實現頻率修調集成化控制的系統的制作方法
【技術領域】
[0001] 本實用新型設及頻率修調技術領域，尤其設及時鐘頻率修調技術領域，具體是指 一種實現頻率修調集成化控制的系統。
【背景技術】
[0002] 集成電路設計中一般會集成內部時鐘發生器，但由于工藝波動影響，實際生產的 頻率會在一定范圍內波動，為滿足實際應用中時鐘精度要求，會考慮對頻率做修調，頻率修 調一般依靠測試儀完成。
[0003] 測試主要包含W下步驟；初始頻率采集，確定頻率修調值，修調值寫入電路。其中， 初始頻率采集由測試儀完成，得到初始頻率后，測試儀通過軟件運算，選擇合適的修調值， 最后通過測試儀將修調值寫入管巧，從而完成頻率修調。
[0004] 而一般頻率采集需要測試儀中頻率測試模塊（TMU)來實現，一個TMU在同一時間 內僅負責一個管巧頻率采集。
[0005] 另外不同管巧的頻率修調值一般會存在差異，即修調值寫入過程中，測試儀需要 根據當前頻率測試結果，選擇合適的修調值寫入。
[0006] 隨著集成電路設計尺寸的不斷縮小，單個晶圓（wafer)管巧數也不斷增加，為縮 短測試時間，節省測試成本，目前集成電路測試一般會選擇多管巧同測。
[0007] 但是在處理多管巧同測頻率項目時，如測試卡板上僅有一個TMU，則頻率測僅能試 按單管巧方式輪流測試，降低了測試效率；如要依靠TMU實現真正意義多管巧同測，需增加 測試卡板上TMU數量，但測試卡板成本成倍提高。
[000引在獲取初始頻率后，測試儀再經過軟件運算處理，選擇合適的頻率修調值，配合下 一步修調值寫入的測試過程。即修調過程中，需要軟件參與修調值選擇，增加了測試程序的 復雜程度。修調值寫入過程中，在多管巧測試時，需要將不同的修調值寫入各個管巧，在一 定程度上也增加了測試程序的復雜程度。
[0009] 綜上，當前測試儀在處理頻率修調測試方面存在W下問題：
[0010] 1、頻率測試依賴于TMU，在多管巧測試時，面臨測試效率低（僅一個TMU)或測試成 本高（集成多個TMU)的問題。
[0011] 2、頻率修調值選擇依靠軟件介入處理，增加了測試程序設計的復雜程度。
[0012] 3、頻率修調值寫入在多管巧測試過程中會增加測試程序設計的復雜程度。 【實用新型內容】
[0013] 本實用新型的目的是克服了上述現有技術的缺點，提供了一種將復雜的軟件頻率 修調過程轉換為普通的模塊功能測試，在基本不增加集成電路成本的前提下簡化頻率修調 測試過程，且便于實現多管巧同時修調的實現頻率修調集成化控制的系統。
[0014] 為了實現上述目的，本實用新型的實現頻率修調集成化控制的系統具有如下構 成：
[0015] 該實現頻率修調集成化控制的系統，其主要特點是，所述的系統包括頻率修調集 成電路，所述的頻率修調集成電路包括依次連接的頻率發生模塊、頻率測試模塊、頻率比較 模塊和頻率修調值控制模塊，其中；
[0016] 所述的頻率測試模塊，用W采集所述的頻率發生模塊輸出的頻率，并將相應的頻 率計量結果輸出至所述的頻率比較模塊；
[0017] 所述的頻率比較模塊，用W對所述的頻率計量結果和頻率計量理論值進行比較分 析，并將相應的頻率修調控制信號輸出至所述的頻率修調值控制模塊；
[001引所述的頻率修調值控制模塊，用W根據所述的頻率修調控制信號輸出相應的頻率 修調值至所述的頻率發生模塊。
[0019] 進一步地，所述的系統還包括測試儀，所述的頻率測試模塊為計數器，所述的頻率 發生模塊的輸出端與所述的頻率測試模塊的輸入端連接，所述的頻率測試模塊的輸出端與 所述的頻率比較模塊連接，所述的測試儀的基準時鐘輸出端與所述的頻率測試模塊的使能 端連接。
[0020] 進一步地，所述的頻率比較模塊包括頻率上限檢測單元，頻率下限檢測單元和頻 率檢測結果生成單元，其中：
[0021] 所述的頻率測試模塊的輸出端與所述的頻率上限檢測單元的輸入端連接，所述的 頻率上限檢測單元的輸出端與所述的頻率檢測結果生成單元的第一輸入端連接；
[0022] 所述的頻率測試模塊的輸出端與所述的頻率下線檢測單元的輸入端連接，所述的 頻率下限檢測單元的輸出端與所述的頻率檢測結果生成單元的第二輸入端連接；
[0023] 所述的頻率檢測結果生成單元的輸出端與所述的頻率修調值控制模塊連接；
[0024] 所述的頻率上限檢測單元，用W將所述的頻率計量結果和頻率上限理論值進行比 較，并將相應的上限比較結果發送至所述的頻率檢測結果生成單元；
[0025] 所述的頻率下限檢測單元，用W將所述的頻率計量結果和頻率下限理論值進行比 較，并將相應的下限比較結果發送至所述的頻率檢測結果生成單元；
[0026] 所述的頻率檢測結果生成單元，用W根據所述的上限比較結果和所述的下限比較 結果生成相應的頻率修調控制信號，并將該頻率修調控制信號發送至所述的頻率修調值控 制模塊。
[0027] 進一步地，所述的頻率修調值控制模塊包括修調值可變單元和修調值合成單元， 其中：
[002引所述的修調值可變單元的輸入端與所述的頻率比較模塊連接，所述的修調值可變 單元的輸出端與所述的修調值合成單元的輸入端連接，所述的修調值合成單元的輸出端與 所述的頻率發生模塊連接；
[0029] 所述的修調值可變單元，用W根據所述的頻率修調控制信號輸出相應的頻率修調 值至所述的修調值合成單元；
[0030] 所述的修調值合成單元，用W根據系統當前所處的狀態判斷是否輸出所述的修調 值可變單元發送的頻率修調值至所述的頻率發生模塊。
[0031] 其中，所述的修調值可變單元為計數器、RS觸發器陣列或加法器，所述的頻率修調 控制信號為頻率偏小控制信號、頻率偏大控制信號或頻率通過控制信號。
[0032] 更進一步地，所述的頻率修調值控制模塊還包括修調值載入單元，所述的頻率修 調集成電路還包括燒錄控制模塊，其中：
[0033] 所述的修調值載入單元的輸入端與所述的燒錄控制模塊的輸出端連接，所述的修 調值載入單元的輸出端與所述的修調值合成單元的輸入端連接，所述的燒錄控制模塊的輸 入端與所述的修調值可變單元的輸出端連接
[0034] 所述的修調值可變單元判斷所述的頻率修調控制信號是否為頻率通過控制信號， 如果是則將當前的頻率修調值鎖定并發送至所述的燒錄控制模塊，否則根據所述的頻率修 調控制信號輸出相應的頻率修調值至所述的修調值合成單元；
[0035] 所述的燒錄控制模塊，用W在接收到所述的修調值可變單元發送的頻率修調值 后，將該頻率修調值燒錄至所述的修調值載入單元。
[0036] 更進一步地，所述的修調值合成單元用W根據系統當前所處的狀態判斷是否輸出 所述的修調值可變單元發送的頻率修調值，具體為：
[0037] 所述的修調值合成單元判斷所述的系統是否處于頻率修調狀態，如果是，則輸出 所述的修調值可變單元發送的頻率修調值至所述的頻率發生模塊，否則讀取所述的修調值 載入單元的頻率修調值，并將該頻率修調值發送至所述的頻率發生模塊。
[003引更進一步地，所述的修調值載入單元還包括修調值存儲子單元，所述的修調值存 儲子單元與所述的燒錄控制模塊的輸出端連接，用W存儲所述的燒錄控制模塊燒錄的頻率 修調值。
[0039] 更進一步地，所述的燒錄控制模塊讀取所述的修調值存儲子單元存儲的頻率修調 值，并與所述的修調值可變單元發送的頻率修調值進行比較判斷燒錄是否成功。
[0040] 采用了本實用新型的實現頻率修調集成化控制的系統，通過內置頻率測試及頻率 比較模塊，實現頻率內測試及判斷，通過內置修調值控制電路來來實現內部改變頻率修調 值，通過內置燒錄控制模塊實現修調值的內部寫入及校驗，在基本不影響電路成本的前提 下，將頻率測試模塊及頻率判斷模塊集成到電路內部，頻率采集和頻率判斷均由硬件完成， 測試儀僅需要負責信號的輸入及比對，頻率測試不依賴于測試儀的頻率測試模塊，實質將 頻率測試轉化為普通的功能測試，提高單管巧和多管巧同測做頻率修調時的測試效率及可 靠性，更加便捷高效，且結構簡單，易于實現，具有更廣泛的應用范圍。
【附圖說明】
[0041] 圖1為本實用新型的實現頻率修調集成化控制的系統的結構框圖。
[0042] 圖2為本實用新型的實現頻率修調集成化控制的系統的頻