顯示面板的測試方法及裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示技術領域，具體涉及一種顯示面板的測試方法及裝置。
【背景技術】
[0002]現有顯示裝置的生產工藝中，Mura(顯示亮度不均勻)是一類很容易出現并嚴重影響顯不效果的不良。例如在AMOLED(Active_Matrix Organic Light Emitting D1de，有源矩陣有機發光二極體)顯示裝置中，薄膜晶體管的閾值電壓漂移、OLED器件的老化以及不同像素間工藝差異都可能導致不同像素間發光亮度的差異，在畫面上呈現出暗點、暗區或者條紋，嚴重影響正常的畫面顯示效果。為避免出現該類不良的顯示面板按照正常流程制成產品并流通向市場、導致人力和物力上的浪費，需要在生產過程中非常準確而及時地檢測出具有該類不良的樣品。對此，現有技術雖然可以通過點燈測試從外觀上檢測出一些明顯的Mura不良，但是外觀上的發光情況并不能詳盡地反映出像素之間在亮度上的細微的差另IJ，因此很容易造成Mura不良的漏檢，使得具有該類不良的樣品進入到之后的工序中，造成人力和物力上的浪費。
【發明內容】
[0003]針對現有技術中的缺陷，本發明提供一種顯示面板的測試方法及裝置，可以解決現有技術中Mura不良容易漏檢的問題。
[0004]第一方面，本發明提供一種顯示面板的測試方法，包括:
[0005]向所述顯示面板輸出預設測試畫面的數據信號，以使設置在所述顯示面板的每一像素區域內的發光元件按照所述預設測試畫面發光;每一所述像素區域內的發光元件連接一開關單元，所述開關單元用于在所述開關單元的第一端處為有效電平時將發光元件的第一端處的電壓傳導至所述開關單元的第二端；
[0006]向設置在所述顯示面板內的掃描單元輸出啟動信號，以使所述掃描單元按照預設時序依次向所連接的多行第一掃描線輸出開關單元的有效電平;任一所述開關單元的第一端連接一行所述第一掃描線；
[0007]接收來自設置在所述顯示面板內的傳感單元的傳感信號;所述傳感信號包括每一所述發光元件的第一端的電壓值信息，由所述傳感單元配合所述預設時序接收來自多列傳感線的電壓信號后得到;其中，任一所述開關單元的第二端連接一列所述傳感線;連接同一行的所述第一掃描線的任意兩個所述開關單元連接不同列的所述傳感線；
[0008]將所述傳感信號中每一所述發光元件的第一端的電壓值信息與所述預設測試畫面進行比較，以得到測試結果。
[0009]可選地，所述將所述傳感信號中每一所述發光元件的第一端的電壓值信息與所述預設測試畫面進行比較，以得到測試結果，包括:
[0010]根據所述預設測試畫面計算得到每一所述發光元件的第一端的標準電壓值；
[0011]將每一所述發光元件的第一端的電壓值與所述標準電壓值進行比較，并在差值超過預設閾值時生成異常信號；
[0012]接收所述異常信號，并在檢測結果畫面中將位置坐標與該異常信號對應的像素顯示為異常像素。
[0013]可選地，所述接收來自設置在所述顯示面板內的傳感單元的傳感信號，包括:
[0014]對接收到的傳感信號進行下述的一項或多項的處理:信號失真補償、濾波、功率放大、模數轉換。
[0015]可選地，所述開關單元包括第三晶體管，所述第三晶體管的柵極連接一行所述第一掃描線，源極與漏極中的一個連接所述發光元件的第一端，另一個連接一列所述傳感線。
[0016]可選地，所述多個像素區域呈行列設置;任一行所述第一掃描線位于相鄰兩行的像素區域之間;任一列所述傳感線位于相鄰兩列的像素區域之間。
[0017]第二方面，本發明還提供了一種顯示面板的測試裝置，包括:
[0018]第一輸出單元，用于向所述顯示面板輸出預設測試畫面的數據信號，以使所述多個發光元件按照所述預設測試畫面發光；每一所述像素區域內的發光元件連接一開關單元，所述開關單元用于在所述開關單元的第一端處為有效電平時將發光元件的第一端處的電壓傳導至所述開關單元的第二端；
[0019]第二輸出單元，用于向所述掃描單元輸出啟動信號，以使所述掃描單元按照預設時序依次向所述多行第一掃描線輸出所述開關單元的有效電平;任一所述開關單元的第一端連接一行所述第一掃描線；
[0020]接收單元，用于接收來自所述傳感單元的信號以生成傳感信號;所述傳感信號包括每一所述發光元件的第一端的電壓值信息，由所述傳感單元配合所述預設時序接收來自多列傳感線的電壓信號后得到;任一所述開關單元的第二端連接一列所述傳感線;連接同一行的所述第一掃描線的任意兩個所述開關單元連接不同列的所述傳感線；
[0021]比較單元，用于將所述傳感信號中每一所述發光元件的第一端的電壓值信息與所述預設測試畫面進行比較，以得到測試結果。
[0022]可選地，所述接收單元具體用于對接收到的信號進行下述的一項或多項的處理:信號失真補償、濾波、功率放大、模數轉換。
[0023]可選地，所述比較單元具體包括:
[0024]計算模塊，用于根據所述預設測試畫面計算得到每一所述發光元件的第一端的標準電壓值；
[0025]比較模塊，用于將每一所述發光元件的第一端的電壓值與所述標準電壓值進行比較，并在差值超過預設閾值時生成異常信號；
[0026]顯示模塊，用于接收所述異常信號，并在檢測結果畫面中將位置坐標與該異常信號對應的像素顯示為異常像素。
[0027]可選地，所述開關單元包括第三晶體管，所述第三晶體管的柵極連接一行所述第一掃描線，源極與漏極中的一個連接所述發光元件的第一端，另一個連接一列所述傳感線。
[0028]可選地，所述多個像素區域呈行列設置;任一行所述第一掃描線位于相鄰兩行的像素區域之間;任一列所述傳感線位于相鄰兩列的像素區域之間。
[0029]由上述技術方案可知，本發明基于顯示面板內的開關單元、第一掃描線和傳感線的設置，可以實現發光元件的第一端處電壓值的獲取;從而，可以在測試時通過比較這一電壓值與理論值之間的差別就可以實現Mura不良的檢測。相比于現有技術而言，本發明直接以量化的數值來檢測Mura不良的存在，不僅具有更高的準確程度，還可以實現檢測過程的自動化，有利于提高工藝流程中測試過程的進行效率。
【附圖說明】
[0030]為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0031 ]圖1是本發明一個實施例中一種顯不面板的結構不意圖；
[0032]圖2是本發明一個實施例中一種顯示面板在像素區域內的電路結構圖；
[0033]圖3是本發明一個實施例中一種顯示面板的測試裝置的結構框圖；
[0034]圖4是本發明一個實施例中的數據比較器的結構示意圖；
[0035]圖5是本發明一個實施例中一種顯示面板的測試方法的步驟流程示意圖。
【具體實施方式】
[0036]為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0037I圖1是本發明一個實施例中一種顯示面板的結構示意圖。參見圖1，該顯示面板包括分別設置在多個像素區域PO內的多個發光元件L0。可以理解的是，該發光元件可以是任意一種并可用于發光顯示的電子器件，例如有機發光二極管(Organic Light-EmittingD1de，0LED)或者半導體發光二極管(Semiconductor Light Emitting D1de