一種光纖熔接質量監測系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種光纖熔接技術領域，尤其涉及一種光纖熔接質量監測系統。
【背景技術】
[0002]光纖熔接是將兩根結構特征不完全一樣的光纖融合成一根光纖的過程，光纖熔接在光纖激光器的制造過程中被經常使用，屬于核心技術之一。
[0003]光纖熔接的熔接點的質量好壞直接決定了光纖激光器等設備的性能，因此對于光纖熔接質量的判斷和監測也就成為光纖熔接技術的關鍵，同時判斷和監測的結果又能夠幫助改進熔接程序，提高熔接質量。
[0004]傳統的熔接質量判斷方法是單純依靠插入損耗來判斷，插入損耗越小，認定熔接質量越好。但是在光纖激光器里的雙包層光纖熔接過程中，通過插入損耗判斷熔接質量會變得非常不準確，這是因為在內包層傳輸的激光會回干擾到熔接質量的判斷。
[0005]為此，需要提供一種改良的光纖熔接質量監測手段能夠對光纖熔接的質量進行更準確和全面的判斷。
【發明內容】
[0006]本實用新型提供一種光纖熔接質量監測系統，能夠對光纖熔接質量進行更準確和更全面的判斷。
[0007]為實現上述目的，本實用新型提供一種光纖熔接質量監測系統，包括:
[0008]插入損耗確定子系統，用于確定光束通過光纖熔接點前后的插入損耗，當所述插入損耗低于第一閾值時，判定熔接質量預評估通過；
[0009]光束特性確定子系統，用于在判定熔接質量預評估通過后，確定所述光束通過所述光纖熔接點前后的光束特性，當發現所述光束通過所述光纖熔接點前后的光束特性相一致時，判定熔接質量最終通過，否則判定熔接質量最終未通過。
[0010]在一個優選的實施例中，所述光束特性確定子系統包括:
[0011]圖像獲取單元，用于分別獲取所述光束通過光纖熔接點前后的橫向截面的光斑圖像，以確定所述光束通過光纖熔接點前后的光束特性。
[0012]在一個優選的實施例中，所述光束特性確定子系統還包括:第一分光鏡和第二分光鏡;
[0013]所述第一分光鏡置于所述光束經過光纖熔接點前的光路中，所述第二分光鏡置于所述光束經過所述光纖熔接點后的光路中；
[0014]所述第一分光鏡從所述光束經過光纖熔接點前的光路中，分出部分光束，作為待檢測的第一輸入光束，所述圖像獲取單元獲取該第一輸入光束的橫向截面的光斑圖像，作為所述光束通過所述光纖熔接點前的橫向截面的光斑圖像；
[0015]所述第二分光鏡從所述光束經過光纖熔接點后的光路中，分出部分光束，作為待檢測的第二輸入光束，所述圖像獲取單元獲取該第二輸入光束的橫向截面的光斑圖像，作為所述光束通過所述光纖熔接點后的橫向截面的光斑圖像。
[0016]在一個優選的實施例中，所述插入損耗確定子系統包括:
[0017]光功率計，用于分別確定所述光束通過光纖熔接點前的光功率和通過所述光纖熔接點后的光功率，并由所述光束通過光纖熔接點前的光功率和通過光纖熔接點后的光功率，計算出所述光束通過光纖熔接點前后的插入損耗。
[0018]本實用新型實施例提供的方案不經通過插入損耗的因素來對光纖熔接的質量進行初步判斷，還會綜合光束通過光纖熔接點前后的光束特性變化確定熔接質量是否最終滿足要求。
【附圖說明】
[0019]為了更清楚地說明本申請實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請中記載的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0020]圖1是本實用新型實施例提供的光纖熔接質量監測系統的示意圖；
[0021]圖2是本實用新型實施例中在光纖熔接質量滿足要求時光束通過光纖熔接點后的橫向截面的光斑圖像；
[0022]圖3至圖5是本實用新型實施例中在光纖熔接質量不滿足要求時光束通過光纖熔接點后的橫向截面的光斑圖像。
【具體實施方式】
[0023]為了使本技術領域的人員更好地理解本申請中的技術方案，下面將結合本申請實施例中的附圖，對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本申請一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本申請中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應當屬于本申請保護的范圍。
[0024]圖1示出了本實用新型實施例提供的一種光纖熔接質量監測系統的示意圖，下面結合該光纖熔接質量監測系統說明本實用新型提供的光纖熔接質量監測方法的實現和監測系統的組成。
[0025]如圖1所示，光纖Ia和光纖Ib的端面進行熔接，熔接點為lc，本實用新型實施例中需要對熔接點Ic處的熔接質量進行監測。為此通過光源6輸出的激光從光纖Ia —側輸入，并由光纖Ib —側輸出，并通過輸入的激光和輸出的激光之間的特征來判斷熔接點Ic的熔接質量。本領域技術人員應該能夠理解，還可以讓光源6輸出的激光從光纖Ib—側輸入，并由光纖Ia —側輸出，也能判斷熔接點Ic的熔接質量。
[0026]在本實施例中對于熔接質量的判斷首先需要進行預評估，具體地，確定光源6輸出的光束通過光纖熔接點Ic前后的插入損耗，當插入損耗第一閾值時，判定熔接點Ic的熔接質量預評估通過。光源6可以為激光器，例如可以為輸出光波長為1064nm的激光器。
[0027]確定上述插入損耗，需要確定光源6輸出的光束通過光纖熔接點Ic前的光功率和光纖熔接點Ic后的光功率，并由這兩個光功率的差值確定插入損耗。在實際中，確定光功率可以使用光功率計。
[0028]以圖1為例，光源6輸出的光束通過聚焦透鏡2親合入光纖la，從光纖Ib輸出的光束通過準直透鏡3進行準直輸出。為了實現對光束通過熔接點Ic前的光功率的測量，在光源6和聚焦透鏡2之間設置第三分光鏡11，以從光束經過熔接點Ic前的光路中分出部分光束，作為待檢測的第三輸入光束，通過第一光功率計7測量該第三輸入光束的光功率，以作為光束通過光纖熔接點Ic前的光功率的值。在實際中，上述第三分光鏡11可以是傾斜設置的半透半反鏡，反射的部分光束作為待檢測的第三輸入光束，透射的部分光束向熔接點Ic的方向傳輸。為了實現對光束通過熔接點Ic后的光功率的測量，在準直透鏡3的遠離恪接點Ic的一側設置第二分光鏡5，以從光束經過恪接點Ic后的光路中分出部分光束，作為待檢測的第四輸入光束，并通過第二光功率計8測量該第四輸入光束的光功率，以作為光束通過光纖熔接點Ic后的光功率的