一種基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種絕緣材料的測試領域，尤其涉及一種基于輻射源方式的絕緣材料對電接觸性能影響的測試裝置。
【背景技術】
[0002]電力行業快速發展，給其他行業帶來了眾多便利，但是電氣火災事故的頻發，也給企業生產、居民生活帶來了很大損失和不便。電氣線路和用電設備，在經過長時間的過負荷運行或者存在不良的電氣連接等情況，導致絕緣層出現老化、破損和接觸不良等問題，就可能引發電氣事故。絕緣材料的可靠性是電氣設備安全穩定運行的重要基礎，因此，進行絕緣材料對電接觸性能影響的測試評估是有重要意義的。
[0003]絕緣材料在高熱環境下會部分揮發，沉積在電接觸設備表面，給電路造成負擔，對電接觸表面接觸電阻產生影響。目前，對絕緣材料的檢測主要關注的是絕緣材料本身的機械損耗、老化等問題(中國專利申請號:201210510916.2)，并沒有一種標準的方式來檢測絕緣材料在電接觸裝置中對電接觸性能造成的影響。因此提出一種標準化的方式來檢測絕緣材料對電接觸性能的影響。
【實用新型內容】
[0004]為解決現有絕緣材料對電接觸性能影響檢測的不足，本實用新型的目的在于提供一種絕緣材料對電接觸性能影響的可標準化的測試裝置，利用標準輻射源來模擬真實環境中電火花，并通過四端子法測量不同絕緣材料下的電接觸表面接觸電阻值，分析絕緣材料對電接觸性能影響，以實現對絕緣材料的選擇。
[0005]為實現上述目的，本實用新型將采用如下技術方案:
[0006]本實用新型提供一種基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，包括:
[0007]用于模擬真實環境中的電火花的輻射源；
[0008]用于電觸頭接觸或分離的伺服電機；
[0009]用于伺服電機的控制部件；
[0010]用于測量接觸電阻的接觸電阻測量電路；
[0011]用于整個裝置的MCU控制器；其中:
[0012]MCU控制器發出信號給用于伺服電機的控制部件，控制所述伺服電機的運動時間、速度和方向，MCU控制器按照設定的對接觸電阻進行檢測的頻率，發送信號至接觸電阻檢測電路，開啟接觸電阻檢測，并將檢測信號返回至MCU控制器保存。
[0013]優選地，所述裝置進一步包括密閉測試箱，所述的輻射源、被測量的絕緣材料、電觸頭材料以及電觸頭的支架均位于密閉測試箱中，密閉測試箱保證了絕緣材料的測試環境是恒溫的。
[0014]優選地，所述的密閉測試箱內放置有溫度控制器，以保證絕緣材料檢測是在恒溫下進行的電氣性能檢測。
[0015]優選地，所述用于伺服電機的控制部件可以采用伺服電機驅動器。
[0016]優選地，所述的MCU控制器，在間隔N次電接觸材料接觸后測試一次接觸電阻。MCU控制器產生一路控制信號給伺服電機驅動器，用于控制伺服電機運動時間、速度和方向，同時對電觸頭接觸次數計數，當到達N次時，發送信號至接觸電阻檢測電路，開啟接觸電阻檢測。
[0017]優選地，所述的接觸電阻檢測電路的輸出信號連接放大濾波電路信號輸入端，放大濾波電路的輸出端連接于MCU控制器。
[0018]優選地，所述的MCU控制器中設有撥碼開關，當更換絕緣材料時，改變撥碼開關值，一種絕緣材料對應一個撥碼開關值。
[0019]優選地，所述的MCU控制器內存儲下每次測量的接觸電阻，可得到同一種絕緣材料在不同溫度下，接觸電阻隨時間的變化，也可得到不同絕緣材料在相同溫度下，接觸電阻隨時間的變化。
[0020]由于采用了上述技術方案，本實用新型的有益效果是:
[0021]本實用新型填補了原有技術在這方面的不足，在相同輻射強度下，對每種絕緣材料下的觸頭材料的接觸電阻的檢測，通過對接觸電阻隨時間的變化特征，判斷該絕緣材料是否適合在中低壓電器開關中使用。
【附圖說明】
[0022]圖1為本實用新型【具體實施方式】的裝備簡圖。
[0023]圖中，I是絕緣材料，2是輻射源，3是動觸頭，4是靜觸頭，5是固定支架，6是彈簧桿，7是凸輪傳動裝置，8是伺服電機，9是接觸電阻測量電路，10是MCU控制器，11是測試箱，12是裝備箱。
【具體實施方式】
[0024]以下對本實用新型的技術方案作進一步的說明，以下的說明僅為理解本實用新型技術方案之用，不用于限定本實用新型的范圍，本實用新型的保護范圍以權利要求書為準。
[0025]實施例1
[0026]如圖1所示，本實施例提供一種基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，圖中:作為被測試對象的絕緣材料1、動觸頭3和靜觸頭4，以及用于固定動、靜觸頭的固定支架5，所述裝置包括:
[0027]用于模擬真實環境中產生電火花的輻射源2 ;
[0028]用于控制動觸頭運動的伺服電機系統，包括伺服電機8、凸輪7、彈簧桿6 ;
[0029]用于伺服電機的控制部件，如伺服電機控制器；
[0030]用于測量接觸電阻的接觸電阻測量電路9 ;
[0031]用于整個裝置的MCU控制器10 ;其中:
[0032]所述MCU控制器10連接所述用于伺服電機的控制部件，所述用于伺服電機的控制部件連接所述用于電觸頭接觸或分離的伺服電機8 ;所述MCU控制器10連接所述用于測量接觸電阻的接觸電阻測量電路9 ;所述MCU控制器10發出信號給所述用于伺服電機的控制部件，控制所述伺服電機8的運動時間、速度和方向，MCU控制器10按照設定的對接觸電阻進行檢測的頻率，發送信號至所述接觸電阻檢測電路9，開啟接觸電阻檢測，并將檢測信號返回至所述MCU控制器10保存。
[0033]本實施例中，所述的接觸電阻測量電路9用于接觸電阻測量，從動、靜觸頭3、4分別引出一根導線接入接觸電阻測量電路輸入端中，對測量出的信號做處理后接到MCU控制器10的輸入端。
[0034]本實施例中，MCU控制器10發送信號至伺服電機驅動器，控制伺服電機工作，凸輪傳動裝置7在伺服電機的帶動下