天線異常識別方法及裝置與流程

本技術涉及天線，具體涉及一種天線異常識別方法及裝置。

背景技術：

1、室內分布系統是一種常見的用于改善建筑物內移動通信環境的網絡架構，其原理是通過在室內各個區域布放室內天線，將移動通信基站的信號均勻地分布到室內各個角落，保證室內區域理想的信號覆蓋。室內分布系統主要由有源器件、無源器件、天線、饋線組成。由于系統末端為無源器件和天線，該兩者無供電單元，因此，通常是對該兩者的上級器件進行監控，而對天線則無法獨立監控，進而很難識別室內分布系統的天線運行是否正常。

2、現階段對于室內分布系統的天線的異常識別主要依托投訴現場排查、弱覆蓋問題摸測，再基于現場摸排測試人員的優化經驗判定。由于室內分布系統可能存在隱蔽工程，現場摸排測試人員可能無法準確找到分布系統的元器件，根據現場摸排結果進行異常識別的準確性和效率較低，且由于室內無法借助gps定位，現場摸排測試需手動打點，無法準確記錄具體測試路徑以及測試結果，不利于后期的分析定位，進一步降低異常識別的準確性和效率。

技術實現思路

1、本技術實施例提供一種天線異常識別方法及裝置，用以解決現場摸排測試識別天線異常導致的異常識別準確性和效率低的技術問題。

2、第一方面，本技術實施例提供一種天線異常識別方法，包括：

3、獲取任一采樣時長內多個采樣時刻所采集到的目標區域內各測試點的參考信號接收功率；

4、獲取目標圖紙上與采樣像素點相關聯的天線像素點，得到目標天線像素點；所述采樣像素點是所述測試點映射至所述目標圖紙上的像素點，所述天線像素點是所述目標圖紙上天線對應的像素點，所述目標圖紙為所述目標區域的室內分布系統圖紙；

5、將所述采樣像素點映射至預設坐標系中；所述預設坐標系以所述采樣像素點與所述目標天線像素點在所述目標圖紙上的第一距離為橫坐標，以參考信號接收功率的絕對值為縱坐標；

6、對所述預設坐標系中的采樣像素點進行聚類，得到多個聚類簇；

7、根據所述多個聚類簇在所述預設坐標系中的簇心縱坐標，確定與所述采樣像素點相關聯的目標天線像素點對應的天線是否異常。

8、在一個實施例中，所述對所述預設坐標系中的采樣像素點進行聚類，得到多個聚類簇，包括：

9、將所有采樣像素點中距離最小值對應的兩個采樣像素點劃分為相近簇，并將所述兩個采樣像素點之間的距離確定為第一待處理距離；

10、計算所述相近簇外的任一采樣像素點與所述相近簇內的采樣像素點之間的距離最小值，得到第二待處理距離；

11、將所述任一采樣像素點添加至所述相近簇中后，返回計算所述相近簇外的任一采樣像素點與相近簇內的采樣像素點之間的距離最小值的步驟，直至所有采樣像素點均添加至所述相近簇，得到多個第二待處理距離；

12、將所述第一待處理距離和所述多個第二待處理距離確定為第二距離，根據自然斷點法確定多個第二距離的最優分組方式；

13、對所述最優分組方式中任一小組內的所述第二距離對應的采樣像素點進行聚類，得到多個聚類簇。

14、在一個實施例中，所述根據自然斷點法確定多個第二距離的最優分組方式，包括：

15、根據多個第二距離的均值，得到所述多個第二距離的第一偏差平方和；

16、將多個第二距離按照不同的分組方式進行分組，得到任一分組方式下的多個小組；

17、根據所述任一分組方式下任一小組中第二距離的均值，得到所述任一小組內第二距離的第二偏差平方和；

18、將所述任一分組方式下所有小組的第二偏差平方和求和，得到偏差平方總和；

19、根據所述第一偏差平方和與所述偏差平方總和，得到所述任一分組方式下的方差擬合優度；

20、將不同分組方式下的方差擬合優度最大值對應的分組方式確定為第二距離的最優分組方式。

21、在一個實施例中，所述根據所述多個聚類簇在所述預設坐標系中的簇心縱坐標，確定與所述采樣像素點相關聯的目標天線像素點對應的天線是否異常，包括：

22、若所述多個聚類簇在所述預設坐標系中的簇心縱坐標最小值小于接收功率絕對值閾值，則獲取所述簇心縱坐標最小值對應的第一聚類簇中，與任一目標天線像素點相關聯的采樣像素點的數量，得到多個第一數量；

23、將所有采樣像素點中，與第一數量最大值對應的目標天線像素點相關聯的采樣像素點確定為目標采樣像素點集；

24、將所述目標采樣像素點集中的采樣像素點的連線作為正異常分割線；

25、若多個第二聚類簇的簇心縱坐標最小值對應的簇心在所述預設坐標系中位于所述正異常分割線遠離縱坐標的一側，則確定所述簇心縱坐標最小值對應的第二聚類簇為正常聚類簇；所述第二聚類簇為所述多個聚類簇中除所述第一聚類簇以外的聚類簇；

26、獲取所述正常聚類簇中，與任一目標天線像素點相關聯的采樣像素點的數量，得到多個第二數量；

27、將所有采樣像素點中，與第二數量最大值對應的目標天線像素點相關聯的采樣像素點添加至所述目標采樣像素點集中，并將所述正常聚類簇作為第一聚類簇后，返回將所述目標采樣像素點集中的采樣像素點的連線作為正異常分割線的步驟，直至所有聚類簇均完成正異常判斷；

28、若多個第二聚類簇的簇心縱坐標最小值對應的簇心在所述預設坐標系中位于所述正異常分割線靠近縱坐標的一側，則確定所述簇心縱坐標最小值對應的第二聚類簇為異常聚類簇；

29、獲取所述異常聚類簇中，與任一目標天線像素點相關聯的采樣像素點的數量，得到第三數量；

30、獲取所有采樣像素點中，與所述任一目標天線像素點相關聯的采樣像素點的數量，得到第四數量；

31、若所述第三數量與所述第四數量的比值大于比值閾值，則確定所述任一目標天線像素點對應的天線異常。

32、在一個實施例中，所述根據所述多個聚類簇在所述預設坐標系中的簇心縱坐標，確定與所述采樣像素點相關聯的目標天線像素點對應的天線是否異常，包括：

33、若所述多個聚類簇在所述預設坐標系中的簇心縱坐標最小值大于或等于接收功率絕對值閾值，則確定所有目標天線像素點對應的天線均異常。

34、在一個實施例中，所述獲取目標圖紙上與采樣像素點相關聯的天線像素點，得到目標天線像素點，包括：

35、若第一采樣時刻對應的第一采樣像素點與所有天線像素點之間的距離最小值是唯一值，則將所述唯一值對應的天線像素點確定為與第一采樣像素點對應的目標天線像素點；

36、若第一采樣時刻對應的第一采樣像素點與所有天線像素點之間的距離最小值不唯一，則根據第二采樣時刻對應的第二采樣像素點和第三采樣時刻對應的第三采樣像素點，確定與第一采樣像素點對應的目標天線像素點；

37、所述第二采樣時刻是所述第一采樣時刻的上一采樣時刻，所述第三采樣時刻是所述第一采樣時刻的下一采樣時刻。

38、在一個實施例中，所述根據第二采樣時刻對應的第二采樣像素點和第三采樣時刻對應的第三采樣像素點，確定與第一采樣像素點對應的目標天線像素點，包括：

39、若所述第二采樣像素點對應的目標天線像素點是所述第一采樣像素點與所有天線像素點之間距離最小值對應的任一天線像素點，則將所述第二采樣像素點對應的目標天線像素點確定為與第一采樣像素點對應的目標天線像素點；

40、若所述第二采樣像素點對應的目標天線像素點不是所述第一采樣像素點與所有天線像素點之間距離最小值對應的任一天線像素點，則將所述第三采樣像素點對應的目標天線像素點確定為與第一采樣像素點對應的目標天線像素點。

41、第二方面，本技術實施例提供一種天線異常識別裝置，包括：

42、參考信號接收功率獲取模塊，用于：獲取任一采樣時長內多個采樣時刻所采集到的目標區域內各測試點的參考信號接收功率；

43、目標天線像素點獲取模塊，用于：獲取目標圖紙上與采樣像素點相關聯的天線像素點，得到目標天線像素點；所述采樣像素點是所述測試點映射至所述目標圖紙上的像素點，所述天線像素點是所述目標圖紙上天線對應的像素點，所述目標圖紙為所述目標區域的室內分布系統圖紙；

44、坐標系映射模塊，用于：將所述采樣像素點映射至預設坐標系中；所述預設坐標系以所述采樣像素點與所述目標天線像素點在所述目標圖紙上的第一距離為橫坐標，以參考信號接收功率的絕對值為縱坐標；

45、聚類模塊，用于：對所述預設坐標系中的采樣像素點進行聚類，得到多個聚類簇；

46、天線異常識別模塊，用于：根據所述多個聚類簇在所述預設坐標系中的簇心縱坐標，確定與所述采樣像素點相關聯的目標天線像素點對應的天線是否異常。

47、第三方面，本技術實施例提供一種電子設備，包括處理器和存儲有計算機程序的存儲器，所述處理器執行所述程序時實現第一方面所述的天線異常識別方法的步驟。

48、第四方面，本技術實施例提供一種計算機程序產品，包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現第一方面所述的天線異常識別方法的步驟。

49、本技術提供的天線異常識別方法和裝置，獲取任一采樣時長內多個采樣時刻所采集到的目標區域內各測試點的參考信號接收功率，獲取目標圖紙上與采樣像素點相關聯的天線像素點，得到目標天線像素點，將采樣像素點映射至預設坐標系中；預設坐標系以采樣像素點與目標天線像素點在目標圖紙上的第一距離為橫坐標，以參考信號接收功率的絕對值為縱坐標，對預設坐標系中的采樣像素點進行聚類，得到多個聚類簇，根據多個聚類簇在預設坐標系中的簇心縱坐標，確定與采樣像素點相關聯的目標天線像素點對應的天線是否異常。本技術各步驟均為算法自動運行，通過將測試點和天線位置點與目標圖紙相關聯，能夠準確找到隱蔽工程中的元器件，并準確記錄具體測試路徑以及測試結果，有利于后續的分析定位，具體分析定位方法根據采樣像素點與天線像素點之間的關聯性、采樣像素點對應的第一距離和參考信號接收功率的絕對值之間的關系、聚類分析以及聚類簇的簇心對應的參考信號接收功率的絕對值，確定與采樣像素點相關聯的目標天線像素點對應的天線是否異常，能夠有效提高天線異常識別的準確性和效率。