孔為豎向腰形孔;所述測試支座5通過螺栓連接在上豎直調節塊4上。
[0024]三維調整機構的工作原理如下:
橫向、縱向調節:通過旋轉橫向調節螺栓17.1來帶動橫向調節滑塊19.1左右橫向移動，由于橫向調節滑塊19.1通過橫向定位銷20.1與水平調節塊2連接，橫向調節滑塊19.1左右橫向移動時就帶動水平調節塊2在測試底座I的橫向移動;通過旋轉縱向調節螺栓17.2來帶動縱向調節滑塊19.2前后縱向移動，由于縱向調節滑塊19.2通過縱向定位銷20.2與水平調節塊2連接，縱向調節滑塊19.2前后縱向移動時就帶動水平調節塊2在測試底座I的縱向移動；這樣就實現了水平調節塊2及安裝在其上的部件【包括下豎直調節塊3、下豎直調節塊3和測試支座5等】在縱橫方向的位置調節。
[0025]豎向調節:首先旋轉松開下豎直調節塊3上腰形孔內的第一螺栓21，調節上豎直調節塊4相對于下豎直調節塊3的豎向的位置，然后重新擰緊第一螺栓21，就實現了測試支座5在豎直方向的位置調節。
[0026]如圖1?圖4所示，本實施例中，所述簧片固定組件主要由簧片固定橫塊11、C型固定塊12和簧片卡塊13組成，所述簧片固定橫塊11和簧片C型固定塊12分別通過螺栓固定連接在測試支座5側面，所述測試簧片14夾緊在簧片固定橫塊11、簧片C型固定塊12與測試支座5之間;所述簧片固定橫塊11上加工有長槽，所述簧片C型固定塊12的橫框上安裝有兩件能夠左右移動調整的簧片卡塊13，兩件簧片卡塊13卡在測試簧片14兩側，通過左右橫移調整簧片卡塊13就可以微調測試簧片14的位置。
[0027]如圖1、圖2所示，本實施例中，所述測試絕緣塊8的上表面設有凹槽，所述凹槽的前后邊內壁面均為斜坡面且相互對稱。優選地，所述凹槽的前后邊內壁面均為弧形斜坡面。這樣在集成電路16下壓過程中，所述凹槽可調整集成電路16前后方向的位置，對集成電路16進行定位。
[0028]如圖1?圖4所示，本實施例中，所述壓塊限位塊6的槽口上方設有斜坡面且左右對稱。這樣在集成電路16下壓過程中，壓塊限位塊6的斜坡面可調整集成電路16左右方向的位置，對集成電路16進行定位。
[0029]如圖3所示，本實施例中，所述測試壓塊7與測試絕緣塊8之間通過外輪廓卡緊固定。所述測試壓塊7優選采用非導電金屬材料，所述測試絕緣塊8優選采用硬質塑料類非金屬材料。所述導向軸1優選采用金屬材料。
[0030]本發明的工作原理及工作過程如下:
工作時，真空吸筆15末端吸住集成電路16下壓，直至把集成電路16壓在測試絕緣塊8上，然后繼續下壓，測試壓塊7克服壓縮彈簧9的作用力，沿導向軸10向下移動。在下壓過程中，測試絕緣塊8上表面的凹槽和壓塊限位塊6的斜坡面可以對集成電路16的前后位置和左右位置進行調整，使集成電路16位于測試夾具的測試絕緣塊8的中心。同時簧片固定組件固定住測試簧片14，使測試簧片14處于測試夾具的中間位置。當集成電路16繼續下壓直至集成電路16的海鷗型引腳接觸到測試簧片14并一一對應接觸后，真空吸筆15再繼續下壓，保證集成電路16引腳與測試簧片14之間有良好的接觸應力。然后對測試簧片14施加電信號，對集成電路16進行電性能測試。測試結束后，真空吸筆15上抬，測試絕緣塊8和測試壓塊7在壓縮彈簧9的作用力下上移，集成電路16的引腳與測試簧片14脫離接觸，即完成一個集成電路16的測試操作。在整個測試過程中，集成電路16在下降、測試和上移的過程中始終吸附在真空吸筆15的末端。
[0031]以上實施例只為說明本發明的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人士能夠了解本發明的內容并據此實施，并不能限制本發明的保護范圍。凡根據本發明權利要求范圍所做的均等變化與修飾，均應屬于本發明權利要求的涵蓋范圍。
【主權項】
1.一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，包括測試底座(I)、測試支座(5)、壓塊限位塊(6)、測試壓塊(7)、測試絕緣塊(8)、壓縮彈簧(9)、導向軸(10)和測試簧片(14);所述測試支座(5)通過三維調整機構連接在測試底座(I)上，壓塊限位塊(6)安裝在測試支座(5)的頂部，壓塊限位塊(6)中間開有槽口，所述測試壓塊(7)置于壓塊限位塊(6)的槽口內并能上下移動，壓塊限位塊(6)限制著測試壓塊(7)向上移動的行程;在測試支座(5)和壓塊限位塊(6)之間安裝有兩根豎向的導向軸(10)，所述測試壓塊(7)上設有兩個導孔，測試壓塊(7)通過其上的導孔與所述導向軸(10)構成滑動導向配合;壓縮彈簧(9)設置在測試支座(5)和測試壓塊(7)之間，壓縮彈簧(9)下端連接測試支座(5)，壓縮彈簧(9)上端連接測試壓塊(7)，測試壓塊(7)可沿導向軸(10)在壓縮彈簧(9)作用下上下往復移動;所述測試壓塊(7)頂部安裝著用于承托集成電路(16)的測試絕緣塊(8)，所述測試支座(5)前后兩側分別用簧片固定組件夾緊有一個用于與集成電路(16)引腳接觸的測試簧片(14)，兩個測試簧片(14)前后對稱。2.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，其特征在于:所述三維調整機構包括水平調節塊(2)、下豎直調節塊(3)和上豎直調節塊(4);所述水平調節塊(2)放置在測試底座(I)上并通過橫向調整組件和縱向調整組件與之連接;所述橫向調整組件安裝在測試底座(I)右端，橫向調整組件包括橫向調節螺栓(17.1)、橫向調節墊片(18.1)、橫向調節滑塊(19.1)和橫向定位銷(20.1)，所述測試底座(I)右端中部設有橫向滑槽，所述橫向調節滑塊(19.1)置于橫向滑槽內，所述橫向調節墊片(18.1)固定在測試底座(I)右端面上，所述橫向螺桿螺紋連接在橫向調節墊片(18.1)上，橫向調節螺桿內端與橫向調節滑塊(19.1)螺紋連接，橫向調節螺桿旋轉時帶動橫向調節滑塊(19.1)在橫向滑槽內左右滑動;所述橫向定位銷(20.1)下端固定在橫向滑塊上，橫向定位銷(20.1)上端活動插接在水平調節塊(2)上的銷孔內；所述橫向滑塊通過橫向定位銷(20.1)與水平調節塊(2)連接；所述縱向調整組件安裝在測試底座(I)側邊，縱向調整組件包括縱向調節螺栓(17.2)、縱向調節墊片(18.2)、縱向調節滑塊(19.2)和縱向定位銷(20.2)，所述測試底座(I)內設有縱向滑槽，所述縱向調節滑塊(19.2)置于縱向滑槽內，所述縱向調節墊片(18.2)固定在測試底座(I)側邊上，所述縱向螺桿螺紋連接在縱向調節墊片(18.2)上，縱向調節螺桿內端與縱向調節滑塊(19.2)螺紋連接，縱向調節螺桿旋轉時帶動縱向調節滑塊(19.2)在縱向滑槽內前后滑動;所述縱向定位銷(20.2)下端固定在縱向滑塊上，縱向定位銷(20.2)上端活動插接在水平調節塊(2)上的橫向腰形孔內；所述下豎直調節塊(3)通過第一螺栓(21)連接在水平調節塊(2)上，所述上豎直調節塊(4)通過第二螺栓(22)連接在下豎直調節塊(3)上，所述下豎直調節塊(3)上用于安裝第二螺栓(22)的孔為豎向腰形孔;所述測試支座(5)連接在上豎直調節塊(4)上。3.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，其特征在于:所述簧片固定組件包括簧片固定橫塊(11)和C型固定塊(12)，所述簧片固定橫塊(11)和簧片C型固定塊(12)分別固定連接在測試支座(5)側面，所述測試簧片(14)夾緊在簧片固定橫塊(11)、簧片C型固定塊(12)與測試支座(5)之間。4.如權利要求3所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，其特征在于:所述簧片固定橫塊(11)上加工有長槽，所述簧片C型固定塊(12)的橫框上安裝有兩件能夠左右移動調整的簧片卡塊(13)，兩件簧片卡塊(13)卡在測試簧片(14)兩側，通過左右橫移調整簧片卡塊(13)就可以微調測試簧片(14)的位置。5.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，其特征在于:所述壓塊限位塊(6)的槽口上方設有斜坡面且左右對稱。6.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，其特征在于:所述測試絕緣塊(8)的上表面設有凹槽，所述凹槽的前后邊內壁面均為斜坡面且相互對稱。7.如權利要求6所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，其特征在于:所述凹槽的前后邊內壁面均為弧形斜坡面。8.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路(16)測試分選機的測試夾具，其特征在于:所述測試壓塊(7)與測試絕緣塊(8)之間通過外輪廓卡緊固定。9.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路(16)測試分選機的測試夾具，其特征在于:所述測試壓塊(7)為非導電金屬材料，所述測試絕緣塊(8)為硬質塑料類非金屬材料。
【專利摘要】本發明涉及一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具。測試支座通過三維調整機構連接在測試底座上，壓塊限位塊安裝在測試支座的頂部，壓塊限位塊中間開有槽口，測試壓塊置于壓塊限位塊的槽口內并能上下移動；在測試支座和壓塊限位塊之間安裝有兩根豎向的導向軸，測試壓塊上設有兩個導孔，測試壓塊通過其上的導孔與導向軸構成滑動導向配合；壓縮彈簧設置在測試支座和測試壓塊之間，壓縮彈簧下端連接測試支座，壓縮彈簧上端連接測試壓塊；測試壓塊頂部安裝測試絕緣塊，測試支座前后兩側分別夾緊有一個測試簧片，兩個測試簧片前后對稱。本發明能自動對集成電路進行位置校正，保證集成電路引腳與測試簧片接觸良好，提高測試質量。
【IPC分類】G01R31/28
【公開號】CN105717441
【申請號】CN201610196039
【發明人】張佳佳, 張亞軍, 李丹, 張海清
【申請人】中科芯集成電路股份有限公司
【公開日】2016年6月29日
【申請日】2016年3月30日