被檢物質檢測方法
【專利說明】被檢物質檢測方法 【技術領域】
[0001] 本發明涉及被檢物質檢測方法。 【【背景技術】】
[0002] 作為檢測作為樣品中所含的活體關聯物質的被檢物質的方法，例如，已知使用被 檢物質、特異性地識別所述被檢物質的特異性結合物質和金屬微粒子，利用生物學相互作 用（例如抗原抗體反應等）將對應于被檢物質的量的量的金屬微粒子蓄積到作用電極的表 面近傍，通過電化學測定蓄積的金屬微粒子的量，檢測被檢物質的方法（參照例如，美國專 利申請公開第2009/159458號說明書及日本專利第4915740號公報）。
[0003] 在美國專利申請公開第2009/159458號說明書中公開了，利用生物學相互作用將 對應于被檢物質的量的量的金微粒子蓄積到作用電極的表面近傍后，電化學氧化蓄積的金 微粒子而使其溶出，通過測定還原溶出的金離子時的電流，檢測被檢物質的方法。另外，在 日本專利第4915740號公報中記載了，利用生物學相互作用將對應于被檢物質的量的量的 銀微粒子蓄積到作用電極的表面近傍后，電化學氧化蓄積的銀微粒子而使其溶出，還原溶 出的銀離子而在作用電極表面析出，測定使析出的銀電化學氧化時的電流的方法。 【
【發明內容】
】
[0004] 【發明要解決的技術課題】
[0005] 本發明鑒于上述以往技術的實情而進行，旨在提供可精確檢測被檢物質的被檢物 質檢測方法。
[0006] 【解決課題的技術方案】
[0007] 本發明人通過使用如以往一樣用于清洗，不作為測定溶液使用的溶液（以下，在 本說明書中也稱為"清洗專用液"），發現測定結果發生偏差。于是，本發明人開發了可作為 清洗液使用，并且也可作為測定溶液使用的溶液，由所述溶液成功地抑制測定結果的偏差， 精確測定。
[0008] 即，本發明的被檢物質檢測方法，在1個側面，是使用作用電極和對極檢測樣品中 所含的被檢物質的被檢物質檢測方法（以下也稱為"檢測方法1"）。
[0009] 此方法包括：
[0010] (A)在作用電極上形成含上述樣品中所含的被檢物質和金屬微粒子的復合物的工 序、
[0011] (B)清洗上述作用電極的工序、
[0012] (C)向上述作用電極添加測定溶液，將上述作用電極上的復合物中所含的金屬微 粒子引起的電流、電壓或電荷由電化學測定法在上述測定溶液中測定的工序、及
[0013] (D)基于上述工序（C)中得到的測定結果，檢測上述樣品中的被檢物質的工序。
[0014] 在此方法中，上述工序（B)是使用有與上述工序（C)中使用的測定溶液相同的組 成的測定溶液清洗作用電極的工序。
[0015] 另外，上述測定溶液是，基于上述金屬微粒子及上述作用電極的ζ電位，設定為 下列pH的溶液：
[0016] ?上述金屬微粒子和上述作用電極之間不發生靜電相互作用的pH ;或者
[0017] ?在上述金屬微粒子和上述作用電極之間發生靜電斥力的pH。
[0018] 由上述檢測方法1，在上述工序（B)中，由于使用有與上述工序（C)中使用的測定 溶液相同的組成的測定溶液清洗作用電極，從而可不使用清洗專用液，以簡便的操作檢測 被檢物質。再者通過抑制清洗專用液殘留而發生的金屬微粒子的電化學測定中使用的測定 溶液的組成或濃度的變動，可抑制被檢物質的檢測的精度的偏差的發生。
[0019] 另外，由上述檢測方法1而以往使用的清洗專用液和測定溶液通用，不需要所述 清洗專用液，從而可降低必要的試劑的種類。從而，由上述檢測方法1而使測定操作簡便 化，可防人為的試劑的處理失誤等。
[0020] 再者，由檢測方法1，作為上述測定溶液，使用基于上述金屬微粒子及上述作用電 極的ζ電位，設定為在上述金屬微粒子和上述作用電極之間不發生靜電相互作用的pH或 在上述金屬微粒子和上述作用電極之間發生靜電斥力的pH的溶液，從而可抑制成為發生 噪聲的原因的非特異性的金屬微粒子的向作用電極的吸附，可確保充分的檢測靈敏度。
[0021] 在上述檢測方法1中，上述金屬微粒子和上述作用電極之間不發生靜電相互作用 的pH或上述金屬微粒子和上述作用電極之間發生靜電斥力的pH優選是上述金屬微粒子的 ζ電位和上述作用電極的ζ電位成為同符號的電位的pH。
[0022] 另外，在上述檢測方法1中，上述測定溶液的pH優選是3.5以上。
[0023] 本發明的被檢物質檢測方法在另一側面，是使用作用電極和對極檢測樣品中所含 的被檢物質的被檢物質檢測方法（以下也稱為"檢測方法2"）。
[0024] 此方法包括
[0025] (A)在作用電極上形成含上述樣品中所含的被檢物質和金屬微粒子的復合物的工 序、
[0026] (B)清洗上述作用電極的工序、
[0027] (C)向上述作用電極添加測定溶液，將上述作用電極上的復合物中所含的金屬微 粒子引起的電流、電壓或電荷由電化學測定法在上述測定溶液中測定的工序、及
[0028] (D)基于上述工序（C)中得到的測定結果，檢測上述樣品中的被檢物質的工序。
[0029] 在此方法中，上述工序（B)是使用有與上述工序（C)中使用的測定溶液相同的組 成的測定溶液清洗作用電極的工序。
[0030] 另外，在此方法中，上述測定溶液的pH是3. 5以上。
[0031] 由上述檢測方法2,在上述工序（B)中，由于使用有與上述工序（C)中使用的測 定溶液相同的組成的測定溶液清洗作用電極，從而可得到與上述檢測方法1同樣的作用效 果。
[0032] 另外，由上述檢測方法2,由于使用3. 5以上的測定溶液，可抑制成為發生噪聲的 原因的非特異性的金屬微粒子的向作用電極的吸附，可確保充分的檢測靈敏度。
[0033] 在上述檢測方法2中，上述作用電極優選含碳。
[0034] 在上述檢測方法1及2中，上述金屬微粒子優選是含選自金、銀、銅、鉑及銦的至少 1種金屬的微粒子。
[0035] 另外，在上述檢測方法1及2中，上述電化學測定法優選是選自微分脈沖伏安法、 循環伏安法及計時電流測定法的方法。
[0036] 再者，在上述檢測方法1及2中，在上述工序（C)中，優選在上述作用電極的表面 析出集合于上述作用電極的金屬微粒子的金屬，析出的金屬離子供于氧化還原反應，測定 上述氧化還原反應時發生的電流、電壓或電荷。
[0037]【發明效果】
[0038] 由本發明的被檢物質檢測方法可精確檢測被檢物質。 【【附圖說明】】
[0039] 【圖1】是顯示本發明之一實施方式中涉及的被檢物質檢測方法中使用的檢測裝置 的斜視圖。
[0040] 【圖2】是顯示圖1所示的檢測裝置的構成的框圖。
[0041] 【圖3】是顯示本發明之一實施方式中涉及的被檢物質檢測方法中使用的電極基板 的正面圖。
[0042] 【圖4】是顯示圖3所示的電極基板的要部的構成的斜視圖。
[0043] 【圖5】是顯示本發明之一實施方式中涉及的被檢物質檢測方法的處理順序的工序 說明圖。
[0044] 【圖6】是顯示本發明之一實施方式中涉及的被檢物質檢測方法的測定工序中的處 理順序的工序說明圖。
[0045] 【圖7】（A)是顯示在試驗例1中研究在石墨及固定化抗體的石墨各自的ζ電位 (ζ電位）和測定溶液的pH的關系的結果的坐標圖、（Β)是顯示在試驗例1中研究標記復 合物的ζ電位（ζ電位）和測定溶液的pH的關系的結果的坐標圖。
[0046] 【圖8】㈧是顯示在試驗例2中研究在作用電極的表面近傍集合的標記復合物中 的銀微粒子引起的電流和測定溶液的pH的關系的結果的坐標圖、（B)是顯示在試驗例2中 研究在作用電極的表面近傍集合的標記復合物中的銀微粒子的測定時的信號對噪聲比和 測定溶液的pH的關系的結果的坐標圖。
[0047] 【圖9】是顯示在試驗例3中研究在作用電極的表面近傍集合的標記復合物中的銀 微粒子引起的電流和用清洗專用液的清洗及用鹽酸水溶液的清洗各自的關系的結果的坐 標圖。
[0048] 【圖10】是顯示在試驗例4中研究在作用電極的表面近傍集合的標記復合物中的 銀微粒子引起的電流和用清洗專用液的清洗及用氯化鉀水溶液的清洗各自的關系的結果 的坐標圖。
[0049] 【圖11】是顯示在試驗例5中研究在作用電極的表面近傍集合的標記復合物中的 銀微粒子引起的電流和用清洗專用液的清洗及用氯化鈉水溶液的清洗各自的關系的結果 的坐標圖。
[0050] 【圖12】是顯示在試驗例6中進行由清洗專用液的清洗之時的測定結果的偏差和 進行由測定溶液的清洗之時的測定結果的偏差的坐標圖。
[0051] 【圖13】是顯示在試驗例7中研究進行由鹽酸水溶液的清洗之時的在作用電極的 表面近傍集合的標記復合物中的銀微粒子引起的電流及進行由氯化鈉水溶液的清洗之時 的在作用電極的表面近傍集合的標記復合物中的銀微粒子引起的電流各自和HBs抗原的 量的關系的結果的坐標圖。
[0052] 【圖14】是顯示在試驗例8中研究進行由測定溶液的清洗之時的在作用電極的表 面近傍集合的標記復合物中的銀微粒子引起的電流和CRP(C反應性蛋白）濃度的關系的結 果的坐標圖。
[0053] 【圖15】是顯示在試驗例9中研究使用高濃度的標記結合物質、并且進行由測定溶 液的清洗之時的在作用電極的表面近傍集合的標記復合物中的銀微粒子引起的電流和CRP 濃度的關系的結果的坐標圖。
[0054] 【圖16】是顯示在試驗例10中研究在作用電極的表面近傍集合的標記復合物中的 銀微粒子的測定時的信號對噪聲比和測定溶液的pH的關系的結果的坐標圖。
[0055] 【實施方式】
[0056] 以下參照附圖詳述本發明的優選的實施方式。
[0057][檢測裝置的構成]
[0058] 首先，由【附圖說明】本發明之一實施方式中涉及的被檢物質檢測方法中使用的檢測 裝置之一例。
[0059] 在圖1中，檢測裝置1具備插入電極基板30的基板受入部11和表示檢測結果的 顯示器12。
[0060] 檢測裝置1，如圖2所示，具備顯示器12、電流計13、電源14、A/D變換部15和控 制部16。
[0061] 電流計13測定作為標記物質的金屬微粒子的氧化或還原時發生的電流。電源14 對于設在電極基板30的電極施加指定的電位。A/D變換部15由電流計13對測定的電流 值進行數字變換。控制部16由CPU (中央處理器）、ROM (只讀存儲器）、RAM (隨機存儲器） 等構成。此控制部16控制顯示器12、電流計13及電源14的動作。另外，控制部16也可從 由A/D變換部15數字變換的電流值，基于顯示預先制成的電流值和作為標記物質的金屬微 粒子的量的關系的標準曲線，概算標記物質的量，算出被檢物質的量。顯示器12表示在控 制部16概算的被檢物質的量等的信息。
[0062][電極基板的構成]
[0063] 接下來，說明本發明之一實施方式中涉及的被檢物質檢測方法中使用的電極基板 30的構成。
[0064] 電極基板30,如圖3及圖4所示，具備基板本體30a、作用電極61、對極63和參照 電極65。在基板本體30a的表面形成作用電極61、與此作用電極61連接的電極蓋71、對 極63、與此對極63連接的電極蓋73、參照電極65、與此參照電極65連接的電極蓋75。這 些的電極蓋71、73