一種用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置的制造方法
【技術領域】
[0001] 本實用新型設及一種用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置，屬于分析化學領域，更 進一步屬于應用太赫茲裝置進行檢測的分析化學領域。
【背景技術】
[0002] 太赫茲是指頻率在0.ITOz-IOT化之間，波長在30um-lmm之間的電磁波，太赫茲光 譜具有W下特點；典型脈寬在皮秒量級，時間分辨力高；許多有機分子、生物大分子的振動 和轉動能級都落在T化波段，對太赫茲呈現出強烈的吸收和色散，不同物質的太赫茲光譜 往往呈現出不同的特征，因此使用太赫茲光譜技術可W實現很多有機分子和生物大分子的 特征識別；具有很高的時間和空間相干性，通過測量太赫茲透過介質的時域波形可W得到 包括振幅和相位的光譜數據，從而同時得到介質對太赫茲的吸收譜和色散譜，計算出介質 的復折射率、復介電常數等參數；太赫茲光子能量低，不會對生物組織產生有害的電離，實 現無損檢測。
[0003] 目前在使用透射式太赫茲時域光譜裝置Cfflz-TD巧對樣品進行檢測時，常用的太 赫茲采樣裝置是采用透明聚己締制作的中間縷空的長方形盒子，中間位置擺放待測樣品， 太赫茲脈沖透過樣品后到達接收器，其結構非常簡單，但是，每次采樣均需要重新手動擺放 位置，使采樣點正對采樣脈沖，然后進行采樣檢測，檢測過程十分繁瑣。因此，研發出一種可 W實現樣品的多點、機械自動檢測的用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置是本領域亟需解決 的問題。 【實用新型內容】
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型的目的在于提供一種用于透射式太赫茲檢測的 采樣裝置。
[0005]為達到上述目的，本實用新型提供一種用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置，該裝 置包括內層雙向導軌2、可旋轉的中央轉向平臺1、滑塊4 ;
[0006]所述內層雙向導軌2水平設置于中央轉向平臺1上，該中央轉向平臺1可在第一 驅動裝置的驅動下旋轉W用于改變內層雙向導軌2的方向；
[0007] 所述滑塊4設置于內層雙向導軌2之上，并可在第二驅動裝置的驅動下在內層雙 向導軌2上往復滑動。
[0008]根據本實用新型所述的采樣裝置，優選地，該裝置還包括外層雙向導軌3,該外層 雙向導軌3W中央轉向平臺1為中屯、向四周福射設置，所述內層雙向導軌2能夠在中央轉 向平臺1旋轉下與外層雙向導軌3保持水平銜接，W使滑塊4能夠在內層雙向導軌2和外 層雙向導軌3上自由往復滑動，該外層雙向導軌3與所述中央轉向平臺1之間設置間隙，W 使中央轉向平臺1能夠旋轉。
[0009]根據本實用新型所述的采樣裝置，優選地，所述外層雙向導軌3與中央轉向平臺1 之間的間隙小于0. 3mm。
[0010] 根據本實用新型所述的采樣裝置，優選地，所述外層雙向導軌3是W中央轉向平 臺1為中屯、呈十字形分布于中央轉向平臺1的周圍。
[0011] 根據本實用新型所述的采樣裝置，優選地，所述內層雙向導軌2長度方向的中屯、 線穿過所述中央轉向平臺1的旋轉中屯、，且所述外層雙向導軌3W中央轉向平臺1的旋轉 中屯、為中屯、向四周福射設置。
[0012] 根據本實用新型所述的采樣裝置，優選地，所述內層雙向導軌2與外層雙向導軌3 的橫截面形狀相同。
[0013] 根據本實用新型所述的采樣裝置，優選地，所述內層雙向導軌2與外層雙向導軌3 為單根導軌或雙根導軌。
[0014] 根據本實用新型所述的采樣裝置，優選地，當所述內層雙向導軌2與外層雙向導 軌3為雙根導軌時，所述滑塊4的高度為30-40mm，寬度為140-160mm;所述中央轉向平臺1 的直徑為220-250mm;內層雙向導軌2的高度為60-80mm，寬度為40-60mm，內層雙向導軌2 兩軌之間的寬度為120-140mm;外層雙向導軌3的高度為60-80mm，寬度為40-60mm，外層雙 向導軌3兩軌之間的寬度為120-140mm。
[0015] 根據本實用新型所述的采樣裝置，優選地，當所述內層雙向導軌2與外層雙向導 軌3為單根導軌時，所述滑塊4的高度為30-40mm，寬度為140-160mm;所述中央轉向平臺1 的直徑為220-250mm;內層雙向導軌2的高度為60-80mm，寬度為40-60mm;外層雙向導軌3 的高度為60-80mm，寬度為40-60mm。
[0016] 根據本實用新型所述的采樣裝置，所述內層雙向導軌是指位于可旋轉的中央轉向 平臺上的雙向導軌，而外層雙向導軌是W中央轉向平臺的旋轉中屯、為中屯、呈十字形分布于 可旋轉的中央轉向平臺四周的雙向導軌；所述內層雙向導軌、外層雙向導軌均是本領域的 常規導軌，本實用新型并沒有對其進行改進。
[0017] 根據本實用新型所述的采樣裝置，上述第一驅動裝置、第二驅動裝置均為本領域 的常規驅動裝置，其具體結構和安裝均為本領域技術人員所公知，故在本實用新型附圖中 沒有詳細示出。
[0018] 在本實用新型的優選實施例中，上述第一驅動裝置、第二驅動裝置均可W為常規 的電動機。
[0019] 根據本實用新型所述的采樣裝置，上述中央轉向平臺不但可W用于改變內層雙向 導軌的方向，還可W用來支撐該采樣裝置及保持滑塊水平；當中央轉向平臺轉動到使內層 雙向導軌與外層雙向導軌水平對接時，滑塊可W在與內層雙向導軌對接的外層雙向導軌上 滑行。當中央轉向平臺足夠大時，本實用新型的采樣裝置也可W不使用外層雙向導軌，此 時，使滑塊在中央轉向平臺上的內層雙向導軌上進行滑行即可W完成透射式太赫茲檢測的 采樣過程。
[0020] 本實用新型用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置不與透射式太赫茲檢測裝置的部 件相連接，而是將該采樣裝置使用螺絲固定在面板上，再將面板放置在太赫茲脈沖所在的 位置，調整面板位置使樣品正對著太赫茲脈沖即可。
[0021] 本實用新型的用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置可W用來搭載待測樣品，而采樣 及檢測過程是由透射式太赫茲時域光譜裝置（THz-ID巧發射的太赫茲脈沖實現的；本實用 新型的用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置的中央轉向平臺可W在第一驅動裝置的驅動下 進行旋轉，進而可W改變位于中央轉向平臺上的內層雙向導軌的方向；同時，該用于透射式 太赫茲檢測的采樣裝置的滑塊可W在第二驅動裝置的驅動下在內層雙向導軌上滑動，進而 可W實現對待測樣品進行多點、動態、機械自動采樣檢測。
[0022] 本實用新型還提供了上述用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置的使用方法，該方法 包括W下步驟：將待測樣品置于滑塊中央，然后，使滑塊在內層雙向導軌和/或外層雙向導 軌上勻速地往返進行橫向或縱向的滑行，在勻速滑行過程中，太赫茲光波進行脈沖掃描定 位采樣點W進行采樣，采樣完畢后，再次在雙向導軌上滑動滑塊定位下一個采樣點W進行 采樣，如此便得到待測樣品的多個采樣點，每次對一個采樣點采樣時同時也完成了對該采 樣點的檢測，即一個太赫茲脈沖透射經過待測樣品到達接收器，接收器再把接收到的數據 發送到計算機。在進行數據處理時，將每個采樣點的測試數據進行存儲、比較、除去誤差較 大的測量數據，再對余下的測量數據取平均值，得到待測樣品的太赫茲脈沖平均時域波形。
[0023] 上述滑塊勻速滑行的滑行速度可W根據滑塊移動的距離及太赫茲脈沖發射的時 間間隔進行調整；在本實用新型的優選實施例中其移動速度為0. 5mm/s。
[0024] 本實用新型的用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置可W對待測樣品進行多點、動 態、機械自動采樣檢測，進而可W實現多點、動態太赫茲檢測，相對于現有的單點、靜態、手 動移動樣品的采樣檢測方式，使用本實用新型的裝置可W提高檢測精度，降低實驗的誤差， 并且能夠實現機械自動檢測，提高檢測效率，減少因手動移動樣品而導致的樣品破損率。
【附圖說明】
[0025] 圖1為本實用新型的用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置的結構示意圖；
[0026] 圖2為本實用新型實施例2得到的采樣點的分布示意圖。
[0027] 主要附圖標號說明；
[0028]1中央轉向平臺2內層雙向導軌3外層雙向導軌4滑塊5待測樣品。
【具體實施方式】
[0029] 為了對本實用新型的技術特征、目的和有益效果有更加清楚的理解，現參照說明 書附圖對本實用新型的技術方案進行W下詳細說明，但不能理解為對本實用新型的可實施 范圍的限定。
[0030] 實施例1
[0031] 本實施例提供了一種用于透射式太赫茲檢測的采樣裝置，該裝置的結構示意圖如 圖1所示，從圖1中可W看出該裝置包括中央轉向平臺1、兩個內層雙向導軌2、八個外層雙 向導軌3、滑塊4;
[0032] 所述八個外層雙向導軌3 W中央轉向平臺1的旋轉中屯、為中屯、呈十字形分布于中 央轉向平臺1的周圍，該外層雙向導軌3與可旋轉的中央轉向平臺1之間存在間隙，W使中 央轉向平臺1能夠在第一驅動裝置的驅動下進行旋轉，該間隙的寬度小于0. 3mm;中央轉向 平臺1的旋轉可W用于改變內層雙向導軌2的滑行的方向；
[0033] 所述兩個內層雙向導軌2位于中央轉向平臺1之上，且其長度方向的中屯、線穿過 所述中央轉向平臺1的旋轉中屯、，內層雙向導軌2能夠在中央轉向平臺1旋轉下與外層雙 向導軌3保持水平銜接，W使滑塊4能夠在第二驅動裝置的驅動下在內層雙向導軌2和外 層雙向導軌3上自由往復滑動；
[0034] 所述滑塊4可滑動的位于內層雙向導軌2之上，當使用