一種obu的微波性能測試裝置和方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于OBU生產測試設備領域，具體涉及一種OBU的微波性能測試裝置和方法。
【背景技術】
[0002]OBU即電子收費系統ETC的車載單元，OBU產品在出廠時都要進行硬件和微波性能的測試，硬件測試比較的簡單，主要是測試各功能模塊的功能及電流消耗，需要一臺PC+電流表(支持通訊功能)即可。而微波性能測試主要測試以下測試項:1、發射頻率；2、發射功率；3、調制系數；4 ;喚醒靈敏度；5、接收靈敏度等，測試需要PC+信號源+頻譜儀才能完成測試，而信號源、頻譜儀設備又都是高價值設備，為滿足一定的生產能力，往往需要購買數臺該高價值的設備。
[0003]目前生產測試都是一臺PC+信號源+頻譜儀對應測試一臺0BU，以上測試項基本采用順序測試，一臺設備測試完畢后更換設備進行測試，這樣一臺設備測試微波性能，測試需要約18秒(發射頻率3S+發射功率3S+調制系數3S+喚醒6S+接收3S)的時間，這樣一套設備一小時測試200臺0BU，如果日產能要達到8K-10K，那么就需要5_7套測試設備，在設備達不到要求數量時，只能通過人員加班來完成任務。
【發明內容】
[0004]針對現有技術中存在的缺陷，本發明的目的在于提供一種OBU的微波性能測試裝置和方法，通過該裝置和裝置能夠大大提升OBU微波性能的測試效率，降低生產成本。
[0005]為實現上述目的，本發明采用的技術方案如下:
[0006]—種OBU的微波性能測試裝置，包括信號源、第一頻譜儀、以及分別與信號源和第一頻譜儀連接的信號控制單元，信號控制單元上設有與待測試OBU連接的端口，還包括功分器和第一合路器，功分器的輸入端與信號源的信號輸出端連接，第一合路器的輸出端與第一頻譜儀的信號輸入端連接，功分器的輸出端和第一合路器的輸入端分別與第一福射天線相連接，第一輻射天線與待測試OBU通過微波輻射連接。
[0007]進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述第一合路器的個數為η個，與一個第一合路器連接的第一輻射天線與兩個待測試OBU連接；其中，n ^ 10
[0008]進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述信號控制單元上的與待測試OBU連接的端口為串口。
[0009]進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述信號控制單元包括信號控制器和用于顯示測試結果的顯示器。
[0010]進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，還包括用于對功分器和第一合路器進行插損校準的插損校準設備。
[0011]進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，該測試裝置還包括第二頻譜儀，第二頻譜儀與待測試OBU連接，信號控制單元與第二頻譜儀連接。
[0012]進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述第二頻譜儀與第二輻射天線連接，第二輻射天線與待測試OBU通過微波輻射連接，或者，所述第二頻譜儀通過第二合路器與第一福射天線連接。
[0013]進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述第二頻譜儀與第二輻射天線連接，第二輻射天線與待測試OBU微波輻射連接，或者，所述第二頻譜儀通過第二合路器與第一福射天線連接。
[0014]本發明實施例中還提供了一種OBU的微波性能測試方法，該方法包括對待測試OBU的發射頻率和發射功率的測試、對待測試OBU的調制系數的測試、以及對待測試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測試；
[0015]所述對待測試OBU的發射頻率和發射功率的測試包括以下步驟:
[0016](I)將信號控制單元與待測試OBU連接，將每個第一合路器通過第一輻射天線與兩個待測試OBU對應連接；
[0017](2)信號控制單元控制與同一個第一合路器連接的兩個待測試OBU發射不同頻率的載波信號；
[0018](3)每個第一合路器接收與其對應的兩個待測試OBU的載波信號，并將接收到的兩個載波信號發送到第一頻譜儀；
[0019](4)第一頻譜儀在同一時刻完成一個第一合路器所發送的載波信號的發射頻率和發射功率的測試；
[0020]所述對待測試OBU的調制系數的測試包括以下步驟:
[0021]I)將信號控制單元與待測試OBU連接，將第一合路器通過第一輻射天線(6)與待測試OBU連接；
[0022]2)信號控制單元控制待測試OBU發射調制信號，同一時刻只有一個待測試OBU發射調制信號；
[0023]3)第一合路器接收待測試OBU的調制信號，并將接收到的調制信號發送到第一頻譜儀；
[0024]4)第一頻譜儀接收第一合路器發送的調制信號，并逐個完成調制信號的調制系數的測試；
[0025]所述對待測試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測試包括以下步驟:
[0026]①將信號控制單元與待測試OBU連接，將功分器通過第一輻射天線與待測試OBU連接；
[0027]②信號控制單元控制信號源發射OBU喚醒信號；
[0028]③功分器接收信號源發射的OBU喚醒信號，并將所述OBU喚醒信號通過第一輻射天輻射給待測試0BU，完成待測試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測試。
[0029]本發明實施例中還提供了另一種OBU的微波性能測試方法，該方法包括對待測試OBU的發射頻率和發射功率的測試、對待測試OBU的調制系數的測試、以及對待測試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測試；
[0030]所述對待測試OBU的發射頻率和發射功率的測試包括以下步驟:
[0031](I)將信號控制單元與待測試OBU連接，將每個第一合路器通過第一輻射天線與兩個待測試OBU連接；
[0032](2)信號控制單元控制與同一個第一合路器連接的兩個待測試OBU發射不同頻率的載波信號；
[0033](3)每個第一合路器接收與其對應的兩個待測試OBU的載波信號，并將接收到的兩個載波信號發送到第一頻譜儀；
[0034](4)第一頻譜儀在同一時刻完成一個第一合路器所發送的載波信號的發射頻率和發射功率的測試；
[0035]所述對待測試OBU的調制系數的測試包括以下步驟:
[0036]I)將信號控制單元與待測試OBU連接，將第二頻譜儀與待測試OBU連接；
[0037]2)信號控制單元控制待測試OBU發射調制信號，同一時刻只有一個待測試OBU發射調制信號；
[0038]3)第二頻譜儀接收待測試OBU的調制信號，并逐個完成調制信號的調制系數的測試；
[0039]所述對待測試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測試包括以下步驟:
[0040]①將信號控制單元與待測試OBU連接，將功分器通過第一輻射天線與待測試OBU連接；
[0041]②信號控制單元控制信號源發射OBU喚醒信號；
[0042]③功分器接收信號源發射的OBU喚醒信號，并將所述OBU喚醒信號通過第一輻射天線輻射給待測試0BU，完成待測試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測試。
[0043]進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試方法，步驟I)中，所述第二頻譜儀通過第二輻射天線與待測試OBU連接，或者所述第二頻譜儀通過第二合路器與第一輻射天線連接。
[0044]本發明的有益效果在于:本發明所提供的OBU的微波性能測試裝置和方法，在進行OBU的微波性能測試時，能夠對多個OBU同時進行測試，能夠大大提升OBU的微波測試效率，降低測試設備的成本。
【附圖說明】
[0045]圖1為本發明【具體實施方式】中提供的一種OBU的微波性能測試裝置的結構示意圖；
[0046]圖2為本發明【具體實施方式】中提供了另一種OBU的微波性能測試裝置的結構示意圖；
[0047]圖3為本發明【具體實施方式】中待測試OBU的發射頻率和發射功率測試的流程圖；