一種氣路分配機構及其分光設備的制作方法

本發明涉及電子器件檢測設備技術領域，更具體地說是指一種氣路分配機構及其分光設備。

背景技術：

分光機是生產LED不可缺少的設備之一，用來對LED按照發出光的波長(顏色)、光強、電流電壓大小進行分類篩選。

轉盤部分是分光機主要機構之一，承載電子元器件的測試過程，承接著設備各主功能模塊動作的流程以及各輸入輸出之間的層次關系，各主功能機構圍繞轉盤工位成遞接關系逐次完成動作。

元器件的測試部位為引腳部位，一般底面均有引腳，部分元器件的引腳延展至側面。按元器件測試方式區分，目前常用的轉盤形式可分為夾測方式與底測方式兩種。其中，元器件夾測方式，材料放置轉盤吸嘴槽內，測試時利用元器件的側面引腳進行測試，夾測方式存在局限性，對側面無引腳的元器件無法實現測試。另一種，元器件底部引腳測試方式，測試前，先調試保證測試針對準轉盤吸嘴過針孔位，以免偏位造成斷針，測試時測試針須穿過轉盤吸嘴，測試動作時間須加上測試針完全離開轉盤時間，此測試方式調試、操作較難，效率低，探針壽命短，成本高。

還有，現有的轉盤式分光機，結構龐大，檢測效率低。

技術實現要素：

本發明的目的在于克服現有技術的缺陷，提供一種氣路分配機構及其分光設備。

為實現上述目的，本發明采用以下技術方案：

一種氣路分配機構，包括聯接氣源的正負壓集成塊，與正負壓集成塊具有相對運動的承載組件；所述正負壓集成塊設有若干個與氣源聯通的氣槽；所述氣槽包括至少一個負壓氣槽，至少一個正壓氣槽；所述承載組件設有與氣槽聯通的若干個獨立氣孔；所述的獨立氣孔通過氣槽通入負氣壓時，工件吸附固定于承載組件；通入正氣壓時，工件與承載組件分離。

其進一步技術方案為：所述的負壓氣槽通過正負壓集成塊設有的若干個進氣孔與氣源聯通；所述負壓氣槽、正壓氣槽均近于承載組件一側設置；所述正負壓集成塊固定聯接于設有的固定塊上，以使與旋轉運動的承載組件具有相對運動。

其進一步技術方案為：所述的承載組件包括與正負壓集成塊具有相對運動且用于固定的工件的承載轉盤，及與承載轉盤同步旋轉的透明轉盤；所述承載轉盤近于透明轉盤一側設有真空腔，且真空腔與所述正負壓集成塊設有的吸附氣孔聯通；所述承載轉盤的真空腔通入負氣壓時，透明轉盤吸附固定于承載轉盤一側。

其進一步技術方案為：所述的承載轉盤與正負壓集成塊的聯接處均布有若干個所述的獨立氣孔；旋轉時，所述獨立氣孔依次與正負壓集成塊的負壓氣槽、正壓氣槽聯通；所述承載轉盤外周設有若干個開口朝外且通過下開口槽與獨立氣孔聯通的定位槽；所述承載轉盤與透明轉盤吸附時，下開口槽與透明轉盤形成吸附工件的氣孔；所述獨立氣孔與負壓氣槽聯通時，定位槽的朝內氣流將工件往定位槽內側吸附固定；獨立氣孔與正壓氣槽聯通時，定位槽的朝外氣流將工件與定位槽分離。

其進一步技術方案為：所述的負壓氣槽與正壓氣槽環向間隔布置；所述獨立氣孔環向均布于負壓氣槽、正壓氣槽的環向位置；所述承載轉盤與正負壓集成塊相對運動，以使獨立氣孔與負壓氣槽或正壓氣槽交替接觸。

其進一步技術方案為：還包括與正負壓集成塊聯接的控制集成塊；所述控制集成塊設有若干個用于控制負壓氣槽或正壓氣槽通斷的電磁閥。

一種帶有氣路分配機構分光設備，包括基座，上述的氣路分配機構，及近于氣路分配機構設置且用于檢測電子器件的檢測機構；所述氣路分配機構的承載轉盤與設于基座的主動力件傳動聯接；所述透明轉盤設于承載轉盤下方，且透明轉盤與基座之間設有升降機構；所述工件為電子器件。

其進一步技術方案為：所述的升降機構包括與透明轉盤旋轉聯接的安裝板，固定聯接于基座且用于安裝板升降運動導向的導向柱，及固定于基座且用于提供安裝板動力的升降動力件；所述升降動力件通過帶動安裝板朝上運動，透明轉盤靠近承載轉盤，以使真空腔能對透明轉盤吸附固定；升降動力件通過帶動安裝板朝下運動，透明轉盤與承載轉盤分離。

其進一步技術方案為：還包括用于清潔透明轉盤且設置于透明轉盤下方的自動擦拭機構；所述透明轉盤與承載轉盤分離時，自動擦拭機構設有的擦拭動力件帶動透明轉盤旋轉運動，且自動擦拭機構設有的擦拭塊對透明轉盤進行清潔。

其進一步技術方案為：所述的檢測機構固定聯接于安裝板，以使檢測機構設有的光學檢測頭與透明轉盤相對位置不變。

本發明與現有技術相比的有益效果是：一種氣路分配機構，通過正負壓集成塊與承載裝盤的相互配合，以實現承載轉盤對透明轉盤、電子器件的吸附固定；本氣路分配機構，結構緊湊，吸附效率高，便于維護。

一種分光設備，承載轉盤通過真空將透明轉盤吸附固定，同時也通過負氣壓將電子器件吸附固定在承載轉盤的定位槽，以供檢測機構對電子器件進行檢測。本發明測量針直接與電子器件聯接，延長測量針壽命；負氣壓將電子器件吸附固定，正氣壓將電子器件分離，提高了檢測效率，降低電子器件的損壞率；光學檢測頭與電子器件距離短，提高了檢測準確度。還有，本發明結構緊湊，工作狀況穩定，檢測過程簡單。

附圖說明

圖1為本發明一種氣路分配機構的俯視圖及局部剖視圖；

圖2為圖1的A—A的剖視圖及局部放大圖；

圖3為本發明一種氣路分配機構的正負壓集成塊的正視圖；

圖4為圖3的B—B的剖視圖；

圖5為本發明一種氣路分配機構的承載轉盤的正視圖；

圖6為圖5的C—C的剖視圖及局部放大圖；

圖7為本發明一種分光設備的自動擦拭機構立體圖；

圖8為本發明一種分光設備的自動擦拭機構另一個視角立體圖；

圖9為本發明一種分光設備的自動擦拭機構側視圖及局部放大圖；

圖10為本發明一種分光設備的立體圖；

圖11為本發明一種分光設備的爆炸圖；

圖12為本發明一種分光設備的俯視圖；

圖13為圖12的D—D的剖視圖。

具體實施方式

為了更充分理解本發明的技術內容，下面結合具體實施例對本發明的技術方案進一步介紹和說明，但不局限于此。

如圖1至圖13所示，為本實施例的具體結構視圖。

如圖1至圖6，一種氣路分配機構100，包括聯接氣源的正負壓集成塊10，與正負壓集成塊10具有相對運動的承載組件20。正負壓集成塊10設有若干個與氣源聯通的氣槽11。氣槽11包括至少一個負壓氣槽111，至少一個正壓氣槽112。承載組件20設有與氣槽11聯通的若干個獨立氣孔21。獨立氣孔21通過氣槽11通入負氣壓時，電子器件吸附固定于承載組件20；通入正氣壓時，電子器件與承載組件20分離。

負壓氣槽111通過正負壓集成塊10設有的若干個與氣源聯通進氣孔13，且進氣孔13設有氣管接頭19。負壓氣槽111、正壓氣槽112均近于承載組件20一側設置。優選的，負壓氣槽111與多個進氣孔13聯通，正壓氣槽112與單個進氣孔13聯通。正負壓集成塊10固定聯接于設有的固定塊14上，以使與旋轉運動的承載組件20具有相對運動。此外，固定塊14固定于固定座15上。

優選的，固定的正負壓集成塊10與旋轉的承載組件20之間設有密封件，避免漏氣。

其中，承載組件20包括與正負壓集成塊10具有相對運動且用于固定的電子器件的承載轉盤22，及與承載轉盤22同步旋轉的透明轉盤23。承載轉盤22近于透明轉盤23一側設有真空腔221，且真空腔221與正負壓集成塊10設有的吸附氣孔12聯通。承載轉盤22的真空腔221通入負氣壓時，透明轉盤23吸附固定于承載轉盤22一側，隨著承載轉盤22一同運動。真空腔221為圓環形的腔，并且通過徑向的凹槽與吸附氣孔12聯通，以使承載轉盤22對透明轉盤23的吸附力更加均勻，吸附效果更加好。

優選的，進氣孔13圍繞于吸附氣孔14外側設置，且吸附氣孔14設于正負壓集成塊10中心。吸附氣孔14也相應的設有氣管接頭19。

承載轉盤22與正負壓集成塊10的聯接處均布有若干個獨立氣孔21(本實施例中，獨立氣孔21為32個，且均布于轉盤上)。旋轉時，獨立氣孔21依次與正負壓集成塊10的負壓氣槽111、正壓氣槽112聯通。承載轉盤22外周設有若干個開口朝外且通過下開口槽222與獨立氣孔21聯通的定位槽223。承載轉盤22與透明轉盤23吸附時，下開口槽222與透明轉盤23形成吸附電子器件的氣孔。獨立氣孔21與負壓氣槽111聯通時，定位槽223的朝內氣流將電子器件往定位槽223內側吸附固定；獨立氣孔21與正壓氣槽112聯通時，定位槽223的朝外氣流將電子器件與定位槽223分離。透明轉盤23的半徑大于承載轉盤22，電子器件在外力的作用下，散落在承載轉盤22外周的透明轉盤23上，通過氣孔的通入負壓氣體，吸附并固定在定位槽223上。電子器件在通電的情況下發光，光線透過透明轉盤23，并使檢測機構300的光學檢測頭檢測到。下開口槽222、定位槽223通過徑向的連接孔224與獨立氣孔21聯通。連接孔224是從承載轉盤22的邊緣向獨立氣孔21延伸，工作時，用堵頭將連接孔224外端堵住。

負壓氣槽111與正壓氣槽112環向間隔布置，在本實施例中，負壓氣槽111為2個且與多個進氣孔13聯通，正壓氣槽112也為2個且與單個進氣孔13聯通。負壓氣槽111與正壓氣槽112分布在正負壓集成塊10一側表面形成360°的布置。正壓氣槽112與單個進氣孔13聯通，并且通入正氣壓用于將電子器件與承載轉盤22分離。獨立氣孔21環向均布于負壓氣槽111、正壓氣槽112的環向位置。承載轉盤22與正負壓集成塊10相對運動，以使獨立氣孔21與負壓氣槽111或正壓氣槽112交替接觸。

還包括與正負壓集成塊10聯接的控制集成塊30。控制集成塊30設有若干個用于控制負壓氣槽111或正壓氣槽112通斷的電磁閥。具體的，每個進氣孔13都與相應的電磁閥聯通，相應的電磁閥與控制相應的進氣孔13，以達到電磁閥控制負壓氣槽111或正壓氣槽112。吸附氣孔12也與控制集成塊30設有的電磁閥聯通，控制真空腔221通入負氣壓，以使承載轉盤22將透明轉盤23吸附固定。另外的，控制集成塊30固定聯接于固定座15上。

具體的，透明轉盤23的材質可以是玻璃、亞克力等透明材質做成。

由于檢測電子器件是要通過透明轉盤23，所以透明轉盤23的光潔度是有著嚴格的要求。在生產的過程中，由于車間的會有漂浮有灰塵等雜物，這對透明轉盤23的光潔度有極大的影響，如果透明轉盤23的光潔度不夠，會嚴重影響到電子器件的檢測。所以，要針對透明轉盤23設計一個能自動對透明轉盤23上下表面清潔的自動擦拭機構400。

圖7至圖9所示，一種自動擦拭機構400，包括固定架41，滑動聯接于固定架41的擦拭組件42。擦拭組件42設有用于擦拭透明轉盤23的擦拭塊421。擦拭塊421設有直接與透明轉盤23接觸的刮片422。刮片422與透明轉盤23運動方向成20°—90°傾斜角。

擦拭塊421至少為二個，且相對設置。擦拭塊421設于夾持動力件43上，以使擦拭塊421具有相對運動。透明轉盤23置于擦拭塊421之間，并且擦拭塊421相向運動，以使刮片422對透明轉盤23上下表面接觸，使透明轉盤23旋轉時，刮片422能對透明轉盤23進行接觸式的擦拭。

具體的，擦拭塊421近于透明轉盤23表面設有吸灰腔423，且吸灰腔423與設有的真空氣源聯通。吸灰腔423設于刮片422的傾斜角一側，有利于負氣壓將擦拭收集的雜物吸走，達到清潔的目的。

還包括用于驅動透明轉盤23運動的旋轉動力件44。旋轉動力件44與擦拭組件42固定聯接，以使旋轉動力件44、擦拭組件42均與固定架41滑動聯接。旋轉動力件44動力輸出端設有驅動透明轉盤23做旋轉運動的驅動輪45。旋轉動力件44為電機。驅動輪45的材質為聚氨酯。

固定架41設有滑動動力件46，滑動動力件46動力輸出端設有固定板47。旋轉動力件44、擦拭組件42均固定聯接于固定板47。滑動動力件46驅動固定板47運動，以使旋轉動力件44和擦拭組件42靠近或遠離透明轉盤23。即滑動動力件46帶動固定板47運動，安裝在固定板的旋轉動力件44和擦拭組件42也隨著固定板47運動。

滑動動力件46設于固定架41下方，且與固定板47固定聯接。固定板47延伸至固定架41上端，且通過設有的滑軌48與固定架41滑動聯接。旋轉動力件44、夾持動力件43均固定聯接于固定板47上側。旋轉動力件44的驅動輪、擦拭塊421與透明轉盤23同一平面設置。

優選的，滑動動力件46、夾持動力件43均為氣缸。

于其他實施例中，刮片422為L型結構，透明轉盤23轉動一定的角度后，L型的刮片422在滑動動力件46的作用下向外滑動，以將收集到的雜物清理掉。L型結構的刮片422替代本實施例中的吸灰腔結構。

圖10至13所示，一種帶有氣路分配機構分光設備，包括基座600，上述的氣路分配機構100，及近于氣路分配機構100設置且用于檢測電子器件的檢測機構300。氣路分配機構100的承載轉盤22與設于基座600的主動力件16傳動聯接。透明轉盤23設于承載轉盤22下方，且透明轉盤23與基座600之間設有升降機構50。

具體的，承載轉盤22通過設有的正負壓集成塊10與真空氣源聯通，且承載轉盤22與設于基座600的主動力件16傳動聯接。透明轉盤23設于承載轉盤22正下方，且承載轉盤22設有用于吸附透明轉盤23的真空腔221。透明轉盤23上升至最高點時，真空腔221對透明轉盤23吸附固定與承載轉盤22。

具體的，主動力件16通過主軸17與承載轉盤22傳動聯接，且主軸17旋轉聯接于固定在基座600的連接座18內側。優選的，主軸17通過深溝球軸承與連接座18旋轉聯接。

其中，分光設備還包括上述的自動擦拭機構400。透明轉盤23為所述氣路分配機構100設有的透明轉盤23。透明轉盤23與基座600之間設有升降機構50。自動擦拭機構400設于透明轉盤23一側，透明轉盤23下降至最低點時，滑動動力件46作用于擦拭機構，以使擦拭塊421對透明轉盤23進行清潔。自動擦拭機構400用于清潔透明轉盤23且設置于透明轉盤23下方。透明轉盤23與承載轉盤22分離時，自動擦拭機構400設有的擦拭動力件帶動透明轉盤23旋轉運動，且自動擦拭機構400設有的擦拭塊421對透明轉盤23進行清潔。

升降機構50包括與透明轉盤23旋轉聯接的安裝板51，固定聯接于基座600且用于安裝板51升降運動導向的導向柱52，及固定于基座600且用于提供安裝板51動力的升降動力件53。升降動力件53通過帶動安裝板51朝上運動，透明轉盤23靠近承載轉盤22，以使真空腔221能對透明轉盤23吸附固定；升降動力件53通過帶動安裝板51朝下運動，透明轉盤23與承載轉盤22分離。優選的，透明轉盤23和安裝板51之間還設有連接板54，透明轉盤23固定聯接于連接板54上，連接板54與安裝板51之間通過軸承旋轉聯接。

具體的，透明轉盤23通過交叉滾子軸承與升降機構50的安裝板51旋轉聯接。連接座18從升降機構50內部穿過，且延伸至升降機構50上端的承載轉盤22聯接。

其中，透明裝盤23與承載轉盤22之間還設有導向板24，以使透明裝盤23在真空腔221吸附的過程中能準確的固定于承載轉盤22一側，避免發生抖動等現象。

其中，檢測機構300固定聯接于安裝板51，以使檢測機構300設有的光學檢測頭與透明轉盤23相對位置不變。

本實施例的工作過程，透明轉盤23在升降機構50的作用下靠近承載轉盤22，并通過承載轉盤22的真空腔221對透明轉盤23進行吸附固定。電子器件散落在吸附后的透明轉盤23上，通過正負壓集成塊10的負壓氣槽111通入負氣壓，使承載轉盤22上的獨立氣孔21通過定位槽223將電子器件進行吸附固定。同時，電子器件隨著承載轉盤22繼續轉動。當電子器件轉動到光學檢測頭位置時，電子器件朝上的引腳與測試針連接通電，發光端朝下以使光學檢測頭方便對電子器件進行檢測。檢測完畢，電子器件繼續隨著承載轉盤22轉動，當獨立氣孔21與正壓氣槽112聯通時，正壓氣體將電子器件與承載轉盤22分離。

生產前或者生產過程中，透明轉盤23都需要將表面的雜物清理干凈，不然就會影響檢測結果。自動擦拭機構400就是定時自動給透明轉盤進行擦拭清潔。需要清理透明轉盤23表面的雜物時，控制集成塊30切斷真空氣源，在升降機構50的作用下，透明轉盤23與承載轉盤22分離，并且下降到設定的位置；滑動動力件46動作，將旋轉動力件44、擦拭組件42靠近透明轉盤23：旋轉動力件44與透明轉盤23的邊緣接觸并以摩擦力驅動透明轉盤23，擦拭組件42的擦拭塊421在夾持動力件43的作用下相對運動，與透明轉盤23上下表面接觸，不影響轉動的情況下擦拭塊421對透明轉盤23施加一定壓力；其中，旋轉動力件44驅動透明轉盤23旋轉，擦拭塊421對透明轉盤23表面進行擦拭(旋轉擦拭至少一圈)，并且吸灰腔423聯通真空氣源，將擦拭收集到的雜物吸走。清潔完畢，自動擦拭機構400復位。

透明轉盤通過設于下方的自動擦拭機構將透明轉盤的表面進行擦拭清潔。旋轉動力件驅動透明轉盤，且擦拭塊對透明轉盤擦拭清潔，擦拭收集到的雜物通過與真空氣源聯通的吸灰腔吸走。設有自動擦拭機構的本發明自動化程度高，清潔效率高，無需將透明轉盤拆卸后清潔，清潔方式簡易快捷。自動擦拭機構能及時的對透明轉盤進行清潔，使檢測的電子器件精度高，效率高。

綜上所述，本發明一種氣路分配機構，通過正負壓集成塊與承載裝盤的相互配合，以實現承載轉盤對透明轉盤、電子器件的吸附固定；本氣路分配機構，結構緊湊，吸附效率高，便于維護。

一種氣路分配機構及其分光設備，承載轉盤通過真空將透明轉盤吸附固定，同時也通過負氣壓將電子器件吸附固定在承載轉盤的定位槽，以供檢測機構對電子器件進行檢測。本發明測量針直接與電子器件聯接，延長測量針壽命；負氣壓將電子器件吸附固定，正氣壓將電子器件分離，提高了檢測效率，降低電子器件的損壞率；光學檢測頭與電子器件距離短，提高了檢測準確度。還有，本發明結構緊湊，工作狀況穩定，檢測過程簡單。

上述僅以實施例來進一步說明本發明的技術內容，以便于讀者更容易理解，但不代表本發明的實施方式僅限于此，任何依本發明所做的技術延伸或再創造，均受本發明的保護。本發明的保護范圍以權利要求書為準。