一種分立式存儲器自動耐力測試裝置及其測試方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及集成電路存儲器測試、存儲器可靠性考核領域，特別是分立式集成電路芯片自動耐力測試裝置和其測試方法。
【背景技術】
[0002]隨著集成電路集成度的不斷增加、集成電路應用領域的不斷擴展、集成電路功能的更加多樣化，集成電路芯片的可靠性測試越來越受到重視，集成電路設計公司在可靠性考核測試上的技術更新與成本也越來越受到重視；集成電路耐力考核是考核存儲器可實現的總擦寫次數，是集成電路存儲器可靠性考核的最重要指標之一，所以存儲器的耐力考核測試是所有獨立存儲器顆粒產品、S0C產品的必須考核項目及例檢項目。
[0003]現有技術中，集成電路耐力可靠性考核測試較多采用以下方式:圓片級耐力可靠性測試采用了探針卡扎針，使用自動測試儀通過測試接口循環擦寫存儲器的方式進行耐力測試，而成品的存儲器顆粒和S0C產品基本都是通過電腦、讀卡器等設備進行循環擦寫存儲器的方式進行存儲器的耐力可靠性考核測試或者例檢考核測試；這種方式需要自動測試儀或者電腦/讀卡器發送擦寫指令到存儲器顆粒的控制端或者S0C的CPU端，然后控制端或者CPU再對存儲器區域進行循環的擦寫，從流程中可以看到，指令發送、接收過程會耗費大部分的測試時間，使得耐力測試的效率下降。
【發明內容】
[0004]針對上述現有技術中存在的不足，本發明的目的是提供一種分立式集成電路芯片自動耐力測試裝置及其測試方法，無需使用自動測試儀或者電腦/讀卡器，就能對芯片存儲器完成耐力循環考核測試，具有節約成本和高效的特點。
[0005]為了達到上述發明目的，本發明的技術方案以如下方式實現:
一種分立式存儲器自動耐力測試裝置，包括總控板和驅動板，總控板控制驅動板對待測芯片進行耐力測試，其中，總控板包含供電單元、總控制單元、主控單元、時鐘單元、復位單元和通信插針模塊；驅動板包含通信控制單元、測試單元和固定連接孔；其中，通信控制單元包含信號分線模塊、撥碼控制模塊和通信插針模塊；信號分線模塊，用于把接收到的驅動板的信號放大并分別發送至各個待測芯片；撥碼控制模塊，用于選擇測試電壓和開關；通信插針模塊，分別安裝于總控板和驅動板上，用于把驅動板的信號傳送至驅動板。
[0006]優選地，測試單元包括測試指示燈和測試接口座；其中，測試指示燈，用于標識測試過程中的實時狀態；測試接口座，用于固定驅動板并與其余驅動板部件連接在一起。
[0007]—種分立式存儲器自動耐力測試裝置的測試方法，該方法的具體操作步驟如下:
1)下載自動耐力測試程序到主控單元中；
2)將待測芯片放置到重復測試接口座上；
3)驅動板的撥碼控制模塊根據本驅動板是否要進行耐力測試撥至開(測試)或者關(不測試)位置； 4)供電單元連接直流電源，配置總控制單元選擇測試所用電壓；
5)開啟直流電源，總控制單元啟動，給總控板上電，并通過通信插針模塊給驅動板上電；
6)復位模塊發出復位信號，通過通信插針模塊和信號分線模塊發送給各個待測芯片，同時，時鐘單元發送時鐘信號，通過通信插針模塊和信號分線模塊發送給各個待測芯片；
7)待測芯片接收到復位信號和時鐘信號后，復位單元發出信號進行芯片復位；
8)主控單元進入自動耐力測試流程，按照設定的自動耐力測試程序等待某一設定的時間，主控單元發送存儲器擦寫指令，并與時鐘單元發出的時鐘信號和供電單元發出的電源信號通過通信插針模塊一同傳送至驅動板；
9)驅動板從通信插針模塊接收到的指令信號通過信號分線模塊發送至各個待測芯片，對待測芯片進行擦寫并原路返回測試結果給主控單元，并同時通過測試指示燈實時顯示耐力測試的狀態；
10)主控單元自動進行耐力結果校驗并記錄到存儲器，自動記錄耐力測試循環次數；
11)當達到設定的耐力循環次數時，主控單元停止耐力測試，跳出耐力測試循環；
12)根據測試指示燈的閃爍情況，判斷芯片耐力全部通過或者其他問題，也可以讀取主控單元存儲器中的耐力測試結果進行判斷；
13)根據耐力測試結果，判斷芯片的耐力篩選測試或者可靠性耐力測試通過或者失敗。
[0008]本發明由于采用了上述結構，比現有技術的優點在于:
1)使用總控板的單片機對待測芯片進行耐力測試，無需使用外部的自動測試儀，節約了成本；
2)芯片測試結果通過單片機進行校驗并記錄結果，省去了與電腦/測試儀的通信時間并且可以做到實時校驗，節約了時間成本并且能對測試全程進行監控；
3)控制撥碼開關可以選擇測試電壓和開關，從而實現耐力電壓可調，靈活性較高；
4)由狀態顯示燈的閃爍頻率表明不同的測試結果，實時監控到芯片耐力過程中的狀態，測試結果一目了然；
5)還可以測試純的存儲器顆粒。
[0009]下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明作進一步說明。
【附圖說明】
[0010]圖1為本發明的電路示意圖。
[0011]圖2為本發明實施例中的自動耐力測試裝置的總控板正面示意圖。
[0012]圖3為本發明實施例中的自動耐力測試裝置的驅動版正面示意圖。
[0013]圖4為本發明實施例中的自動耐力測試裝置的測試方法流程圖。
【具體實施方式】
[0014]參看圖1、圖2和圖3，本發明分立式集成電路芯片自動耐力測試裝置，包括一個耐力測試的總控板和驅動板，總控板包含電源10、總控制單元20、主控單元30、時鐘單元40、復位單元50和通信插針模塊73 ;驅動板包含通信控制單元70、測試單元60和固定連接孔80 ;其中，電源10用于供電，撥碼控制開關20用于選擇測試電壓及開關測試總控板電源，單片機30用來存儲測試OS及記錄測試結果作為整個耐力測試的主控芯片，時鐘單元40用來給整個測試提供時鐘信號，復位單元50用來上電發出復位信號，通信插針模塊73用來把驅動板的信號傳送至驅動板；驅動板包含通信插針模塊73用來接收驅動板的信號，信號分線模塊71用來把接收到的驅動板的信號放大并分別發送至各個待測芯片，撥碼控制開關72用來控制驅動板的開關，測試接口單元62可以根據待測芯片的形態連接不同的測試座，測試指示燈61用來標識測試過程中的實時狀態，驅動板連接孔80用來固定驅動板并與其余驅動板部件連接在一起。
[0015]參看圖