一種微波產品的自動化測試系統和測試方法與流程

本發明屬于微波技術、檢測技術領域，特別涉及了一種微波產品的自動化測試系統和測試方法。

背景技術：

對微波產品逐一檢驗需要耗費大量的人力，物力，并且速度慢，效率低，不能對一批次產品的檢驗記錄進行查詢，往往很多公司采取抽檢的方式進行，這樣就造成很多產品漏檢，不利于提高產品的出廠合格率。

技術實現要素：

為了解決上述背景技術提出的技術問題，本發明旨在提供一種微波產品的自動化測試系統和測試方法，能夠準確、及時地采集微波產品的S參數和互調值，節省了人力資源，提高了產品的合格率。

為了實現上述技術目的，本發明的技術方案為：

一種微波產品的自動化測試系統，包括上位機、外部輸入設備、數據存儲器、以太網總線、控制器、伺服電機、機械手、互調儀和S參數測試儀；外部輸入設備和數據存數器分別與上位機相連，外部輸入設備用于向上位機輸入工作參數和指令，數據存儲器用于保存上位機得到的測試數據和測試結果，上位機和控制器分別連接在以太網總線上，兩者通過以太網總線實現數據交互，伺服電機、互調儀和S參數測試儀分別與控制器相連，機械手與伺服電機的輸出軸相連，控制器根據上位機下達的指令驅動伺服電機運轉，伺服電機控制機械手將待測微波產品的測試電纜連接至互調儀或S參數測試儀上，啟動互調儀或S參數測試儀測量待測微波產品的互調參數或S參數，控制器將測量數據上傳給上位機。

基于上述技術方案的優選方案，所述自動化測試系統還包括無線路由器和移動通信終端，所述無線路由器與上位機相連，從而實現上位機與移動通信終端的無線傳輸。

基于上述技術方案的優選方案，所述移動通信終端為手機。

基于上述技術方案的優選方案，所述控制器采用ARM處理器。

基于上述技術方案的優選方案，所述ARM處理器的型號為Cotex-M4。

基于上述微波產品的自動化測試系統的測試方法：

（1）通過外部輸入設備，在上位機上配置控制器、互調儀和S參數測試儀的IP地址和端口號，待測參數的參考值和待測微波產品的類型；

（2）啟動測試，上位機向控制器下達指令，控制器對指令進行分解，判斷對待測微波產品進行互調測試或S參數測試；

（3）對應互調測試或S參數測試，控制器驅動伺服電機，伺服電機控制機械手將待測微波產品的測試電纜連接至互調儀或S參數測試儀上；

（4）控制器啟動互調儀或S參數測試儀，對微波產品的進行互調測試或S參數測試，并將測試數據上傳給上位機；

（5）上位機將接收到的測試數據與步驟（1）配置的待測參數參考值進行比較，得到測試結果，并將測試數據和測試結果保存在數據存儲器中。

采用上述技術方案帶來的有益效果：

本發明采用上層+底層控制方式，它們分工明細，一方面，上層控制與下層執行可以同時進行，提高了工作效率，另外兩層保持了密切的信息交互，雙方實時了解對方的工作階段，保持無縫對接狀態，信息無遺漏。

本發明運用自動化技術，實現了微波產品的自動化測試，節約了人力資源，提高了產品的合格率。

附圖說明

圖1是本發明的系統組成示意圖。

圖2是互調測試的示意圖。

圖3是S參數測試的示意圖。

具體實施方式

以下將結合附圖，對本發明的技術方案進行詳細說明。

如圖1所示，一種微波產品的自動化測試系統，包括上位機、外部輸入設備、數據存儲器、以太網總線、控制器、伺服電機、機械手、互調儀和S參數測試儀；外部輸入設備和數據存數器分別與上位機相連，外部輸入設備用于向上位機輸入工作參數和指令，數數據存儲器用于保存上位機得到的測試數據和測試結果，上位機和控制器分別連接在以太網總線上，兩者通過以太網總線實現數據交互，伺服電機、互調儀和S參數測試儀分別與控制器相連，機械手與伺服電機的輸出軸相連，控制器根據上位機下達的指令驅動伺服電機運轉，伺服電機控制機械手將待測微波產品的測試電纜連接至互調儀或S參數測試儀上，啟動互調儀或S參數測試儀測量待測微波產品的互調參數或S參數，控制器將測量數據上傳給上位機。

在本實施例中，自動化測試系統還包括無線路由器和移動通信終端（例如手機），所述無線路由器與上位機相連，從而實現上位機與移動通信終端的無線傳輸，使遠程人員也能夠查閱產品的測試結果。控制器采用ARM處理器（Cotex-M4型），嵌入有實時操作系統，支持多任務處理。

基于上述測試系統的測試方法，步驟如下：

（1）通過外部輸入設備，在上位機上配置控制器、互調儀和S參數測試儀的IP地址和端口號，待測參數的參考值和待測微波產品的類型；

（2）啟動測試，上位機向控制器下達指令，控制器對指令進行分解，判斷對待測微波產品進行互調測試或S參數測試；

（3）對應互調測試或S參數測試，控制器驅動伺服電機，伺服電機控制機械手將待測微波產品的測試電纜連接至互調儀或S參數測試儀上；

（4）控制器啟動互調儀或S參數測試儀，對微波產品的進行互調測試或S參數測試，并將測試數據上傳給上位機；

（5）上位機將接收到的測試數據與步驟（1）配置的待測參數參考值進行比較，得到測試結果，并將測試數據和測試結果保存在數據存儲器中。

實施例1：互調測試

在測試系統工作前，必須先掃描產品編碼，設置參考互調值、互調儀IP地址、端口號。如圖2所示，機械手只需將兩根測試電纜的兩端分別接到儀器和產品端口上，測試系統工作過程中不需要更換測試電纜接口，考慮到功率衰減，在設備一端口處要連接低互調負載，此負載在測試系統工作過程中不能斷開，否則造成測量數據不準確。測試完成后顯示互調數據以及互調是否合格。

實施例2：S參數測試

如圖3所示，選擇四路電橋作為待測產品，四路端口都需用在測試回路中，但一次測試只用到兩個端口，其它兩個端口用標準電阻匹配，當通道1連接電橋輸入口1端口時，2端口處接通道2輸出口，3，4端口接負載，則檢測出產品的駐波比和插損及帶內波動；當通道1連接電橋輸入口1端口時，4端口處接通道2輸出口，2，3端口接負載，則檢測出產品的駐波比和插損及帶內波動；當通道1連接電橋輸入口3端口時，2端口處接通道2輸出口，1，4端口接負載，則檢測出器件的駐波比和插損及帶內波動；當通道1連接電橋輸入口3端口時，4端口處接通道2輸出口，1，2端口接負載，則檢測出產品的駐波比和插損及帶內波動；當通道1連接電橋輸入口1端口時，3端口處接通道2輸出口，2.4端口接負載，則檢測出器件正向的駐波比和隔離度；當通道1連接電橋輸入口2端口時，4端口處接通道2輸出口，1，3端口接負載，則檢測出產品反向的駐波比和隔離度。通道更換通過控制器控制同軸開關實現，所有切換都迅速，不需要人員干預，端口更換之前上位機軟件自動把此次的測試數據上傳上位機，待整個端口切換結束后，上位機分析測量數據，與參考值進行對比，得到測試結果，同時保存到數據存儲器中。

以上實施例僅為說明本發明的技術思想，不能以此限定本發明的保護范圍，凡是按照本發明提出的技術思想，在技術方案基礎上所做的任何改動，均落入本發明保護范圍之內。