夾具及校正方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種夾具(jig)及校正方法。
【背景技術】
[0002]隨著科技的進步，對電子裝置的操作方式已不限于利用鼠標或按壓按鍵的方式，而可以是更直覺式且更人性化的觸控方式。
[0003]觸控技術可分為電容式觸控技術、電阻式觸控技術、光學式觸控技術等，其中電容式觸控技術雖可達到精準的多點觸控，但卻有不適合用于大尺寸屏幕的缺點。這是因為當電容式觸控面板的尺寸做的越大時，不但造價越為昂貴，電阻電容延遲(RC delay)亦越嚴重。
[0004]相比之下，一般的光學式觸控技術是在屏幕的角落設置光源與影像擷取組件來實現觸控檢測，因此其造價與檢測效果較不受屏幕的尺寸的影響，所以對于大尺寸的屏幕仍有良好的適用性。
[0005]在一般的光學式觸控技術中，光源與影像擷取組件的組裝的位置誤差、影像擷取組件中鏡頭的像差及鏡頭組裝時的位置誤差均會影響觸控位置判斷的準確度。因此，在光學式觸控技術中，如何校正光源與影像擷取組件乃為一重要的課題。
[0006]因此，需要提供一種夾具及校正方法來解決上述問題。
【發明內容】
[0007]本發明提供一種夾具，其可有效地校正光收發模塊。
[0008]本發明提供一種校正方法，其可有效地校正光收發模塊。
[0009]本發明的一實施例的夾具用以校正一光收發模塊，該夾具包括:一光收發模塊配置區以及一弧形結構；該光收發模塊適于配置于該光收發模塊配置區上；該弧形結構以該光收發模塊配置區的位置為圓心，該弧形結構包括:多個反射區、多個吸光區以及一特征區；該些反射區與該些吸光區交替排列；該特征區為一用以反射的區域或一用以吸光的區域，其中當該特征區為該用以反射的區域時，該用以反射的區域的寬度不同于每一該反射區的寬度，且當該特征區為該用以吸光的區域時，該用以吸光的區域的寬度不同于每一該吸光區的寬度。
[0010]本發明的一實施例的校正方法用以校正一光收發模塊，該校正方法包括:使該光收發模塊旁設有多個反射區、多個吸光區及一特征區，該些反射區與該些吸光區交替排列，該特征區為一用以反射的區域或一用以吸光的區域，其中當該特征區為該用以反射的區域時，該用以反射的區域的寬度不同于每一該反射區的寬度，且當該特征區為該用以吸光的區域時，該用以吸光的區域的寬度不同于每一該吸光區的寬度；使該光收發模塊朝向該些反射區、該些吸光區及該特征區發光，并感測該些反射區、該些吸光區及該特征區的影像；以及比較該些反射區、該些吸光區及該特征區的實際方位與該些反射區、該些吸光區及該特征區在該光收發模塊的一影像感測面上所形成的影像的位置，以校正該影像感測面上的位置所對應的實際方位。
[0011]在本發明的實施例的夾具與校正方法中，由于采用了反射區、吸光區及特征區來代表實際的角度，因此當光收發模塊擷取反射區、吸光區及特征區的影像時，可藉由比對這些實際角度與所擷取的反射區、吸光區及特征區的影像在光收發模塊的影像感測面上的成像位置來校正光收發模塊。如此一來，光收發模塊的組裝誤差便能夠獲得有效地效正。
[0012]為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附附圖作詳細說明如下。
【附圖說明】
[0013]圖1A為本發明的一實施例的夾具的俯視示意圖。
[0014]圖1B為圖1A的夾具的立體圖。
[0015]圖1C為圖1A中的光收發模塊的側視示意圖。
[0016]圖2為本發明的一實施例的校正方法的流程圖。
[0017]圖3A繪示在圖1A的配置狀態下，光收發模塊所檢測到的影像的光強度相對于其影像感測面上的位置的分布曲線圖。
[0018]圖3B為圖3A的分布曲線圖的局部放大圖。
[0019]圖4為繪示經由圖1A的夾具校正后的光收發模塊組裝于光學觸控裝置后的后續校正步驟的示意圖。
[0020]圖5為本發明的另一實施例的夾具的立體示意圖。
[0021]圖6為本發明的又一實施例的夾具的俯視示意圖。
[0022]主要組件符號說明:
[0023]50光收發模塊123吸光區
[0024]51 光124、124b 吸光單元
[0025]52發光組件 125特征區
[0026]53反射光130、130a附加電路板
[0027]54影像擷取組件132、132a下板
[0028]54a鏡頭134、134a弧狀側板
[0029]54b影像感測器 200光學觸控裝置
[0030]54b I影像感測面 205觸控面
[0031]60控制板212透明保護板
[0032]70計算機214反射條
[0033]80夾具BI?B4點
[0034]82、84、P1、P2、吸光點D1、D2、D3寬度
[0035]P3Fl特征影像部分
[0036]100、100a、10b 夾具F2吸光影像部分
[0037]110光收發模塊配G2、G2’影像間距
[0038]置區Ml中點
[0039]120、120b弧形結構 S110、S120、步驟
[0040]121反射區S130
[0041]122、122a弧形反射單元T閾值
[0042]122b反射單元 Θ1、Θ2張角
【具體實施方式】
[0043]圖1A為本發明的一實施例的夾具的俯視示意圖，圖1B為圖1A的夾具的立體圖，圖1C為圖1A中的光收發模塊的側視示意圖，而圖2為本發明的一實施例的校正方法的流程圖。請參照圖1Α、圖1B及圖2，本實施例的校正方法用以校正一光收發模塊50，且可以利用圖1A的夾具100來完成。光收發模塊50包括至少一發光組件52及一影像擷取組件54。在本實施例中，發光組件52為發光二極管，例如為紅外光發光二極管。此外，影像擷取組件54包括一鏡頭54a及配置于鏡頭54a的一端旁的影像感測器54b，其中影像感測器54b例如為線感測器(line sensor)或二維感測器。在本實施例中，影像感測器54b為電荷耦合器件(charge coupled device, CO))或互補金屬氧化物半導體感測組件(complementarymetal oxide semiconductor sensor,CMOS sensor)。在本實施例中，圖1A 與圖1B 中的 y方向可定義為光收發模塊50的光軸方向，X方向可定義為影像感測器54b (如線感測器)的像素的排列方向，而z方向可定義為影像擷取組件54與發光組件52的堆疊方向(如圖1C所繪示)，X方向、y方向及z方向彼此互相垂直，但本發明不以此為限。
[0044]本實施例的校正方法包括下列步驟:首先，執行步驟S110，使光收發模塊50旁設有多個反射區121、多個吸光區123及一特征區125，其中這些反射區121與這些吸光區123交替排列，而特征區125為一用以反射的區域或一用以吸光的區域。在本實施例中，特征區125為用以反射的區域，此時特征區125的寬度Dl不同于每一反射區121的寬度D2。在另一實施例中，特征區125為用以吸光的區域，此時此用以吸光的區域的寬度不同于每一吸光區123的寬度D3。
[0045]在本實施例中，步驟SllO可利用如圖1A的夾具100來執行。在本實施例中，夾具100用以校正光收發模塊50,且夾具100包括一光收發模塊配置區110及一弧形結構120。光收發模塊50適于配置于光收發模塊配置區110上，且弧形結構120以光收發模塊配置區110的位置為圓心。弧形結構120包括上述這些反射區121、這些吸光區123及特征區125。換言之，在本實施例中，步驟SllO即為將光收發模塊50配置于光收發模塊配置區110上。
[0046]在本實施例中，夾具100包括一附加電路板130，其具有一下板132及一連接于下板132的邊緣的弧狀側板134。在本實施例中，光收發模塊配置區110具有一凹陷，以容置光收發模塊50,且光收發模塊50承靠于凹陷的側壁以作定位。在本實施例中，弧形結構包括一弧形反射單元122及多個吸光單元124。弧形反射單元122以光收發模塊配置區110的位置為圓心且連續地延伸，且這些吸光單元124呈弧狀地排列于弧形反射單元122旁，且位于弧形反射單元122與光收發模塊配置區110之間。在本實施例中，弧形反射單元122可配置于弧狀側板134上，例如是貼附于弧狀側板134上。這些吸光單元124分別形成這些吸