Emmc測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及測試裝置技術領域，尤其涉及EMMC測試裝置。
【背景技術】
[0002]EMMC (Embedded Multi Media Card)為嵌入式多媒體卡。EMMC 是 MMC 協會訂立的、主要針對手機或平板電腦等產品的內嵌式存儲器標準規格。EMMC在封裝中集成了一個控制器，它提供標準接口并管理閃存，使得手機廠商能專注于產品開發的其他部分，并縮短向市場推出產品的時間。
[0003]隨著EMMC的應用越來越廣泛，對EMMC的性能測試需求也越來越迫切。EMMC的性能測試主要包括:電源測試、信號測試、功耗測試及穩定性測試等。目前，EMMC性能測試大多采用芯片的測試方法，即通過芯片測試座與智能裝置的USB接口相連，從而測試其基本的讀寫功能，但是由于接口有限，采用此裝置并不能測試其整體性能。
[0004]申請號為201510121328.3的專利文件公開了一種EMMC的驗證方法，包括以下步驟:將可能存在問題的EMMC從主板上取下，將取下的EMMC進行處理，將處理后的EMMC再次焊接于主板上進行驗證，此專利文件公開的測試EMMC的方法是直接將EMMC焊接于主板上進行測試，但是使用此種測試方法對批量EMMC進行測試時，則需要反復焊錫、拆卸，不僅操作不方便、浪費時間，而且容易導致測試主板或EMMC因多次焊錫而損壞。
【發明內容】
[0005]本發明所要解決的技術問題是，提供一種對EMMC無損且操作方便的EMMC測試裝置。
[0006]為了解決上述技術問題，本發明采用的技術方案為:
[0007]—種EMMC測試裝置，包括測試座、第一連接板、第二連接板、第一公連接器、第二公連接器、第一母連接器、第二母連接器和測試終端，所述測試座上設有用于放置待測試EMMC的容納槽，所述第一連接板的一面用于與所述容納槽內的待測試EMMC電連接，第一連接板的另一面分別與第一公連接器和第二公連接器電連接，所述第二連接板的一面與所述測試終端電連接，所述第二連接板的另一面分別與所述第一母連接器和第二母連接器電連接，第一母連接器插接在第一公連接器上，第二母連接器插接在第二公連接器上。
[0008]本發明的有益效果在于:EMMC放置在容納槽中，通過連接板和連接器等，使EMMC與測試終端電連接，即可對EMMC進行測試；這種測試方法無需將EMMC焊接于測試終端上，避免損壞EMMC，可達到無損的測試效果，測試多個EMMC時，只需要更換EMMC即可，不需要反復焊錫和拆卸，不僅操作簡單方便，而且極大地提高了測試效率；底座與測試終端通過公母連接器連接，方便拆卸與移動；同時本發明的EMMC測試裝置結構簡單，方便安裝與拆卸。
【附圖說明】
[0009]圖1為本發明實施例一的EMMC測試裝置的示意圖；
[0010]圖2為本發明實施例一的EMMC測試裝置的測試座的結構示意圖。
[0011]標號說明:
[0012]1、測試座；11、容納槽；12、底座；13、端蓋；14、測試探針；15、凸起；16、扣片；17、扣條；2、第一連接板；3、第二連接板；4、第一公連接器；5、第二公連接器；6、第一母連接器；
7、第二母連接器。
【具體實施方式】
[0013]為詳細說明本發明的技術內容、構造特征、所實現目的及效果，以下結合實施方式并配合附圖詳予說明。
[0014]本發明最關鍵的構思在于:將EMMC放置在容納槽中進行測試，不需要反復焊錫和拆卸，達到無損的測試效果且操作簡單方便。
[0015]請參閱圖1和圖2，一種EMMC測試裝置，包括測試座1、第一連接板2、第二連接板
3、第一公連接器4、第二公連接器5、第一母連接器6、第二母連接器7和測試終端，所述測試座1上設有用于放置待測試EMMC的容納槽11，所述第一連接板2的一面用于與所述容納槽11內的待測試EMMC電連接，第一連接板2的另一面分別與第一公連接器4和第二公連接器5電連接，所述第二連接板3的一面與所述測試終端電連接，所述第二連接板3的另一面分別與所述第一母連接器6和第二母連接器7電連接，第一母連接器6插接在第一公連接器4上，第二母連接器7插接在第二公連接器5上。
[0016]從上述描述可知，本發明的有益效果在于:EMMC放置在容納槽11中，通過連接板和連接器等，使EMMC與測試終端電連接，即可對EMMC進行測試；這種測試方法無需將EMMC焊接于測試終端上，避免損壞EMMC，達到無損的測試效果，測試多個EMMC時，只需要更換EMMC即可，不需要反復焊錫和拆卸，不僅操作簡單方便，而且極大地提高了測試效率；底座與測試終端通過公母連接器連接，方便拆卸與移動；同時本發明的EMMC測試裝置結構簡單，方便安裝與拆卸。
[0017]進一步地，所述測試座1包括底座12、端蓋13和兩個以上測試探針14，所述容納槽11設于所述底座12上，所述底座12上設有兩個以上通孔，所述通孔位于所述容納槽11下方，所述測試探針14設于所述通孔中，測試探針14的一端用于與所述容納槽11內的待測試EMMC電連接，測試探針14的另一端與所述第一連接板2電連接，所述端蓋13鉸接在所述底座12上。
[0018]由上述描述可知，容納槽11內的待測試EMMC通過測試探針14與第一連接板2電連接，可確保容納槽11里的EMMC與第一連接板2接觸良好，提高測試準確率；端蓋13鉸接在底座12上，端蓋13處于打開狀態時，端蓋13不會脫離測試座1本身，這樣防止了端蓋13打開時脫落、丟失的可能。
[0019]進一步地，所述端蓋13朝向所述底座12的一面設有凸起15，所述凸起15與所述容納槽11對應設置。
[0020]由上述描述可知，端蓋13上設有與容納槽11對應設置的凸起15，測試時端蓋13關閉，凸起15擠壓EMMC使EMMC與測試探針14接觸良好，提高測試準確率。
[0021]進一步地，還包括扣合部，所述扣合部包括扣片16和扣條17，所述扣片16設于所述端蓋13上，所述扣條17設于所述底座12上，所述扣片16扣合在所述扣條17上。
[0022]由上述描述可知，測試座1上設置扣合部，增強了端蓋13和底座12閉合的緊密性，使凸起15與EMMC更緊密的貼合，防止測試過程中，端蓋13與底座12閉合不緊密而影響EMMC與測試探針14的接觸，提高測試準確率。
[0023]進一步地，所述第一連接板2可拆卸地設置在所述底座12遠離所述端蓋13的一側，所述第一公連接器4和第二公連接器5分別設置在第一連接板2遠離底座12的一側。
[0024]由上述描述可知，此種結構設置，使測試座1、第一連接板2、第一公連接器4和第二公連接器5形成一個整體，方便測試裝置的使用。<