量進行調整，W便得到不同厚度的檢測樣本(本發明共設計了24個檢測樣本），模具 可采用對X射線無衰減的特氣隆制作。
[0041] 第=，將上述制備所述的16個檢測標本置于X射線發射設備(可采用CT、DSA或者胃 腸機）和X射線檢測設備（可采用Siemens Somatom definition Flash CT、Siemens dTA DSA、Safire II胃腸機、Barracuda劑量儀)之間，分別進行下列試驗：
[0042] 1.按照射電壓分別為70^、80^、90^、100^、110^，相同照射時間（10011143)下的 X射線透過劑量檢測;得到每一濃度、每一涂布厚度在不同電壓下的X射線透過劑量，并與同 電壓下空曝射線劑量進行比較，得到該電壓下的最佳涂布厚度W便指導臨床應用；
[0043] 2.相同照射電壓（如70kV、SOkV、90kV、1 OOkV、11 OkV之中任一），不同照射時間（如 10mAs、40mAs、80mAs等）下的X射線透過劑量檢測;得到每一濃度、每一涂布厚度在不同照 射時間下的X射線透過劑量，并與同電壓下空曝射線劑量進行比較，得到該電壓下的最佳涂 布厚度W便指導臨床應用;試驗結果如附表1-8所示。
[0044] 第四，將檢測結果進行統計整理，得到不同照射電壓、不同照射時間下最佳霜型材 料涂布厚度，作業醫療操作規程使用。
[0045] 詳述如下：
[0046] 本發明主要分為兩大模塊：1、在CT和DSA設備下測量基于Bi2〇3防福射材料的各種 不同配備濃度、不同涂抹厚度在不同曝光條件下對X線衰減的關系；2、在CT和DSA設備下分 析比較Bi2〇3福射防護材料與鉛圍裙或鉛衣的X線福射防護能力。
[0047] 本發明使用實驗工具分別為：Siemens dTA DSA、Siemens Somatom definition Flash CT、Saf ire II胃腸機、Barracuda劑量儀（含CT和X線劑量檢測模塊）、Ca^hanSOOCT 標準劑量體模、多種規格的用于涂抹Bi2〇3的防福射材料體模、鉛圍裙，鉛衣等。每次實驗前， 均需對DSAXT和胃腸機設備的運行狀態進行檢查，并行人工校準操作，降低其他因數對實 驗數據產生不良影響。
[004引首先，探討Bi203福射防護材料與曝光條件化V、mAs)之間的關系。
[0049] CT: (1) kV設置為 120kV、1 OOkV、SOkV、70kV，保持HiAs、Bi2〇3材料厚度、濃度等參數不 變，研究kV的變化與Bi2〇3材料衰減能力之間的特性關系。（2)mAs設置為150、200、250、300、 350、400，保持kV、Bi2化材料厚度、濃度等其他參數不變，使用Bi2〇3材料包裹住Barracuda CT劑量儀，測量其被覆蓋前后接收到的福射劑量。
[00加]使用SIEMENS Somatom Definition Flash CT作為掃描設備，按照常規頭煩序列 掃描模式進行掃描，關閉化re Dose 4D和化re kV。準直寬度10mm，標準層厚10mm，重建矩陣 512X512，F0V 209mm，選擇SAFIRE迭代重建，迭代次數為3,重建算法為H30S medium smooth ,window為cerebrum, W常規頭煩曝光劑量120kV，200mAs作為基準值。獲得CT中的X 線劑量的變化與Bi2〇3材料衰減能力之間的關系；除了在Bi2〇3材料屏蔽前后劑量儀探測到 的CT劑量的變化，同時也可獲得空間分辨率、密度分辨率、均勻性、信噪比等指標，分析運些 指標與衰減特性之間的關系。
[0051] DSA或胃腸機:與CT檢測方法類似，kV設置為70^、80^、90^、100^、110^;減3設 置為1 OmAs、40mAs、SOmAs。采集時需利用X線測試體模獲得空間分辨率和密度分辨率指標 值。
[0052] 其次，探討Bi2〇3福射防護材料的福射防護能力與Bi2〇3濃度之間的關系。
[0053] 本發明通過改變Bi2〇3福射防護材料的濃度，濃度設置分別為40%、50%、60%、 70%，其余的掃描參數均保持不變，具體實施例的方法，檢測Bi2〇3濃度對其福射防護性能 的影響。
[0054] 第S，探討Bi2〇3福射防護材料涂層厚度對其福射防護能力的影響。
[0055] 本發明通過對Bi2〇3福射防護材料涂層厚度一個變量，涂層厚度分別設置為0.1mm、 0.2mm、0.3mm、0.4mm，其余的掃描參數均保持不變，具體參照實施例的方法，研究得到了 Bi2化涂層厚度對其福射防護性能的影響。
[0056] 本發明的方法還可用于分析比較Bi2〇3福射防護材料與鉛防護用品的福射防護能 力。
[0化7] 如圖6所示，使用鉛圍裙或鉛衣覆蓋住Barracuda劑量儀和化化hanSOO標準劑量體 模，并按照本發明的方法，對劑量儀和檢測模體進行掃描，并分別測量該情況下的劑量儀所 測的福射劑量，同時獲得化化hanSOO顯示的空間分辨率和密度分辨率;將Bi 2〇3福射防護材 料覆蓋住Barracuda劑量儀和化化hanSOO標準劑量體模，調節Bi2〇3福射防護材料的濃度與 厚度，可獲得相應的福射劑量、空間分辨率和密度分辨率的讀數。用SPSS16.0統計學軟件， 比較分析使用鉛防護用品和Bi2〇3福射防護材料下，福射劑量、空間分辨率和密度分辨率等 參數之間的統計學關系，研究鉛防護特性和Bi2〇3材料防護特性之間的關系。
[005引本發明的技術路線圖可參照圖5-6進行。
[0059] 本發明解決了 W下難題：
[0060] (1)配置不同濃度與厚度的Bi2〇3福射防護材料；
[0061] (2)制作符合實驗要求的Bi2〇3福射防護材料，可用于CT劑量檢測、DSA或胃腸機劑 量檢測對模體的包裹；
[0062] (3)確定Bi2〇3福射防護材料的濃度、厚度與福射劑量之間的關系；
[0063] (4)Bi2化福射防護用品的制備。
[0064] 表1 40%濃度氧化祕Safire胃腸機設置條件：固定mAs 200mA IOOrns變動KV
[0066]
[0067]
[0068] 表2 50 %濃度氧化祕Safire胃腸機設置條件：固定mAs 200mA 100ms變動KV
[0069]
[0070]
[0071] 勁 KV
[0072]
[0073]
[0074] 變動 KV
[0075]
[0076]
[0077] 表5厚度0.4mm 60%濃度氧化祕Safire胃腸機設置條件:固定80KV變動mAs
[007引
[0080] 表6厚度0.4mm 60%濃度氧化祕Safire胃腸機設置條件：固定IOOKV變動mAs 「nn只11 L UUU乙」
[0083] 表7厚度0.1mm 60%濃度氧化祕Safire胃腸機設置條件：固定120KV變動mAs
[0084]
[00化]表8厚度0.3mm 70%濃度氧化祕Safire胃腸機設置條件：固定70KV變動mAs「nnQ7l
[0085]
[0091]
[0092] 本發明未設及部分均與現有技術相同或可采用現有技術加 W實現。
【主權項】
1. 一種霜型材料對X線輻射防護性能檢測方法，其特征是它包括以下步驟： 首先，配制不同濃度的霜型材料； 其次，用每個濃度的霜型材料分別涂布在檢測模具中，得到不同厚度的檢測標本;不同 濃度的霜型材料制作所得的檢測標本的厚度對應相同； 第三，將每個濃度的檢測標本置于X射線發射設備和X射線檢測設備之間，分別進行下 列試驗：1. 不同照射電壓，相同照射時間下的X射線透過劑量檢測;得到每一濃度、每一涂布厚 度在不同電壓下的X射線透過劑量，并與同電壓下空曝射線劑量進行比較，得到該電壓下的 最佳涂布厚度以便指導臨床應用；2. 相同照射電壓，不同照射時間下的X射線透過劑量檢測;得到每一濃度、每一涂布厚 度在不同照射時間下的X射線透過劑量，并與同電壓下空曝射線劑量進行比較，得到該電壓 下的最佳涂布厚度以便指導臨床應用； 第四，將檢測結果進行統計整理，得到不同照射電壓、不同照射時間下最佳霜型材料涂 布厚度。2. 根據權利要求1所述的方法，其特征是所述的霜型材料為Bi-2〇3制劑。3. 根據權利要求1或2所述的方法，其特征是所述的霜型材料中Bi-2〇3的濃度的重量百 分比分別為40%、50%、60%、70%。4. 根據權利要求1或2所述的方法，其特征是所述的照射電壓分別為70kV、80kV、90kV、 1 OOkV、11 OkV;照射時間分別為 1 OmAs、40mAs、80mAs。5. 根據權利要求1或2所述的方法，其特征是所述的檢測標本的厚度分別為0.1mm、0.2 mm、0·3mm.0.4mm〇6. 根據權利要求1所述的方法，其特征是所述的檢測模具包括模底（1)和模蓋(2)，所述 的模底(1)設有一個形成涂布層的凹槽(3)，所述的模蓋(2)的內表面設有與所述凹槽(3)相 配的凸起(5)，凹槽(3)的濃度減去凸起(5)的高度即為涂布層的厚度;所述的模蓋(2)上設 有貫通上下面的上排氣孔(4)。7. 根據權利要求6所述的的方法，其特征是所述的凸起(5)壓入凹槽(3)中后至少有一 面留有供霜型材料逸出的間隙。8. 根據權利要求6所述的的方法，其特征是所述的模底上的凹槽深度尺寸不變，模蓋呈 系列化布置，不同模蓋上的凸起(5)的高度不同，或者模蓋上的凸起(5)的高度通過增加或 減少疊片數量進行調整，以便得到不同厚度的檢測樣本。9. 根據權利要求6所述的的方法，其特征是所述的模蓋上的凸起高度不變，模底上的凹 槽呈系列化布置，不同模底上的凹槽的深度不同，或者模底上的凹槽的深度通過增加或減 少疊片數量進行調整，以便得到不同厚度的檢測樣本。10. 根據權利要求8或9所述的的方法，其特征是所述的疊片的厚度為0.1 mm。
【專利摘要】一種霜型材料對X線輻射防護性能檢測方法，其特征是它包括以下步驟：首先，配制不同濃度的霜型材料；其次，用每個濃度的霜型材料分別涂布在檢測模具中，得到不同厚度的檢測標本；不同濃度的霜型材料制作所得的檢測標本的厚度對應相同；第三，將每個濃度的檢測標本置于X射線發射設備和X射線檢測設備之間，分別進行試驗；第四，將檢測結果進行統計整理，得到不同照射電壓、不同照射時間下最佳霜型材料涂布厚度。本發明方法簡單，易于實現。
【IPC分類】G01N23/02
【公開號】CN105717141
【申請號】CN201610090820
【發明人】盧光明, 湯黎明, 曹新志, 許建, 張龍江, 黃偉, 張弢, 匡皓
【申請人】中國人民解放軍南京軍區南京總醫院, 蘇州愛瑞德醫療科技有限公司
【公開日】2016年6月29日
【申請日】2016年2月18日