一種控制面板綜合測試臺的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電子設備測試領域，具體涉及一種控制面板綜合測試臺。
【背景技術】
[0002]現有的針對于電子設備的測試，一般只測試電子設備的工作電壓是否正常來判斷電子設備是否為合格品，不具備對電子設備的解碼、編碼和勵磁功能進行測試，無法完全測試的電子設備為合格品，導致測試效率低，出廠產品的良品率較低。
【發明內容】
[0003]為解決現有的針對于電子設備的測試，一般只測試電子設備的工作電壓是否正常來判斷電子設備是否為合格品，不具備對電子設備的解碼、編碼和勵磁功能進行測試，無法完全測試的電子設備為合格品，導致測試效率低，出廠產品的良品率較低的問題，本發明提出一種控制面板綜合測試臺。
[0004]本發明提供的一種控制面板綜合測試臺，其特征在于，包括:控制器、總開關、熄火開關、高溫控制開關、轉碼電路、接頭、直流檢測電壓表、勵磁調節電壓表、發熱裝置、充電電壓表、風扇和顯示器；所述控制器分別與所述控制器、所述總開關、所述熄火開關、所述高溫控制開關、所述轉碼電路、所述接頭、所述直流檢測電壓表、所述勵磁調節電壓表、所述發熱裝置、所述充電電壓表、所述風扇和所述顯示器連接；其中，所述接頭和所述轉碼電路分別與待測電子裝置連接，所述轉碼電路用于對待測電子裝置發出的信號進行轉碼處理，并顯示在所述顯示器上，當所述顯示器上顯示為亂碼，即判定為不良品；其中，通過所述高溫控制開關控制所述發熱裝置是否發熱，以測試待測電子裝置在高溫環境下的勵磁量是否在預設勵磁量范圍，從而檢測是否為不良品；其中，通過所述熄火開關控制是否向待測電子裝置充電，以檢測待測電子裝置在充電狀態下的電壓是否超過預設電壓范圍，從而檢測是否為不良品；其中，通過開啟所述總開關，所述直流檢測電壓表檢測待測電子裝置的工作電流，以檢測待測電子裝置的工作電流是否超過預設電流范圍，從而檢測是否為不良品。
[0005]進一步的，所述風扇用于在所述發熱裝置關閉發熱功能時，為所述控制面板綜合測試臺快速散熱。
[0006]進一步的，所述轉碼電路包括第一至第八電阻、第一至第十電容、串口和轉碼芯片U1 ；
所述第一電容的一端與所述轉碼芯片U1的VREF引腳電連接，另一端接地；
所述第一電阻的一端與所述串口電連接，另一端與所述第三電容的一端電連接，所述第三電容的另一端與所述轉碼芯片U1的ΡΑ0-引腳電連接；
所述第二電阻的一端與所述串口電連接，另一端與所述第四電容的一端電連接，所述第四電容的另一端與所述轉碼芯片U1的ΡΑ0+引腳電連接；
所述第二電容的一端電連接于所述第三電容與所述轉碼芯片U1之間的連接節點上，另一端與所述轉碼芯片U1的PAI引腳電連接，所述第四電阻的一端電連接于所述第二電容與所述轉碼芯片U1之間的連接節點上，另一端與所述轉碼芯片U1的R0-引腳電連接；所述第三電阻為可調電阻，一端電連接于所述第二電容與所述第三電容之間的連接節點上，另一端電連接于所述第二電容與所述轉碼芯片U1之間的連接節點上；
所述第五電容一端接地，另一端分別與所述轉碼芯片U1的VDD和PUI引腳電連接，+3.3V電源連接于所述第五電容與所述轉碼芯片U1之間的連接節點上；
所述第七電容一端接地，另一端與所述轉碼芯片U1的VAG引腳電連接；
所述第七電阻的一端與所述轉碼芯片U1的AI+引腳電連接，另一端與所述第九電容的一端電連接，所述第九電容的另一端與所述顯示器電連接；
所述第五電阻的兩端電連接于所述轉碼芯片U1的VAG引腳與AI+引腳之間；
所述第六電容的兩端電連接于所述轉碼芯片U1的VAG引腳與AI+引腳之間；
所述第八電阻的一端與所述轉碼芯片U1的A1-引腳，另一端與所述第十電容的一端電連接，所述第十電容的另一端與所示顯示器電連接；
所述轉碼芯片U1的VSS引腳和Mu/A-Law引腳都接地；
所述第六電阻為可調電阻，一端與所述轉碼芯片U1的A0引腳電連接，另一端與所述轉碼芯片U1的A1-引腳；及
所述第八電容的一端與所述轉碼芯片U1的A0引腳電連接，另一端電連接于所述第八電阻與所述轉碼芯片U1之間的連接節點上。
[0007]進一步的，所述轉碼電路還包括第一至第八二極管、第九電阻至第十五電阻；
所述第一二極管的正極與所述第一電阻的一端電連接，負極與所述第二二極管的正極電連接，所述第二二極管的負極與所述第二電阻的一端電連接；
所述第三二極管的負極與所述第一電阻的一端電連接，正極與所述第四二極管的負極電連接，所述第四二極管的正極電連接于所述第二二極管與所述第二電阻之間的連接節點上;
所述第五二極管的正極與所述第九電容的另一端電連接，負極與所述第六二極管的正極電連接，所述第六二極管的負極與所述第十電容的另一端電連接；
所述第七二極管的負極與所述第九電容的另一端電連接，正極與所述第八二極管的負極電連接，所述第八二極管的正極電連接于所述第六二極管與所述第十電容之間的連接節點上；
所述第九電阻的一端與所述轉碼芯片U1的FSR引腳和FST引腳電連接，另一端與所述控制器電連接；
所述第十電阻的一端與所述轉碼芯片U1的PCMT引腳電連接，另一端與所述控制器電連接；
所述第十一電阻的一端與所述轉碼芯片U1的PCMR引腳電連接，另一端與所述控制器電連接；
所述第十二電阻的一端與所述轉碼芯片U1的BCLKR引腳、BCLKT引腳和MCLK引腳電連接，另一端與所述控制器電連接；
所述第十三電阻的一端與所述第十電容的另一端電連接，另一端接地；及所述第十五電阻的一端連接+3.3V電源，另一端與所述第十四電阻的一端電連接，所述第十四電阻的另一端與所述第九電容的另一端電連接。
[0008]進一步的，所述轉碼芯片U1的型號為W681310RG。
[0009]本發明的有益效果為具備對電子設備的解碼、編碼和勵磁功能及工作狀態的各項數據進行綜合測試，能完全測試的電子設備各方面的功能，測試效率高，出廠產品的良品率尚ο
【附圖說明】
[0010]圖1為本發明控制面板綜合測試臺一實施方式的功能模塊圖。
[0011]圖2為圖1中的轉碼電路一實施方式的電路圖。
【具體實施方式】
[0012]圖1為本發明控制面板綜合測試臺1 一實施方式的結構示意圖。圖中，1為控制面板綜合測試臺，10為控制器，20為總開關，30為熄火開關，40為高溫控制開關，50為轉碼電路，60為接頭，70為直流檢測電壓表，80為勵磁調節電壓表，90為發熱裝置，92為充電電壓表，94為風扇，96為顯不器。
[0013]請參閱圖1，為本發明控制面板綜合測試臺1 一實施方式的功能模塊圖，在本實施方式中，控制面板綜合測試臺1包括:控制器10、總開關20、熄火開關30、高溫控制開關40、轉碼電路50、接頭60、直流檢測電壓表70、勵磁調節電壓表80、發熱裝置90、充電電壓表92、風扇94和顯示器96。控制器10分別與控制器10、總開關20、熄火開關30、高溫控制開關40、轉碼電路50、接頭60、直流檢測電壓表70、勵磁調節電壓表80、發熱裝置90、充電電壓表92、風扇94和顯示器96連接。
[0014]在本實施方式中，待測電子裝置與接頭60連接，通過直流檢測電壓表70、勵磁調節電壓表80和充電電壓表92來對待測電子裝置的工作電壓、勵磁量和充電電壓的數據進行測量，當超過設定值范圍，即判定為不良品。轉碼電路50用于對待測電子裝置發出的信號進行轉碼處理，并顯示在顯示器96上。在本實施例中，當顯示器96上顯示為亂碼，即判定為不良品。通過高溫控制開關40控制發熱裝置90是否發熱，以測試待測電子裝置在高溫環境下的勵磁量是否在預設勵磁量范圍，從而檢測是否為不良品。通過熄火開關30控制是否向待測電子裝置充電，以檢測待測電子裝置在充電狀態下的電壓是否超過預設電壓范圍，從而檢測是否為不良品。通過開啟總開關20，直流檢測電壓表70檢測待測電子裝置的工作電流，以檢測待測電子裝置的工作電流是否超過預設電流范圍，從而檢測是否為不良品。風扇94用于在發熱裝置90關閉發熱功能時，來為控制面板綜合測試臺1快速散熱。
[0015]請參閱圖2，為圖1中的轉碼電路50 —實施方式的電路圖，在本實施方式中，轉碼電路50包括第一至第八電阻R1-R8、第一至第十電容C1-C10和轉碼芯片U1。在本實施例中，轉碼芯片U1的型號為W681310RG。
[0016]第一電容C1的一端與轉碼芯片U1的VREF引腳電連接，另一端接地，用于避免轉碼芯片U1被親合干擾。第一電阻R1的一端與串口(未標不)電連接，另一端與第三電容C3的一端電連接，第三電容C3的另一端與轉碼芯片U1的ΡΑ0-引腳電連接。第二電阻R2的一端與串口電連接，另一端與第四電容C4的一端電連接，第四電容C4的另一端與轉碼芯片U1的ΡΑ0+引腳電連接。
[0017]第二電容C2的一端電連接于第三電容C3與轉碼芯片U1之間的連接節點上，另一端與轉碼芯片U1的PAI引腳電連接。第四電阻R4的一端電連接于第二電容C2與轉碼芯片U1之間的連接節點上，另一端與轉碼芯片U1的R0-引腳電連接。第三電阻R3為可調電阻，一端電連接于第二電容C2與第三電容C3之間的連接節點上，另一端電連接于第二電容C2與轉碼芯片U1之間的連接節點上。第五電容C