光纖測試連接裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及光纖設備領域，尤其涉及一種光纖測試連接裝置。
【背景技術】
[0002]目前光纖通信領域中為進行光纖全程測量和光纖運行情況檢測，通常使用光時域反射儀(OTDR)來測試光纖的長度、故障點、傳輸衰減、接頭衰減等參數。為采用光時域反射儀(OTDR)連接一預置尾纖，之后通過光纖熔接的方式連接被測光纖進行檢測。但是光纖熔接在使用過程中有很大的局限性，主要有以下幾點:1.需配套熔接機，成本高、搬運困難；2.需熔接光纖兩端，施工工藝要求精細，檢測施工難度大；3.連接效率低，光纖熔接時間較長，降低了光纖全程測量和光纖運行情況檢測的效率。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型所要解決的技術問題是:提供一種使用成本低、攜帶方便、檢測施工難度小、連接效率高、大大提高光纖全程測量和光纖運行情況檢測效率的光纖測試連接裝置。
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型的技術方案是:光纖測試連接裝置，包括底板，所述底板上設有光纖對接裝置，所述對接裝置的上方設有測試壓緊裝置。
[0005]作為優選的改進，所述光纖對接裝置包括所述底板上位于所述測試壓緊裝置兩側分別設有的對接臺和預接臺；所述對接臺通過對接導軌滑動設置在所述底板上，所述對接臺靠近所述測試壓緊裝置一端設有對接頭，貫穿所述對接頭排列設有若干對接孔，所述對接臺上設有光纖對接放置長槽，所述光纖對接放置長槽延伸至所述對接孔遠離所述測試壓緊裝置的一端，所述光纖對接放置長槽靠近所述對接頭一端的上方設有光纖對接壓板；所述預接臺靠近所述測試壓緊裝置一端設有預接頭，貫穿所述預接頭排列設有與所述對接孔對應的預接孔，所述預接孔靠近所述測試壓緊裝置的一端連接有導引插管，所述預接臺設有光纖預接放置長槽，所述光纖預接放置長槽延伸至所述預接孔遠離所述測試壓緊裝置的一端，所述光纖預接放置長槽靠近所述預接頭一端的上方設有光纖預接壓板。
[0006]作為優選的改進，所述預接臺通過預接導軌滑動設置在所述底板上。
[0007]作為優選的改進，所述測試壓緊裝置為一壓蓋，所述壓蓋與所述底板之間設有壓緊螺栓。
[0008]作為優選的改進，所述壓蓋底部表面的兩端分別傾斜設有導引斜面，所述對接頭頂部表面設有與相鄰所述導引斜面對應的對接斜面，所述預接頭頂部表面設有與相鄰所述導引斜面對應的預接斜面。
[0009]作為優選的改進，所述對接臺與所述光纖對接壓板之間設有壓緊螺栓；所述預接臺與所述光纖預接壓板之間設有壓緊螺栓。
[0010]作為優選的改進，所述光纖對接裝置包括所述底板上設有的V型槽，所述V型槽的兩端分別連接設有線槽，所述測試壓緊裝置包括所述底板上位于所述V型槽的上方設有透明板，所述透明板與所述底板之間設有壓緊螺栓。[0011 ] 由于采用了上述技術方案，光纖測試連接裝置，包括底板，所述底板上設有光纖對接裝置，所述對接裝置的上方設有測試壓緊裝置。本實用新型結構簡單、操作靈活，被測光纖進行檢測時能夠與尾纖臨時耦合對接，無需熔接，并且可以重復使用，使用成本低、攜帶方便、檢測施工難度小、易操作，連接效率高、節省了光纖連接的時間、大大提高了光纖全程測量和光纖運行情況檢測的效率。
【附圖說明】
[0012]以下附圖僅旨在于對本實用新型做示意性說明和解釋，并不限定本實用新型的范圍。其中:
[0013]圖1是本實用新型的結構示意圖；
[0014]圖2是本實用新型除去盒體后的俯視圖；
[0015]圖3是本實用新型一實施例的結構示意圖。
[0016]圖中:1_盒體；2-底板；21_線槽；22_透明板；23_V型槽；3_對接臺；31_對接導軌；32_光纖對接放置長槽；33_光纖對接壓板；34_光纖對接導孔；35_對接孔；36_對接斜面；37_對接頭；4_預接臺；41_預接導軌；42_光纖預接放置長槽；43_光纖預接壓板；44-光纖預接導孔；45_導引插管；46_預接斜面；47_預接頭；48_預接孔；5_連接座；51_壓蓋；52_導引斜面。
【具體實施方式】
[0017]下面結合附圖和實施例，進一步闡述本實用新型。在下面的詳細描述中，只通過說明的方式描述了本實用新型的某些示范性實施例。毋庸置疑，本領域的普通技術人員可以認識到，在不偏離本實用新型的精神和范圍的情況下，可以用各種不同的方式對所描述的實施例進行修正。因此，附圖和描述在本質上是說明性的，而不是用于限制權利要求的保護范圍。
[0018]如圖1和圖2所示，光纖測試連接裝置，包括底板2，所述底板2上設有光纖對接裝置，所述對接裝置的上方設有測試壓緊裝置。其中所述光纖對接裝置包括所述底板2上位于所述測試壓緊裝置兩側分別設有的對接臺3和預接臺4 ;所述對接臺3通過對接導軌31滑動設置在所述底板2上，所述對接臺3靠近所述測試壓緊裝置一端設有對接頭37，貫穿所述對接頭37排列設有若干對接孔35，所述對接臺3上設有光纖對接放置長槽32，所述光纖對接放置長槽32延伸至所述對接孔35遠離所述測試壓緊裝置的一端，所述光纖對接放置長槽32靠近所述對接頭37 一端的上方設有光纖對接壓板33 ;所述預接臺4靠近所述測試壓緊裝置一端設有預接頭47，貫穿所述預接頭47排列設有與所述對接孔35對應的預接孔48，所述預接孔48靠近所述測試壓緊裝置的一端連接有導引插管45，所述預接臺4設有光纖預接放置長槽42，所述光纖預接放置長槽42延伸至所述預接孔48遠離所述測試壓緊裝置的一端，所述光纖預接放置長槽42靠近所述預接頭47 —端的上方設有光纖預接壓板43。所述預接臺4通過預接導軌41滑動設置在所述底板2上。如圖1和圖2所示，所述測試壓緊裝置為一壓蓋51，所述壓蓋51與所述底板2之間設有壓緊螺栓，可以在底板2上設有連接座5，通過