電子設備的數據處理性能的測試方法及裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電子設備性能測試領域，特別涉及一種電子設備的數據處理性能的測試方法及裝置。
【背景技術】
[0002]隨著科學技術飛速的發展，各種電子設備不斷的豐富并方便了大眾生活。由于利用電子設備處理信息具有方便快捷、節省資源等優勢，使得電子設備成為人們的生活或工作中不可或缺的一部分。
[0003]而涌現在市場上的電子設備性能高低不一，很多用戶在購買電子設備時或者購買之后有了解設備性能的意愿，因此，對電子設備的性能測試極為重要。其中，電子設備的數據處理性能在電子設備性能中占有舉足輕重的地位，也是用戶非常關心的性能。
[0004]其中，在執行某項任務時可能既用到CPU的計算能力，也使用到內存，還需要往存儲器讀寫數據，這些都涉及到數據處理。但是，現有的電子設備的性能測試中，有的只是對內存做測試，有的是對存儲器做測試，而有的是對CPU計算性能做測試，并未涉及到涵蓋有這些項目的數據處理性能的測試，導致現有的電子設備的性能測試不夠全面，最終無法較好地體現電子設備的綜合性能。
【發明內容】
[0005]基于上述問題，本發明實施例公開了一種電子設備的數據處理性能的測試方法及裝置，以實現對電子設備的數據處理性能的測試，從而提高電子設備的性能測試的全面性。技術方案如下:
[0006]第一方面，本發明實施例提供了一種電子設備的數據處理性能的測試方法，包括:
[0007]接收開始測試指令；
[0008]響應所述開始測試指令，記錄當前的第一系統時間，并執行對電子設備的數據處理性能的測試；
[0009]在測試完畢后，記錄當前的第二系統時間；
[0010]依據所述第二系統時間和所述第一系統時間之差，確定所述電子設備的數據處理?生倉泛;
[0011]其中，執行對電子設備的數據處理性能的測試，包括:
[0012]通過I/O接口向存儲器寫入預定測試量的數據，其中，所述預定測試量的數據以至少一個符合預定大小的文件的方式寫入所述存儲器；在預定測試量的數據寫入完畢后，通過I/o接口從所述存儲器中讀取已寫入的數據。
[0013]可選的，在向所述存儲器寫入預定測試量的數據時，每個所述符合預定大小的文件以至少一個數據塊的方式寫入到所述存儲器中，各個所述數據塊不同，并且，且每一文件的本次待寫入的數據塊經過第一加工方式處理得到所述文件對應的下一次待寫入的數據塊。
[0014]可選的，通過I/O接口向存儲器寫入預定測試量的數據，包括:
[0015]通過I/O接口向存儲器寫入數據，形成存儲于存儲器的一個文件；
[0016]在所述一個文件存儲完成后，判斷已寫入所述存儲器的數據是否為預定測試量，如果是，結束通過I/o接口向存儲器寫入數據的操作；否則，繼續執行通過I/O接口向存儲器寫入數據，形成存儲于存儲器的一個文件的步驟。
[0017]可選的，通過I/O接口向存儲器寫入數據，形成存儲于存儲器的一個文件的過程，包括:
[0018]生成隨機數據，將所述隨機數據確定為本次待寫入文件的第一數據塊，所述第一數據塊不大于所述預定大小；
[0019]對所述第一數據塊經過第一加工方式處理，形成本次待寫入的數據塊；
[0020]將本次待寫入的數據塊通過I/O接口寫入存儲器；
[0021]判斷已寫入所述存儲器中的關于本次待寫入文件的數據量是否達到所述預定大小，如果否，將本次待寫入的數據塊作為下一次所需的第一數據塊，并繼續執行對所述第一數據塊經過第一加工方式處理，形成本次待寫入的數據塊的步驟；
[0022]如果是，結束通過I/O接口向存儲器寫入數據，形成存儲于存儲器的一個文件的過程。
[0023]可選的，通過I/O接口從所述存儲器中讀取已寫入的數據，包括:
[0024]通過I/O接口從所述存儲器中讀取所述至少一個符合預定大小的文件中當前待讀取的文件；
[0025]在所述當前待讀取的文件讀取完畢后，判斷所述當前待讀取的文件是否為所述至少一個符合預定大小的文件中的最后一個文件，如果是，結束讀取已寫入的數據的過程；否貝U，將所需讀取的下一個文件作為當前待讀取的文件，繼續執行通過I/O接口從存儲器中讀取所述至少一個符合預定大小的文件中當前待讀取的文件的步驟。
[0026]可選的，
[0027]所述通過I/O接口從所述存儲器中讀取所述至少一個符合預定大小的文件中當前待讀取的文件的過程，包括:
[0028]通過I/O接口從所述存儲器中讀取當前待讀取的文件的數據塊；
[0029]對所讀取出的數據塊經過第二加工方式處理；
[0030]并在經過第二加工方式處理后，繼續通過I/O接口從所述存儲器中讀取當前待讀取的文件的下一數據塊，直到所述當前待讀取的文件的所有數據塊被讀取完畢。
[0031]可選的，所述預定大小為5M-25M。
[0032]第二方面，本發明實施例提供了一種電子設備的數據處理性能的測試裝置，包括:
[0033]指令接收模塊，用于接收開始測試指令；
[0034]指令響應模塊，用于響應所述開始測試指令，記錄當前的第一系統時間，并觸發性能測試模塊；
[0035]第二時間記錄模塊，用于在測試完畢后，記錄當前的第二系統時間；
[0036]性能確定模塊，用于依據所述第二系統時間和所述第一系統時間之差，確定所述電子設備的數據處理性能；
[0037]其中，所述性能測試模塊，包括:
[0038]數據寫入模塊，用于通過I/O接口向存儲器寫入預定測試量的數據，其中，所述預定測試量的數據以至少一個符合預定大小的文件的方式寫入所述存儲器；
[0039]數據讀取模塊，用于在預定測試量的數據寫入完畢后，通過I/O接口從所述存儲器中讀取已寫入的數據。
[0040]可選的，在向所述存儲器寫入預定測試量的數據時，每個所述符合預定大小的文件以至少一個數據塊的方式寫入到所述存儲器中，各個所述數據塊不同，并且，且每一文件的本次待寫入的數據塊經過第一加工方式處理得到所述文件對應的下一次待寫入的數據塊。
[0041]可選的，所述數據寫入模塊，包括:
[0042]寫入單元，用于通過I/O接口向存儲器寫入數據，形成存儲于存儲器的一個文件；
[0043]第一判斷單元，用于在所述一個文件存儲完成后，判斷已寫入所述存儲器的數據是否為預定測試量，如果是，結束通過I/o接口向存儲器寫入數據的操作；否則，觸發所述寫入單元執行通過I/O接口向存儲器寫入數據，形成存儲于存儲器的一個文件的步驟。
[0044]可選的，所述寫入單元，包括:
[0045]第一獲得子單元，用于生成隨機數據，將所述隨機數據確定為本次待寫入文件的第一數據塊，所述第一數據塊不大于所述預定大小；
[0046]待寫入數據塊形成子單元，用于對所述第一數據塊經過第一加工方式處理，形成本次待寫入的數據塊；
[0047]數據塊寫入子單元，用于將本次待寫入的數據塊通過I/O接口寫入存儲器；
[0048]判斷子單元，用于判斷已寫入所述存儲器中的關于本次待寫入文件的數據量是否達到預定大小，如果否，觸發第二獲得子單元；如果是，結束通過I/o接口向存儲器寫入數據，形成存儲于存儲器的一個文件的過程；
[0049]所述第二獲得子單元，用于將本次待寫入的數據塊作為下一次所需的第一數據塊，并觸發所述待寫入數據塊形成子單元執行對所述第一數據塊經過第一加工方式處理，形成本次待寫入的數據塊的步驟。
[0050]可選的，所述數據讀取模塊，包括:
[0051]讀取單元，用于通過I/O接口從所述存儲器中讀取所述至少一個符合預定大小的文件中當前待讀取的文件；
[0052]第二判斷單元，用于在所述當前待讀取的文件讀取完畢后，判斷所述當前待讀取的文件是否為所述至少一個符合預定大小的文件中的最后一個文件，如果是，結束讀取已寫入的數據的過程；否則，觸發當前待讀取的文件確定單元；
[0053]所述當前待讀取的文件確定單元，用于將所需讀取的下一個文件作為當前待讀取的文件，并觸發所述讀取單元執行通過I/o接口從存儲器中讀取所述至少一個符合預定大小的文件中當前待讀取的文件的步驟。
[0054]可選的，所述讀取單元，包括:
[0055]讀取子單元，用于通過I/O接口從所述存儲器中讀取當前待讀取的文件的數據塊；