故障數(shù)據(jù)獲取方法、裝置、測試數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)及可讀介質(zhì)與流程

本技術(shù)涉及存儲器測試，特別是涉及一種故障數(shù)據(jù)獲取方法、裝置、測試數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、存儲器件在出廠之前需要進(jìn)行測試以盡早發(fā)現(xiàn)故障，避免故障在出廠后用戶使用過程中發(fā)現(xiàn)，給用戶帶來不必要的損失。測試方法通常是通過處理器將預(yù)先設(shè)置的數(shù)據(jù)寫入被測存儲器件，然后對寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，將寫入的數(shù)據(jù)和讀取的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，以此來測試存儲器件是否出現(xiàn)故障。對于批次存儲器件的測試，可通過多個被測存儲器件進(jìn)行多次測試后統(tǒng)計累計故障次數(shù)，得到批次存儲器件的故障數(shù)據(jù)。在被測存儲器件數(shù)量多、容量大、測試次數(shù)多的情況下，會產(chǎn)生大量的測試數(shù)據(jù)用于進(jìn)行故障數(shù)據(jù)的統(tǒng)計。而這些測試數(shù)據(jù)需要進(jìn)行逐一讀取和判斷才能得到對應(yīng)的故障結(jié)果，導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)的處理和故障數(shù)據(jù)統(tǒng)計時間長，統(tǒng)計效率低下。

2、針對相關(guān)技術(shù)中存在的存儲器件故障數(shù)據(jù)統(tǒng)計的處理時間長、效率低下的問題，目前還沒有提出有效的解決方案。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、在本實施例中提供了一種故障數(shù)據(jù)獲取方法、裝置、測試數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì)，以解決相關(guān)技術(shù)中存在的存儲器件故障數(shù)據(jù)統(tǒng)計的處理時間長、效率低下的問題。

2、第一個方面，在本實施例中提供了一種故障數(shù)據(jù)獲取方法，所述方法包括：

3、基于接收到的故障數(shù)據(jù)讀取指令，獲取批量測試數(shù)據(jù)的故障數(shù)量閾值，以及所述批量測試數(shù)據(jù)在被測存儲器件中的訪問地址信息；

4、基于所述訪問地址信息，依次獲取所述批量測試數(shù)據(jù)中的故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址，并累計所述故障測試數(shù)據(jù)的數(shù)量；

5、在所述故障測試數(shù)據(jù)的累計數(shù)量達(dá)到所述故障數(shù)量閾值的情況下，停止獲取所述故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址的過程，并返回基于所述故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址生成的故障統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

6、在其中的一些實施例中，所述基于所述訪問地址信息，依次獲取所述批量測試數(shù)據(jù)中的故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址包括：

7、基于所述訪問地址信息，依次獲取所述批量測試數(shù)據(jù)中的測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址；

8、基于所述測試數(shù)據(jù)的值，確定所述測試數(shù)據(jù)是否為故障測試數(shù)據(jù)；

9、在所述測試數(shù)據(jù)是故障測試數(shù)據(jù)的情況下，基于所述故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址生成對應(yīng)的故障統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

10、在其中的一些實施例中，所述基于所述訪問地址信息，依次獲取所述批量測試數(shù)據(jù)中的測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址包括：

11、基于所述訪問地址信息，依次獲取所述批量測試數(shù)據(jù)中的測試數(shù)據(jù)在所述被測存儲器件中的訪問地址和物理地址；

12、將所述訪問地址依次存入地址緩存；

13、基于所述物理地址，依次讀取對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，并將所述測試數(shù)據(jù)依次存入數(shù)據(jù)緩存；

14、按照存入順序依次讀取所述數(shù)據(jù)緩存和所述地址緩存，獲取所述測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址。

15、在其中的一些實施例中，所述訪問地址信息包括訪問地址范圍和地址映射關(guān)系，所述基于所述訪問地址信息，依次獲取所述批量測試數(shù)據(jù)中的測試數(shù)據(jù)在所述被測存儲器件中的訪問地址和物理地址包括：

16、基于所述訪問地址范圍，獲取所述批量測試數(shù)據(jù)在所述被測存儲器件中的行起始地址、行結(jié)束地址、列起始地址和列結(jié)束地址；

17、基于所述行起始地址、行結(jié)束地址、列起始地址和列結(jié)束地址進(jìn)行行累加或列累加，依次獲取所述測試數(shù)據(jù)的訪問地址；

18、基于所述訪問地址和所述地址映射關(guān)系，獲取所述訪問地址對應(yīng)的物理地址。

19、在其中的一些實施例中，所述基于所述訪問地址和所述地址映射關(guān)系，獲取所述訪問地址對應(yīng)的物理地址包括：

20、基于所述地址映射關(guān)系中訪問地址位與物理地址位的對應(yīng)關(guān)系，以及所述訪問地址位的值，確定對應(yīng)的物理地址位的值；

21、將所述物理地址位按順序排列，得到所述訪問地址對應(yīng)的物理地址。

22、在其中的一些實施例中，所述基于所述測試數(shù)據(jù)的值，確定所述測試數(shù)據(jù)是否為故障測試數(shù)據(jù)包括：

23、基于所述故障數(shù)據(jù)讀取指令，獲取所述測試數(shù)據(jù)的訪問數(shù)據(jù)位；

24、基于所述訪問數(shù)據(jù)位，讀取所述測試數(shù)據(jù)中對應(yīng)的數(shù)據(jù)值；

25、基于所述數(shù)據(jù)值，確定所述測試數(shù)據(jù)是否為故障數(shù)據(jù)。

26、在其中的一些實施例中，在所述基于所述測試數(shù)據(jù)的值，確定所述測試數(shù)據(jù)是否為故障測試數(shù)據(jù)之后，所述方法還包括：

27、在確定所述測試數(shù)據(jù)不是故障測試數(shù)據(jù)的情況下，丟棄所述測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址；

28、在確定所述測試數(shù)據(jù)是故障測試數(shù)據(jù)的情況下，通過故障標(biāo)識位對所述測試數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)識。

29、在其中的一些實施例中，所述基于所述故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址生成對應(yīng)的故障統(tǒng)計數(shù)據(jù)包括：

30、將所述故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址進(jìn)行組合，生成對應(yīng)的故障統(tǒng)計數(shù)據(jù)；

31、將所述故障統(tǒng)計數(shù)據(jù)存入故障數(shù)據(jù)緩存。

32、在其中的一些實施例中，所述方法還包括：

33、基于所述訪問地址信息，獲取所述批量測試數(shù)據(jù)中的測試數(shù)據(jù)總數(shù)量；

34、在所述故障測試數(shù)據(jù)的累計數(shù)量未達(dá)到所述故障數(shù)量閾值的情況下，重復(fù)獲取所述故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址的過程，直至已讀取的測試數(shù)據(jù)數(shù)量達(dá)到所述測試數(shù)據(jù)總數(shù)量。

35、第二個方面，在本實施例中提供了一種故障數(shù)據(jù)獲取裝置，所述裝置包括：

36、第一獲取模塊，用于基于接收到的故障數(shù)據(jù)讀取指令，獲取批量測試數(shù)據(jù)的故障數(shù)量閾值，以及所述批量測試數(shù)據(jù)在被測存儲器件中的訪問地址信息；

37、第二獲取模塊，用于基于所述訪問地址信息，依次獲取所述批量測試數(shù)據(jù)中的故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址，并累計所述故障測試數(shù)據(jù)的數(shù)量；

38、返回模塊，用于在所述故障測試數(shù)據(jù)的累計數(shù)量達(dá)到所述故障數(shù)量閾值的情況下，停止獲取所述故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址的過程，并返回基于所述故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址生成的故障統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

39、第三個方面，在本實施例中提供了一種測試數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，所述測試數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)包括如第二個方面所述的故障數(shù)據(jù)獲取裝置，以及存儲單元、數(shù)據(jù)緩存、地址緩存和結(jié)果緩存；

40、所述故障數(shù)據(jù)獲取裝置用于從所述存儲單元中依次讀取測試數(shù)據(jù)，將所述測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址分別存入數(shù)據(jù)緩存和地址緩存，以及將所述故障統(tǒng)計數(shù)據(jù)存入所述結(jié)果緩存。

41、第四個方面，在本實施例中提供了一種可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有程序，所述程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述第一個方面所述的故障數(shù)據(jù)獲取方法的步驟。

42、與相關(guān)技術(shù)相比，在本實施例中提供的故障數(shù)據(jù)獲取方法，通過基于接收到的故障數(shù)據(jù)讀取指令，獲取批量測試數(shù)據(jù)的故障數(shù)量閾值，以及批量測試數(shù)據(jù)在被測存儲器件中的訪問地址信息，給出了批量測試數(shù)據(jù)的最大故障數(shù)量條件以及用于獲取批量測試數(shù)據(jù)的地址；通過基于訪問地址信息，依次獲取批量測試數(shù)據(jù)中的故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址，并累計故障測試數(shù)據(jù)的數(shù)量，將批量測試數(shù)據(jù)通過依次讀取和判斷進(jìn)行篩選得到個體故障測試數(shù)據(jù)，并在篩選的過程中累計個體故障測試數(shù)據(jù)的數(shù)量；通過在故障測試數(shù)據(jù)的累計數(shù)量達(dá)到故障數(shù)量閾值的情況下，停止獲取故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址的過程，并返回基于故障測試數(shù)據(jù)和對應(yīng)的訪問地址生成的故障統(tǒng)計數(shù)據(jù)，在個體故障測試數(shù)據(jù)的累計數(shù)量達(dá)到批量測試數(shù)據(jù)的故障數(shù)量閾值時，終止從批量測試數(shù)據(jù)篩選個體故障測試數(shù)據(jù)的過程，不需要對批量測試數(shù)據(jù)中的所有測試數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取和判斷即可完成故障數(shù)據(jù)的獲取，提高了故障數(shù)據(jù)獲取效率，解決了存儲器件故障數(shù)據(jù)統(tǒng)計的處理時間長、效率低下的問題。

43、本技術(shù)的一個或多個實施例的細(xì)節(jié)在以下附圖和描述中提出，以使本技術(shù)的其他特征、目的和優(yōu)點更加簡明易懂。