本發明涉及信息安全技術領域，特別涉及一種針對西數硬盤31號模塊損壞的修復方法。
背景技術：
在數據恢復的領域，經常會遇到缺陷的存儲介質；重要的數據對于用戶來說，往往都是無價的。西數硬盤固件區壞道，導致了重要模塊出現了損壞。模塊頭部的校驗值，和模塊產生壞道之后的數據校驗值發生了改變，導致了模塊校驗值不匹配的情況。這樣的情況出現，就導致了硬盤無法認盤，或者硬盤認盤但是無法訪問數據區的問題出現。
目前出現這種固件區壞道的處理辦法，一般都是采用固件區偏移的方法來處理。但是如果固件區的所有磁道都存在同緯度的規律壞道，并且重要模塊的長度又很長。固件偏移方法就無法處理。
技術實現要素：
本發明針對現有技術的缺陷，提供了一種針對西數硬盤31號模塊損壞的修復方法，能有效的解決上述現有技術存在的問題。
一種針對西數硬盤31號模塊損壞的修復方法，包括以下步驟：
S1：獲取通過UBA方式找到31號模塊頭部特征；
S2：頭部向后偏移6個字節找31號模塊長度；
S3：根據31號模塊長度遍歷整個31號模塊，區分壞扇區位置并記錄；
S4：以31號模塊頭部特征為起始位向后檢索“0x0000FFFF”，這段數據體記為有效數據體，“0x0000FFFF”向后至31號模塊尾部為非有效數據體；
S5：確定31號模塊中所有壞扇區位置，如果壞扇區位置存在于有效數據體當中，則結束。如果壞扇區位置存在非有效數據體當中，則對非有效數據體進行裁剪，執行S6；
S6：將有效數據體進行字節數統計；執行公式：字節數\512＝有效數據所占扇區數，對有效數據所占扇區數取整；
S7：將有效數據所占扇區數轉換成16進制，填入譯碼表31號模塊頭部對應的模塊長度記錄位置；
S8：對S7改變后的有效數據體進行校驗，并將得到的4字節校驗重新填入31號模塊對應的校驗位；
S9：斷電、起電，硬盤就可以正常訪問并提取數據。
與現有技術相比本發明的優點在于：通過屏蔽對模塊校驗產生影響的壞扇區，在硬盤初始化的時候，就不會對模塊的壞扇區進行加載和訪問，成功初始化硬盤訪問硬盤內的數據。
附圖說明
圖1為本發明實施例31號模塊的數據結構圖。
具體實施方式
為使本發明的目的：技術方案及優點更加清楚明白，以下舉實施例，對本發明做進一步詳細說明。
如圖1所示，一種針對西數硬盤31號模塊損壞的修復方法，包括以下步驟：
S1：獲取通過UBA方式找到31號模塊頭部特征“0x524F594C”；
S2：頭部向后偏移6個字節的兩個字節為記錄31號模塊長度“0x0C7”；
S3：根據31號模塊長度遍歷整個31號模塊，區分壞扇區位置并記錄；
S4：以31號模塊頭部特征“0x524F594C”為起始位向后檢索“0x0000FFFF”，這段數據體記為有效數據體，“0x0000FFFF”向后至31號模塊尾部為非有效數據體；
S5：確定31號模塊中所有壞扇區位置，如果壞扇區位置存在于有效數據體當中，則結束。如果壞扇區位置存在非有效數據體當中，則對非有效數據體進行裁剪，執行S6；
S6：將有效數據體進行字節數統計；執行公式：字節數\512＝有效數據所占扇區數，對有效數據所占扇區數取整；
S7：將有效數據所占扇區數轉換成16進制，填入譯碼表31號模塊頭部對應的模塊長度記錄位置；
S8：對S7改變后的有效數據體進行校驗，并將得到的4字節校驗重新填入31號模塊對應的校驗位；
S9：斷電、起電，硬盤就可以正常訪問并提取數據。
本領域的普通技術人員將會意識到，這里所述的實施例是為了幫助讀者理解本發明的實施方法，應被理解為本發明的保護范圍并不局限于這樣的特別陳述和實施例。本領域的普通技術人員可以根據本發明公開的這些技術啟示做出各種不脫離本發明實質的其它各種具體變形和組合，這些變形和組合仍然在本發明的保護范圍內。