本實用新型涉及芯片測試技術領域,尤其涉及一種測試凹槽可調式SOT26測試夾。
背景技術:
目前,在半導體集成電路制造工藝中,需要對切割封裝后的成品芯片進行進一步測試,測試夾具更起到了關鍵作用。在芯片測試過程中,具體做法是通過芯片分選機的吸嘴將芯片轉移至測試夾內,測試完畢后,芯片分選機的吸嘴再將芯片轉移至下一工序。
SOT是英文Small-outlinetransistor的簡稱,指的是一種晶體管的封裝形式,SOT26是SOT23-6的簡稱,SOT23-6是SOT23中的一種,尾數6表示6個引腳;原設備所設計的測試夾,如圖2所示,夾口(3)的開口尺寸是固定的,而SOT26的長度由于制造工藝水平的局限性,導致其長度不一致,故原設備設計的測試夾是按SOT26長度最大尺寸設計的,這樣就造成了SOT26產品的引腳在接觸測試片時左右偏移,從而引起接觸不良,導致一次測試率下降;而SOT26的引腳是左右對稱設置,測試時如何保證兩側引腳和測試片的接觸也是技術人員需要考慮的技術問題。
經檢索,中國發明專利申請,公開號:CN105931979A,公開日:2016.09.07,公開了一種旋轉下壓型芯片測試夾具,包括支架,所述支架包括帶有水平面的基臺和豎直狀的支撐桿;所述支撐桿上固定有內壁帶有螺旋紋的空心柱狀支撐架;還包括外壁帶有螺旋紋的下壓棒;所述支撐架內壁的螺旋紋和所述下壓棒外壁的螺旋紋相互匹配;所述下壓棒下部端頭處設置有上部測試針,所述下壓棒的上部端頭處設置有手柄;所訴基臺上固定有芯片放置臺,所述芯片放置臺的上表面設置有芯片定位桿,芯片放置臺還設置有通孔,通孔中固定有下部測試針。該發明適用于未封裝芯片的測試,可對芯片進行定位和快速測試,而無需將測試引腳焊接在芯片上,對芯片安裝拆卸均快捷方便,適用于大批量的測試。但該發明申請的水平面的基臺不能調整大小,只能測試固定規格的芯片,而且,只適用于未封裝芯片的測試,通用性較差。
技術實現要素:
1.實用新型要解決的技術問題
針對現有技術中存在的SOT26測試時SOT26引腳在接觸測試片時左右偏移的問題,本實用新型提供了一種測試凹槽可調式SOT26測試夾。它可以實現測試夾夾口可根據SOT26的尺寸進行適應性調節,達到提高測試平均良率的目的。
2.技術方案
為達到上述目的,本實用新型提供的技術方案為:
一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,包括固定夾和活動夾;所述固定夾和活動夾通過相互配合的旋轉裝置連接,并通過活動夾相對于固定夾的旋轉實現兩者之間夾口的寬度調節,實現了測試夾夾口可根據SOT26的尺寸進行適應性調節,進而達到提高SOT26的測試平均良率的目的。
進一步的技術方案,旋轉裝置為固定夾、活動夾正對的各自側面上分別設置并配合設置的凸半圓柱、凹半圓柱;所述活動夾通過凹半圓柱掛在固定夾的凸半圓柱上,凹半圓柱以凸半圓柱為軸旋轉,由于SOT26的整體尺寸較小,無需實現大的寬度調節,只要固定夾和活動夾之間保留狹小的縫隙即可實現所需要的夾口的寬度調節,因此,凹半圓柱以凸半圓柱為軸旋轉,即能實現夾口的寬度的微調節。
進一步的技術方案,所述固定夾呈倒“T”字形狀;所述活動夾掛在固定夾的中部凸臺的一側,并和固定夾之間留有“L”形旋轉間隙,間隙呈“L”形,實現了凹半圓柱以凸半圓柱為軸的小角度旋轉。
進一步的技術方案,所述活動夾的下半部分,凹半圓柱的下部設置有水平方向的彈簧容腔,內置水平方向的夾口寬度調節彈簧。以實現SOT26測試完成后,夾口寬度的復位,并能夠實現測試時夾口對SOT26的夾緊力,以保證SOT26測試時位置的穩定性。
進一步的技術方案,固定夾中部凸臺內部設置豎直方向的頂桿容腔,由下至上內置互相連接的頂桿彈簧和頂桿;頂桿呈“凸”字形,頂端穿出固定夾的上表面,靠近夾口中間的位置,底部為連接頂桿彈簧的頂桿座,以確保SOT26產品測試完成后不會卡在測試夾內,進而減少了副盤的疊料報警幾率。
進一步的技術方案,固定夾的上表面設置固定夾指,所述活動夾的上表面設置活動夾指,固定夾指槽和活動夾指槽相對設置,可有效避開某些特殊引線框所封裝的SOT產品無引腳的兩端露出的金屬,防止產品與外圍短路,中間容納SOT26封裝體的夾口,使SOT26壓入夾口后,溝槽和夾口協同作用,防止SOT26測試時左路偏移并能保證SOT26兩側引腳和測試片的平行,方便測試并提高測試的精準度。
進一步的技術方案,固定夾指和活動夾指相對的側面均為上部向外開的兩種不同角度的斜面,下端傾斜角度和SOT26封裝體的形狀一致,保證了SOT26壓入夾口時緩沖式壓入,避免SOT26封裝體和夾口平面的過硬接觸而相互損傷,并進一步保證了壓入后的穩定性。
進一步的技術方案,所述凸半圓柱穿有中空的,水平方向的固定銷孔;固定銷呈“T”字形橫插入固定銷孔,頂端固定連接有固定銷帽,尾端穿出固定銷孔后和墊圈緊配連接,以保證固定夾指槽和活動夾指槽的穩定性平行關系;所述凹半圓柱的旋轉為順時針轉0~4°,根據SOT26的大小自動調整旋轉角度,以適應不同尺寸的SOT26產品。
進一步的技術方案,所述固定銷的尾端還穿有固定插孔,固定插孔內插入擋桿,并粘上膠水以避免墊圈緊配連接松動造成固定夾指槽和活動夾指槽的錯位。
一種測試凹槽可調式SOT26測試夾的應用,應用步驟為:
步驟一、SOT26的壓入:將SOT26的SOT26封裝體壓入測試夾的夾口內,壓入過程中,活動夾相對于固定夾順時針旋轉,夾口的寬度逐漸增大,夾口寬度調節彈簧被逐漸壓縮,直至SOT26封裝體完全壓入測試夾的夾口內,并保持壓入式固定;
步驟二、SOT26的測試:對SOT26的各個引腳接觸測試片進行逐個測試;
步驟三、SOT26的頂出:測試完成后,分選機吸嘴上升,吸嘴上的SOT26產品在真空及頂桿的上頂作用下,將SOT26頂出,夾口寬度調節彈簧回位,夾口的寬度恢復初始寬度;
步驟四、重復步驟一至三,測試另外的SOT26。
采用單邊活動夾動作,利用彈簧控制活動夾的開口及閉合,以彌補SOT26尺寸大小引起的左右偏移從而提高一次性測試的良率,同時加裝了頂桿,以防止產品卡在夾口內,達到自動防疊料的目的;活動夾和頂桿的協同作用,起到了測試時對SOT26雙重保護和提高測試良率的目的,相當于提高了產能,同時基本消除了疊料的隱患,達到了一舉雙得的效果。
3.有益效果
采用本實用新型提供的技術方案,與現有技術相比,具有如下有益效果:
(1)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,通過活動夾相對于固定夾的旋轉實現兩者之間夾口的寬度調節,實現了測試夾夾口可根據SOT26的尺寸進行適應性調節,進而達到提高SOT26的測試平均良率的目的;
(2)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,由于SOT26的整體尺寸較小(個位數毫米級),無需實現大的寬度調節,只要固定夾和活動夾之間保留狹小的縫隙即可實現所需要的夾口的寬度調節,因此,凹半圓柱以凸半圓柱為軸旋轉,即能實現夾口的寬度的微調節;
(3)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,活動夾和固定夾之間間隙呈“L”形,實現了凹半圓柱以凸半圓柱為軸的小角度旋轉;
(4)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,夾口寬度調節彈簧的設置,實現了SOT26測試完成后夾口寬度的復位,并能夠實現測試時夾口對SOT26的夾緊力,以保證SOT26測試時位置的穩定性。;
(5)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,固定夾內置的頂桿,確保了SOT26產品測試完成后不會卡在測試夾內,進而減少了副盤的疊料報警幾率;
(6)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,SOT26壓入夾口后,溝槽和夾口協同作用,防止SOT26測試時左右偏移,以便提高測試的精準度;溝槽還能用來避開某些特殊的引線框架所封裝的SOT26產品無引腳兩端的露出的金屬點,以便防止產品與測試夾短路;
(7)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,固定夾指和活動夾指側面的傾斜角度和SOT26封裝體的形狀一致,保證了SOT26壓入夾口時緩沖式壓入,避免SOT26封裝體和夾口平面的過硬接觸而相互損傷,并進一步保證了壓入后的穩定性;
(8)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,固定銷的設置,能夠保證固定夾指槽和活動夾指槽的穩定性平行關系;凹半圓柱的旋轉為順時針轉0~4°,根據SOT26的大小調整旋轉角度;以適應不同規格的SOT26;
(9)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾,固定插孔和擋桿的配合設置,避免了墊圈緊配連接松動造成固定夾指槽和活動夾指槽的錯位;
(10)本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾的應用,采用單邊活動夾動作,利用彈簧控制活動夾的開口及閉合,以彌補SOT26尺寸大小引起的左右偏移從而提高一次性測試的良率,同時加裝了頂桿,以防止產品卡在夾口內,達到自動防疊料的目的;活動夾和頂桿的協同作用,起到了測試時對SOT26雙重保護和提高測試良率的目的,相當于提高了產能,同時基本消除了疊料的隱患,達到了一舉雙得的效果,經統計,至少可以提高10%的產能,對于SOT26的數以億計的批量生產來說,是一種顯著的進步。
附圖說明
圖1為本實用新型的一種測試凹槽可調式SOT26測試夾結構示意圖;
圖2為現有技術的SOT26測試夾的結構示意圖;
圖3為SOT26產品的俯視圖;
圖4為SOT26產品的側視圖;
圖5為本實用新型中的固定夾剖面圖;
圖6為本實用新型中的活動夾剖面圖;
圖7為本實用新型中的活動夾立體圖;
圖8為本實用新型中的固定銷放大后結構示意圖;
圖9為本實用新型中的墊圈放大后結構示意圖;
圖10為本實用新型中的頂桿結構示意圖。
示意圖中的標號說明:1、固定夾;2、活動夾;3、夾口;4、頂桿;5、固定銷;7、墊圈;8、SOT26;9、旋轉間隙;11、固定夾指;12、凸半圓柱;14、固定夾指槽;15、頂桿容腔;16、固定銷孔;21、活動夾指;22、凹半圓柱;23、夾口寬度調節彈簧;24、活動夾指槽;25、彈簧容腔;41、頂桿座;51、固定插孔;52、固定銷帽;81、SOT26中間引腳;82、SOT26封裝體。
具體實施方式
為進一步了解本實用新型的內容,結合附圖對本實用新型作詳細描述。
SOT26產品的形狀如圖3、4所示。
實施例1
本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾,包括固定夾1和活動夾2;所述固定夾1和活動夾2通過相互配合的旋轉裝置連接,如圖5、7所示,旋轉裝置為固定夾1、活動夾2正對的各自側面上分別設置并配合設置的凸半圓柱12、凹半圓柱22;所述活動夾2通過凹半圓柱22掛在固定夾1的凸半圓柱12上,凹半圓柱22以凸半圓柱12為軸旋轉。實現了測試夾夾口可根據SOT26的尺寸進行適應性調節,進而達到提高SOT26的測試平均良率的目的。由于SOT26的整體尺寸較小,無需實現大的寬度調節,只要固定夾1和活動夾2之間保留狹小的縫隙即可實現所需要的夾口3的寬度調節,因此,凹半圓柱22以凸半圓柱12為軸旋轉,即能實現夾口3的寬度的微調節。
實施例2
本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾,基本結構同實施例1,不同和改進之處在于:如圖1所示,所述固定夾1呈倒“T”字形狀;所述活動夾2掛在固定夾1的中部凸臺的一側,并和固定夾1之間留有“L”形旋轉間隙9,間隙呈“L”形,實現了凹半圓柱22以凸半圓柱12為軸的小角度旋轉。如圖6所示,所述活動夾2的下半部分,凹半圓柱22的下部設置有水平方向的彈簧容腔25,內置水平方向的夾口寬度調節彈簧23。以實現SOT26測試完成后,夾口3寬度的復位,并能夠實現測試時夾口3對SOT26的夾緊力,以保證SOT26測試時位置的穩定性。
實施例3
本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾,基本結構同實施例2,不同和改進之處在于:如圖5所示,固定夾1中部凸臺內部設置豎直方向的頂桿容腔15,由下至上內置互相連接的頂桿彈簧和頂桿4;如圖10所示,頂桿4呈“凸”字形,頂端穿出固定夾1的上表面,靠近夾口3中間的位置,底部為連接頂桿彈簧的頂桿座41,以確保SOT26產品測試完成后不會卡在測試夾內,進而減少了副盤的疊料報警幾率。固定夾1的上表面設置固定夾指11,所述活動夾2的上表面設置活動夾指21,固定夾指槽14和活動夾指槽24相對設置,可有效避開某些特殊引線框所封裝的SOT產品無引腳的兩端露出的金屬,防止產品與外圍短路,中間容納SOT26封裝體82的夾口3,使SOT26壓入夾口后,溝槽和夾口協同作用,防止SOT26測試時左右偏移,方便測試并提高測試的精準度。“L”形旋轉間隙的大小為0.33mm。
本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾的應用,應用規格為3.0*1.6mm的SOT26,公差在±0.02~±0.2,引腳寬度為0.4mm,步驟為:
步驟一、SOT26的壓入:將SOT26的SOT26封裝體82壓入測試夾的夾口3內,壓入過程中,活動夾2相對于固定夾1順時針旋轉,旋轉角度為1.5~3.0°,夾口3的寬度逐漸增大,夾口寬度調節彈簧23被逐漸壓縮,直至SOT26封裝體82完全壓入測試夾的夾口3內,并保持壓入式固定;
步驟二、SOT26的測試:對SOT26的各個引腳接觸測試片進行逐個測試;
步驟三、SOT26的頂出:測試完成后,分選機吸嘴上升,產品在真空及頂桿4的上頂作用下,將產品頂出,夾口寬度調節彈簧23回位,夾口3的寬度恢復初始寬度;
步驟四、重復步驟一至三,測試另外的SOT26。
本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾,采用單邊活動夾動作,利用彈簧控制活動夾的開口及閉合,以彌補SOT26尺寸大小引起的左右偏移從而提高一次性測試的良率,同時加裝了頂桿,以防止產品卡在夾口內,達到自動防疊料的目的;活動夾和頂桿的協同作用,起到了測試時對SOT26雙重保護和提高測試良率的目的,相當于提高了產能,同時基本消除了疊料的隱患,達到了一舉雙得的效果。
經統計,本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾,測試良率提高了13%,相當于至少可以提高13%的產能。
示例:2016/4/21統計:
實施例4
本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾,基本結構同實施例3,不同和改進之處在于:固定夾指11和活動夾指21相對的側面均為上部向外開的雙斜面,下斜面為7度,上斜面為30度;傾斜角度和SOT26封裝體82的形狀一致,保證了SOT26壓入夾口時緩沖式壓入,避免SOT26封裝體和夾口平面的過硬接觸而相互損傷,并進一步保證了壓入后的穩定性。所述凸半圓柱12穿有中空的,水平方向的固定銷孔16,直徑1mm;如圖8、9所示,固定銷5呈“T”字形橫插入固定銷孔16,頂端固定連接有固定銷帽52,尾端穿出固定銷孔16后和墊圈7緊配連接,以保證固定夾指槽14和活動夾指槽24的穩定性平行關系。所述固定銷5的尾端還穿有固定插孔51,固定插孔51內插入擋桿,再用膠水粘住,以避免墊圈7緊配連接松動造成固定夾指槽14和活動夾指槽24的錯位。“L”形旋轉間隙的大小為0.23mm。
本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾的應用,應用規格為3.0*1.6mm的SOT26,公差在±0.01~±0.1,步驟為:
步驟一、SOT26的壓入:將SOT26的SOT26封裝體82壓入測試夾的夾口3內,壓入過程中,活動夾2相對于固定夾1順時針旋轉,旋轉角度為0~1.5°,夾口3的寬度逐漸增大,夾口寬度調節彈簧23被逐漸壓縮,直至SOT26封裝體82完全壓入測試夾的夾口3內,并保持壓入式固定;
步驟二、SOT26的測試:對SOT26的各個引腳接觸測試片進行逐個測試;
步驟三、SOT26的頂出:測試完成后,分選機吸嘴上升,吸嘴上的SOT26產品在真空及頂桿4的上頂作用下,將SOT26頂出,夾口寬度調節彈簧23回位,夾口3的寬度恢復初始寬度;
步驟四、重復步驟一至三,測試另外的SOT26。
經統計,本實施例的測試凹槽可調式SOT26測試夾,測試良率提高了15%,對于SOT26的數以億計的批量生產來說,是一種顯著的進步。
以上示意性的對本實用新型及其實施方式進行了描述,該描述沒有限制性,附圖中所示的也只是本實用新型的實施方式之一,實際的結構并不局限于此。所以,如果本領域的普通技術人員受其啟示,在不脫離本發明創造宗旨的情況下,不經創造性的設計出與該技術方案相似的結構方式及實施例,均應屬于本實用新型的保護范圍。