一種用于無過零檢測ic的測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及開關電源檢測領域，特別是涉及一種用于無過零檢測IC的測試
目.0
【背景技術】
[0002]電源管理芯片在做成成品電源后，如果有焊接不良或者元器件故障，在通入220VAC后會炸機造成返修難度增加，PCB損壞，配電箱跳匝，更嚴重者操作員會被炸裂的元器件殘片所損傷。因此在通電之前對電源管理芯片做一個簡單的模擬測試，檢查相關波形是否正常非常必要。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型的目的在于克服現有技術的不足，提供一種用于無過零檢測IC的測試裝置，通過直流電源和示波器/萬能表，簡單有效地檢測出待測試集成電路是否正常，能夠有效的減少半成品電路板的強電損壞，從而減少元器件的損壞，并節省人力返修。提高了良品率和工作效率。
[0004]本實用新型的目的是通過以下技術方案來實現的:一種用于無過零檢測IC的測試裝置，它包括直流電源、測試結果顯示單元和待測試集成電路，所述待測試集成電路為無過零檢測的半成品電路，待測試集成電路上集成有能夠直接通過直流電源給相關引腳提供所需直流電壓的待測試芯片。
[0005]所述直流電源的電源輸出端與待測試芯片的相關輸入引腳連接，測試結果顯示單元的輸入端與待測試芯片的相關輸出引腳連接。
[0006]所述的測試結果顯示單元包括示波器和萬用表中的一種或多種的組合。
[0007]所述的直流電源為輸出電壓能夠根據具體需求而調整的直流電源。
[0008]所述的待測試集成電路還包括一個或多個與待測試芯片的輸入引腳和輸出引腳相對應連接的外圍電路，直流電源的電源輸出端還與外圍電路的電源輸入端連接，測試結果顯示單元的輸入端與外圍電路的輸出端連接。
[0009]本實用新型的有益效果是:本實用新型通過直流電源和示波器/萬能表，簡單有效地檢測出待測試集成電路是否正常，能夠有效的減小半成品電路板的強電損壞，從而減少元器件的損壞，并節省人力返修。提高了良品率和工作效率。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實用新型的結構框圖；
[0011]圖2為本實用新型待測試集成電路的電路圖。
【具體實施方式】
[0012]下面結合附圖進一步詳細描述本實用新型的技術方案，但本實用新型的保護范圍不局限于以下所述。
[0013]如圖1所示，一種用于無過零檢測IC的測試裝置，它包括直流電源、測試結果顯示單元和待測試集成電路，所述待測試集成電路為無過零檢測半成品電路，待測試集成電路上集成有能夠直接通過直流電源給相關引腳提供所需直流電壓的待測試芯片。
[0014]所述直流電源的電源輸出端與待測試芯片的相關輸入引腳連接，測試結果顯示單元的輸入端與待測試芯片的相關輸出引腳連接。
[0015]所述的測試結果顯示單元包括示波器和萬用表中的一種或多種的組合。
[0016]所述的直流電源的輸出電壓能夠根據具體需求而調整。
[0017]所述的待測試集成電路還包括一個或多個與待測試芯片的輸入引腳和輸出引腳相對應連接的外圍電路，直流電源的電源輸出端還與外圍電路的電源輸入端連接，測試結果顯示單元的輸入端與外圍電路的輸出端連接。
[0018]所述的待測試集成電路為能夠直接通過直流電源給相關引腳提供所需直流電壓的開關電源1C，一般為半成品集成電路板，可直接通過直流電源和示波器或萬用表，檢測待檢測芯片的輸出參考電壓或脈寬調制信號是否正常。所述的待測試芯片為電源管理芯片，例如TI公司的UC3845，ST公司L6599以及ON公司的NCP1654等等。
[0019]在拿到一張加工好的電路板，通電之前需要檢測加工是否良好，必須對該電路板的芯片功能進行檢測。
[0020]本實用新型根據待測試集成電路的產品規格書，首先需要了解該待測試集成電路中，待測試芯片各個引腳的功能，初步判斷區分其輸入引腳和輸出引腳，再通過直流電源給待測試集成電路的輸入引腳輸入其所需要的電壓，再用示波器或者萬用表檢測該待測試集成電路的輸出電壓或頻率是否正常。
[0021]本實用新型通過直流電源對待測試集成電路進行檢測，能夠有效的減小半成品電路板的強電損壞，從而減少元器件的損壞，并節省人力返修。提高了良品率和工作效率。
[0022]本實用新型還可以驗證待測試集成電路的周邊元器件的性能、焊接等特性是否良好。參照產品規格文檔，給目標器件的對應引腳施加合理電壓，觀察輸出點是否正常，如果有器件虛焊，或者損壞，那么輸出針腳的輸出信號產生的電壓或頻率的異常，就會在電壓表或示波器上反應出來，從而可以檢查出該半成品是否合格。
[0023]如圖2所示，待測試集成電路中包括待測試芯片、整流器、啟動電路、分壓電路、開關電路、電流采樣電路和振蕩電路，還包括變壓器、環路補償電路等，其中，直流電源根據測試需要分別與啟動電路、分壓電路、保護電路、環路補償電路、穩壓電路、開關電路、電流采樣電路和振蕩電路連接。
[0024]待測試芯片為UC3845，芯片UC3845包括8個引腳，其中:
[0025]第I引腳:補償輸出端，該管腳為誤差放大器輸出，并可用于環路補償；
[0026]第2引腳:電壓反饋輸入端，該管腳是誤差放大器的反向輸入端，通常通過一個電阻分壓器(分壓電路)連至開關電源(直流電源)輸出；
[0027]第3引腳:采樣電流輸入端，一個正比于電感器電流的電壓接至此輸入，脈寬調制器使用此信息中止輸出開關的導通；
[0028]第4引腳:頻率控制輸出端，通過將電阻R6連接至參考電壓Vref以及電容C6連接至地，使振蕩電路頻率和最大輸出占空比可調，工作頻率達IMHz ；
[0029]第5引腳:接地端，該管腳是控制電路和電源的公共地；
[0030]第6引腳:開關控制輸出端，該輸出直接驅動功率MOSFET開關管Ql的柵極，高達IA峰值電流經此管腳拉和灌，輸出開關頻率為振蕩器頻率的一半；
[0031]第7引腳:電源輸入端，該管腳是控制集成電路的正電源；
[0032]第8引腳:參考電壓輸出端，該管腳為參考電壓Vref輸出，它通過電阻R6向電容C6提供充電電流。
[0033]該待測試集成電路中，第3引腳、第7引腳為主要的輸入引腳，第6引腳、第8引腳為主要的輸出引腳。只需要通過直流電源給第7引腳提供一個穩定的13V工作電壓，此時若該待測試集成電路正常，則其第8引腳輸出為5V電平，通過振蕩電路形成一個鋸齒波，決定第6引腳的輸出方波的頻率，而調整第7引腳的電壓則可以改變第6引腳輸出方波的占空比，從而在示波器或電壓表上查看到待測試集成電路的輸出狀況，與該芯片的產品規格書上的數據相對比，即可知道該待測試芯片是否正常。
[0034]如圖2所示，變壓器包括初級繞組NP、輔助繞組NC和輸出繞組NS，輔助繞組NC與待測試集成電路的電壓反饋輸入端和待測試集成電路的VCC輸入端通過整流電路連接，輔助繞組NC的同名端與地對接，輔助繞組NC與輸出繞組NS同相位且成固定匝數比的關系，檢測輔助繞組NC的電壓即使檢測輸出電壓，輔助繞組NC通過分壓電路與待測試芯片的電壓反饋輸入端連接，輸出繞組NS包括輸出繞組N5和輸出繞組NI2。
[0035]初級繞組NP的周邊電路包括電阻Rl2、電容C9和二極管D4，并聯的電阻R12和電容C9