半導體裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及生成與對觸摸面板的檢測面的觸摸的有無對應的檢測數據的觸摸面板控制器，例如涉及在具備觸摸面板控制器、顯示驅動器和處理器的單芯片的控制器IC中適用且有效的技術。
【背景技術】
[0002]在互電容方式的觸摸檢測中，將交叉配置的X電極和Y電極的一方作為驅動電極，將另一方作為檢測電極，一邊對驅動電極依次進行選擇驅動，一邊按照該被選擇驅動的驅動電極與檢測電極的每個交點位置取得檢測數據。在自電容方式的觸摸檢測中，以交叉配置的X電極和Y電極的每一個的電極為單位進行電荷移動并以該電極為單位取得與觸摸的有無對應的檢測數據。在無論哪種檢測方式中都需要導入出現于每個檢測電極的信號來檢測的觸摸檢測用的檢測電路。每一個的檢測電路使用積分電路或開關電容電路等來進行開關電容工作，由此，取得與觸摸的有無對應的信號電荷。
[0003]關于減少由那樣的觸摸檢測工作造成的功耗的技術，在專利文獻I中有記載。據此，只要對出現于確定的檢測電極的接收電平進行監視，就能夠判定觸摸輸入，在對輸入操作進行待機的待機時間中，采用以一定周期僅對出現于確定的檢測電極的接收電平進行檢測的間歇檢測模式。由此，在檢測到觸摸輸入的情況下，通過轉變為使全部電路工作來檢測輸入操作位置的檢測模式，從而能夠削減待機時間中的功耗。
[0004]現有技術文獻專利文獻
專利文獻1:日本特開2013 - 206296號公報。
【發明內容】
[0005]發明要解決的課題
雖然如果如在專利文獻I中記載的那樣采用以一定周期進行觸摸檢測的間歇模式，則能夠在間歇工作的休止期間中削減功耗，但是，本發明人討論了在觸摸面板的觸摸輸入等待狀態下的觸摸檢測工作的進一步低功耗化。據此，對在觸摸輸入的等待狀態下僅在觸摸檢測面的中央部那樣的一部分的區域中判別觸摸輸入的方法進行了討論，但是顯然的是，關于就僅通過使檢測區域變小，越小則檢測精度越低，而沒有實效。
[0006]本發明的目的在于提供一種能夠在不設置特別的追加電路的情況下在觸摸輸入的等待狀態下不使檢測精度劣化而削減功耗來進行觸摸有無的判別的半導體裝置。
[0007]上述及其它的課題和新的特征根據本說明書的記述及附圖而變得明顯。
[0008]用于解決課題的方案簡單地說明在本申請中公開的實施方式中的代表的實施方式的概要的話，如下述那樣。
[0009]S卩，在觸摸面板控制器中采用進行針對觸摸面板的觸摸檢測面將全部檢測點作為檢測對象的普通掃描的第一模式和進行針對觸摸面板的觸摸檢測面將以檢測點的行為單位每隔I行間隔剔除多行的量后的剩余的行作為檢測對象的低功率掃描的第二模式。
[0010]發明效果
簡單地說明通過在本申請中公開的實施方式中的代表的實施方式得到的效果的話，如下述那樣。
[0011]S卩，由于在低功率掃描中針對觸摸檢測面將每隔I行間隔剔除多行的量后的剩余的行作為檢測對象，所以能夠在不設置特別的追加電路的情況下在觸摸輸入的等待狀態下不使檢測精度劣化而削減功耗來進行觸摸有無的判別。
【附圖說明】
[0012]圖1是例示了每隔I行間隔剔除Y電極的驅動對象并交替地調換間隔剔除行的低功率掃描方式的說明圖。
[0013]圖2是例示了將每隔I行間隔剔除Y電極的驅動對象并交替地調換間隔剔除行的低功率掃描限定于觸摸檢測面的中央部的掃描方式的說明圖。
[0014]圖3是例示了每隔I行間隔剔除X電極的檢測對象并交替地調換間隔剔除行的低功率掃描方式的說明圖。
[0015]圖4是例示了將每隔I行間隔剔除X電極的檢測對象并交替地調換間隔剔除行的低功率掃描限定于觸摸檢測面的中央部的掃描方式的說明圖。
[0016]圖5是例示了具備液晶顯示和觸摸檢測用的面板模塊的便攜式信息終端的概略的框圖。
[0017]圖6是例示了觸摸面板和觸摸面板控制器中的檢測部的細節的電路圖。
[0018]圖7是示出觸摸面板控制器的具體例子的框圖。
[0019]圖8是概略地例示了半導體裝置的工作模式的轉變的狀態轉變圖。
[0020]圖9是概略地例示了普通模式和低功率模式下的觸摸掃描的工作定時的時間圖。
【具體實施方式】
[0021]1.實施方式的概要
首先，針對在本申請中公開的實施方式，說明概要。在針對實施方式的概要說明中標注括號來參照的附圖中的附圖標記只不過是例示被包括在標注了其的結構要素的概念中的結構要素。
[0022]〔 I〕〈普通掃描和低功率掃描>
半導體裝置(12)包括觸摸面板控制器(3)，所述觸摸面板控制器(3)導入分別在X方向和Y方向上延伸并以規定的間隔配置的具有多個檢測點的觸摸面板(I)的所述檢測點所連接的電極(Y1~YM、X1-XN)處出現的信號，生成與對所述觸摸面板的檢測面的觸摸的有無對應的檢測數據。所述觸摸面板控制器在第一模式下進行針對所述觸摸面板的觸摸檢測面將全部檢測點作為檢測對象的普通掃描，在第二模式下進行針對所述觸摸面板的觸摸檢測面將以檢測點的行為單位每隔I行間隔剔除多行的量后的剩余的行作為檢測對象的低功率掃描。再有，在將X電極和Y電極形成在不同的層的2層觸摸面板的情況下，檢測點為電極Y1~YM、Xl-XN的交點位置。在將X電極和Y電極形成在同一層的I層觸摸面板的情況下，用于形成檢測點的電極不限于在2層的情況下的X電極與Y電極的關系。
[0023]據此，在低功率掃描中，針對觸摸檢測面，將每隔I行間隔剔除多行的量后的剩余的行作為檢測對象。觸摸檢測面中的行的中心間距離大致為5_左右，如果是這樣，則能夠使間隔剔除后的行間按其前后的行容易地成為檢測對象。因此，認為即使將每隔I行間隔剔除多行的量后的剩余的行作為檢測對象，也幾乎沒有漏取。由此，能夠在不實質降低檢測精度的情況下針對觸摸面板的全部檢測面使檢測行減半，能夠在觸摸輸入的等待狀態下不使檢測精度劣化而削減功耗來進行觸摸有無的判別。進而也不需要設置特別的追加電路。
[0024]〔2〕<間隔剔除檢測行的交替調換>
在項I中，所述觸摸面板控制器以觸摸檢測面的觸摸檢測幀為單位交替地調換所述每隔I行的間隔剔除對象的行(參照圖1至圖4)。
[0025]據此，即使在使間隔剔除后的行間按其前后的行漏取的情況下，進而，即使在觸摸檢測面中的行的中心間距離超過5_左右而變大這樣的情況下，也能夠通過以觸摸檢測面的觸摸檢測幀為單位交替地調換所述每隔I行的間隔剔除對象的檢測行，從而抑制在觸摸輸入的等待狀態下檢測精度實質性地降低。
[0026]〔3〕〈在觸摸檢測面的中央部低功率掃描>
在項2中，使間隔剔除所述多行的量來作為所述低功率掃描的檢測對象的檢測行為所述觸摸面板的觸摸檢測面的中央部(參照圖2和圖4)。
[0027]據此，由于經驗上在觸摸檢測面的中央部進行觸摸面板的操作的情況為大部分，所以，通過限定于中央部來進行低功率掃描，從而能夠在不招致檢測精度的降低的情況下有助于進一步的低功耗。
[0028]〔4〕<利用隔著休止時間的間歇工作的低功率掃描>
在項2中，所述觸摸面板控制器在所述第二模式下隔著休止時間而間歇地進行所述低功率掃描(參照圖9)。
[0029]據此，當設想通常以60Hz進行幀顯示并在其空隙時間進行利用檢測掃描的觸摸檢測的情況時，即使低功率掃描以比其長的間隔進行掃描，也沒有障礙。這是因為，只要對觸摸的有無進行檢測即可，而不需要確定觸摸坐標。在第二模式下，即使不經常連續地重復低功率掃描，也沒有實際損害。因此，通過在所述第二模式下隔著休止時間而間歇地進行所述低功率掃描，從而能夠有助于進一步的低功耗。
[0030]〔5〕〈具備顯示驅動器的半導體裝置>
在項I中，還具備顯示驅動器(4)，所述顯示驅動器進行被配置在所述觸摸面板之下的液晶面板的顯示控制。
[0031]據此，顯示驅動器的顯示控制和觸摸面板的觸摸控制的同步的控制變得容易。
[0032]〔6〕〈第一模式(普通模式)、第二模式(低功率模式)、第三模式(休眠模式)>
在項5中，所述第一模式為使由所述顯示驅動器進行的顯示面板的顯示為啟用的工作模式。所述第二模式為使由所述顯示驅動器進行的顯示面板的顯示為禁用的工作模式。還具有第三模式，使由所述觸摸面板控制器進行的對觸摸面板的觸摸檢測為禁用并且使由所述顯示驅動器進行的顯示面板的顯示為禁用。
[0033]據此，能夠通過普通模式那樣的第一模式、低功率模式那樣的第二模式、以及休眠模式那樣的第三模式來控制半導體裝置的低功耗。
[0034]〔 7〕〈對工作模式進行控制的處理器>
在項6中，具有處理器(5)，所述處理器對工作模式的轉變進行控制。所述處理器在所述第二模式下基于在所述低功率掃描中檢測到的檢測數據來判別觸摸的有無，在由此判別了有觸摸時使得從所述第二模式向所述第一模式轉變，基于在所述觸摸檢測掃描中檢測到的檢測數據來判別觸摸的有無。
[0035]由此，能夠通過處理器的控制在沒有浪費的情況下進行從第二模式向第一模式的轉變。
[0036]〔8〕<互電容方式中的普通掃描和低功率掃描>
半導體裝置包括觸摸面板控制器(3)，所述觸摸面板控制器具有在X方向上延伸并在Y方向上以規定間隔排列的多個X電極(X1~XN)、以及在Y方向上延伸并在X方向上以規定間隔排列的多個Y電極(Y1~YM)，驅動將所述X電極與所述Y電極的交點位置作為檢測點的觸摸面板的所述Y電極并導入出現于X電極的信號，生成與對所述觸摸面板的檢測面的觸摸的有無對應的檢測數據。所述觸摸面板控制器在