本發(fā)明涉及用于安裝芯片的空腔(cavity)的制造方法,更加詳細(xì)而言,不僅將空腔簡單地用作用于嵌入(embed)芯片的空間,而且在空腔的下端部的基板的表面制作隆起墊(bumppad),來使安裝在空腔的芯片與空腔下端部的封裝基板的表面,以倒裝芯片(flip-chip)的方式直接進行電連接。
背景技術(shù):
目前,半導(dǎo)體封裝技術(shù)日益實現(xiàn)尖端化。半導(dǎo)體封裝技術(shù)從現(xiàn)有的二維(2-d)封裝技術(shù)發(fā)展到2.5維(2.5-d)至3維(3-d)封裝技術(shù)。即,從在基板上安裝芯片的技術(shù),向?qū)⒒宓膬?nèi)部和基板上的三維空間都立體性地利用的技術(shù)發(fā)展。
為了縮小封裝空間并對芯片層疊(diestack)進行集成,通過加工空腔(cavity)來進行的嵌入工序(embeddingprocess),作為領(lǐng)先技術(shù)(leadingtechnology)而受到關(guān)注。
圖1a至圖1c是示出在通過現(xiàn)有技術(shù)制作的空腔內(nèi)嵌入安裝有芯片的樣子的圖。
參照圖1a及圖1b,為了制造空腔10,利用激光對預(yù)浸材料(prepreg)5進行鉆孔加工,但是在進行激光鉆孔加工時被蝕刻的預(yù)浸材料5的蝕刻端面并不平坦,因此不容易直接安裝芯片30。為了解決這樣的問題,在現(xiàn)有技術(shù)中,利用激光,對在將銅箔隔擋層(copperbarrier;20)形成在底部的狀態(tài)下層疊的預(yù)浸材料,進行鉆孔加工,從而防止預(yù)浸材料的底面受損。
換言之,當(dāng)沒有銅箔隔擋層20的情況下進行激光加工時,下部的樹脂層因激光而受損(damage),導(dǎo)致底面不平坦,從而安裝芯片30變得不容易。
但是,按照現(xiàn)有技術(shù),在將芯片30安裝在銅箔隔擋層上時,能夠單純地將芯片30安裝在空腔內(nèi),但是不容易以倒裝芯片(flip-chip)的方式,直接將芯片端子與封裝基板進行電連接。現(xiàn)有技術(shù)采用了以引線鍵合(wirebonding)(40)的方式,將芯片上部面的墊(pad)和基板的墊(pad)連接的技術(shù)。
最近,要安裝的芯片具有數(shù)量多的端子,為了對數(shù)量多的端子進行引線鍵合,而在封裝基板上需要更大的面積和數(shù)量多的墊(pad),因此在僅通過引線鍵合來將芯片與基板連接的情況下,不僅使封裝尺寸變大,而且使封裝費用也增加。而且,如圖1c所示,要在空腔內(nèi)實現(xiàn)芯片疊層(diestack;50)的情況下,電連接的技術(shù)會更難。
因此,需要能夠在空腔底面制作隆起墊(bumppad)來進行倒裝芯片鍵合的工藝。雖然應(yīng)用現(xiàn)有技術(shù),能夠單純地在銅箔隔擋層20覆蓋轉(zhuǎn)印了圖案的蝕刻掩模,并選擇性地進行蝕刻來制造隆起墊,但是,在這種情況下,由于墊之間產(chǎn)生的不均勻的樹脂蝕刻,使隆起墊容易剝離,或者使蝕刻的隆起墊的樹脂深度產(chǎn)生不均勻。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻
1.韓國專利公開第10-2013-0096381號;
2.韓國專利授權(quán)第139,273號;
3.韓國專利授權(quán)第101,580,472號。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的第一目的在于,提供一種制作隆起墊的技術(shù),能夠在空腔內(nèi)安裝倒裝芯片。
本發(fā)明的第二目的在于,提供一種技術(shù),在所述第一目的的基礎(chǔ)上,能夠在空腔內(nèi)實現(xiàn)芯片層疊。
在本發(fā)明中,在與空腔區(qū)域?qū)?yīng)的基板表面上形成隆起墊,在隆起墊上整面層疊第二絕緣層(如不含有玻璃纖維的樹脂那樣的、可通過噴砂工序蝕刻的絕緣層),在與空腔區(qū)域?qū)?yīng)的第二絕緣層的表面上,形成用于保護第二絕緣層的銅箔隔擋層,在銅箔隔擋層上整面層疊第三絕緣層(如預(yù)浸材料),在第三絕緣層上形成銅箔電路。
然后,將僅露出空腔區(qū)域的掩模形成在外層的銅箔電路上,對表面露出的第三絕緣層進行激光鉆孔來形成空腔。此時,下端設(shè)置有銅箔隔擋層,因此能夠防止激光使第二絕緣層或下部的隆起墊損壞。在結(jié)束激光鉆孔后,通過化學(xué)濕式蝕刻除去銅箔隔擋層,利用噴砂除去在下部露出表面的第二絕緣層,從而使預(yù)先制作的隆起墊露出。
本發(fā)明在空腔的下部底面設(shè)置有平坦且均勻的隆起墊,不僅具有單純地將芯片插入空腔內(nèi)來節(jié)省封裝空間的效果,而且能夠進行倒裝芯片鍵合(flipchipbonding),使封裝基板的集成度倍增,而且也能夠進行芯片層疊。結(jié)果,能夠制作費用低、具有高集成度的封裝基板。
附圖說明
圖1a至圖1c是示出在按照現(xiàn)有技術(shù)制作的空腔內(nèi)安裝有芯片的樣子的圖。
圖2a至圖2f是示出本發(fā)明的空腔制造工藝的圖。
具體實施方式
本發(fā)明提供一種印刷電路板的制造方法,包括:步驟a,在與要制造空腔的區(qū)域相對應(yīng)的第一絕緣層上,形成轉(zhuǎn)印了規(guī)定電路圖案來包括隆起墊的第一銅箔;步驟b,在所述步驟a的結(jié)果結(jié)構(gòu)物上,層疊形成第二絕緣層和第二銅箔;步驟c,按照規(guī)定圖案,選擇性地對第二銅箔進行蝕刻,從而在與所述空腔區(qū)域相對應(yīng)的第二絕緣層的表面上,形成銅箔隔擋層;步驟d,在所述步驟c的結(jié)果結(jié)構(gòu)物的表面上層疊形成第三絕緣層;步驟e,在第三絕緣層上,形成轉(zhuǎn)印了規(guī)定電路圖案的第三銅箔;步驟f,通過進行激光鉆孔加工,選擇性地除去露出表面的第三絕緣層,從而對空腔開口;步驟g,將僅露出要形成空腔的區(qū)域的蝕刻掩模,覆蓋于表面;步驟h,除去露出表面的銅箔隔擋層;以及,步驟i,通過噴砂蝕刻,除去露出表面的第二絕緣層,從而使形成在空腔的下部的第一絕緣層上的隆起墊露出。
本發(fā)明的第二絕緣層是將不包含玻璃纖維的樹脂作為主要原料的材料,所述第三絕緣層是將包含玻璃纖維的樹脂或者預(yù)浸材料作為主要原料的材料,是可進行噴砂蝕刻的材料。
下面,參照圖2a至圖2f,詳細(xì)說明本發(fā)明的空腔制造工藝及適用該空腔制造工藝的印刷電路板技術(shù)。
本發(fā)明的印刷電路板的制造工藝可以將如下結(jié)構(gòu)物用作開始材料,即,在中央以樹脂或者環(huán)氧樹脂層等為材質(zhì)的第一絕緣層上覆蓋銅箔而成的結(jié)構(gòu)物作為開始材料。作為本發(fā)明的優(yōu)選的實施例,可使用銅箔層疊板(ccl;coppercladdedlaminate)或者載體銅箔來進行無芯(coreless)加工。
圖2a是示出本發(fā)明的封裝基板制造的中間結(jié)果物的圖。
參照圖2a,在第一絕緣層100的表面形成有轉(zhuǎn)印了電路圖案的第一銅箔。同時進行以往的掩模的覆蓋、曝光、顯影、蝕刻等一系列圖形處理,從而在第一絕緣層100的表面同時制作標(biāo)注為附圖標(biāo)記110a的一般電路、用于構(gòu)成空腔底面的隆起墊110b的圖案。
在一般的銅箔電路110a和隆起墊110b上層疊第二絕緣層和第二銅箔。作為本發(fā)明的第二絕緣層的優(yōu)選的實施例,優(yōu)選為不含有玻璃纖維(glassfiber)成分而僅含有填料(filler)成分的特殊樹脂(resin)。由于本發(fā)明的第二絕緣層不含有玻璃纖維,因此可通過噴砂(sandblast)工序進行蝕刻。
按照規(guī)定的電路圖案,對第二銅箔進行蝕刻,來形成銅箔隔擋層(copperbarrier;130)。留有銅箔隔擋層130的區(qū)域,大致與空腔區(qū)域相對應(yīng)。層疊樹脂或者一般的環(huán)氧樹脂材質(zhì)的第三絕緣層140。作為第三絕緣層140的優(yōu)選的實施例,可以使用預(yù)浸材料(prepreg)。
在此,由于第二絕緣層130沒有玻璃纖維成分,因此可在以后的工序步驟中利用噴砂工序進行蝕刻,另一方面,由于第三絕緣層140含浸有玻璃纖維成分,因此不容易通過噴砂工序進行蝕刻。必要時,進行孔加工,從而制作用于層間連接的導(dǎo)通孔(viahole),進行鍍銅,在外層表面形成銅箔電路150。
參照圖2a,用于形成基板外層的銅箔電路150,使與要生成空腔的部位相對應(yīng)的第三絕緣層140的表面露出,而銅箔電路150的其它區(qū)域,被阻焊劑(solderresist)這樣的保護用絕緣膜160覆蓋。
參照圖2b,通過進行激光鉆孔(laserdrill)工序,將露出表面的第三絕緣層燒掉并除去,從而對空腔(cavity)區(qū)域開口。此時,底部的銅箔隔擋層130用于防止下部層被激光損壞。
然后,參照圖2c,覆蓋如同干膜(d/f;dryfilm)那樣的掩模材料,并且進行曝光、顯影、蝕刻等一系列圖形處理,來形成僅使空腔區(qū)域露出的蝕刻掩模170,以便能夠僅除去銅箔隔擋層130。在覆蓋蝕刻掩模170的狀態(tài)下,能夠進行化學(xué)濕式蝕刻工序,來剝離銅箔隔擋層130。圖2d示出了在剝離銅箔隔擋層130之后、露出了與空腔區(qū)域相對應(yīng)的第二絕緣層的表面的基板的截面。
參照圖2e,在覆蓋蝕刻掩模170的狀態(tài)下進行噴砂(sandblast)工序,來除去露出表面的第二絕緣層130。結(jié)果,在第一絕緣層100上的空腔底面露出形成有隆起墊110b。參照圖2f,最終,剝離并除去蝕刻掩模170。
其結(jié)果,參照圖2f,在空腔底面形成有能夠進行倒裝芯片(flipchip)連接的多個隆起墊110b。
為了能夠更好地理解本發(fā)明的權(quán)利要求書的范圍,上述內(nèi)容對本發(fā)明的特征和技術(shù)優(yōu)點進行了一些改進。對于用于構(gòu)成本發(fā)明的權(quán)利要求的范圍的附加技術(shù)特征和優(yōu)點,會在下面進行表述。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)清楚,所公開的本發(fā)明的概念和特定實施例,可以在用于執(zhí)行與本發(fā)明相似的目的的其他結(jié)構(gòu)的設(shè)計或修改中立即使用。
為了執(zhí)行與本發(fā)明相同的目的,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以將本發(fā)明所公開的發(fā)明的概念和實施例,用在變更或設(shè)計為其他結(jié)構(gòu)的過程中。此外,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不脫離本發(fā)明的權(quán)利要求書的思想或范圍的情況下,進行多種改進、置換及變更。
本發(fā)明在空腔的下部底面設(shè)置有平坦且均勻的隆起墊,不僅具有單純地將芯片插入空腔內(nèi)來節(jié)省封裝空間的效果,而且能夠進行倒裝芯片鍵合(flipchipbonding),使封裝基板的集成度倍增,而且也能夠進行芯片層疊。