半導體裝置、顯示系統、檢測方法以及檢測程序的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及半導體裝置、顯示系統、檢測方法以及檢測程序。
【背景技術】
[0002]通常，作為觸摸面板，使用靜電電容型的觸摸面板。進行檢測用戶對觸摸面板的接觸狀態。
[0003]已知由于熒光燈或其它的電磁波等干擾噪聲的影響而進行錯誤工作。因此，存在減少干擾噪聲的技術。(例如，參照專利文獻I。)。
[0004]此外，已知在觸摸面板表面出現水滴的情況下進行錯誤工作。因此，存在減少該錯誤工作的技術(例如，參照專利文獻2)。
[0005]現有技術文獻專利文獻
專利文獻1:日本特開2011 - 8724號公報；
專利文獻2:日本特開2008-112334號公報。
[0006]發明要解決的問題
然而，在上述專利文獻I所記載的技術中，以檢測信號成為包含起因于外部接近物體的存在的正負非對稱的信號分量的極性交變信號的方式進行驅動信號的施加控制，當不使用極性交變信號時不謀求干擾噪聲的減少。
[0007]此外，在專利文獻2所記載的技術中，例如，在用于便攜式終端的情況下，存在當觸摸面板振動時由于水滴活動所以進行錯誤工作的擔憂。
【發明內容】
[0008]本發明是為了解決上述的問題而提出的，其目的在于，提供一種即使在由于噪聲導致檢測信號發生變化的情況下也能夠精度良好地檢測對觸摸面板的接觸狀態的半導體裝置、顯示系統、檢測方法以及檢測程序。
[0009]用于解決課題的方案
為了達成上述目的，本發明的半導體裝置具備檢測部，所述檢測部取得由將從靜電電容型的觸摸面板的接觸檢測用的電極輸出的檢測信號變換為數字信號的模擬數字變換部輸出的具有振幅的輸出信號，比較所述輸出信號和基準信號，在所述輸出信號距所述基準信號的變化量超過第一閾值的情況下，基于所述輸出信號的時間變化，檢測向所述觸摸面板的接觸狀態是否為接觸。
[0010]本發明的顯示系統具備:顯示部，基于圖像信號顯示圖像；靜電電容型的觸摸面板；模擬數字變換部，輸出將從所述觸摸面板的接觸檢測用的電極輸出的檢測信號變換為數字信號的輸出信號；以及本發明的半導體裝置，取得從所述模擬數字變換部輸出的輸出信號，檢測對所述觸摸面板的接觸狀態。
[0011]本發明的檢測方法具備:通過檢測部取得由將從靜電電容型的觸摸面板的接觸檢測用的電極輸出的檢測信號變換為數字信號的模擬數字變換部輸出的具有振幅的輸出信號的步驟；以及通過所述檢測部比較所述輸出信號和基準信號而在所述輸出信號距所述基準信號的變化量超過第一閾值的情況下基于所述輸出信號的時間變化來檢測向所述觸摸面板的接觸狀態是否為接觸的步驟。
[0012]本發明的檢測程序使計算機執行處理，所述處理包含:取得由將從靜電電容型的觸摸面板的接觸檢測用的電極輸出的檢測信號變換為數字信號的模擬數字變換部輸出的具有振幅的輸出信號；比較所述輸出信號和基準信號，在所述輸出信號距所述基準信號的變化量超過第一閾值的情況下，基于所述輸出信號的時間變化，檢測向所述觸摸面板的接觸狀態是否為接觸。
[0013]發明效果
根據本發明，起到以下這樣的效果:即使在由于噪聲導致檢測信號發生變化的情況下，也能夠精度良好地檢測對觸摸面板的接觸狀態。
【附圖說明】
[0014]圖1是示出本實施方式的顯示系統的一個例子的概略結構圖。
[0015]圖2是用于說明從A/D變換部輸出的輸出信號從接觸向非接觸的變化的波形圖的具體例。
[0016]圖3是將靜電電容型的觸摸面板接近至距熒光燈5cm的位置并將該熒光燈的開關設為接通狀態的情況下的從A/D變換部輸出的輸出信號的波形圖的具體例。
[0017]圖4是對圖3所示的波形求取移動平均的移動平均值的波形圖的具體例。
[0018]圖5是對本實施方式的觸摸面板的接觸狀態為非接觸的情況下的輸出信號的波形圖的具體例。
[0019]圖6是對本實施方式的觸摸面板的接觸狀態為接觸的情況下的輸出信號的波形圖的具體例。
[0020]圖7是由本實施方式的檢測部執行的檢測處理的一個例子的流程圖。
[0021]圖8是用于說明本實施方式的觸摸面板中的接觸狀態的變化的輸出信號的波形圖的具體例。
[0022]圖9是在本實施方式的觸摸面板的接觸狀態為非接觸的情況下產生上述的那樣的干擾噪聲的情況下的輸出信號的波形圖的具體例。
【具體實施方式】
[0023]在以下，參照附圖對本實施方式詳細地進行說明。
[0024]首先，對本實施方式的顯示系統的結構進行說明。在圖1中示出本實施方式的顯示系統的概略結構圖。
[0025]如圖1所示那樣，本實施方式的顯示系統10具備:觸摸面板12、顯示器14、A/D變換部(模擬/數字變換部)16、寄存器18、以及檢測部20。作為顯示系統10的具體例，可舉出智能手機或平板終端等攜帶式設備、個人計算機的顯示器、以及其它的顯示設備。
[0026]觸摸面板12是靜電電容型的觸摸面板中的被稱為投影型的種類的觸摸面板。靜電電容型的觸摸面板12矩陣狀地配置有用于檢測由用戶造成的接觸狀態(接觸或非接觸)的省略了圖示的檢測電極(檢測電路基板上的電極焊盤等)。
[0027]作為公開的技術的顯示部的一個例子的顯示器14與觸摸面板12整體構成。作為顯示器14的具體的一個例子，可舉出液晶等。再有，顯示器14也可以與觸摸面板12個別地設置。
[0028]A/D變換部16具有將從觸摸面板12輸出的模擬的檢測信號變換為數字信號并將輸出信號向寄存器18輸出的功能。檢測信號與由觸摸面板12的檢測電極檢測的電壓電平對應。
[0029]寄存器18具有暫時儲存從A/D變換部16輸出的輸出信號的功能。
[0030]作為公開的技術的半導體裝置的一個例子的檢測部20具有基于經由寄存器18從A/D變換部16取得的輸出信號來檢測對觸摸面板12的接觸狀態的功能。當用戶與觸摸面板12的表面接觸時，將檢測電極與用戶的指尖作為電極的電容器作為寄生電容相對于接地形成。由于形成了寄生電容，所以，靜電電容增加，在從檢測電極輸出的檢測信號中產生電壓降。在檢測部20中具有除了基于該電壓降之外還基于輸出信號的振幅來檢測對觸摸面板12的接觸狀態的功能。
[0031]再有，本實施方式的檢測部20具備用于使取得的輸出信號平滑化的移動平均濾波器，并基于輸出信號的移動平均值檢測接觸狀態。
[0032]檢測部20 具備 CPU22、R0M24、以及 RAM26。CPU22、R0M24 以及 RAM26 經由總線 28彼此連接。CPU22具有通過控制檢測部20執行存儲在R0M24中的檢測程序來檢測接觸狀態的功能。
[0033]此外，R0M24具有存儲檢測程序的功能。本實施方式的RAM26例如為NVRAM (NonVolatile RAM:非易失性的RAM)等非易失性的RAM。RAM26具有存儲基準信號的功能。基準信號是用于檢測接觸狀態的基準信號，是在對觸摸面板12非接觸的情況下的信號。在本實施方式中，作為具體的一個例子，在觸摸面板12的制造時，在還是非接觸時，導入從A/D變換部16經由寄存器18輸入的初始值的信號，并作為基準信號預先存儲到RAM26中。此夕卜，在RAM26中，預先存儲有在后面敘述細節的閾值THl?TH4。
[0034]接著，對本實施方式的檢測部20的作用進行說明。<