一種信號檢測裝置及其檢測內存信號的方法與流程

本發明涉及計算機技術領域，特別涉及一種信號檢測裝置及其檢測內存信號的方法。

背景技術：

內存是計算機系統中常用存儲設備之一，可在內存控制器的控制下存儲業務數據。內存控制器與內存均安裝在獨立磁盤冗余陣列卡的PCB(Printed Circuit Board，印制電路板)上，內存控制器與內存之間需要通過印制電路板上的信號傳輸線(比如，DDR3信號傳輸線)來實現內存信號的傳輸。如果信號傳輸線傳輸內存信號的過程中，內存信號的完整性較大的干擾，則可能導致內存出現不可糾正錯誤，進而造成系統宕機。因此，經常需要對內存信號(包括發送信號和接收信號)進行檢測，以便工作人員根據檢測結果確定內存信號的完整性是否在傳輸過程中受到破壞。

目前，檢測內存信號時，通常需要使用memtest等專業的內存檢測軟件來檢測內存信號。

但是，memtest等專業的內存檢測軟件直接依賴于計算機操作系統，比如memtest則僅能運行在windows系統下，通用性較低。

技術實現要素：

本發明實施例提供了一種信號檢測裝置及其檢測內存信號的方法，通用性較高。

第一方面，本發明提供了一種信號檢測裝置，包括：

第一連接件、第二連接件、擴展連接件和示波器；其中，

所述擴展連接件分別連接所述第一連接件、所述第二連接件和所述示波器；

所述第一連接件，用于連接外部待測內存，接收所述待測內存提供的發送信號及第一時鐘信號，并轉發至所述擴展連接件；

所述第二連接件，用于連接對應所述待測內存的外部待測PCB，接收所述待測PCB提供的接收信號及第二時鐘信號，并轉發至所述擴展連接件；

所述擴展連接件，用于將接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號轉發至所述示波器；

所述示波器，用于根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形，并根據所述混合波形提供所述發送信號和所述接收信號分別對應的檢測結果。

優選地，

所述示波器，包括：波形處理模塊、第一波形解析模塊、條件確定模塊、濾波處理模塊、第二波形解析模塊和檢測結果提供模塊；其中，

所述波形處理模塊，用于根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形；

所述第一波形解析模塊，用于解析所述混合波形，以確定所述混合波形中的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域；

條件確定模塊，用于根據確定的所述高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域，確定所述發送信號和所述接收信號分別對應的觸發條件；

濾波處理模塊，用于根據確定的所述發送信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述發送信號對應的發送信號波形，以及根據確定的所述接收信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述接收信號對應的接收信號波形；

第二波形解析模塊，用于解析所述發送信號波形以確定所述發送信號和所述第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果；以及解析所述接收信號波形以確定所述接收信號和所述第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果；

檢測結果提供模塊，用于提供所述傳輸第一檢測結果和所述第二檢測結果。

優選地，

所述第二波形解析模塊，包括：波形解析單元和確定單元；其中，

所述波形解析單元，用于解析所述發送信號波形和所述接收信號波形，以形成對應所述發送信號的第一參考波形、對應所述第一時鐘信號的第二參考波形、對應所述接收信號的第三參考波形及對應所述第二時鐘信號的第四參考波形；

所述確定單元，用于根據所述第一參考波形和所述第二參考波形，確定所述發送信號對應的第一檢測結果，以及根據所述第三參考波形和所述第四參考波形確定所述接收信號對應的第二檢測結果。

優選地，

所述檢測結果包括：信號傳輸時延、信號周期、信號上升沿時長、信號下降沿時長中的一項或多項。

優選地，

所述擴展連接件分別與所述第一連接件、所述第二連接件和所述示波器固定連接；

和/或，

所述第一連接件和所述待測內存壓接，所述第二連接件和對應所述待測內存的待測PCB壓接。

第二方面，本發明實施例提供了一種利用第一方面中任一所述的信號檢測裝置檢測內存信號的方法，包括：

利用第一連接件連接待測內存，以及利用第二連接件連接對應所述待測內存的待測PCB；

利用第一連接件接收待測內存提供的發送信號及第一時鐘信號，并轉發至擴展連接件，以及利用第二連接件接收待測PCB提供的接收信號及第二時鐘信號，并轉發至擴展連接件；

利用擴展連接件將接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號轉發至所述示波器；

利用示波器根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形，并根據所述混合波形提供所述發送信號和所述接收信號分別對應的檢測結果。

優選地，

所述利用示波器根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形，并根據所述混合波形提供所述發送信號和所述接收信號分別對應的檢測結果，包括：

利用波形處理模塊根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形；

利用第一波形解析模塊解析所述混合波形，以確定所述混合波形中的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域；

利用條件確定模塊根據確定的所述高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域，確定所述發送信號和所述接收信號分別對應的觸發條件；

利用濾波處理模塊根據確定的所述發送信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述發送信號對應的發送信號波形，以及根據確定的所述接收信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述接收信號對應的接收信號波形；

利用第二波形解析模塊解析所述發送信號波形以確定所述發送信號和所述第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果，以及解析所述接收信號波形以確定所述接收信號和所述第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果；

利用檢測結果提供模塊提供所述傳輸第一檢測結果和所述第二檢測結果。

優選地，

所述利用第二波形解析模塊解析所述發送信號波形以確定所述發送信號和所述第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果，以及解析所述接收信號波形以確定所述接收信號和所述第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果，包括：

利用波形解析單元解析所述發送信號波形和所述接收信號波形，以形成對應所述發送信號的第一參考波形、對應所述第一時鐘信號的第二參考波形、對應所述接收信號的第三參考波形及對應所述第二時鐘信號的第四參考波形；

利用確定單元根據所述第一參考波形和所述第二參考波形，確定所述發送信號對應的第一檢測結果，以及根據所述第三參考波形和所述第四參考波形確定所述接收信號對應的第二檢測結果。

優選地，

所述檢測結果包括：信號傳輸時延、信號周期、信號上升沿時長、信號下降沿時長中的一項或多項。

優選地，

所述擴展連接件分別與所述第一連接件、所述第二連接件和所述示波器固定連接；

和/或，

所述第一連接件和所述待測內存壓接，所述第二連接件和對應所述待測內存的待測PCB壓接。

本發明實施例提供了一種信號檢測裝置及其檢測內存信號的方法，在該檢測裝置中，僅利用相應的連接件與待測內存及對應待測內存的PCB相連，即可將待測內存和待測PCB提供的發送信號、接收信號、第一時鐘信號和第二時鐘信號等內存信號引出并傳輸至示波器，示波器則可根據接收的內存信號顯示相應的混合波形，進而根據混合波形提供接收信號和發送信號分別對應的檢測結果。綜上可見，本發明實施例提供的技術方案中，構成檢測裝置的連接件以及示波器等都是常見的設備，利用該檢測裝置對發送信號及接收信號等內存信號進行檢測時，不必使用專業的內存測試軟件來測試內存信號，通用性極高。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明一實施例提供的一種信號檢測裝置的結構示意圖；

圖2是本發明一實施例提供的另一種信號檢測裝置的結構示意圖；

圖3是本發明一實施例提供的一種混合波形的示意圖；

圖4是本發明實施例提供的一種利用信號檢測裝置檢測內存信號時，連接件的安裝示意圖；

圖5是本發明一實施例提供的一種利用信號檢測裝置檢測內存信號的方法的流程圖；

圖6是本發明一實施例提供的另一種利用信號檢測裝置檢測內存信號的方法的流程圖；

圖7是本發明一實施例中第一參考波形和第二參考波形的關系示意圖。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例，基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

如圖1所示，本發明實施例提供了一種信號檢測裝置，包括：

第一連接件101、第二連接件102、擴展連接件103和示波器104；其中，

所述擴展連接件104分別連接所述第一連接件101、所述第二連接件102和所述示波器104；

所述第一連接件101，用于連接外部待測內存，接收所述待測內存提供的發送信號及第一時鐘信號，并轉發至所述擴展連接件103；

所述第二連接件102，用于連接對應所述待測內存的外部待測PCB，接收所述待測PCB提供的接收信號及第二時鐘信號，并轉發至所述擴展連接件103；

所述擴展連接件103，用于將接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號轉發至所述示波器；

所述示波器104，用于根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形，并根據所述混合波形提供所述發送信號和所述接收信號分別對應的檢測結果。

本發明實施例中，僅利用相應的連接件與待測內存及對應待測內存的PCB相連，即可將待測內存和待測PCB提供的發送信號、接收信號、第一時鐘信號和第二時鐘信號等內存信號引出并傳輸至示波器，示波器則可根據接收的內存信號顯示相應的混合波形，進而根據混合波形提供接收信號和發送信號分別對應的檢測結果。綜上可見，本發明實施例提供的技術方案中，構成檢測裝置的連接件以及示波器等都是常見的設備，利用該檢測裝置對發送信號及接收信號等內存信號進行檢測時，不必使用專業的內存測試軟件來測試內存信號，通用性極高。

應當理解的是，接收信號即由安裝在待測PCB板上的內存控制器提供的write數據，發送信號即read數據，第一時鐘信號用于提示內存控制器在相應的時刻讀取read數據，第二時鐘信號用于提示待測內存在相應的時刻接收write數據。

具體地，本發明一實施例中，所述檢測結果包括：信號傳輸時延、信號周期、信號上升沿時長、信號下降沿時長中的一項或多項。

進一步的，為了實現通過示波器提供接收信號和發送信號分別對應的檢測結果，如圖2所示，本發明一個實施例中，所述示波器104，包括：波形處理模塊1041、第一波形解析模塊1042、條件確定模塊1043、濾波處理模塊1044、第二波形解析模塊1045和檢測結果提供模塊1046；其中，

所述波形處理模塊1041，用于根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形；

所述第一波形解析模塊1042，用于解析所述混合波形，以確定所述混合波形中的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域；

所述條件確定模塊1043，用于根據確定的所述高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域，確定所述發送信號和所述接收信號分別對應的觸發條件；

所述濾波處理模塊1044，用于根據確定的所述發送信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述發送信號對應的發送信號波形，以及根據確定的所述接收信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述接收信號對應的接收信號波形；

所述第二波形解析模塊1045，用于解析所述發送信號波形以確定所述發送信號和所述第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果，以及解析所述接收信號波形以確定所述接收信號和所述第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果；

所述檢測結果提供模塊1046，用于提供所述第一檢測結果和所述第二檢測結果。

本發明上述實施例中，由于待測PCB提供的接收信號由安裝在待測PCB上的內存控制器(Controller芯片)提供，接收信號和第二時鐘信號(即write數據)經過PCB上的高速線傳輸到第二連接件時，會發生信號衰減，因此，在混合波形中，接收信號和第二時鐘信號形成的波形比較于發送信號(即read數據)和第一時鐘信號形成的波形時，接收信號和第二時鐘信號形成的波形對應的幅值(即高電平和低電平的差值)相對較小；因此，以波形處理模塊如圖3所示的混合波形為例，第一波形解析模塊則可根據發送信號、接收信號以及時鐘信號的電平高低來確定混合波形中的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域分別為如圖3所示的“1”區域、“2”區域和“3”區域，條件確定模塊則可根據確定的“1”區域、“2”區域和“3”區域確定發送信號和接收信號分別對應的觸發條件，比如，條件確定模塊將發送信號對應的觸發條件確定為波形圖不能經過“2”區域和“3”區域，濾波處理模塊則可將“2”區域和“3”區域所分別對應的波形濾除，以形成發送信號和第一時鐘信號對應的發送信號波形，相似地，濾波處理模塊可將“1”區域和“3”區域所分別對應的波形濾除以形成接收信號和第二時鐘信號對應的接收信號波形；如此，第二波形解析模塊則可解析發送信號波形以確定發送信號和第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果，以及解析接收信號波形以確定接收信號和第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果；進而由檢測結果提供模塊提供確定的第一檢測結果和第二檢測結果。

具體地，本發明一個實施例中，所述第二波形解析模塊1045，包括：波形解析單元(附圖中未示出)和確定單元(附圖中未示出)；其中，

所述波形解析單元，用于解析所述發送信號波形和所述接收信號波形，以形成對應所述發送信號的第一參考波形、對應所述第一時鐘信號的第二參考波形、對應所述接收信號的第三參考波形及對應所述第二時鐘信號的第四參考波形；

所述確定單元，用于根據所述第一參考波形和所述第二參考波形，確定所述發送信號對應的第一檢測結果，以及根據所述第三參考波形和所述第四參考波形確定所述接收信號對應的第二檢測結果。

本發明上述實施例中，波形解析單元解析發送信號波形可得到對應發送信號的第一參考波形和對應第一時鐘信號的第二參考波形，解析接收信號波形可得到對應接收信號的第三參考波形和對應第二時鐘信號的第四參考波形。如此，確定單元則可通過比較第一參考波形和第二參考波形以確定出發送信號對應的第一檢測結果，比較第三參考波形和第四參考波形以確定出接收信號對應的第二檢測結果。

進一步的，為了提高檢測效率，本發明一個實施例中，所述擴展連接件分別與所述第一連接件、所述第二連接件和所述示波器固定連接。

進一步的，為了防止測試過程中損壞待測內存、待測PCB或安裝在待測PCB上的電子元件，本發明一個實施例中，所述第一連接件和所述待測內存壓接，所述第二連接件和對應所述待測內存的待測PCB壓接。

舉例來說，如圖4所示，第一連接件Socket A的第一端和第二連接件Socket B的第一端均與擴展連接件Interposer緊固連接(比如，焊接)，同時，擴展連接件Interposer還可以與示波器的探頭進行緊固連接，如此，形成一個一體化成型的檢測裝置，便于管理檢測裝置。第一連接件Socket A的第二端與待測內存DRAM壓接，第二連接件Socket B的第二端與對應該待測內存DRAM的待測PCB壓接，可在空間位置上抬高安裝在待測PCB上的待測內存DRAM，防止檢測過程中損壞安裝在待測PCB上的電子元件；同時，采用壓接的方式與待測PCB和待測內存相連，不會對待測PCB以及待測內存的固有結構造成損壞。

如圖5所示，本發明實施例提供了一種利用本發明任意一個實施例提供的檢測裝置檢測內存信號的方法，包括：

步驟501，利用第一連接件連接待測內存，以及利用第二連接件連接對應所述待測內存的待測PCB；

步驟502，利用第一連接件接收待測內存提供的發送信號及第一時鐘信號，并轉發至擴展連接件，以及利用第二連接件接收待測PCB提供的接收信號及第二時鐘信號，并轉發至擴展連接件；

步驟503，利用擴展連接件將接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號轉發至所述示波器；

步驟504，利用示波器根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形，并根據所述混合波形提供所述發送信號和所述接收信號分別對應的檢測結果。

由于構成檢測裝置的連接件以及示波器等都是常見的設備，利用該檢測裝置對發送信號及接收信號等內存信號進行檢測時，不必使用專業的內存測試軟件來測試內存信號，通用性極高。

本發明一個實施例中，所述利用示波器根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形，并根據所述混合波形提供所述發送信號和所述接收信號分別對應的檢測結果，包括：

A1：利用波形處理模塊根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形；

A2：利用第一波形解析模塊解析所述混合波形，以確定所述混合波形中的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域；

A3：利用條件確定模塊根據確定的所述高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域，確定所述發送信號和所述接收信號分別對應的觸發條件；

A4：利用濾波處理模塊根據確定的所述發送信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述發送信號對應的發送信號波形，以及根據確定的所述接收信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述接收信號對應的接收信號波形；

A5：利用第二波形解析模塊解析所述發送信號波形以確定所述發送信號和所述第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果，以及解析所述接收信號波形以確定所述接收信號和所述第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果；

A6：利用檢測結果提供模塊提供所述傳輸第一檢測結果和所述第二檢測結果。

本發明一個實施例中，所述利用第二波形解析模塊解析所述發送信號波形以確定所述發送信號和所述第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果，以及解析所述接收信號波形以確定所述接收信號和所述第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果，包括：

B1：利用波形解析單元解析所述發送信號波形和所述接收信號波形，以形成對應所述發送信號的第一參考波形、對應所述第一時鐘信號的第二參考波形、對應所述接收信號的第三參考波形及對應所述第二時鐘信號的第四參考波形；

B2：利用確定單元根據所述第一參考波形和所述第二參考波形，確定所述發送信號對應的第一檢測結果，以及根據所述第三參考波形和所述第四參考波形確定所述接收信號對應的第二檢測結果。

本發明一個優選實施例中，所述檢測結果包括：信號傳輸時延、信號周期、信號上升沿時長、信號下降沿時長中的一項或多項。

本發明一個優選實施例中，所述擴展連接件分別與所述第一連接件、所述第二連接件和所述示波器固定連接。

本發明一個優選實施例中，所述第一連接件和所述待測內存壓接，所述第二連接件和對應所述待測內存的待測PCB壓接。

為了進一步的說明通過本發明實施例提供的技術方案及優點，本發明實施例提供了一種利用本發明實施例提供的檢測裝置檢測內存信號的方法，請參考圖1、圖2和圖4，同時以檢測裝置中的示波器形成如圖3所示的混合波形為例，如圖6所示，可以包括如下各個步驟：

步驟601，將檢測裝置的第一連接件Socket A與待測內存DRAM進行壓接，以及將檢測裝置的第二連接件Socket B與對應該待測內存DRAM的待測PCB進行壓接。

本發明實施例中，如圖4所示，第一連接件Socket A的第二端與待測內存DRAM壓接，第二連接件Socket B的第二端與對應該待測內存DRAM的待測PCB壓接，可在空間位置上抬高安裝在待測PCB上的待測內存DRAM，防止檢測過程中損壞安裝在待測PCB上的電子元件；同時，采用壓接的方式與待測PCB和待測內存相連，不會對待測PCB以及待測內存的固有結構造成損壞。

應當理解的是，待測PCB上安裝有內存控制器Controller芯片，Controller芯片可控制待測內存DRAM提供發送信號(即read數據)和第一時鐘信號，以及產生接收信號(即write數據)第二時鐘信號。

還應當理解的是，時鐘信號用于提示Controller芯片或待測內存DRAM在相應的時刻讀取發送信號或接收信號中攜帶的數據。

步驟602，Socket A接收DRAM提供的發送信號及第一時鐘信號，并轉發至擴展連接件Interposer，以及利用Socket B接收待測PCB提供的接收信號及第二時鐘信號，并轉發至Interposer。

步驟603，Interposer將接收的發送信號、第一時鐘信號、接收信號及第二時鐘信號轉發至示波器。

步驟604，示波器的波形處理模塊根據接收的發送信號、第一時鐘信號、接收信號及第二時鐘信號形成混合波形。

這里，以示波器的波形處理模塊形成如圖3所示的混合波形為例。

步驟605，示波器的第一波形解析模塊解析混合波形，以確定混合波形中的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域。

本發明實施例中，由于待測PCB提供的接收信號由安裝在待測PCB上的Controller芯片提供，接收信號和第二時鐘信號經過PCB上的高速線傳輸到Socket B時，會發生信號衰減，因此，在如圖3所示的混合波形中，接收信號和第二時鐘信號形成的波形比較于發送信號和第一時鐘信號形成的波形時，接收信號和第二時鐘信號形成的波形對應的幅值(即高電平和低電平的差值)相對較小；如此，第一波形解析模塊則可根據發送信號、接收信號以及時鐘信號的電平高低來確定混合波形中的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域分別為如圖3所示的“1”區域、“2”區域和“3”區域。

步驟606，檢測裝置的條件確定模塊根據確定的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域，確定發送信號和接收信號分別對應的觸發條件。

舉例來說，條件確定模塊可將發送信號對應的觸發條件確定為波形圖不能經過“2”區域和“3”區域；同時，將接收信號對應的觸發條件確定為波形圖不能經過“1”區域和“3”區域。

步驟607，示波器的濾波處理模塊根據確定的發送信號對應的觸發條件對混合波形進行濾波處理，以形成發送信號對應的發送信號波形；以及根據確定的接收信號對應的觸發條件對混合波形進行濾波處理，以形成接收信號對應的接收信號波形。

本發明實施例中，濾波處理模塊可根據發送信號對應的觸發條件將“2”區域和“3”區域所分別對應的波形濾除，以形成發送信號和第一時鐘信號對應的發送信號波形；相似地，濾波處理模塊可將“1”區域和“3”區域所分別對應的波形濾除以形成接收信號和第二時鐘信號對應的接收信號波。

步驟608，示波器的第二波形解析模塊解析發送信號波形以確定發送信號和第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果；以及解析接收信號波形以確定接收信號和第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果。

本發明實施例中，可通過第二波形解析模塊的波形解析單元解析發送信號波形，以形成對應發送信號的第一參考波形和對應第一時鐘信號的第二參考波形，同時，可通過波形解析單元解析接收信號波形以形成對應接收信號的第三參考波形和對應第二時鐘信號的第四參考波形；然后由波形解析模塊的確定單元根據形成的第一參考波形和第二參考波形確定出發送信號對應的第一檢測結果，以及由確定單元根據形成的第三參考波形和第四參考波形確定出發送信號對應的第二檢測結果。

舉例來說，如圖7所示，波形解析單元解析發送信號波形以形成對應發送信號的第一參考波形k1，以及形成對應第一時鐘信號的第二參考波形k2，確定單元則可確定出發送信號波形對應的信號傳輸時延為1ns、信號周期為4ns、信號上升沿時長為2ns、信號下降沿時長為2ns等第一檢測檢測結果。應當理解的是如圖7所示的各個參數僅用于舉例說明，在實際業務場景中，第一參考波形和第二參考波形可能為其他形狀(非正弦狀)，比如，第一參考波形通過一個信號上升沿到達一個高電平后，將會在高電平維持一定的時長，然后再經過一個下降沿，從而實現一個信號周期，即實現發送一次read數據。

步驟609，示波器的檢測結果提供模塊提供確定的第一檢測結果和第二檢測結果。

如此，工作人員則可根據示波器提供的第一檢測結構和第二檢測結果做進一步的處理，比如，根據第二檢測結果中的信號上升沿時長和信號下降沿時長判斷接收信號在通過待測PCB上的信號傳輸線進行傳輸時，其信號完整性在傳輸過程中是否受到破壞；又如，根據檢測結果中的信號傳輸時延確定待測內存的數據讀寫性能等。

綜上所述，本發明各個實施例至少具有如下有益效果：

1、本發明一實施例提供的信號檢測裝置中，僅利用相應的連接件與待測內存及對應待測內存的PCB相連，即可將待測內存和待測PCB提供的發送信號、接收信號、第一時鐘信號和第二時鐘信號等內存信號引出并傳輸至示波器，示波器則可根據接收的內存信號顯示相應的混合波形，進而根據混合波形提供接收信號和發送信號分別對應的檢測結果。綜上可見，本發明實施例提供的技術方案中，構成檢測裝置的連接件以及示波器等都是常見的設備，利用該檢測裝置對發送信號及接收信號等內存信號進行檢測時，不必使用專業的內存測試軟件來測試內存信號，通用性極高。

2、本發明一實施例中，一方面，信號檢測裝置的第一連接件和第二連接件均與擴展連接件緊固連接(比如，焊接)，同時，擴展連接件還可以與示波器的探頭進行緊固連接，如此，形成一個一體化成型的檢測裝置，便于管理檢測裝置。另一方面，第一連接件與待測內存壓接，第二連接件與對應該待測內存的待測PCB壓接，可實現在空間位置上抬高安裝在待測PCB上的待測內存，防止檢測過程中損壞安裝在待測PCB上的電子元件；同時，連接件采用壓接的方式與待測PCB和待測內存相連，不會對待測PCB以及待測內存的固有結構造成損壞。

需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二之類的關系術語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關系或者順序。而且，術語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個······”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設備中還存在另外的相同因素。

最后需要說明的是：以上所述僅為本發明的較佳實施例，僅用于說明本發明的技術方案，并非用于限定本發明的保護范圍。凡在本發明的精神和原則之內所做的任何修改、等同替換、改進等，均包含在本發明的保護范圍內。