一種銅片厚度的檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種檢測裝置，更具體地說，它涉及一種銅片厚度的檢測裝置。
【背景技術】
[0002]天平中所具有的銅片對其表面的平整度要求很高，從而保證其測量時的精度，同時也避免誤差過大而導致無法裝入，通常會在生產出來銅片后，對銅片表面的平整度是否合格進行檢測。一般工廠中檢測時，操作人員直接通過千分尺來對其進行測量，測出銅片各個位置的厚度并對其進行比較，是否超出公差范圍，但是在檢測過程中，無法排除人為的因素，即操作人員不小心扳動銅片，而導致銅片變形，進而造成銅片報廢，而檢測時會左右晃動而導致讀數時也會存在很大的誤差，所以目前所使用的銅片厚度的檢測裝置具有一定的改進空間。
【實用新型內容】
[0003]針對現有技術存在的不足，本實用新型的目的在于提供一種銅片厚度的檢測裝置，且檢測更加便捷，可以有效避免銅片被折彎而損壞或者檢測時晃動而導致讀數存在誤差較大的問題。
[0004]為實現上述目的，本實用新型提供了如下技術方案:一種銅片厚度的檢測裝置，包括千分尺，還包括底座，所述底座上設有用于固定千分尺的固定基座，所述底座上還設有定位基座，所述定位基座上設有供銅片放置的放置板，所述定位基座上包括有用于改變放置板上下位置的升降機構與用于改變左右、前后位置的平移機構，所述升降機構、平移機構與放置板依次固定連接。
[0005]較佳的，所述升降機構包括升降塊與調節盤；
[0006]所述升降塊上設有升降螺紋桿，所述調節盤上設有供升降螺紋桿穿設的固定孔；
[0007]所述升降螺紋桿與固定孔同軸心設置；
[0008]所述定位基座上設有供升降螺紋桿與調節盤放置的放置槽。
[0009]較佳的，所述平移機構包括左右平移組件與前后平移組件。
[0010]較佳的，所述左右平移組件固定于升降機構上，所述前后平移組件固定于左右平移組件上。
[0011]較佳的，所述左右平移組件包括第一固定塊、第一滑塊與第一螺桿；
[0012]所述第一固定塊與升降塊固定連接；
[0013]所述第一固定塊內設有第一滑槽，所述第一滑塊與第一滑槽滑移連接；
[0014]所述第一滑塊與第一螺桿螺紋連接；
[0015]所述第一螺桿穿設過第一固定塊，所述第一螺桿上靠近穿設過第一固定塊的一側設有第一握持部。
[0016]較佳的，所述前后平移組件包括第二固定塊、第二滑塊與第二螺桿；
[0017]所述第二滑塊與第一滑塊固定連接；
[0018]所述第二固定塊內設有第二滑槽，所述第二滑塊與第二滑槽滑移連接；
[0019]所述第二滑塊與第二螺桿旋轉連接；
[0020]所述第二螺桿穿設過第二固定塊且與第二固定塊螺紋連接，所述第二螺桿上靠近穿設過第二固定塊的一側設有第二握持部；
[0021 ] 所述放置板位于第二固定塊上。
[0022]本實用新型相對現有技術相比具有:通過將千分尺固定在固定基座上，且調節好所設定的范圍后形成間隙，從而通過升級機構與平移機構的調節，使得放置在放置板上的銅片進入到千分尺所形成的間隙內，在通過千分尺對其進行測量數據，有效的避免了在檢測過程中銅片被折彎而損壞或者檢測時左右晃動而使得讀數誤差較大的問題，且測量的更加快速，工作效率更高。
【附圖說明】
[0023]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0024]圖1為本實用新型的結構示意圖；
[0025]圖2為本實用新型的爆炸圖。
[0026]圖中:1、千分尺；2、底座；3、固定基座；4、定位基座；5、放置板；6、升降機構；7、平移機構；8、升降塊；9、調節盤；10、升降螺紋桿；11、固定孔；12、放置槽；13、左右平移組件；14、前后平移組件；15、第一固定塊；16、第一滑塊；17、第一螺桿；18、第一滑槽；19、第一握持部；20、第二固定塊；21、第二滑塊；22、第二螺桿；23、第二滑槽；24、第二握持部。
【具體實施方式】
[0027]參照圖1至圖2所示，實施例做進一步說明。
[0028]本實用新型公開的一種銅片厚度的檢測裝置，包括千分尺1，還包括底座2，底座2上設有用于固定千分尺I的固定基座3，此處需要注意的是，固定基座3與千分尺I可以通過螺栓而相對的固定在一起，或者可以通過粘接、卡接等慣用方式達到固定連接的目的，上述的連接方式，都是本領域技術人員所熟知的技術手段，此處不作詳述，底座2上還設有定位基座4，定位基座4上設有供銅片放置的放置板5，定位基座4上包括有用于改變放置板5上下位置的升降機構6與用于改變左右、前后位置的平移機構7，升降機構6、平移機構7與放置板5依次固定連接，通過將千分尺I固定在固定基座3上，且調節好所設定的范圍后形成間隙，從而通過升級機構與平移機構7的調節，使得放置在放置板5上的銅片進入到千分尺I所形成的間隙內，在對銅片進行檢測其厚度，有效的避免了在檢測過程中銅片被折彎而損壞或者檢測時晃動而使得讀數存在誤差較大的問題，當測量完成后，可以再通過平移機構7進行調節銅片位置來對其其他部位的厚度進行測量。
[0029]升降機構6包括升降塊8與調節盤9，升降塊8與調節盤9均在定位基座4上，升降塊8上設有升降螺紋桿10，調節盤9上設有供升降螺紋桿10穿設的固定孔11，升降螺紋桿10與固定孔11同軸心設置，且螺紋桿與固定孔11螺紋連接，定位基座4上設有供升降螺紋桿10與調節盤9放置的放置槽12，通過轉動調節盤9即可帶動螺紋桿升降，進而帶動升降塊8實現升降的功能。