一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及芯片測試技術領域，特別是涉及一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置。
【背景技術】
[0002]同種型號的芯片測試機可以測試對應該封裝形式下多個引腳的芯片，比較常見的為8個引腳、14個引腳或者16個引腳。
[0003]芯片進入測試區之前，是由芯片分離機構將一個一個的芯片逐一傳輸至芯片檢測站，然而由于芯片分離機構的老化等原因，可能導致芯片分離機構同時傳輸兩顆芯片至檢測站，那么排列在后的那顆芯片將出現漏檢測的情況，它將跟隨前一顆芯片的測試結果進入良品或者不良品中。
[0004]為解決該異常，保證每個芯片都能被正常測試到，在芯片測試機設置有光傳感器，用于檢測在檢測站內是有一顆芯片還是兩顆芯片的功能，如果在檢測站出現兩顆芯片，則進行報警。但是，因存在不同類型的芯片，它們由于引腳數量的不同而導致長短不一，測試同型號不同數量引腳的芯片時需要進行不同光傳感器之間的檔位切換，以達到檢測的目的。
[0005]現有技術的檔位一般包括A檔位和B檔位兩個檔位，A檔位設置A檔光傳感器，B檔位設置B檔光傳感器，A檔用于檢測8個引腳的芯片(簡稱短芯片)，B檔用于檢測14個引腳或者16個引腳的芯片(簡稱長芯片)，還包括一個進料光傳感器，用于檢測是否進料。
[0006]測試時，芯片從進料通道自上向下進入，先經過A檔光傳感器對應的位置，再經過B檔光傳感器對應的位置，最后到達進料光傳感器對應的位置，如果芯片擋住進料光傳感器，則可以判斷有料進入，如果芯片僅擋住進料傳感器和B檔光傳感器的光線而未擋住A檔光傳感器的光線，則可以判斷有兩個短芯片進入，屬于異常情況(或者一個長芯片進入，而檔位設置錯誤，這也是異常情況)，如果芯片將三個傳感器的光線都擋住，那么就可判斷有兩個長芯片進入，屬于異常情況。
[0007]對于兩個檔位的切換為手動切換，存在切換不方便，而且容易出現因為測試人員的粗心，被測芯片的類型換了，但光傳感器的檔位沒有切換過來，檔位與被測芯片的數量引腳不符而出現測試質量異常。
【實用新型內容】
[0008]本實用新型的目的在于避免現有技術中的不足之處而提供一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，該在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置供軟件工程師寫入軟件后可實現測試檔位的自動切換，可及早發現測試檔位與被測芯片的類型不符。
[0009]本實用新型的目的通過以下技術方案實現:
[0010]提供一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，包括固定設于豎立式進料通道的進料光傳感器、B檔光傳感器、A檔光傳感器、第一比較器和第二比較器，所述進料光傳感器、B檔光傳感器和A檔光傳感器自下向上依次排列，所述進料光傳感器的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述進料光傳感器的受光器位于被測芯片的下方/上方，所述B檔光傳感器的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述B檔光傳感器的受光器位于被測芯片的下方/上方，所述A檔光傳感器的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述A檔光傳感器的受光器位于被測芯片的下方/上方，
[0011]測試裝置還包括用于將B檔光傳感器或者A檔光傳感器擇一接至第二比較器的傳感器選擇器件、用于載入被測芯片檔案并且根據被測芯片的檔案來切換傳感器選擇器件所選通的傳感器的單片機以及與單片機電連接的顯示屏，
[0012]進料光傳感器發送電平至第一比較器，第一比較器根據預設的第一電壓基準值輸出第一比較結果至單片機，B檔光傳感器或者A檔光傳感器發送電平至第二比較器，第二比較器根據預設的第二基準值輸出第二比較結果至單片機，
[0013]被測芯片檔案載入單片機，顯示屏顯示被測芯片檔案，單片機根據第一比較結果和第二比較結果更新被測芯片檔案，
[0014]B檔光傳感器與進料通道的底部在沿進料通道的長度方向的距離W小于兩款被測芯片中長芯片的長度A，并且大于被測芯片中短芯片的長度B。
[0015]所述傳感器選擇器件為雙刀單擲開關。
[0016]進料光傳感器、B檔光傳感器和A檔光傳感器均為光耦傳感器。
[0017]進料光傳感器的發光器的正極接第一電源、進料光傳感器的發光器的負極接B檔光傳感器的發光器的正極，B檔光傳感器的發光器的負極接A檔光傳感器的發光器的正極，A檔光傳感器的發光器的負極接地，進料光傳感器的受光器的集電極、進料光傳感器的受光器的集電極以及進料光傳感器的受光器的集電極均接第二電源，進料光傳感器的受光器的發射極接第一比較器的一個輸入端，第一比較器的另一個輸入端接第一基準電壓源，第一比較器的輸出端接單片機，B檔光傳感器的受光器的發射極接雙刀單擲開關的一個常開觸點，雙刀單擲開關的常閉觸點接第二比較器的一個輸入端，第二比較器的另一個輸入端接第二基準電壓源，第二比較器的輸出端接單片機。
[0018]所述第一基準電壓源包括第一可變電阻器。
[0019]所述第二基準電壓源包括第二可變電阻器。
[0020]所述第一電源為+4.5V。
[0021]所述第二電源為+24V。
[0022]本實用新型的有益效果:本實用新型的測試裝置，可供軟件工程師在單片機寫入軟件，進而可通過單片機來載入被測芯片檔案，單片機一旦識別到新載入的被測芯片檔案，就會通過雙刀單擲開關將第二比較器自動切換至與合適的傳感器電連接，被測芯片檔案在顯示屏顯示，被測芯片檔案的數據由單片機根據第一比較結果和第二比較結果進行更新，工作人員通過觀察顯示屏的數據，就可迅速知道被測芯片是否測試通過等信息，以及被測芯片的類型與所載入的被測芯片檔案是否相符，如果不相符，可盡快重新載入正確的被測芯片檔案，這樣就可在更改了被測的芯片類型，但是工作人員忘記載入對應的被測芯片檔案時，及早地發現并改正錯誤。
【附圖說明】
[0023]利用附圖對實用新型作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本實用新型的任何限制，對于本領域的普通技術人員，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據以下附圖獲得其它的附圖。
[0024]圖1是本實用新型的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置的電路不意圖。
[0025]圖2是本實用新型的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置的第一種測試情況的正視示意圖。
[0026]圖3是本實用新型的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置的第二種測試情況的正視示意圖。
[0027]圖4是本實用新型的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置的第三種測試情況的正視示意圖。
[0028]圖5是本實用新型的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置的第四種測試情況的正視示意圖。
[0029]圖中包括有:
[0030]進料光傳感器I ;
[0031]B檔光傳感器2;
[0032]A檔光傳感器3 ;
[0033]單片機4 ；
[0034]顯示屏5 ；
[0035]8pin的被測芯片6 ；
[0036]16pin的被測芯片7。
【具體實施方式】
[0037]結合以下實施例對本實用新型作進一步描述。
[0038]本實施例的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，包括固定設于豎立式進料通道的進料光傳感器1、B檔光傳感器2和A檔光傳感器3，所述進料光傳感器
1、B檔光傳感器2和A檔光傳感器3自下向上依次排列，所述進料光傳感器I的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述進料光傳感器I的受光器位于被測芯片的下方/上方，所述B檔光傳感器2的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述B檔光傳感器2的受光器位于被測芯片的下方/上方，所述A檔光傳感器3的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述A檔光傳感器3的受光器位于被測芯片的下方/上方。
[0039]測試裝置還包括用于將B檔光傳感器2或者A檔光傳感器3擇一接至第二比較器的傳感器選擇器件、用于載入被測芯片檔案并且根據被測芯片的檔案來切換傳感器選擇器件所選通的傳感器的單片機4以及與單片機4電連接的顯示屏5。
[0040]如圖2和圖4所示，B檔光傳感器2與進料通道的底部在沿進料通道的長度方向的距離W小于兩款被測芯片中長芯片的長度A，并且大于被測芯片中短芯