一種波長修正式多光束階梯平面反射鏡激光干涉儀的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種精密測試技術及儀器領域，特別涉及一種波長修正式多光束階梯平面反射鏡激光干涉儀。
【背景技術】
[0002]激光器的出現，使古老的干涉技術得到迅速發展，激光具有亮度高、方向性好、單色性及相干性好等特點，激光干涉測量技術已經比較成熟。激光干涉測量系統應用非常廣泛:精密長度、角度的測量如線紋尺、光柵、量塊、精密絲杠的檢測；精密儀器中的定位檢測系統如精密機械的控制、校正;大規模集成電路專用設備和檢測儀器中的定位檢測系統;微小尺寸的測量等。在大多數激光干涉測長系統中，都采用了邁克爾遜干涉儀或類似的光路結構。
[0003]單頻激光干涉儀從激光器發出的光束，經擴束準直后由分光鏡分為兩路，并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化由接受器中的光電轉換元件和電子線路等轉換為電脈沖信號，經整形、放大后輸入可逆計數器計算出總脈沖數，再由電子計算機按計算式L = NXA/2，式中λ為激光波長(N為電脈沖總數)，算出可動反射鏡的位移量L。使用單頻激光干涉儀時，要求周圍大氣處于穩定狀態，各種空氣湍流都會引起直流電平變化而影響測量結果。
[0004]單頻激光干涉儀的弱點之一就是受環境影響嚴重，在測試環境惡劣，測量距離較長時，這一缺點十分突出。其原因在于它是一種直流測量系統，必然具有直流光平和電平零漂的弊端。激光干涉儀可動反光鏡移動時，光電接收器會輸出信號，如果信號超過了計數器的觸發電平則就會被記錄下來，而如果激光束強度發生變化，就有可能使光電信號低于計數器的觸發電平而使計數器停止計數，使激光器強度或干涉信號強度變化的主要原因是空氣湍流，機床油霧，切削肩對光束的影響，結果光束發生偏移或波面扭曲。
[0005]單頻激光干涉儀由于測量結構的問題，其測量精度受限于激光的波長，其精度一般只能為其波長的整數倍，很難再進行提升，同時測量環境的變化對測量結果有較大影響。隨著工業生產對精密測量的要求越來越高，對測量儀器的測量精度提出了更高的要求。
【發明內容】
[0006]本發明的目的在于克服現有激光干涉儀測量精度受限于激光波長，測量精度難以提升的不足，提供一種波長修正式多光束階梯平面反射鏡激光干涉儀及波長修正方法，該激光干涉儀在現有邁克爾遜激光干涉儀的基礎上，采用多光源多階梯平面反射鏡，對于η階梯平面反射鏡可以檢測λ/2η的精度，提高了激光干涉儀的測量精度。測量環境下的激光等效波長可以通過本發明所述波長修正方法獲得，進一步提高了該激光干涉儀的測量精度。同時由于多光路干涉狀態交替變換，對測量光路的環境變化有更高的抗干擾能力。
[0007]為了實現上述發明目的，本發明提供了以下技術方案:
[0008]—種波長修正式多光束階梯平面反射鏡激光干涉儀，包括激光源、分光鏡、固定反射鏡、測量反射鏡裝置、光電探測器組，其特征在于，所述測量反射鏡裝置包括測量反射鏡與精密位移裝置，所述測量反射鏡設置在所述精密位移裝置上，所述精密位移裝置設置在被測物體上，所述精密位移裝置為所述測量反射鏡提供與被測物體位移同向或反向的位移。所述激光源包括η個平行激光束，其中η 2 2，所述光電探測器組包括η個光電探測器件，所述固定反射鏡的反射面為η個成階梯型的反射平面，相鄰兩個反射平面的間距等于λ/2η+kX/2，其中k為任意自然數、λ為激光源發出的激光波長;每個所述激光源發出的每束激光經過所述分光鏡反射后，分別垂直射入對應一個反射平面，每個所述反射平面將對應激光反射到所述光電探測器組的對應各個光電探測器件;所述激光源發出的每束激光束經過所述分光鏡透射后，分別垂直入射到所述測量反射鏡后反射到光電探測器組的對應的各個光電探測器件。
[0009]該激光干涉儀的激光源產生的平行激光束數量、階梯型反射平面數量和光電探測器件的數量均為η(η 2 2)，且為一一對應，即激光源發射的每束激光均分為兩路，一路激光通過分光鏡反射到固定反射鏡的階梯面的其中一個平面后，垂直反射到光電探測器組上的其中一個光電探測器件，另一路激光直接在分光鏡內透射后入射到測量反射鏡后再垂直反射到同一個光電探測器件，該光電探測器件即能探測到這兩路光程差在測量反射鏡發生位移過程中是否產生最強干涉狀態或最弱干涉狀態。由于固定反射鏡上為階梯型反射面，所以激光源發射的各束激光通過固定反射鏡的階梯面反射后的光路的光程是不相同的，同時激光源發射的每束激光分成兩路后到達對應的光電探測器件后的光程差值均不相同，能夠發生干涉現象不僅和激光的波長有關，還和階梯反射平面的平面高度差值有關系，該階梯面(即階梯型反射平面)的相鄰兩個平面高度差值等于λ/2η+1?λ/2，即相鄰階梯面的高度差值可以相同也可以不同，由于每束激光在每個反射平面反射后，光程有所差異，不管相鄰兩個反射平面的高度差值多少，其光程差均為A/n+kA。
[0010]由于上述光程差公式中U并不會影響該光束激光的干涉狀態，只有差值λ/η才會對該光束激光的干涉狀態產生影響，因此，只要測量反射鏡進行移動λ/2η的距離或整數倍于λ/2η的距離，該光電探測器組上的光電探測器件的其中一個能夠檢測出其激光干涉狀態達到最強干涉狀態，故該激光干涉儀的檢測精度則變為λ/2η，相對于現有的激光干涉儀只能檢測精度為激光波長λ而言，該測量精度得到了顯著提高，該測量精度即由固定反射鏡的階梯面的每兩個階梯平面的間距(也可稱為高度或厚度)以及激光源的激光波長決定。
[0011]由于采用多光路干涉測量，測量過程中，各光電探測器探測到的直流電平應該交替變化，如果某一光路的測量環境的變化造成光電探測器測量的直流電平發生偏移，而其它測量光路的光電探測器探測到的直流電平沒有發生交替變化，此時認為該測量光路是受到測量環境的影響，忽略其電平變化。如果多條光路的測量環境的變化造成多個光電探測器測量的直流電平發生偏移，則認為測量環境發生變化，忽略其電平變化。僅僅對于測量過程中嚴格滿足多光路干涉狀態交替變化的情況才對其進行計數，即多光路干涉測量中引入交流信號，將傳統的激光干涉測量中直流電平的測量轉換為交流信號的測量。
[0012]需要說明的是，相鄰兩個平面高度差值等于λ/2η+1?λ/2，真正決定激光是否處于最強干涉狀態的只是差值λ/2η，增加的差值U/2是為了增加階梯面相鄰兩個反射面的高度差值。
[0013]優選地，所述固定反射鏡包括平面反射鏡本體以及η-l個反射薄片組合而成，每個所述反射薄片的厚度為λ/2η+1?λ/2，其中k為自然數。
[0014]該階梯面通過η-l個反射薄片疊加在平面反射鏡本體上而成，平面反射鏡本體表面為激光干涉儀用普通反射鏡，其中每個反射薄片的厚度為A/2n+U/2，k為自然數，即每個反射薄片的厚度可以相同也可以不同。
[0015]優選地，每個所述反射薄片厚度均為λ/2η。
[0016]優選地，所述平面反射鏡本體以及η-l個厚度相同的反射薄片為一體成型體，避免分塊的反射薄片連接在一起產生的相鄰兩個反射薄片形成的兩個階梯平面的高度誤差。
[0017]本申請的上述方案中，由于將測量反射鏡設置在精密位移裝置上，而精密位移裝置設置在被測物體上，當被測物體發生位移時，被測物體帶動精密位移裝置，進而帶動測量反射鏡，如此，當被測物體發生位移時，在位移過程中，由于干涉光路光程的變化，使得，對應光束的激光干涉狀態也隨之變化，開始測量工作前，啟動精密位移裝置，使測量反射鏡產生位移，所述測量反射鏡的位移方向與被測物體的位移方向在同一直線上，當光電探測器組中任意一個光電探測器檢測到最強相長干涉時，停止精密位移裝置，并將光電探測器組中所有光電探測器計數清零，然后再開始測量被測物體的位移，在對應激光束的干涉狀態變化過程中，光電探測器組中所有光電探測器記錄對應干涉光路最強相長干涉的總次數N，當被測物體移動結束，處于靜止狀態時，光電探測器組停止計數;此時，通過精密位移裝置使測量反射鏡在被測物體的位移方向上移動，并觀測光電探測器組，當光電探測器組中任意一個光電探測器檢測到最強相長干涉時，停止精密位移裝置，并讀取精密位移裝置為測量反射鏡提供的位移值AL。
[0018]若位移AL與被測物體的位移方向相同，則被測物體實際產生的位移值L= N X λ/(2η) + (λ/(2η)-Λυ，其中Λ?<λ/(2η)，式中λ為激光波長；
[0019 ]若位移AL與被測物體的位移方向相反，則被測物體實際產生的位移值L = N X λ/(2n)+AL，其中Λ?<λ/(2η)，式中λ為激光波長。
[0020]如此，通過上述結構，將被測物體實際位移中超出1/(2η)個激光波長部分AL也測量出來補充到位移檢測結果中，進而使得本申請的激光干涉儀所測量得到的位移結果更加精確，其精確度高于1/(2η)個激光波長，具體取決于精密位移裝置所能提供的位移精度。
[0021]作為本申請的優選方案，所述精密位移裝置包括支撐平臺和設置在所述支撐平臺上的驅動裝置，所述支撐平臺與所述被測物體相配合，所述驅動裝置為所述測量反射鏡提供在被測物體位移方向上的位移。
[0022]作為本申請的優選方案，所述驅動裝置為壓電陶瓷型驅動裝置。
[0023]在本方案中，采用壓電陶瓷型驅動裝置能夠將機械能和電能互相轉換的功能陶瓷材料，其在電場作用下產生的形