一種電解電容的在路測試裝置及方法
【技術領域】
[0001] 本發明涉及電子電路技術領域，具體地，涉及一種電解電容的在路測試裝置及方 法。
【背景技術】
[0002] 電子設備，是指由集成電路、晶體管、電子管等電子元器件組成，應用電子技術甚 至軟件發揮作用的設備。
[0003] 電解電容作為一種電氣元器件，其中，金屬箱（例如：鋁或鉭)為正極，與正極緊貼 金屬的氧化膜(例如:氧化鋁或五氧化二鉭)是電介質，負極由導電材料、電解質（可以是液 體或固體)和其他材料共同組成;電解電容的正、負極不可接錯。
[0004] 眾所周知，電解電容是電子設備中故障率最高、壽命和可靠性最差的元件之一，而 電解電容的壽命在很多時候決定了電子設備的使用壽命。長久以來，廣大電子工程師普遍 缺乏一種有效判別電解電容好壞以及查看電解電容屬性參數的檢測工具。
[0005] 現有技術中，存在測量難度大、可靠性低和影響設備正常使用等缺陷。
【發明內容】
[0006] 本發明的目的在于，針對上述缺陷，提出一種電解電容的在路測試裝置及方法，以 實現電解電容的在路測試。
[0007] 本發明一方面提供一種電解電容的在路測試裝置，包括:放電檢測單元、參數檢測 單元和數據處理單元，其中，所述放電檢測單元，被配置為:對在路的待測電解電容進行放 電處理，以確定所述電解電容放電完成;所述參數檢測單元，連接于所述放電檢測單元，且 被配置為:在所述電解電容放電完成后，對所述電解電容進行檢測處理，以獲取相應參數； 所述數據處理單元，連接于所述參數檢測單元，且被配置為:基于獲取的所述參數，進行數 據處理，以獲取用戶所需參數值。
[0008] 優選地，所述放電檢測單元，包括:放電電阻和指示燈，其中，所述放電電阻，被配 置為:對所述電解電容進行放電處理，且其阻值與所述電解電容的容量適配;所述指示燈， 連接于所述放電電阻，且被配置為：當所述電解電容通過所述放電電阻放電完成時，顯示第 一狀態;否則顯示第二狀態。
[0009] 優選地，所述放電電阻，具有阻值調節檔位，以在放電處理時根據所述電解電容的 容量適配地調節其阻值。
[0010] 優選地，所述參數檢測單元，包括:漏電流檢測支路和/或容量檢測支路和/或阻抗 檢測支路和/或損耗角正切值檢測支路，其中，所述漏電流檢測支路，被配置為：當所述參數 包括漏電流時，對所述電解電容的漏電流進行檢測;所述容量檢測支路，被配置為：當所述 參數包括容量時，對所述電解電容的容量進行檢測;所述阻抗檢測支路，被配置為：當所述 參數包括阻抗時，對所述電解電容的阻抗進行檢測；所述損耗角正切值檢測支路，被配置 為:當所述參數包括損耗時，對所述電解電容的損耗角正切值進行檢測。
[0011] 優選地，所述漏電流檢測支路，包括：串電阻檢測電路，且所述串電阻檢測電路被 配置為:基于串電阻檢測電路電流法檢測所述電解電容的漏電流;和/或，所述容量檢測支 路和所述損耗角正切值檢測支路，均包括：電橋，且所述電橋被配置為:基于電橋測試原理 檢測所述電解電容的容量和/或損耗角正切值;和/或，所述阻抗檢測支路，包括:諧波注入 電路和電量檢測電路;其中，所述諧波注入電路，被配置為：向所述電解電容的阻抗注入預 設頻率的測試信號;所述電量檢測電路，被配置為:基于注入的所述測試信號，檢測所述電 解電容所在電路中的電量變化信息。
[0012]優選地，所述數據處理單元，包括:MUC和電源，其中，所述MUC，連接于所述參數檢 測單元，且被配置為:基于獲取的所述參數，進行運算，以獲取用戶所需參數值;所述電源， 連接于所述MUC，以進行供電。
[0013] 優選地，所述數據處理單元，還包括：顯示屏，其中，所述顯示屏，連接于所述MUC， 且被配置為對所述MUC的運算過程和/或獲取的所述參數值進行顯示和/或輸出。
[0014] 與上述裝置相匹配，本發明另一方面提供一種電解電容的在路測試方法，包括:基 于以上所述的電解電容的在路測試裝置，對所述電解電容進行在路測試。
[0015] 優選地，對所述電解電容進行在路測試，包括:1)對在路的所述電解電容進行放電 處理，以確定所述電解電容放電完成;2)在所述電解電容放電完成后，對所述電解電容進行 檢測處理，以獲取相應參數;3)基于獲取的所述參數，進行數據處理，以獲取用戶所需參數 值。
[0016] 優選地，步驟2)包括:采用電橋測試原理，根據所述電解電容的電容值大小，選擇 適配的測試量程和測試頻率后，將所述電橋的正負極夾子對應連接于所述電解電容的正負 極，以檢測所述電解電容的容量和損耗;和/或，采用串電阻檢測電路電流法，將所述電解電 容的在路測試裝置的輸出電壓調節至所述電解電容的額定電壓后，設置穩定時間并連接所 述電解電容，以檢測所述穩定時間內所述電解電容的漏電流;和/或，采用預設頻率的諧波 注入法，向所述電解電容注入預設頻率的測試信號，通過檢測所述電解電容所在電路中的 電量變化信息，檢測所述電解電容的阻抗。
[0017] 本發明的方案，通過在路測試，可實現對電解電容放電、充電，可檢測電解電容容 量、漏電流、阻抗、損耗角正切等關鍵參數，對于電解電容檢測和售后有很大的幫助;并且， 便于攜帶，整機靜態電流小，20V電池供電，可以充電；測試頻率覆蓋100Hz到100kHz;具備DC 輸入電壓保護功能，防止帶電電容損傷儀器。
[0018] 進一步，本發明的方案，通過電解電容在路測試相關屬性(例如：可測試電解電容 的容量、漏電流、阻抗、損耗角正切），可實現在路測量，無需將元件拆下，大幅提升檢測效 率，可以提高工作效率和分析能力;并且，具備電容放電功能，并檢測電容是否完全放電；測 試結果精度高，誤差控制< 5% ;可在路測量，無需將元件拆下，大幅提升檢測效率。
[0019] 由此，本發明的方案解決通過電解電容的在路測試，提高測試效率、減小測試難度 的問題，從而，克服現有技術中測量難度大、可靠性低和影響設備正常使用的缺陷，實現測 量難度小、可靠性高和不影響設備正常使用的有益效果。
[0020] 本發明的其它特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變 得顯而易見，或者通過實施本發明而了解。
[0021] 下面通過附圖和實施例，對本發明的技術方案做進一步的詳細描述。
【附圖說明】
[0022] 附圖用來提供對本發明的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本發明的實 施例一起用于解釋本發明，并不構成對本發明的限制。在附圖中：
[0023] 圖1為本發明的電解電容的在路測試裝置的一實施例的結構示意圖；
[0024]圖2為本發明的電解電容的在路測試裝置的一實施例的測試結果表；
[0025] 圖3為本發明的電解電容的在路測試裝置中顯示界面的一實施例的結構示意圖；
[0026] 圖4為本發明的電解電容的在路測試裝置中串電阻檢測電路的一實施例的結構示 意圖；
[0027] 圖5為本發明的電解電容的在路測試裝置中顯示界面的另一實施例的結構示意 圖；
[0028] 圖6為本發明的電解電容的在路測試裝置中電橋的一實施例的結構示意圖。
[0029] 結合附圖，本發明實施例中附圖標記如下：
[0030] 100-待測電解電容；200-放電檢測單元；300-參數檢測單元;302-漏電流檢測支 路;304-容量檢測支路;306-阻抗檢測支路;308-損耗角正切值檢測支路;400-數據處理單 元;402-顯示屏;404-MCU; 406-電源；500-直流電源；502-電流傳感器;504-限流電阻；506-待測電容。
【具體實施方式】
[0031] 為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明具體實施例及 相應的附圖對本發明技術方案進行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實施例僅是本發明一 部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做 出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0032] 根據本發明的實施例，如圖1所示，提供了一種電解電容的在路測試裝置。該電解 電容的在路測試裝置包括:放電檢測單元200、參數檢測單元300和數據處理單元400,其中， 所述放電檢測單元200,被配置為:對在路的待測電解電容100進行放電處理，以確定所述電 解電容100放電完成;所述參數檢測單元300，連接于所述放電檢測單元200，且被配置為:在 所述電解電容100放電完成后，對所述電解電容100進行檢測處理，以獲取相應參數;所述數 據處理單元400，連接于所述參數檢測單元300，且被配置為:基于獲取的