圍時，執行步驟509 ；在判斷結果為部分殘壞范圍時，執行步驟510即后續步驟。
[0112]508、將整片貼片電阻存儲到第二存儲裝置中。
[0113]509、將整片貼片電阻存儲到第一存儲裝置中。
[0114]510、在檢測到預設公差范圍處于部分殘壞范圍時，生成待檢測的整片貼片電阻顆粒中須標記的電阻顆料坐標，并對所述坐標對應部位進行鐳切剔除處理，以及將處理后的貼片電阻顆粒存儲到第一存儲裝置中；
[0115]本實用新型實施例提供的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理方法，與現有技術中人工識別檢測的勞動強度大，并且人工無法檢測貼片電阻顆粒出現的較小瑕疵進行精確檢測，使得檢測精度較低的方案相比，其能夠自動檢測和識別貼片電阻，并對貼片電阻中的不良貼片電阻顆粒進行標記，避免了工作人員手動去檢測、識別并標記貼片電阻，不僅減少了工作人員的勞動強度，提高了工業貼片電阻的生產效率，還減小了生產材料的浪費，節約了投入成本并且本實用新型中的自動檢測和處理，并且使得檢測結果客觀且進一步提高了檢測結果的準確性。
[0116]本實用新型實施例所提供的進行貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理方法的計算機程序產品，包括存儲了程序代碼的計算機可讀存儲介質，所述程序代碼包括的指令可用于執行前面方法實施例中所述的方法，具體實現可參見方法實施例，在此不再贅述。
[0117]所屬領域的技術人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，上述描述的系統、裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應過程，在此不再贅述。
[0118]在本申請所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的系統、裝置和方法，可以通過其它的方式實現。以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如，所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現時可以有另外的劃分方式，又例如，多個單元或組件可以結合或者可以集成到另一個系統，或一些特征可以忽略，或不執行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些通信接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機械或其它的形式。
[0119]所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網絡單元上。可以根據實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現本實施例方案的目的。
[0120]另外，在本實用新型各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。
[0121]所述功能如果以軟件功能單元的形式實現并作為獨立的產品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質中。基于這樣的理解，本實用新型的技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分或者該技術方案的部分可以以軟件產品的形式體現出來，該計算機軟件產品存儲在一個存儲介質中，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機，服務器，或者網絡設備等)執行本實用新型各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質包括:u盤、移動硬盤、只讀存儲器(ROM，Read-Only Memory)、隨機存取存儲器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質。
[0122]以上所述，僅為本實用新型的【具體實施方式】，但本實用新型的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本實用新型揭露的技術范圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內。因此，本實用新型的保護范圍應以所述權利要求的保護范圍為準。
【主權項】
1.一種貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，包括供料裝置，用于預先存儲有待檢測整片貼片電阻；傳送裝置，用于在所述設備上電時，實時傳送待檢測的整片貼片電阻；其特征在于，所述設備還包括:圖像采集裝置、處理裝置和鐳射裝置； 所述圖像采集裝置，用于采集所述傳送裝置傳送的所述整片貼片電阻的影像信息； 所述處理裝置，用于根據采集的所述影像信息檢測所述整片貼片電阻的質量，并對檢測到的殘壞的電阻顆粒進行標記處理；以及根據檢測到的殘壞的電阻顆粒生成控制信號； 所述鐳射裝置，用于根據所述控制信號，對所述整片貼片電阻中進行標記處理的殘壞顆粒進行剔除處理。2.根據權利要求1所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，所述處理裝置包括: 獲取模塊，用于從接收的所述影像信息中獲取每個貼片電阻顆粒的坐標位置及所述每個貼片電阻顆粒的參數； 存儲模塊，用于存儲合格貼片電阻顆粒的標準參數以及貼片電阻顆粒標準公差范圍；所述標準公差范圍包括:完好范圍、部分殘壞范圍和全殘范圍； 比較模塊，用于將每個貼片電阻顆粒的參數與存儲的合格貼片電阻顆粒的標準參數進行第一比較處理，并將第一比較處理得到的公差值與標準公差范圍進行第二比較處理，并根據第二比較處理中公差值所在的預設公差范圍確定所述貼片電阻顆粒的檢測結果。3.根據權利要求2所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，所述處理裝置還包括: 標記模塊，用于根據所述檢測結果生成處于所述部分殘壞范圍的貼片電阻顆粒中須標記的電阻顆料坐標，并對所述電阻顆料坐標對應的部位進行鐳切標記。4.根據權利要求3所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，所述鐳射裝置包括激光識別模塊和激光剔除模塊； 所述激光識別模塊用于根據所述控制信號，識別殘壞的電阻顆粒中進行標記處理的部位； 所述激光剔除模塊用于根據所述控制信號，對識別的標記處理部位進行剔除處理。5.根據權利要求4所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，還包括收料分類裝置； 所述收料分類裝置包括用于存儲完好的貼片電阻與可標識處理的半殘貼片電阻的一組收料分類裝置；以及，存儲超過不良顆數的全殘貼片電阻的另一組收料分類裝置。6.根據權利要求1-5任意一項所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，所述待檢測的整片貼片電阻為多個；多個所述貼片電阻的檢測和處理過程同時進行。7.根據權利要求6所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，還包括操控平臺；所述操控平臺包括用于控制處理裝置的控制器件以及用于調節其顯示參數的調節旋鈕；所述處理裝置安裝在所述操控平臺上。8.根據權利要求7所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，所述處理裝置上設置有用于顯示信息的顯示屏。9.根據權利要求1所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，所述圖像采集模塊包括:用于采集所述整片貼片電阻影像的CCD。10.根據權利要求1所述的貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，其特征在于，所述處理裝置為工業用工控機。
【專利摘要】本實用新型提供了一種貼片電阻中不良顆粒的檢測與處理設備，包括圖像采集裝置用于采集傳送裝置傳送的整片貼片電阻的影像信息；處理裝置用于根據采集的影像信息檢測整片貼片電阻的質量，并對檢測到的殘壞的電阻顆粒進行標記處理；鐳射裝置用于根據控制信號，對整片貼片電阻中進行標記處理的殘壞顆粒進行剔除處理；其能夠自動檢測和識別貼片電阻，并對貼片電阻中的不良貼片電阻顆粒進行標記，避免了工作人員手動去檢測、識別并標記貼片電阻，不僅減少了工作人員的勞動強度，提高了工業貼片電阻的生產效率，還減小了生產材料的浪費，節約了投入成本并且本實用新型中的自動檢測和處理，并且使得檢測結果客觀且進一步提高了檢測結果的準確性。
【IPC分類】H01L21/66
【公開號】CN204857670
【申請號】CN201520588128
【發明人】程如良, 徐心湖
【申請人】杭州灝元自動化設備有限公司
【公開日】2015年12月9日
【申請日】2015年8月6日