一種光纖鏈路檢測方法、通信光路測試器及系統的制作方法
【技術領域】
[0001] 本發明屬于光纖鏈路檢測領域，尤其設及一種光纖鏈路檢測方法、通信光路測試 器及系統。
【背景技術】
[0002] 降低割接維護成本是所有光纖割接的夢想，為滿足持續增長帶寬需求，光纖已逐 漸入戶，大幅提高了網絡性能，但對于割接維護公司來說，更重要的是降低割接及維護成本 W增加施工收入，為滿足日益增長的帶寬需求并增加收入，施工維護必須大量雇傭新技術 人員，并使許多技術人員從原先的銅纜測試向光纖測試過渡，但要運樣做，施工維護成本必 須承擔很高成本，主要有兩個原因：W前從事銅纜測試的技術人員缺乏光纖測試知識，因此 需要增加他們的培訓；富有經驗、能夠高效測試并診斷光纖故障的技術人員嚴重不足；另 夕h由于需要測試的光纖比較多，所W很可能有些光纖的診斷或鑒定出錯，導致開通和故障 診斷失敗，增加重返現場次數，最終增加割接維護成本。
[0003] 使用光時域反射儀0TDR測試光鏈路時，平均重返現場率為5%-10%，運主要是因 為有些光纖鑒定有誤或沒有診斷，可通過優化測試來最大程度地減少重返現場的次數，理 論上，可指派經驗豐富的技術人員完成任務來實現運一目的。原有0TDR的光纖割接測試步 驟為：a)選擇1310nm測試波長；b)選擇auto模式測量；。）1.3山，5113，153設置下測試；(1) 1.3km，10ns，15s 設置下測試；e) 2.5km 距離下分別用30ns，50ns，100ns，275ns，500ns 進行測 試。
[0004] 如圖1所示，包括第一連接器、中間鏈路器件、分光器;其中，所述第一連接器通過 所述中間鏈路器件與所述分光器連接;使用5ns至10ns寬的脈沖，有經驗的技術人員可鑒定 第一個連接器并識別直至分光器的所有鏈路器件（即中間鏈路器件）；接下來，通過使用較 寬的脈沖(大于10ns)，技術人員測量分光器處的損耗來驗證其是否在可接受的范圍內。
[0005] 如圖2所示，包括分光器A和分光器B，使用較寬的脈沖（大于10ns脈沖），有經驗的 技術人員可鑒定分光器A和分光器B之間的區域;技術人員需要重復該步驟來發現用來測量 分光器損耗的最佳脈沖，利用測試出來的某一寬度的最佳脈沖來完成測試。
[0006] 如圖3所示，包括第一連接器、中間鏈路器件、分光器1、分光器2···分光器η;使用足 夠動態范圍的脈沖(例如:5化S至50化S脈沖），有經驗的技術人員能夠測量端對端(第一連 接器至分光器η損耗），該測試會提供3-4個未合并的0TDR曲線，技術人員需要花費很多時間 來比較采用不同寬度脈沖獲得的測試結果，W便判斷哪個脈沖可為某個光纖段和事件提供 最佳的測試結果。此外，如果最后必須提供報告，還需要花費更多時間從不同的曲線中提取 信息，然后將信息輸入到定制的報告模板中，整個過程可能需要5-10分鐘的時間。
[0007] 為了檢測宏彎，還必須采用另一個波長（如1310nm或1550nm)來重復測試，W便比 較各個事件在兩個波長上的損耗。
[000引上述方案均需要經驗豐富的技術人員和足夠的時間，而運些一方面造成測試效率 的降低，另一方面也給割接維護公司帶來了成本提升。
【發明內容】
[0009] 本發明提供一種光纖鏈路檢測方法、通信光路測試器及系統，W解決上述問題。
[0010] 本發明提供一種光纖鏈路檢測方法，上述方法包括W下步驟：
[0011] 預先將光纖網絡劃分為多個部分并為每一部分光纖網絡匹配對應的測試脈沖；
[0012] 按照預設測試波長，對每一部分光纖網絡，采用對應的測試脈沖進行測試，獲取測 試結果。
[0013] 本發明還提供一種通信光路測試器，包括劃分模塊、匹配模塊、測試模塊;其中，所 述劃分模塊通過所述匹配模塊與所述測試模塊相連；
[0014] 所述劃分模塊，用于預先將光纖網絡劃分為多個部分并將劃分結果發送至所述匹 配模塊；
[0015] 所述匹配模塊，用于為每一部分光纖網絡匹配對應的測試脈沖并將匹配結果發送 至所述測試模塊；
[0016] 所述測試模塊，用于按照預設測試波長，對每一部分光纖網絡，采用對應的測試脈 沖進行測試，獲取測試結果。
[0017] 本發明還提供一種光纖鏈路檢測系統，上述系統包括配置管理器、通信光路測試 器、光鏈路測試顯示器、存儲器;其中，所述配置管理器通過所述通信光路測試器與所述光 鏈路測試顯示器相連;所述通信光路測試器通過所述光鏈路測試顯示器與所述存儲器相 連；
[0018] 所述配置管理器，用于預先將光纖網絡劃分為多個部分并將劃分結果發送至通信 光路測試器；
[0019] 所述通信光路測試器，用于為每一部分光纖網絡匹配對應的測試脈沖；還用于按 照預設測試波長，對每一部分光纖網絡，采用對應的測試脈沖進行測試，獲取測試結果并將 所述測試結果發送至光鏈路測試顯示器；
[0020] 所述光鏈路測試顯示器，用于顯示所述測試結果并將所述測試結果發送至存儲器 中進行存儲；
[0021] 所述存儲器，用于存儲測試結果。
[0022] 本發明還提供一種光纖鏈路檢測系統，上述系統包括配置管理器、通信光路測試 器、存儲器;其中，所述配置管理器通過所述通信光路測試器與所述存儲器相連；
[0023] 所述配置管理器，用于預先將光纖網絡劃分為多個部分并將劃分結果發送至通信 光路測試器；
[0024] 所述通信光路測試器，用于為每一部分光纖網絡匹配對應的測試脈沖；還用于按 照預設測試波長，對每一部分光纖網絡，采用對應的測試脈沖進行測試，獲取測試結果并顯 示所述測試結果;還用于將所述測試結果發送至存儲器中進行存儲；
[0025] 所述存儲器，用于存儲所述測試結果。
[0026] 通過W下方案:預先將光纖網絡劃分為多個部分并為每一部分光纖網絡匹配對應 的測試脈沖；按照預設測試波長，對每一部分光纖網絡，采用對應的測試脈沖進行測試，獲 取測試結果，能自動全面、準確地鑒定所有的鏈路器件，幫助避免割接的反復測試和故障診 斷錯誤，降低割接維護成本。
[0027] 通過W下方案:所述通信光路測試器將所述測試結果W光路視圖形式通過所述通 信光路測試器中的光鏈路測試顯示屏進行顯示，方便用戶對測試數據的管理，提高了測試 效率，大大提升了用戶體驗。
【附圖說明】
[0028] 此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申請的一部分，本發 明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明，并不構成對本發明的不當限定。在附圖中：
[0029] 圖1所示為現有技術方案一的光纖鏈路檢測方法處理流程圖；
[0030] 圖2所示為現有技術方案二的光纖鏈路檢測方法處理流程圖；
[0031] 圖3所示為現有技術方案Ξ的光纖鏈路檢測方法處理流程圖；
[0032] 圖4所示為本發明實施例1的光纖鏈路檢測方法處理流程圖；
[0033] 圖5所示為本發明實施例2的光纖鏈路檢測方法處理流程圖；
[0034] 圖6所示為本發明通信光路測試器結構圖；
[0035] 圖7所示為本發明光纖鏈路檢測系統結構圖；
[0036] 圖8所示為本發明又一光纖鏈路檢測系統結構圖。
【具體實施方式】
[0037] 下文中將參考附圖并結合實施例來詳細說明本發明。需要說明的是，在不沖突的 情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可W相互組合。
[0038] 圖4所示為本發明實施例1的光纖鏈路檢測方法處理流程圖，包括W下步驟：
[0039] 步驟401:通信光路測試器預先將光纖網絡劃分為多個部分；
[0040] 例如:通信光路測試器預先將光纖網絡劃分為兩部分，第一部分為第一連接器、中 間鏈路器件、分光器1;第二部分為分光器1、分光器2···分光器η。
[0041] 步驟402:通信光路測試器為每一部分光纖網絡匹配對應的測試脈沖；
[0042] 所述通信光路測試器存儲光纖網絡區段與最佳測試脈沖對照表，如表1所示：
[0043]
[0044] 表 1
[0045] 表1中的光纖網絡區段根據實際情況可W靈活劃分，對應的最佳測試脈沖對照光 纖網絡區段的變更，也可W進行適應性調整，在此不用于限定本發明的保護范圍。
[0046] 步驟403:所述通信光路測試器按照預設測試波長，對每一部分光纖網絡，采用對 應的測試脈沖進行測試，獲取測試結果。
[0047] 預設測試波長(例如：1310nm)根據實際情況進行靈活確定，在此不用于限定本發 明的保護范圍。
[0048] 所述測試結果包括被識別器件損耗、被識別器件反射系數。
[0049] 所述測試結果還包括被識別器件未通過測試的判斷結果或者鏈路本身未通過測 試的判斷結果。
[0050]所述被識別器件包括:烙接點、連接器、分光器。
[0051 ]所述測試結果還包括鏈路損耗、光回損。
[0052] 步驟404:所述通信光路測試器將所述測試結果W光路視圖形式通過所述通信光 路測試器中的光鏈路測試顯示屏進行顯示。
[0053] 步驟405:所述通信光路測試器將所述測試結果通過光鏈路測試顯示屏USB接口， 上傳至存儲器中進行存儲。
[0054] 圖5所示為本發明實施例2的光纖鏈路檢測方法處理流程圖，包括W下步驟：
[0055] 步驟501:配置管理器預先將光纖網絡劃分為多個部分并將劃分結果發送至通信 光路測試器；