一種測試探頭及帶有該測試探頭的測試治具的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電子產品測試裝置，尤其涉及一種測試探頭及帶有該測試探頭的測試治具。
【背景技術】
[0002]測試探頭是用于對電池、PCB板等部品進行測試時的彈性連接裝置，其使用時，通過驅動機構帶動測試探頭前后移動，使得測試探頭的觸頭能夠與電池、PCB板等部品的觸點接觸，進而實現電性連接。請參見公開號為CN104330593A、名稱為“測試針頭和半導體測試治具”的實用新型專利申請的說明書及附圖，其中，多個測試針頭并行固定在測試治具的基底上，進而實現與待測部品的電性連接，但是這種測試針頭及測試治具存在以下缺陷:
[0003]1、測試針頭的數量以及多個測試針頭之間的距離是固定不變的，由于測試針頭的數量和間距無法調節，所以其僅適用于連接待測部品上指定數量和指定間距的觸點，不具有可調性和通用性；
[0004]2、現有測試針頭大多是銅材質，易氧化且耐磨性差，導致測試針頭的使用壽命較短；
[0005]3、為保證相鄰兩個測試針頭間的距離足夠小，通常將測試針頭制成較小尺寸，因而容易造成彈性不足、虛接等不良影響。
【實用新型內容】
[0006]本實用新型要解決的技術問題在于，針對現有技術的不足，提供一種能靈活調整測試針數量、間距的測試探頭及帶有該測試探頭的測試治具。
[0007]為解決上述技術問題，本實用新型采用如下技術方案。
[0008]—種測試探頭，其包括有一支架及一測試針，所述測試針穿設于支架，且該測試針能夠相對所述支架而往復彈性滑動，所述支架上設有用于將該支架安裝于測試治具預設位置的緊固機構。
[0009]優選地，所述緊固機構包括有形成于支架上的螺孔及與該螺孔相配合的螺絲，所述螺絲穿過測試治具的預設位置而螺合于所述螺孔。
[0010]優選地，所述支架是由兩個支臂及一橫梁構成的倒U形支架，所述測試針依次穿過兩個支臂，且該測試針能夠相對兩個支臂而往復彈性滑動。
[0011]優選地，所述測試針的前端形成有一觸頭，所述觸頭呈圓柱形。
[0012]優選地，所述測試針位于兩個支臂之間的部分形成有一限位塊，所述測試針位于兩個支臂之間的部分還套設有一彈簧，所述彈簧靠近觸頭的一端抵接于限位塊，所述彈簧遠離觸頭的一端抵接于支臂。
[0013]優選地，所述測試針為錫青銅測試針，且該測試針的表面設有24K金電鍍層，所述觸頭為S990銀材質觸頭。
[0014]—種測試治具，其包括有至少兩個測試探頭以及一用于驅動所述測試探頭沿測試針的軸向往復移動的驅動機構。
[0015]優選地，所述驅動機構包括有氣缸及設于氣缸驅動端的滑塊，所述滑塊上開設有條形孔，所述螺絲穿過條形孔而對應螺合于支架的螺孔內。
[0016]優選地，所述測試探頭的數量是三個，靠近邊緣的兩個測試針的前端相對彎折而分別形成有彎折部，靠近邊緣的兩個觸頭分設于兩個彎折部上，三個觸頭并行設置且相鄰兩個觸頭之間形成有預設距離。
[0017]優選地，所述測試探頭的數量是四個，靠近邊緣的兩個測試針的前端相對彎折而分別形成有彎折部，靠近邊緣的兩個觸頭分設于兩個彎折部上，四個觸頭并行設置且相鄰兩個觸頭之間形成有預設距離。
[0018]本實用新型公開的測試探頭中，支架通過緊固機構安裝于測試治具的預設位置，用戶在使用時，可以根據需求靈活調整測試針的數量和間距，進而適用于與多種型號的電池、PCB板等部品相連，例如在實際應用中，可以將三個測試探頭并行固定于測試治具上，進而連接于具有三個觸點的電池，此外，可以將四個測試探頭并行固定于測試治具上，進而連接于具有四個觸點的電池。結合以上所述可以看出，本實用新型公開的測試探頭，其在緊固機構的作用下，能使測試針的數量和間距得以調節，具有較好的可調性和通用性。
【附圖說明】
[0019]圖1為本實用新型測試探頭的立體圖。
[0020]圖2為本實用新型測試治具的立體圖。
[0021]圖3為圖2中A部分的放大圖。
[0022]圖4為本實用新型第一實施例中測試治具的三個測試探頭的立體圖。
[0023]圖5為本實用新型第二實施例中測試治具的四個測試探頭的立體圖。
【具體實施方式】
[0024]下面結合附圖和實施例對本實用新型作更加詳細的描述。
[0025]本實用新型公開了一種測試探頭，結合圖1至圖3所示，其包括有一支架10及一測試針11，所述測試針11穿設于支架10，且該測試針11能夠相對所述支架10而往復彈性滑動，所述支架10上設有用于將該支架10安裝于測試治具預設位置的緊固機構。
[0026]上述測試探頭中，支架10通過緊固機構安裝于測試治具的預設位置，用戶在使用時，可以根據需求靈活調整測試針11的數量和間距，進而適用于與多種型號的電池、PCB板等部品相連，例如在實際應用中，可以將三個測試探頭并行固定于測試治具上，進而連接于具有三個觸點的電池，此外，可以將四個測試探頭并行固定于測試治具上，進而連接于具有四個觸點的電池。結合以上所述可以看出，本實用新型公開的測試探頭，其在緊固機構的作用下，能使測試針11的數量和間距得以調節，具有較好的可調性和通用性。
[0027]作為一種優選方式，所述緊固機構包括有形成于支架10上的螺孔100及與該螺孔100相配合的螺絲103，所述螺絲103穿過測試治具的預設位置而螺合于所述螺孔100。但是這僅是本實用新型的一個較佳的實施例，并不用于限制本實用新型，在本實用新型的其他實施例中，緊固機構還可以采用卡扣等具有同等功能的結構實現。
[0028]本實施例中，所述支架10是由兩個支臂101及一橫梁102構成的倒U形支架，使得支架10的結構更加穩固，所述測試針11依次穿過兩個支臂101，且該測試針11能夠相對兩個支臂101而往復彈性滑動，進一步地，所述螺孔100位于橫梁102頂部。