區域的邊緣時發生第一光反射率突變時記錄第一時刻，以及當測量至所述取向膜的邊緣時發生第二光反射率突變時記錄第二時刻；
[0051]第一距離計算單元，用于根據所述第一時刻、所述第二時刻以及所述勻速運動的速度計算所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。
[0052]此外，還可以通過預先建立(X，Y)坐標系，使距離測量裝置記錄測量每一反射率數據時陣列基板所在的位置，該距離測量裝置包括:
[0053]位置獲取單元，用于當測量至所述顯示區域的邊緣時發生第一光反射率突變時記錄所述基板的第一坐標位置，以及當測量至所述取向膜的邊緣時發生第二光反射率突變時記錄所述基板的第二坐標位置；
[0054]第二距離計算單元，用于根據所述第一坐標位置、所述第二坐標位置計算所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。
[0055]參見圖6，圖6是本發明實施方式提供了另一種取向膜涂敷檢測設備的示意圖，該取向膜涂敷檢測設備包括:
[0056]反射率測量裝置100，用于測量涂敷有取向膜的基板上預設路徑上的光反射率，所述預設路徑垂直所述基板上顯示區域的邊緣且經所述顯示區域的邊緣和所述取向膜的邊緣；
[0057]距離測量裝置200，用于根據所述反射率測量裝置檢測的光反射率獲取所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離；
[0058]數據處理裝置300，其中，所述數據處理裝置包括信息生成單元，用于記錄通過在不同的所述預設路徑檢測光反射率從而獲取的不同位置處的所述距離，并生成相應的數據文件，例如，對于圖2所示的陣列基板，可以對其上側邊緣、下側邊緣、左側邊緣及右側邊緣分別進行檢測，并且對于每一側邊緣，檢測的預設路徑可以位于陣列基板的中線附近；
[0059]優選地，所述數據處理裝置還包括報警單元，用于當所述距離超出預設數值范圍時報警，例如，對于陣列基板，該預設數值范圍可以為0.4mm?1.0mm。
[0060]例如，對于圖2所示的陣列基板，首先對上側邊緣、下側邊緣、左側邊緣及右側邊緣中的每一側邊緣設置預設數值范圍，而后依次對每一側邊緣進行檢測，在檢測過程中，對于每一側邊緣，當其測量的數據未超出對應的預設數值范圍時，繼續對其他邊緣進行檢測，若其測量的數據超出對應的預設數值范圍時，則通過報警單元進行報警，再通過用戶確認復位后繼續對其他邊緣進行檢測，待所有邊緣的數據測試完畢后生成相應的數據文件，例如，可以生成EXCEL文檔。
[0061]本發明實施方式提供的取向膜涂敷檢測設備，通過利用顯示區域邊緣處的光反射率變化和取向膜邊緣的反射率變化計算兩者之間的距離，不但能夠實現取向膜涂敷效果的自動檢測，提高產能，還能提高測量精度，解決人為測量帶來的誤差。
[0062]以上實施方式僅用于說明本發明，而并非對本發明的限制，有關技術領域的普通技術人員，在不脫離本發明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術方案也屬于本發明的范疇，本發明的專利保護范圍應由權利要求限定。
【主權項】
1.一種取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，包括: 反射率測量裝置，用于測量涂敷有取向膜的基板上預設路徑上的光反射率，所述預設路徑經所述基板上顯示區域的邊緣和所述取向膜的邊緣； 距離測量裝置，用于根據所述反射率測量裝置檢測的光反射率獲取所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。2.根據權利要求1所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，所述反射率測量裝置包括: 光發射單元，用于向所述預設路徑上的多個位置發射測量光線； 光接收單元，用于接收所述預設路徑上的所述多個位置的反射光線； 光分析單元，用于根據所述測量光線和所述反射光線得到所述預設路徑上的所述多個位置的光反射率。3.根據權利要求2所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，還包括顯微鏡鏡頭。4.根據權利要求3所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，所述光發射單元集成在所述顯微鏡鏡頭中。5.根據權利要求1所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，還包括移動機構，用于控制所述基板勻速運動以使所述反射率測量裝置測量所述預設路徑上多個位置的光反射率。6.根據權利要求5所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，所述距離測量裝置包括: 計時單元，用于當測量至所述顯示區域的邊緣時發生第一光反射率突變時記錄第一時亥IJ，以及當測量至所述取向膜的邊緣時發生第二光反射率突變時記錄第二時刻； 第一距離計算單元，用于根據所述第一時刻、所述第二時刻以及所述勻速運動的速度計算所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。7.根據權利要求5所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，所述距離測量裝置包括: 位置獲取單元，用于當測量至所述顯示區域的邊緣時發生第一光反射率突變時記錄所述基板的第一坐標位置，以及當測量至所述取向膜的邊緣時發生第二光反射率突變時記錄所述基板的第二坐標位置； 第二距離計算單元，用于根據所述第一坐標位置、所述第二坐標位置計算所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。8.根據權利要求1所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，還包括數據處理裝置，所述數據處理裝置包括信息生成單元，用于記錄通過在不同的所述預設路徑檢測光反射率從而獲取的不同位置處的所述距離，并生成相應的數據文件。9.根據權利要求8所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，所述數據處理裝置還包括報警單元，用于當所述距離超出預設數值范圍時報警。10.根據權利要求1-9任一所述的取向膜涂敷檢測設備，其特征在于，所述基板為陣列基板，所述顯示區域的邊緣為所述陣列基板上最外側的柵線背向所述陣列基板中心的邊緣或者為所述陣列基板上最外側的數據線背向所述陣列基板中心的邊緣。
【專利摘要】本發明提供了一種取向膜涂敷檢測設備，該取向膜涂敷檢測設備包括：反射率測量裝置，用于測量涂敷有取向膜的基板上預設路徑上的光反射率，所述預設路徑經所述基板上顯示區域的邊緣和所述取向膜的邊緣；距離測量裝置，用于根據所述反射率測量裝置檢測的光反射率獲取所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。本發明提供的取向膜涂敷檢測設備，通過利用顯示區域邊緣處的光反射率變化和取向膜邊緣的反射率變化計算兩者之間的距離，不但能夠實現取向膜涂敷效果的自動檢測，提高產能，還能提高測量精度，解決人為測量帶來的誤差。
【IPC分類】G01B11/14, G02F1/13, G02F1/1337
【公開號】CN105182616
【申請號】CN201510543412
【發明人】劉俊國, 孫盛林, 鄭康, 李輝
【申請人】京東方科技集團股份有限公司
【公開日】2015年12月23日
【申請日】2015年8月28日