取向膜涂敷檢測設備的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示領域，尤其涉及一種取向膜涂敷檢測設備。
【背景技術】
[0002]液晶顯示面板(TFT-1XD)具有顯示質量高、功耗低、無輻射等優點，近幾年發展十分迅速，并在各個領域得到了廣泛的應用，現有的液晶顯示面板主要包括陣列基板、彩膜基板和液晶層，在現有的液晶顯示面板制作工藝中，需要在彩膜基板以及陣列基板(TFT基板)上涂敷一層取向膜，并在取向膜上形成取向溝槽來使液晶分子取向、旋轉而進行光的傳遞，從而實現顯示。
[0003]現有的取向膜涂敷工藝主要采取APR版轉印技術將取向液涂敷在基板上，然而，在取向液的固化過程中，取向液邊緣會形成一層厚度不均的區域，為了確保基板上顯示區域厚度一致和圖像顯示質量，在涂敷完成后，需要人工對涂敷效果進行測試，要保證面板的有效區域全部涂敷取向膜，并使厚度不均的區域距離基板上的顯示區域大于預設距離(如0.1mm)，傳統的取向膜涂敷效果檢測方法具體為:在顯微鏡下通過人為的移動鏡頭，通過在顯示屏的成像來測量取向膜邊緣的距離，然而，由于上述檢測方法主要采用人工手動進行檢測，無法實現自動化作業，不利于產能的提高。
【發明內容】
[0004](一 )要解決的技術問題
[0005]本發明要解決的技術問題是:如何實現取向膜涂敷效果的自動化檢測。
[0006]( 二)技術方案
[0007]為解決上述技術問題，本發明的技術方案提供了一種取向膜涂敷檢測設備，包括:
[0008]反射率測量裝置，用于測量涂敷有取向膜的基板上預設路徑上的光反射率，所述預設路徑經所述基板上顯示區域的邊緣和所述取向膜的邊緣；
[0009]距離測量裝置，用于根據所述反射率測量裝置檢測的光反射率獲取所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。
[0010]優選地，所述反射率測量裝置包括:
[0011]光發射單元，用于向所述預設路徑上的多個位置發射測量光線；
[0012]光接收單元，用于接收所述預設路徑上的所述多個位置的反射光線；
[0013]光分析單元，用于根據所述測量光線和所述反射光線得到所述預設路徑上的所述多個位置的光反射率。
[0014]優選地，還包括顯微鏡鏡頭。
[0015]優選地，所述光發射單元集成在所述顯微鏡鏡頭中。
[0016]優選地，還包括移動機構，用于控制所述基板勻速運動以使所述反射率測量裝置測量所述預設路徑上多個位置的光反射率。
[0017]優選地，所述距離測量裝置包括:
[0018]計時單元，用于當測量至所述顯示區域的邊緣時發生第一光反射率突變時記錄第一時刻，以及當測量至所述取向膜的邊緣時發生第二光反射率突變時記錄第二時刻；
[0019]第一距離計算單元，用于根據所述第一時刻、所述第二時刻以及所述勻速運動的速度計算所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。
[0020]優選地，所述距離測量裝置包括:
[0021]位置獲取單元，用于當測量至所述顯示區域的邊緣時發生第一光反射率突變時記錄所述基板的第一坐標位置，以及當測量至所述取向膜的邊緣時發生第二光反射率突變時記錄所述基板的第二坐標位置；
[0022]第二距離計算單元，用于根據所述第一坐標位置、所述第二坐標位置計算所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。
[0023]優選地，還包括數據處理裝置，所述數據處理裝置包括信息生成單元，用于記錄通過在不同的所述預設路徑檢測光反射率從而獲取的不同位置處的所述距離，并生成相應的數據文件。
[0024]優選地，所述數據處理裝置還包括報警單元，用于當所述距離超出預設數值范圍時報警。
[0025]優選地，所述基板為陣列基板，所述顯示區域的邊緣為所述陣列基板上最外側的柵線背向所述陣列基板中心的邊緣或者為所述陣列基板上最外側的數據線背向所述陣列基板中心的邊緣。
[0026](三)有益效果
[0027]本發明提供的取向膜涂敷檢測設備，通過利用顯示區域邊緣處的光反射率變化和取向膜邊緣的反射率變化計算兩者之間的距離，不但能夠實現取向膜涂敷效果的自動檢測，提高產能，還能提高測量精度，解決人為測量帶來的誤差。
【附圖說明】
[0028]圖1是本發明實施方式提供的一種取向膜涂敷檢測設備的示意圖；
[0029]圖2是本發明實施方式提供的一種陣列基板的示意圖；
[0030]圖3是圖2中虛線框內的放大示意圖；
[0031]圖4是對圖3中陣列基板進行取向膜涂敷檢測的示意圖；
[0032]圖5是對圖3中陣列基板進行檢測得到的反射率變化示意圖；
[0033]圖6是本發明實施方式提供的一種取向膜涂敷檢測設備的示意圖。
【具體實施方式】
[0034]下面結合附圖和實施例，對本發明的【具體實施方式】作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本發明，但不用來限制本發明的范圍。
[0035]圖1是本發明實施方式提供了一種取向膜涂敷檢測設備的示意圖，該取向膜涂敷檢測設備包括:
[0036]反射率測量裝置100，用于測量涂敷有取向膜的基板上預設路徑上的光反射率，所述預設路徑經所述基板上顯示區域的邊緣和所述取向膜的邊緣；
[0037]距離測量裝置200，用于根據所述反射率測量裝置檢測的光反射率獲取所述顯示區域的邊緣與所述取向膜的邊緣之間的距離。
[0038]本發明實施方式提供的取向膜涂敷檢測設備，通過利用顯示區域邊緣處的光反射率變化和取向膜邊緣的反射率變化計算兩者之間的距離，不但能夠實現取向膜涂敷效果的自動檢測，提高產能，還能提高測量精度，解決人為測量帶來的誤差。
[0039]優選地，反射率測量裝置100可以選取垂直顯示區域的邊緣的路徑作為測量的預設路徑；
[0040]例如，對于陣列基板，其上設置有多條縱橫交錯的柵線和數據線，通過該多條縱橫交錯的柵線和數據線在陣列基板上形成顯示區域，因此，對于陣列基板上用于顯示的顯示區域，其邊緣即為位于最外側的柵線背向陣列基板中心的邊緣以及最外側的數據線背向陣列基板中心的邊緣，并且由于柵線和數據線通常采用鋁、釹或鉬等光透過率幾乎為零的金屬材料，當如圖2所示在陣列基板300的顯示區域310上形成取向膜320后，能夠在陣列基板上形成反射率差異較大的三種區域，分別為未設置有金屬線(柵線或數據線)且未覆蓋有取向膜的區域、僅覆蓋有取向膜但未設置有金屬線的區域、設置有金屬線且覆蓋有取向膜的區域，且三種區域的反射率依次增大，通過利用上述三種區域的光反射率不同可以測量顯示區域310的邊緣與形成的取向膜320的邊緣之間的距離；
[0041]圖3是圖2中虛線框330內的放大示意圖，如圖3所示，可以沿垂直最外側的數據線311的路徑400測量反射率，測量的起始點可以在數據線311上的位置，通過控制反射率測量裝置與陣列基板的相對移動，從而測量路徑400上多個位置的反射率，例如，可以如圖4所示，首先將反射率測量裝置放置于最外側數據線311的上方，再控制陣列基板沿垂直數據線311的方向勻速運動，在勻速運動過程中，反射率測量裝置可以等時間間隔測量反射率，并將測量的反射率發送至距離測量裝置，距離測量裝置記錄測量每一反射率數據時陣列基板的位置或者勻速運動的時間，在測量的過程中，可以將當前測得的反射率與上次測得的反射率進行比較，若兩者之間的差值大于預設值，則可認為發生反射率突變，例如，通過記錄陣列基板的移動距離其得到的坐標數據如圖5所示，如圖5所示，在陣列基板的運動過程中，在移動距離為A時發生了第一次反射率突變，在移動距離為B時發生了第二次反射率突變，通過上述分析可知，當陣列基板移動距離為A時，其測量反射率的位置為數據線311的邊緣，當移動距離為B時，其測量反射率的位置為取向膜的邊緣，通過將距離B減去A從而能夠得到該位置處顯示區域310的邊緣與形成的取向膜320的邊緣之間的距離。
[0042]其中，在本實施方式中，反射率測量裝置用于測量基板