測試裝置及采用該測試裝置的測試方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示器制造技術領域，尤其是指一種測試裝置及采用該測試裝置的測試方法。
【背景技術】
[0002]傳統的觸控顯示裝置中，觸控感應Touch Sensor結構設計在觸摸屏蓋板(如OGS產品)和顯示面板的彩膜表面(如On-Cell產品)，相對應的觸控感應的Tx (電容發射端)和Rx (電容接收端)由同一柔性電路板FPC線路連接至觸控芯片(Touch 1C)，因此觸控功能檢測與產品顯示信號無耦合現象，可以通過普通治具直接進行觸控感應檢測。
[0003]然而對于混合觸屏(Hybrid In-cell, HIC)顯示產品來說，如圖1所示，顯示面板的彩膜CF基板I表面設置有觸控感應的Rx，Tx是與陣列TFT基板2顯示線路中的Vcom信號線進行復用，對于Hybrid In-cell成品結構來說，如圖1所示，CF基板I上的觸控柔性線路板(Touch FPC) 3與TFT基板2上的主柔性線路板4電連接，主柔性線路板4上設置有顯示芯片，觸控柔性線路板3上設置有觸控芯片，分別用于圖像顯示和觸控感應。
[0004]然而在顯示器制程中的CELL階段，在將CF基板I與TFT基板2組裝之前，由于無法通過顯示芯片發射Tx信號，因此無法通過傳統方式進行觸控感應功能檢測。
【發明內容】
[0005]本發明技術方案的目的是提供一種測試裝置及采用該測試裝置的測試方法，能夠實現對顯示產品在未完成組裝階段前對觸控線路的觸控感應檢測。
[0006]本發明提供一種測試裝置，包括:
[0007]用于固定待測基板的第一固定結構，其中所述待測基板上布置有第一觸控線；
[0008]用于固定一測試配合面板的第二固定結構，其中所述測試配合面板上布置有第二觸控線；通過所述第一固定結構和所述第二固定結構，所述待測基板與所述測試配合面板相對合，所述第一觸控線與所述第二觸控線形成觸控模組；
[0009]用于承載一轉接柔性線路板的第三固定結構；
[0010]信號輸入結構，用于通過所述轉接柔性線路板與所述測試配合面板的線路板和所述第一觸控線的其中一個電連接，并輸入觸發數據信號；
[0011]感應信號采集結構，用于通過所述轉接柔性線路板與所述測試配合面板的線路板和所述第一觸控線中的其中另一個電連接，獲取電連接的所述第一觸控線或所述測試配合面板上的所述第二觸控線上的觸控感應信號。
[0012]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述第一固定結構包括一水平承載面，所述水平承載面上設置有用于水平地定位放置所述待測基板的多個定位點。
[0013]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述第二固定結構可翻轉的與所述第一固定結構連接，所述第二固定結構包括相對于所述第一固定結構翻轉打開、使所述測試配合面板與所述待測基板之間遠離的狀態以及相對于所述第一固定結構扣合、使所述待測基板與所述測試配合面板相對合的狀態。
[0014]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述轉接柔性線路板包括固定的板體部分和可移動地第一接頭，所述第一接頭能夠在與所述第一觸控線相連接的狀態和脫離連接的狀態之間動作。
[0015]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述轉接柔性線路板的所述板體部分上還設置有:觸控芯片、用于與所述測試配合面板的線路板連接的第二接頭、用于與所述信號輸入結構連接的第三接頭、用于與所述感應信號采集結構連接的第四接頭，其中所述觸控芯片分別與所述第一接頭、所述第二接頭和所述第四接頭連接，所述第二接頭與所述第三接頭連接。
[0016]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述第三固定結構包括固定結構部分和設置于所述固定結構部分上、能夠相對于所述固定結構部分相對移動的移動結構部分；其中所述轉接柔性線路板的所述板體部分水平地設置于所述固定結構部分上，所述移動結構部分上設置有所述第一接頭，通過所述移動結構部分相對于所述固定結構部分移動，使得所述第一接頭與所述第一觸控線相連接或者脫離連接。
[0017]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述第三固定結構還包括驅動結構部分，設置于所述固定結構部分上，且與所述移動結構部分連接，用于驅動所述移動結構部分移動，使所述第一接頭在與所述第一觸控線相連接的狀態和脫離連接的狀態之間動作。
[0018]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述固定結構部分上設置有豎直的滑軌，所述移動結構部分上設置有與所述滑軌配合的滑槽，通過所述滑槽與所述滑軌的配合，所述移動結構部分能夠相對于所述固定結構部分上下移動。
[0019]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述驅動結構部分包括壓桿和與所述壓桿連接的傳動結構，所述傳動結構與所述移動結構部分連接，通過所述壓桿帶動所述傳動結構動作，使得所述移動結構部分相對于所述固定結構部分移動。
[0020]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述待測基板為一第一彩膜基板，所述第一彩膜基板上布置有所述第一觸控線；所述測試配合面板包括一陣列基板，所述陣列基板上的公共電極線形成為所述第二觸控線。
[0021]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述測試配合面板還包括與所述陣列基板相組合的第二彩膜基板。
[0022]優選地，上述所述的測試裝置，其中，所述測試配合面板還包括與所述陣列基板相連接的線路板和設置于所述線路板上的顯示芯片。
[0023]本發明還提供一種采用如上任一項所述測試裝置的測試方法，其中，所述測試方法包括:
[0024]將所述待測基板固定于所述第一固定結構上；
[0025]將所述測試配合面板固定于所述第二固定結構上，并使所述待測基板與所述測試配合面板相對位對合；
[0026]使所述信號輸入結構、所述感應信號采集結構分別與所述轉接柔性線路板電連接；
[0027]使所述轉接柔性線路板分別與所述待測基板和所述測試配合面板相連接；
[0028]使所述信號輸入結構向所述測試配合面板和所述待測基板中的其中一個輸入觸發數據信號，使得在所述測試配合面板和所述待測基板上的其中一個接收到觸發數據信號后，在所述觸發數據信號的作用下，所述感應信號采集結構采集到所述測試配合面板和所述待測基板上的其中另一個上的觸控感應信號。
[0029]本發明具體實施例上述技術方案中的至少一個具有以下有益效果:
[0030]當待測試基板上只包括用于信號發射的觸控線或者只包括用于信號接收的觸控線時，通過與測試配合面板組合，利用轉換柔性線路板，能夠用于該待測試基板上的觸控線的線路檢測，實現對觸控線線路不良的有效檢測。
【附圖說明】
[0031]圖1表示現有技術Hybrid In-cell的顯示模組的結構示意圖；
[0032]圖2表示本發明實施例所述測試裝置的結構示意圖。
[0033]圖3表示本發明實施例所述測試裝置中，轉接柔性線路板的電路連接結構示意圖；
[0034]圖4表示本發明實施例所述測試裝置中，所述測試配合面板的其中一種實施結構示意圖。
【具體實施方式】
[0035]為使本發明的實施例要解決的技術問題、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖及具體實施例進行詳細描述。
[0036]本發明實施例所述測試裝置，包括:
[0037]用于固定待測基板的第一固定結構，其中所述待測基板上布置有第一觸控線；
[0038]用于固定一測試配合面板的第二固定結構，其中所述測試配合面板上布置有第二觸控線；通過所述第一固定結構和所述第二固定結構，所述待測基板與所述測試配合面板相對合，所述第一觸控線與所述第二觸控線形成觸控模組；
[0039]用于承載一轉接柔性線路板的第三固定結構；
[0040]信號輸入結構，用于通過所述轉接柔性線路板與所述測試配合面板的線路板和所述第一觸控線的其中一個電連接，并輸入觸發數據信號；
[0041]感應信號采集結構，用于通過所述轉接柔性線路板與所述測試配合面板的線路板和所述第一觸控線中的其中另一個電連接，獲取電連接的所述第一觸控線或所述測試配合面板上的所述第二觸控線上的觸控感應信號。
[0042]本發明上述結構的測試裝置，通過測試配合面板與待測基板組合，使組合后的測試配合面板與待測基板上的第一觸