一種提高電路仿真精度的方法及裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電路仿真領域，更具體的說是涉及一種提高電路仿真精度的方法及裝置。
【背景技術】
[0002]電路仿真，就是將設計好的電路圖通過仿真軟件進行實時模擬，模擬出實際功能。
[0003]傳統的電路仿真對同一類參數化器件單元PCe 11采用同一器件模型，在提取同一類參數化器件單元PCell的器件模型時，需要在所有器件的最大工作電壓范圍、電流范圍、頻率范圍內進行。如果需要確保模型在全域范圍內的最大誤差最小，就需要降低器件模型在某些區域內的模型參數提取精度，其結果必然是電路仿真精度的降低，這在極深納米工藝下的集成電路仿真將會表現得更為明顯。
[0004]因此，傳統的電路仿真在仿真精度上較低。
【發明內容】
[0005]有鑒于此，本發明的目的是要解決傳統的電路仿真精度較低的問題，提供一種提高電路仿真精度的方法及裝置，技術方案如下:
[0006]一種提高電路仿真精度的方法，包括:
[0007]獲取參數化器件單元，所述參數化器件單元對應至少一個器件模型卡；
[0008]獲取電路網表，所述電路網表包括器件的器件名稱，所述器件與器件模型卡之間的對應關系；
[0009]選擇所述參數化器件單元中的第一器件模型卡；
[0010]根據所述電路網表以及所述第一器件模型卡進行電路仿真，得到電路仿真結果；
[0011]檢測所述電路仿真結果是否收斂，如果否，則:
[0012]根據所述電路仿真結果重新選擇器件模型卡直至所述電路仿真結果收斂。
[0013]優選的，在上述的提高電路仿真精度方法中，根據所述電路仿真結果重新選擇器件模型卡直至所述電路仿真結果收斂，包括:
[0014]根據所述電路仿真結果確定所述器件工作的第一電學范圍；
[0015]在所述獲取參數化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內的器件模型卡；
[0016]根據所述電路網表以及選擇出的器件模型卡進行電路仿真，得到第一電路仿真結果，如果所述第一電路仿真結果收斂則結束流程，否則:
[0017]繼續在所述獲取參數化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內的器件模型卡。
[0018]優選的，在上述的提高電路仿真精度方法中，所述在所述獲取參數化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內的器件模型卡，包括:
[0019]每個所述器件模型卡存儲有器件工作的電學范圍參數值，根據所述電學范圍參數值，在所述獲取參數化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內的器件模型卡。
[0020]優選的，在上述的提高電路仿真精度方法中，所述檢測所述電路仿真結果是否收斂，包括:
[0021]比較相鄰兩次的電路仿真結果，得到結果差值，如果所述差值在預先設置的范圍內，則所述電路仿真結果收斂。
[0022]優選的，在上述的提高電路仿真精度方法中，所述根據所述電路仿真結果重新選擇器件模型卡直至所述電路仿真結果收斂，之后還包括:
[0023]根據所述電路仿真結果確定所述器件的電學工作范圍，對電學工作范圍相同的器件進行歸并，并將歸并后的器件提取電學范圍參數值，形成新的器件模型卡。
[0024]本發明實施例還公開一種提高電路仿真精度的裝置，包括:
[0025]第一獲取單元，用于獲取參數化器件單元，所述參數化器件單元對應至少一個器件模型卡；
[0026]第二獲取單元，用于獲取電路網表，所述電路網表包括器件的器件名稱，所述器件與器件模型卡之間的對應關系；
[0027]第一選擇單元，用于選擇所述參數化器件單元中的第一器件模型卡；
[0028]處理單元，用于根據所述電路網表以及所述第一器件模型卡進行電路仿真，得到電路仿真結果；
[0029]檢測單元，用于檢測所述電路仿真結果是否收斂，如果否，則觸發第二選擇單元；
[0030]所述第二觸發單元，用于根據所述電路仿真結果重新選擇器件模型卡直至所述電路仿真結果收斂。
[0031]優選的，在上述的提高電路仿真精度裝置中，所述第二觸發單元，包括:
[0032]電學范圍確定模塊，用于根據所述電路仿真結果確定所述器件工作的第一電學范圍；
[0033]器件模型卡選擇模塊，用于在所述獲取參數化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內的器件模型卡；
[0034]仿真模塊，用于根據所述電路網表以及選擇出的器件模型卡進行電路仿真，得到第一電路仿真結果，如果所述第一電路仿真結果收斂則結束流程，否則觸發所述器件模型卡選擇模塊，所述器件模型卡選擇模塊繼續在所述獲取參數化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內的器件模型卡。
[0035]優選的，在上述的提高電路仿真精度裝置中，器件模型卡選擇模塊包括選擇子模塊；
[0036]每個所述器件模型卡存儲有器件工作的電學范圍參數值，所述選擇子模塊用于根據所述電學范圍參數值，在所述獲取參數化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內的器件模型卡。
[0037]優選的，在上述的提高電路仿真精度裝置中，所述檢測單元，包括:
[0038]比較模塊，用于比較相鄰兩次的電路仿真結果，得到結果差值，如果所述差值在預先設置的范圍內，則所述電路仿真結果收斂。
[0039]優選的，在上述的提高電路仿真精度裝置中，還包括:
[0040]器件模型卡生成單元，用于根據所述電路仿真結果確定所述器件的電學工作范圍，對電學工作范圍相同的器件進行歸并，并將歸并后的器件提取電學范圍參數值，形成新的器件模型卡。
[0041]本發明實施例提供的方法，與傳統的方法相比，在選擇器件模型卡時，不是選擇與參數化器件單元對應的那個固定且唯一的器件模型卡，而是動態的選擇與該參數化器件單元對應的多個器件模型卡，只有當電路仿真結果收斂時才結束流程，因此，相較于傳統的方法，本發明實施例提供的方法，電路仿真結果具有更高的精度。
【附圖說明】
[0042]為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0043]圖1為本發明實施例提供的提高電路仿真精度方法的一種流程示意圖；
[0044]圖2為傳統的電路仿真方法中，參數化器件單元與器件模型卡的對應關系；
[0045]圖3為本發明實施例提供的參數化器件單元與器件模型卡的對應關系；
[0046]圖4為本發明實施例提供的提高電路仿真精度方法的另一流程示意圖；
[0047]圖5為本發明實施例提供的根據電路仿真結果重新選擇器件模型卡直至電路仿真結果收斂的一種具體實現方式；
[0048]圖6為本發明實施例提供的提高電路仿真精度裝置的一種結構示意圖；
[0049]圖7為本發明實施例提供的第二觸發單元的一種結構示意圖；
[0050]圖8為本發明實施例提供的提高電路仿真精度裝置的另一結構示意圖。
【具體實施方式】
[0051]下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0052]參見圖1，本發明實施例提供一種提高電路仿真精度的方法，方法包括:
[0053]步驟110:獲取參數化器件單元，參數化器件單元對應至少一個器件模型卡。
[0054]器件模型卡指一組器件模型參數值，每個器件模型卡存儲有器件工作的電學參數范圍值。進一步地，可以提取器件模型卡中參數值所用的測試圖形，制造出實際器件，利用測試儀器獲取器件的1-V