一種提高具體器件模型參數提取精度的方法及系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電路仿真建模技術領域，更具體的說，是涉及一種提高具體器件模型參數提取精度的方法及系統。
【背景技術】
[0002]傳統的電路仿真對同一類參數化器件單元PCell采用同一器件模型，其忽略了器件電學工作條件，如工作時的電壓范圍、電流范圍和頻率范圍等。如此，提取同一類參數化器件單元PCell的器件模型需要在所有器件的最大工作電壓范圍、電流范圍和頻率范圍內進行，為了確保模型在全域范圍內的最大誤差最小，犧牲了器件模型在某些區域內的模型參數的提取精度，其結果是電路仿真精度的降低，電路仿真精度的降低在極深納米工藝下的集成電路仿真將會表現得更為明顯。
[0003]為此，有必要從模型參數提取的角度提高電路仿真精度。現有技術中代工廠提取器件模型參數所用的測試圖形，制造出實際器件，利用測試儀器獲取器件的1-V、c-ν電學數據；根據Ι-v和c-ν特性測量數據確定的器件工作電學范圍；在上述的器件工作電學范圍內提取器件的模型參數值；最后輸出器件模型卡，其中包含器件模型各參數得值。傳統方法中，對同一類器件采用的是同一個器件模型卡，忽略了電路設計中器件工作的電學范圍，對此器件模型的提取隱含了器件特性測量時器件工作的最大電學范圍，如此在一個大的電學范圍內提取器件模型參數值必然降低了器件模型的提取精度，進而也降低了電路仿真的精度，傳統方法中采用同一 PCell的器件共享同一器件模型卡，PCell和器件模型卡之間關系為一對一的對應關系。
[0004]因此，本發明提供一種提高具體器件模型參數提取精度的方法及系統，在一個大的電學范圍內提取器件模型參數值降低了器件模型的提取精度，進而也降低了電路仿真的精度，是本領域技術人員亟待解決的問題。
【發明內容】
[0005]有鑒于此，本發明提供了一種提高具體器件模型參數提取精度的方法及系統，以克服現有技術中由于對同一類器件采用的是同一個器件模型卡，忽略了電路設計中器件工作的電學范圍，對此器件模型的提取隱含了器件特性測量時器件工作的最大電學范圍，如此在一個大的電學范圍內提取器件模型參數值必然降低了器件模型的提取精度，進而降低了電路仿真的精度的問題。
[0006]為實現上述目的，本發明提供如下技術方案:
[0007]—種提高具體器件模型參數提取精度的方法，包括:
[0008]S1:獲取所述器件的特性測量數據；
[0009]S2:根據所述特性測量數據確定所述器件的工作電學范圍；
[0010]S3:將所述工作電學范圍劃分為至少兩個工作電學子范圍；
[0011]S4:在每個所述工作電學子范圍內分別提取器件模型參數，并寫入不同的模型卡;
[0012]S5:建立每一類器件模型卡的對應關系表，所述器件模型卡包括所述工作電學子范圍的下限和上限以及對應的器件模型卡名；
[0013]S6:輸入器件的工作電學范圍搜索合適所述器件模型卡名的程序函數。
[0014]優選的，還包括:
[0015]S7:根據所述程序函數輸出所述器件的每一個所述工作電學子范圍對應的所述器件模型卡名。
[0016]優選的，所述步驟S3后還包括:
[0017]S8:對所述工作電學子范圍進行預設規則的排序。
[0018]其中，所述特性測量數據包括電流、電壓和頻率。
[0019]其中，所述工作電學范圍為電壓、電流和頻率構成的矢量空間。
[0020]其中，所述工作電學子范圍之間可存在重疊區域或其中一個工作電學子范圍對其他多個工作電學子范圍存在包含關系。
[0021]本發明還公開了一種提高具體器件模型參數提取精度的系統，包括:
[0022]獲取單元，用于獲取所述器件的特性測量數據；
[0023]確定單元，用于根據所述特性測量數據確定所述器件的工作電學范圍；
[0024]劃分單元，用于將所述工作電學范圍劃分為至少兩個工作電學子范圍；
[0025]提取單元，用于在每個所述工作電學子范圍內分別提取器件模型參數，并寫入不同的模型卡；
[0026]建立單元，用于建立每一類器件模型卡的對應關系表，所述器件模型卡包括所述工作電學子范圍的下限和上限以及對應的器件模型卡名；
[0027]搜索單元，用于輸入器件的工作電學范圍搜索合適所述器件模型卡名的程序函數。
[0028]優選的，該系統還包括:
[0029]輸出單元，用于根據所述程序函數輸出所述器件的每一個所述工作電學子范圍對應的所述器件模型卡名。
[0030]優選的，所述劃分單元后還包括:
[0031]排序單元，用于對所述工作電學子范圍進行預設規則的排序。
[0032]經由上述的技術方案可知，與現有技術相比，本發明公開了一種提高具體器件模型參數提取精度的方法及系統，該方法包括:獲取器件的特性測量數據；根據特性測量數據確定器件的工作電學范圍；將工作電學范圍劃分為至少兩個工作電學子范圍；在每個工作電學子范圍內分別提取器件模型參數，并寫入不同的模型卡；建立每一類器件模型卡的對應關系表，器件模型卡包括工作電學子范圍的下限和上限以及對應的器件模型卡名；輸入器件的工作電學范圍搜索合適器件模型卡名的程序函數；根據程序函數輸出器件的每一個所述工作電學子范圍對應的所述器件模型卡名。該方法通過縮小針對具體器件的模型參數提取范圍，在較小的電學范圍內提取參數，提高針對具體器件的模型參數提取精度，進而也提聞了電路仿真精度。
【附圖說明】
[0033]為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據提供的附圖獲得其他的附圖。
[0034]圖1為本發明實施例公開的一種提高具體器件模型參數提取精度的方法流程圖；
[0035]圖2為本發明實施例公開的PCell與器件模型卡之間的一對多的對應關系圖；
[0036]圖3為本發明實施例公開的所述工作電學范圍劃分示意圖；
[0037]圖4為本發明實施例公開的電學子范圍之間重疊區域示意圖；
[0038]圖5為本發明實施例公開的電學子范圍包含其他子范圍區域示意圖；
[0039]圖6為本發明實施例公開的一種提高具體器件模型參數提取精度的方法進一步流程圖；
[0040]圖7為本發明實施例公開的一種提高具體器件模型參數提取精度的系統結構示意圖；
[0041]圖8為本發明實施例公開的一種提高具體器件模型參數提取精度的系統進一步結構示意圖。
【具體實施方式】
[0042]下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0043]本發明公開了一種提高具體器件模型參數提取精度的方法及系統，該方法包括:獲取器件的特性測量數據；根據特性測量數據確定器件的工作電學范圍；將工作電學范圍劃分為至少兩個工作電學子范圍；在每個工作電學子范圍內分別提取器件模型參數，并寫入不同的模型卡；建立每一類器件模型卡的對應關系表，器件模型卡包括工作電學子范圍的下限和上限以及對應的器件模型卡名；輸入器件的工作電學范圍搜索合適器件模型卡名的程序函數；根據程序函數輸出器件的每一個所述工作電學子范圍對應的所述器件模型卡名。該方法通過縮小針對具體器件的模型參數提取范圍，在較小的電學范圍內提取參數，提聞針對具體器件的t旲型參數提取精度，進而也提聞了電路仿真精度。
[0044]請參閱附圖1，為本發明實施例公開的一種提高具體器件模型參數提取精度的方法流程圖。本發明實施例公開了一種提高具體器件模型參數提取精度的方法，該方法的具體流程步驟包括:
[0045]步驟S1:獲取器件的特性測量數據；
[0046]優選的，所述特性測量數據包括電流、電壓和頻率。代工廠設計提取器件模型參數所用的測試圖形，制造出實際器件，利用測試儀器獲取器件的1-v、c-v電學數據。
[0047]步驟S2:根據特性測量數據確定器件的工作電學范圍；
[0048]優選的，上述所述工作電學范圍為電壓、電流和頻率構成的矢量空間。根據1-V和C-ν特性測量數據確定的器件工作電學范圍；對上述器件工作電學范圍進行細分得到若干電學子范圍。對于工作電學范圍進行劃分PCell與器件模型卡之間的關系從傳統的一對一對應關系變一對多的對應關系，如圖2所示，為本發明實施例公開的PCell與器件模型卡之間的一對多的對應關系圖。
[0049]步驟S3:將工作電學范圍劃分為至少兩個工作電學子范圍；
[0050]步驟S4:在每個工作電學子范圍內分別提取