介電阻抗譜儀樣品夾具的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及儀器測定領域，尤其是涉及一種介電阻抗譜儀樣品夾具。
【背景技術】
[0002]寬頻介電譜儀不但可以測量各種固體、薄膜材料，還可以測量液體，粉末等樣品材料;廣泛應用于化學、物理化學、電化學、電子、電工工程、材料科學、生物學和制藥等領域，特別是聚合物、樹脂、陶瓷、橡膠、玻璃、液晶、石油及懸浮體等材料的研究。
[0003]寬頻介電譜儀主要用于測量電介質材料或絕緣材料的介電參數、電氣參數，如介電常數、電阻、電容、電導率等，其主要研究對象之一是具有一定極性的高分子體系。高分子材料的玻璃化溫度普遍較高，在室溫下較軟，容易變形，且表面粗糙。介電譜儀要求測試的樣品具有較高的光滑度，能與外接電極完美結合。現有技術常用的制樣方法包括熱壓、冷壓、滴膜等。這幾種方法制備出的樣品表面比較粗糙，需要在樣品表面涂抹銀漿或噴金以提高其與電極的接觸。經過這樣處理的樣品，可以顯著提高測試結果的精度，但也存在幾點不足:(I)涂抹銀漿容易造成樣品的短路，使實驗失敗。(2)涂抹銀漿或噴金的樣品不易計算面積，會對測試結果造成二次誤差。(3)噴金樣品制備程序復雜，極大的增加了測試成本。(4)涂銀漿或噴金的樣品無法進行高溫測試，會污染電極。尤其是對于極性較弱樣品的測定，誤差較大。
【發明內容】
[0004]有鑒于此，本發明要解決的技術問題在于提供一種介電阻抗譜儀樣品夾具，本發明提供的樣品夾具柔性好、與樣品能夠很好的接觸，無需在樣品表面涂抹銀漿或噴金即可測定。
[0005]本發明提供了一種介電阻抗譜儀樣品夾具，包括:
[0006]上附加電極和下附加電極;所述上附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成;所述下附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成。
[0007]優選的，所述上附加電極和下附加電極采用同種橡膠制成。
[0008]優選的，所述上附加電極厚度為0.5?3mm。
[0009]優選的，所述下附加電極厚度為0.5?3_。
[0010]優選的，所述上附加電極的直徑為5?40mm。
[0011 ]本發明提供了一種介電阻抗譜儀測試夾具，包括:
[0012]電極和樣品夾具；
[0013]所述電極包括上電極和下電極；
[0014]所述樣品夾具包括上附加電極和下附加電極；
[0015]所述樣品夾具置于上電極和下電極之間；
[0016]所述上附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成;所述下附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成。
[0017]優選的，所述上電極選自銅電極或鍍金銅電極。
[0018]優選的，所述下電極選自銅電極或鍍金銅電極。
[0019]本發明提供了一種介電阻抗譜儀，包括上述技術方案所述的樣品夾具或上述技術方案所述的測試夾具。
[0020]與現有技術相比，本發明提供了一種介電阻抗譜儀樣品夾具，包括:上附加電極和下附加電極;所述上附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成;所述下附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成。本發明提供的介電阻抗譜儀樣品夾具的上附加電極和下附加電極采用的特定橡膠，柔性好，使得對于極性較低樣品也可以很好的接觸，從而無需涂覆銀漿或噴金即可進行準確的測定。
【附圖說明】
[0021]圖1為本發明實施例1使用本發明電極測定樣品的介電常數結果圖；
[0022]圖2為本發明實施例1使用鍍金銅電極測定樣品的介電常數結果圖；
[0023]圖3為本發明實施例2使用本發明電極測定樣品的介電常數結果圖；
[0024]圖4為本發明實施例2使用鍍金銅電極測定樣品的介電常數結果圖；
[0025]圖5為本發明實施例3使用本發明電極測定樣品的介電常數結果圖；
[0026]圖6為本發明實施例3使用鍍金銅電極測定樣品的介電常數結果圖；
[0027]圖7為本發明實施例4使用本發明電極測定樣品的介電常數結果圖；
[0028]圖8為本發明實施例4使用鍍金銅電極測定樣品的介電常數結果圖。
【具體實施方式】
[0029]本發明提供了一種介電阻抗譜儀樣品夾具，包括:
[0030]上附加電極和下附加電極;所述上附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成;所述下附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成。
[0031]本發明提供的介電阻抗譜儀樣品夾具包括上附加電極和下附加電極，所述上附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成;所述下附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成。
[0032]在本發明中，優選的，所述上附加電極和下附加電極采用同種橡膠制成。
[0033]在本發明中，所述上附加電極的厚度優選為0.5?3mm，所述下附加電極厚度優選為0.5?3mm。
[0034]本發明對于所述上附加電極和下附加電極的形狀不進行限定，可以為圓形，也可以為方形或其他形狀。
[0035]當上附加電極為圓形時，直徑優選為5?40mm;當上附加電極為方形時，所述寬度優選為5?40mm。
[0036]在本發明中，按照本領域技術人員的公知常識，所述上附加電極的直徑/寬度一般情況下小于、等于待測樣品的直徑/寬度，也可以略大于。區別在于，當往測試軟件中輸入樣品尺寸時，如果上附加電極直徑/寬度小于樣品直徑/寬度且樣品表面沒有導電層的時候，此時，計算時按照上附加電極的實際覆蓋面積計算面積。
[0037]在本發明中，所述下附加電極的大小和形狀不進行限定，大于等于上附加電極即可。
[0038]在本發明中，所述上附加電極的制備方法優選為:將銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種采用特定模具進行模壓或采用切割的方式得到所需形狀和大小即可。
[0039]在本發明中，所述下附加電極的制備方法優選為:將銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種采用特定模具進行模壓或采用切割的方式得到所需形狀和大小即可。
[0040]測定時，待測樣品置于上附加電極和下附加電極之間。
[0041 ]本發明提供了一種介電阻抗譜儀測試夾具，包括:
[0042]電極和樣品夾具；
[0043]所述電極包括上電極和下電極；
[0044]所述樣品夾具包括上附加電極和下附加電極；
[0045]所述樣品夾具置于上電極和下電極之間；
[0046]所述上附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成;所述下附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成。
[0047]本發明提供的介電阻抗譜儀測試夾具包括樣品夾具，所述介電阻抗譜儀樣品夾具包括上附加電極和下附加電極，所述上附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成;所述下附加電極由銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的一種制成。
[0048]在本發明中，優選的，所述上附加電極和下附加電極采用同種橡膠制成。
[0049]在本發明中，所述上附加電極的厚度優選為0.5?3mm，所述下附加電極厚度優選為0.5?3mm。
[0050]本發明對于所述上附加電極和下附加電極的形狀不進行限定，可以為圓形，也可以為方形或其他形狀。
[0051]當上附加電極為圓形時，直徑優選為5?40mm;當上附加電極為方形時，所述寬度優選為5?40mm。
[0052]在本發明中，按照本領域技術人員的公知常識，所述上附加電極的直徑/寬度一般情況下小于、等于待測樣品的直徑/寬度，也可以略大于。區別在于，當往測試軟件中輸入樣品尺寸時，如果上附加電極直徑/寬度小于樣品直徑/寬度且樣品表面沒有導電層的時候，此時，計算時按照上附加電極的實際覆蓋面積計算面積。
[0053]在本發明中，所述下附加電極的大小和形狀不進行限定，大于、等于上附加電極即可。
[0054]在本發明中，所述上附加電極的制備方法優選為:將銅銀橡膠、玻銀橡膠、鋁銀橡膠中的