1.一種離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，其特征在于，包括引流電極片、聚流電極片及冷卻聚焦電極，所述引流電極片、所述聚流電極片及所述冷卻聚焦電極依次設置；其中，所述引流電極片設有第一通孔；所述聚流電極片設有第二通孔，所述第二通孔的內徑從靠近所述引流電極片的一端至遠離所述引流電極片的一端逐漸縮小，且所述第二通孔的內徑較大的一端的內徑與所述第一通孔出口端的內徑一致；所述冷卻聚焦電極為四極桿結構，所述冷卻聚焦電極的離子通道的入口端與所述第二通孔的內徑較小的一端齊平，且該入口端的尺寸大于所述第二通孔內徑較小的一端的內徑；所述第一通孔、所述第二通孔及所述離子通道共軸設置。
2.如權利要求1所述的離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，其特征在于，所述第一通孔的內徑一致。
3.如權利要求2所述的離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，其特征在于，所述引流電極片具有主體部及引流部；所述引流部凸設在所述主體部的遠離所述聚流電極片的一側表面，且所述引流部的外壁與該側表面的夾角的度數不小于90°；所述第一通孔依次貫穿所述引流部及所述主體部。
4.如權利要求3所述的離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，其特征在于，所述第一通孔的內徑為6～26mm。
5.如權利要求1～4中任一項所述的離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，其特征在于，所述第二通孔為內徑均勻變化的圓臺形孔。
6.如權利要求5所述的離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，其特征在于，所述聚流電極片具有連接部及聚流部；所述連接部靠近所述引流電極片設置，所述聚流部凸設在所述連接部的遠離所述引流電極片的一側表面；所述第二通孔依次貫穿所述連接部及所述聚流部。
7.如權利要求6所述的離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，其特征在于，所述第二通孔的內徑較大的一端的內徑為6～26mm，內徑較小的一端的內徑為0.1～0.3mm，且內徑較大的一端至內徑較小的一端的距離為2～5mm。
8.如權利要求7所述的離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，其特征在于，所述冷卻聚焦電極的各電極桿的直徑為4～6mm，長度為27～50mm，所述冷卻聚焦電極的離子通道的入口端的尺寸為3.5～6mm。
9.一種離子遷移譜與飛行時間質譜聯用儀，其特征在于，包括離子遷移譜、飛行時間質譜及如權利要求1～8中任一項所述的離子遷移譜與飛行時間質譜的聯用接口結構，所述離子遷移譜與所述飛行時間質譜之間通過所述聯用接口結構連接。
10.如權利要求9所述的離子遷移譜與飛行時間質譜聯用儀，其特征在于，所述離子遷移譜的漂移管的內徑大于所述第一通孔的內徑，所述漂移管與所述第一通孔共軸設置，且所述漂移管的端部與所述第一通孔的端部之間具有間隔。