一種用于集成電路測試的系統及其掃描測試及顯示方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及集成電路測試領域，尤其是指一種用于集成電路測試的系統及其掃描測試及顯示方法。
【背景技術】
[0002]集成電路測試是集成電路生產中的重要一環，測試準確性和測試效率直接影響產品的質量和成本；量產測試前進行產品測試參數調試耗時耗力，調試過程中示波器是必備工具，需要根據示波器的讀數調整測試參數相關值。
[0003]工程師對集成電路測試機的測試電路和測試程序進行調試時，希望具有比示波器更簡單的工具，能夠觀察參數實時結果，提高調試效率。
[0004]中華人民共和國國家知識產權局于2012年05月23日公開了名稱為“一種用波形顯示測量結果的數字萬用表”的專利文獻(公告號:CN102466745A)，其中公開的波形顯示測量結果的數字萬用表，具有數值測量和波形顯示的功能，集合了一部分萬用表和示波器的功能，但不能直接用于集成電路測試時的實時電路參數數值采集、計算和顯示。
【發明內容】
[0005]本發明的目的是克服現有技術中集成電路不能實時測試，調試效率較低的缺點，提供一種用于集成電路測試的系統及其掃描測試及顯示方法，通過該系統及方法集成電路的參數可以直接采集并實時顯示。
[0006]本發明的目的是通過下述技術方案予以實現:
一種用于集成電路測試的系統的掃描測試及顯示方法，包括以下步驟:
步驟1，電路測試單元測量并采集集成電路參數，集成電路參數為時序數據；
步驟2，模數轉換單元將采集的集成電路參數進行模數轉換；
步驟3，主控芯片單元將模數轉換后的集成電路參數進行存儲并傳遞給電路參數顯示模塊的通信單元；
步驟4，通信單元將采集的集成電路參數發送至運算單元，運算單元對集成電路參數進行運算加工；
步驟5，顯示單元接收運算單元運算加工后的集成電路參數并顯示。
[0007]模數轉換單元采用兩組16位模數轉換芯片進行模數轉換，故采集電路參數時序數值時不影響速度和準確性，通信單元負責獲取時序數據，運算單元對時序數據進行波形繪制，然后通過顯示單元顯示時序數據的數值和波形。
[0008]作為一種優選方案，步驟I具體為電路測試單元以設定值為步距采集至少50個點，則集成電路參數為O到步距與至少50個點的乘積的時間內的電路參數時序數據。至少50個點的數據保證了數據的準確性。
[0009]作為一種優選方案，設定值的范圍為5us至20us，采集的數量為至少500個點。此設計保證了數據的準確性的同時又避免了數據量過大影響效率。
[0010]作為一種優選方案，步驟4具體為通信單元將采集的集成電路參數發送至運算單元，運算單元計算出電路參數時序數據的最大值、最小值、超調量和穩定時間，并進行圖形運算繪制波形圖。
[0011]作為一種優選方案，用于集成電路測試的系統的掃描測試及顯示方法還包括步驟6，顯示單元還顯示集成電路參數的理論波形圖，并將理論波形圖的每個點的數值的±5-10%作為誤差，再將實際的波形圖和理論波形圖做比較，若實際的波形圖在誤差范圍內，則表示集成電路合格，若實際的波形圖超出誤差范圍，則表示集成電路不合格。
[0012]此方法可以用來快速直觀判定集成電路是否合格，具體的誤差范圍可以由相關操作人員調節。
[0013]作為一種優選方案，用于集成電路測試的系統的掃描測試及顯示方法還包括步驟7，顯示單元顯示一條與X軸平行的且以理論波形圖最大值上浮5%為數值的直線，若實際的波形圖最大值未超過直線，則表示集成電路合格，若實際的波形圖最大值超過直線，則表示集成電路不合格。
[0014]最大值上浮的數值應小于理論波形圖的誤差，因為最大值的誤差應較小，防止集成電路的元器件的擊穿問題。
[0015]作為一種優選方案，用于集成電路測試的系統的掃描測試及顯示方法還包括步驟8，顯示單元顯示一條與Y軸平行的且以理論波形圖穩定時間值延遲若干時間為數值的第一直線，顯示單元還顯示一條與Y軸平行的且以理論波形圖穩定時間值提早若干時間為數值的第二直線，若實際的波形圖穩定時間值在第一直線和第二直線之間，則表示集成電路合格，若實際的波形圖穩定時間值不在第一直線和第二直線之間，則表示集成電路不合格。
[0016]此設計用于檢測集成電路的穩定時間是否合格，進一步提高了集成電路是否合格的準確判斷率。
[0017]—種用于集成電路測試的系統，包括電路參數采集模塊和電路參數顯示模塊，電路參數采集模塊包括電路測試單元、模數轉換單元和主控芯片單元，電路參數顯示模塊包括通信單元、運算單元和顯示單元，電路測試單元和模數轉換單元相連接，模數轉換單元與主控芯片單元相連接，主控芯片單元與通信單元通信連接，通信單元與運算單元相連接，運算單元與顯示單元相連接。
[0018]本發明的有益效果是，用于集成電路測試的系統及其掃描測試及顯示方法能使集成電路時序數據實時顯示，顯示的內容包括波形以及時序數據的最大值、最小值、超調量和穩定時間等，并且該系統及方法能實時判定被檢測電集成電路是否合格，檢測方法方便快捷。
【附圖說明】
[0019]圖1是本發明的一種電路原理連接圖；
其中:1、電路參數采集模塊，2、電路參數顯示模塊，11、電路測試單元，12、模數轉換單元，13、主控芯片單元，21、通信單元，22、運算單元，23、顯示單元。
【具體實施方式】
[0020]下面結合附圖和實施例對本發明進一步描述。
[0021]實施例:一種用于集成電路測試的系統，其電路原理連接圖如圖1所示，包括電路參數采集模塊I和電路參數顯示模塊2，電路參數采集模塊包括電路測試單元11、模數轉換單元12和主控芯片單元13，電路參數顯示模塊包括通信單元21、運算單元22和顯示單元23，電路測試單元和模數轉換單元相連接，模數轉換單元與主控芯片單元相連接，主控芯片單元與通信單元通信連接，通信單元與運算單元相連